一種led顯示屏的整屏校正方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發明實施例公開了一種LED顯示屏的整屏校正方法及裝置，用于解決光信號采集設備所能采集最強的光信號的LED顆粒為與采集設備位置相重合的法線方向上的光輸出的法線方向的光信號的LED顆粒的設計，而導致的采集的光信息的不均勻性的技術問題，而且大大地擴展了LED拼接屏的可觀看的視角范圍。本發明實施例方法包括：對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據等級的類別對拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏；按照預置方式對整屏的光信息進行采集，并根據采集的光信息進行校正。
【專利說明】一種LED顯不屏的整屏校正方法及裝置

【技術領域】
[0001] 本發明涉及光信號處理【技術領域】，尤其涉及一種LED顯示屏的整屏校正方法及裝 置。

【背景技術】
[0002] 隨著科技的高速發展，及市場大需求量的增長，大型LED顯示屏，例如是LED拼接 屏越來越炙手可熱，LED拼接屏通常是有若干個拼接單元組成，每一個拼接單元排布有若干 個LED顆粒，例如一個12平方厘米的拼接單元大概將排布6400個LED顆粒，由于每一個 LED顆粒的出廠規格以及其硬件出光規格都是不一致的，因此，需要對LED顯示屏上的所有 LED顆粒的出光亮度和色彩進行整屏校正。
[0003] 目前，對于LED拼接屏的整屏校正技術，通常是將光信號采集設備放置在LED屏的 正前方位置，通過一次或多次對LED屏上的若干個LED顆粒形成的光信號區域進行采集。
[0004] 然而，由若干個LED顆粒組合成的LED拼接屏，通過在LED屏正前方位置采集光信 號的設計，如圖1所示的光學原理圖，光信號采集設備所能采集最強的光信號的LED顆粒為 與采集設備位置相重合的法線方向上的光輸出的法線方向的光信號的LED顆粒，則與光信 號采集設備的角度越大，采集的光信號信息越弱，導致了采集的信息的不均勻性，從而縮窄 了可觀看的視角范圍。


