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用于單光子發射斷層掃描系統的性能檢測的雙線源模的制作方法

文檔序號:936247閱讀:194來源:國知局
專利名稱:用于單光子發射斷層掃描系統的性能檢測的雙線源模的制作方法
技術領域
本實用新型涉及醫學成像領域。更具體地,本實用新型涉及用于單光子發射斷層掃描系統(SPECT)的性能檢測的雙線源模。
背景技術
近年來,單光子發射斷層掃描系統(SPECT)廣泛應用在醫學臨床診斷中。為了規范SPECT性能檢測,美國國家電子制造商協會(National Electrical ManufacturersAssociation, NEMA)標準“NU1-2001 Performance Measurements of ScintillationCameras”在原則上規定了一套模體和檢測方法。該套模體中包括用于檢測SPECT系統的系統空間分辨力(_)和全身平面空間分辨力(_)的雙線Y源模,其中采用直徑不大于1_·的兩個Y線狀源,其間距為100_,其長度大于探測器有效射野最大線度。檢測方法是將Y雙線源平行置于探測器平面外IOcm處或置于床上照射測量。在現有技術中,通過將兩個Y線狀源平行固定在一塊有機玻璃板的平坦表面上,來形成符合上述標準規定的雙線源模。當對雙探頭SPECT系統進行檢測時,需要分別對兩個探頭進行檢測,檢測效率較低。另一方面,如果將該雙線源模置于上、下兩個探頭之間來同時對其進行檢測,則由于用來支撐Y線狀源的有機玻璃板對Y線狀源所發出的Y射線的吸收與散射條件不同,導致到達兩個探頭的Y光子數不一致,因此造成檢測精度下降。

實用新型內容本實用新型旨在解決上述問題,提供一種用于單光子發射斷層掃描系統的性能檢測的雙線源模,其能夠在提高檢測效率的同時保證檢測精度。為實現該目的,根據本實用新型的一個實施例,提供了一種用于單光子發射斷層掃描系統的性能檢測的雙線源模,其特征在于包括第一夾板;第二夾板,與所述第一夾板具有對稱的結構并與其相對設置;和雙線源,設置在所述第一夾板和所述第二夾板之間,其中在所述第一夾板和所述第二夾板的相對表面上的相應位置處分別設置有形狀相同的細長凹槽,所述雙線源設置在所述細長凹槽中。根據一個實施例,所述第一夾板和所述第二夾板中的凹槽為U形凹槽,所述雙線源由插在所述U形凹槽中的、其中注入Y源液體的一根細長管形成。根據一個實施例,所述第一夾板和所述第二夾板中的凹槽形成為兩條通直槽,所述雙線源由插在所述兩條通直槽中的、其中注入Y源液體的兩根細長管形成。根據一個實施例,所述凹槽的橫截面為半圓形。根據本實用新型的實施例,由于雙線源被固定在具有對稱結構的兩個夾板之間,這兩個夾板對雙線源所發出的Y射線的吸收與散射條件基本相同。當對位于雙線源模上方和下方的兩個探頭同時進行檢測時,到達兩個探頭的Y光子數基本一致。因此,能夠提高檢測效率并保證檢測精度。
為了更清楚地理解本實用新型的上述特征及優點,在附圖中以示例而非限制的方式示出了本實用新型的實施例,其中相同或相似的附圖標記表示相同或相似的部件。為了清楚起見,附圖中各部件的尺寸不一定嚴格按比例繪制。圖I示出了根據本實用新型的一個實施例的用于單光子發射斷層掃描系統(SPECT)的性能檢測的雙線源模的示意性立體圖。圖2示出了沿圖I中的A-A線的剖視圖。圖3示出了雙線源模中的一個夾板的平面圖。圖4示出了沿圖3中的B-B線的剖視圖。
具體實施方式
下面將參考附圖,對本實用新型的實施例進行詳細描述。需要說明的是,所描述的實施例僅僅是示例性的而并非旨在對本實用新型的保護范圍進行限制。參考圖I和圖2,其中示出了根據本實用新型的一個實施例的用于單光子發射斷層掃描系統(SPECT)的性能檢測的雙線源模10。圖I是示意性立體圖,圖2示出了沿圖I中的A-A線的剖視圖。雙線源模10包括第一夾板11,和位于第一夾板11下方、與其相對設置的第二夾板
12。第一和第二夾板11和12例如為厚度5mm、長度560mm、寬度150mm的有機玻璃板。本領域技術人員可以理解,也可以采用其他合適的材料和尺寸。圖I中還用虛線示意性地示出了夾在第一夾板11和第二夾板12之間的雙線源