【發明內容】

[0005] 本發明實施例提供了一種LED顯示屏的整屏校正方法及裝置，用于解決光信號 采集設備所能采集最強的光信號的LED顆粒為與采集設備位置相重合的法線方向上的光 輸出的法線方向的光信號的LED顆粒的設計，而導致的采集的光信息的不均勻性的技術問 題，而且大大地擴展了 LED拼接屏的可觀看的視角范圍。
[0006] 本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正方法，包括：
[0007] 對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據所述等級 的類別對所述拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏；
[0008] 按照預置方式對確定觀看角度并與采集的所述整屏的光信息進行相對應的校正。
[0009] 優選地，
[0010] 對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類之前還包括：
[0011] 根據若干LED的規格光強值進行分類貼裝在若干所述拼接單元上。
[0012] 優選地，
[0013] 對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據所述等級 的類別對所述拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏具體包括：
[0014] 分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量；
[0015] 將測量后獲取的所述光信息與預置閾值進行比對，若大于所述預置閾值，則與所 述光信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若不大于所述預置閾值，則與所述光信息 相對應的所述拼接單元為低光強等級；
[0016] 將所述高光強等級的所述拼接單元排列在所述整屏的外圍位置，將所述低光強等 級的所述拼接單元排列在所述整屏的中心部位置。
[0017] 優選地，
[0018] 對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據所述等級 的類別對所述拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏具體包括：
[0019] 分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量；
[0020] 將測量后獲取的所述光信息與預置閾值范圍進行比對，若大于所述預置閾值范 圍，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若屬于所述預置閾值范圍，則與 所述光信息相對應的所述拼接單元為中光強等級，若小于所述預置閾值范圍，則與所述光 信息相對應的所述拼接單元為低光強等級；
[0021] 將所述高光強等級的所述拼接單元，所述中光強等級的所述拼接單元和所述低光 強等級的所述拼接單元依次按照由外向內的位置進行排列成為整屏。
[0022] 優選地，
[0023] 所述預置方式為觀看距離，和與之對應的觀看點與LED顯示屏的中心距離三角函 數的換算方式。
[0024] 優選地，
[0025] 所述光信息為色彩數值。
[0026] 本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正裝置，包括：
[0027] 分類排列單元，用于對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分 類，并根據所述等級的類別對所述拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏；
[0028] 采集單元，用于按照預置方式對確定觀看角度并與采集的所述整屏的光信息進行 相對應的校正。
[0029] 優選地，
[0030] 所述LED顯示屏的整屏校正裝置還包括：
[0031] 分類貼裝單元，用于根據若干LED的規格光強值進行分類貼裝在若干所述拼接單 元上。
[0032] 優選地，
[0033] 所述分類排列單元具體包括：
[0034] 第一測量子單元，用于分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量；
[0035] 第一分類子單元，用于將測量后獲取的所述光信息與預置閾值進行比對，若大于 所述預置閾值，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若不大于所述預置 閾值，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為低光強等級；
[0036] 第一排列子單元，用于將所述高光強等級的所述拼接單元排列在所述整屏的外圍 位置，將所述低光強等級的所述拼接單元排列在所述整屏的中心部位置。
[0037] 優選地，
[0038] 所述分類排列單元具體包括：
[0039] 第二測量子單元，用于分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量；
[0040] 第二分類子單元，用于將測量后獲取的所述光信息與預置閾值范圍進行比對，若 大于所述預置閾值范圍，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若屬于所 述預置閾值范圍，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為中光強等級，若小于所述預置 閾值范圍，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為低光強等級；
[0041] 第二排列子單元，用于將所述高光強等級的所述拼接單元，所述中光強等級的所 述拼接單元和所述低光強等級的所述拼接單元依次按照由外向內的位置進行排列成為整 屏。
[0042] 從以上技術方案可以看出，本發明實施例具有以下優點：
[0043] 本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正方法及裝置，其中，方法包括：對 若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據等級的類別對拼接單 元由外向內的位置進行排列成為整屏；按照預置方式對整屏的光信息進行采集，并根據采 集的光信息進行校正。本實施例中，通過先對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方 式進行等級分類，并根據等級的類別對拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏，再進 行相對應的細節校正，不僅解決了現有技術的光信號采集設備所能采集最強的光信號的 LED顆粒為與采集設備位置相重合的法線方向上的光輸出的法線方向的光信號的LED顆粒 的設計，而導致的采集的光信息的不均勻性的技術問題，而且大大地擴展了 LED拼接屏的 可觀看的視角范圍。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0044] 為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現 有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本 發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可 以根據這些附圖獲得其它的附圖。
[0045] 圖1為本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正方法的一個實施例的流程 示意圖；
[0046] 圖2為本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正方法的另一個實施例的流 程不意圖；
[0047] 圖3為本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正方法的另一個實施例的流 程不意圖；
[0048] 圖4為本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正裝置的一個實施例的結構 示意圖；
[0049] 圖5為本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正裝置的另一個實施例的結 構示意圖；
[0050] 圖6為本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正裝置的另一個實施例的結 構示意圖。