13。該雙線源13被固定在形成于第一夾板11和第二夾板12的相對表面上的相應位置處的細長凹槽中,后面還將對此進行詳細說明。圖I中所示的雙線源13為U形,例如由其中注入Y源液體的一根細長管(例如塑料軟管或其他合適材料制成的管)形成。圖3示出了雙線源模10中的第二夾板12的平面圖,圖4示出了沿圖3中的B-B線的剖視圖。第二夾板12的一個表面上開設有U形的細長凹槽14,凹槽14的橫截面為半圓形。第二夾板12上還設有多個通孔15,用于安裝定位銷(圖中未具體示出)。第一夾板11與第二夾板12具有相對稱的結構。當將二者組裝在一起時,其相對表面上的相應位置處的細長凹槽14組合形成為橫截面為圓形的凹槽,供雙線源13插入其中。如上所述,在根據本實施例的雙線源模10中,雙線源13被固定在具有對稱結構的兩個夾板11和12之間。夾板11和12對雙線源13所發出的Y射線的吸收與散射條件基本相同。當對位于雙線源模10上方和下方的兩個探頭同時進行檢測時,到達兩個探頭的Y光子數基本一致。因此,能夠在提高檢測效率的同時保證檢測精度。在上述實施例中,凹槽14的形狀為U形,并且通過將一根塑料軟管插入該U形凹槽14中并注入Y源液體來形成U形雙線源13。該U形雙線源13的優點在于僅通過對一根管進行灌注即可形成雙線源13。但本領域技術人員可以理解,本實用新型不限于此。也可以將凹槽14形成為兩條通直槽,而雙線源13由插在所述兩條通直槽中的、其中注入Y源液體的兩根細長管形成。在上述實施例中,凹槽14的橫截面為半圓形,但本實用新型不限于此。也可以將凹槽14的橫截面設計為能夠將雙線源13限定在其中的任何其他合適的形狀,例如矩形。以上參考附圖描述了本實用新型的優選實施例。本領域技術人員可以在不偏離本 實用新型的精神和原則的情況下對這些實施例做出各種修改、等同替換和改進。本實用新型的保護范圍僅由后附的權利要求書限定。
權利要求1.一種用于單光子發射斷層掃描系統的性能檢測的雙線源模(10),其特征在于包括 第一夾板(11); 第二夾板(12),與所述第一夾板(11)具有對稱的結構并與其相對設置;和 雙線源(13),設置在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)之間, 其中在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)的相對表面上的相應位置處分別設置有形狀相同的細長凹槽(14),所述雙線源(13)設置在所述細長凹槽(14)中。
2.根據權利要求I所述的雙線源模(10),其特征在于,所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)中的凹槽(14)為U形凹槽,所述雙線源(13)由插在所述U形凹槽(14)中的、其中注入Y源液體的一根細長管形成。
3.根據權利要求I所述的雙線源模(10),其特征在于,所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)中的凹槽(14)形成為兩條通直槽,所述雙線源(13)由插在所述兩條通直槽中的、其中注入Y源液體的兩根細長管形成。
4.根據權利要求1-3中任一項所述的雙線源模(10),其特征在于,所述凹槽(14)的橫截面為半圓形。
專利摘要本實用新型公開了一種用于單光子發射斷層掃描系統的性能檢測的雙線源模(10),其特征在于包括第一夾板(11);第二夾板(12),與所述第一夾板(11)具有對稱的結構并與其相對設置;和雙線源(13),設置在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)之間,其中在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)的相對表面上的相應位置處分別設置有形狀相同的細長凹槽(14),所述雙線源(13)設置在所述細長凹槽(14)中。
文檔編號A61B6/00GK202589547SQ20122023760
公開日2012年12月12日 申請日期2012年5月25日 優先權日2012年5月25日
發明者杜國生 申請人:卡迪諾科技(北京)有限公司
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