【具體實施方式】
[0051] 本發明實施例提供了一種LED顯示屏的整屏校正方法及裝置，用于解決光信號 采集設備所能采集最強的光信號的LED顆粒為與采集設備位置相重合的法線方向上的光 輸出的法線方向的光信號的LED顆粒的設計，而導致的采集的光信息的不均勻性的技術問 題，而且大大地擴展了 LED拼接屏的可觀看的視角范圍。
[0052] 為使得本發明的發明目的、特征、優點能夠更加的明顯和易懂，下面將結合本發明 實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，下面所描述 的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而非全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域 普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發明保護 的范圍。
[0053] 請參閱圖1，本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正方法的一個實施例 包括：
[0054] 101、對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據等級 的類別對拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏；
[0055] 本實施例中，當需要對LED顯示屏，例如LED拼接屏進行整屏校正時，需要對若干 個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據等級的類別對若干拼接單 元由外向內的位置進行排列成為整屏，前述的光信息可以是色彩數值，例如LED的R、G、B相 對應的色彩數值。
[0056] 需要說明的是，前述的對若干拼接單元由外向內的位置進行排列成的整屏可以是 大型矩形的LED拼接屏等，此處具體不做限定。
[0057] 102、按照預置方式對確定觀看角度并與采集的整屏的光信息進行相對應的校正。
[0058] 當對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據等級的 類別對拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏之后，需要按照預置方式對確定觀看角 度并與采集的整屏的光信息進行相對應的校正，可以理解的是，前述的預置方式為觀看距 離，和與之對應的觀看點與LED顯示屏的中心距離三角函數的換算方式，例如觀看距離為 與LED顯示屏的距離，觀看角度通過觀看點與LED顯示屏的中心距離與觀看距離的三角函 數換算獲取，再根據觀看角度與采集的整屏的光信息進行相對應的校正。
[0059] 需要說明的是，前述的根據采集的光信息進行校正，例如可以是通過光信息采集 設備，通過軟件后期對采集的光信息進行數值上的校對，該校對可以是本領域技術人員公 知的校對技術，此處不再贅述。
[0060] 本實施例中，通過先對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分 類，并根據等級的類別對拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏，再進行相對應的細 節校正，不僅解決了現有技術的光信號采集設備所能采集最強的光信號的LED顆粒為與采 集設備位置相重合的法線方向上的光輸出的法線方向的光信號的LED顆粒的設計，而導致 的采集的光信息的不均勻性的技術問題，而且大大地擴展了 LED拼接屏的可觀看的視角范 圍。
[0061] 上面是對LED顯示屏的整屏校正方法的一個實施例進行詳細的說明，下面將對若 干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類的具體方式進行詳細的描述，在 實際應用中等級分類的方式有多種，下面分別進行說明。
[0062] 一、兩個等級分類；
[0063] 請參閱圖2,本發明實施例提供的一種LED顯示屏的整屏校正方法的另一個實施 例包括：
[0064] 201、根據若干LED的規格光強值進行分類貼裝在若干拼接單元上；
[0065] 本實施例中，當需要對LED顯示屏，例如LED拼接屏進行整屏校正之前，需要根據 若干LED的規格光強值進行分類貼裝在若干拼接單元上，可以理解的是，前述的貼裝可以 是SMD (Surface Mounted Devices,表面貼裝器件）的貼裝技術對若干LED進行貼裝。
[0066] 需要說明的是，前述的若干LED的規格光強值的規格可以是LED廠商所提供的規 格信息，如下表所示：
[0067]

【權利要求】
1. 一種LED顯示屏的整屏校正方法，其特征在于，包括： 對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據所述等級的類 別對所述拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏； 按照預置方式對確定觀看角度并與采集的所述整屏的光信息進行相對應的校正。
2. 根據權利要求1所述的LED顯示屏的整屏校正方法，其特征在于，對若干個拼接單元 按照光信息值由高至低的方式進行等級分類之前還包括： 根據若干LED的規格光強值進行分類貼裝在若干所述拼接單元上。
3. 根據權利要求1所述的LED顯示屏的整屏校正方法，其特征在于，對若干個拼接單元 按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據所述等級的類別對所述拼接單元由外 向內的位置進行排列成為整屏具體包括： 分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量； 將測量后獲取的所述光信息與預置閾值進行比對，若大于所述預置閾值，則與所述光 信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若不大于所述預置閾值，則與所述光信息相對 應的所述拼接單元為低光強等級； 將所述高光強等級的所述拼接單元排列在所述整屏的外圍位置，將所述低光強等級的 所述拼接單元排列在所述整屏的中心部位置。
4. 根據權利要求1所述的LED顯示屏的整屏校正方法，其特征在于，對若干個拼接單元 按照光信息值由高至低的方式進行等級分類，并根據所述等級的類別對所述拼接單元由外 向內的位置進行排列成為整屏具體包括： 分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量； 將測量后獲取的所述光信息與預置閾值范圍進行比對，若大于所述預置閾值范圍，則 與所述光信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若屬于所述預置閾值范圍，則與所述 光信息相對應的所述拼接單元為中光強等級，若小于所述預置閾值范圍，則與所述光信息 相對應的所述拼接單元為低光強等級； 將所述高光強等級的所述拼接單元，所述中光強等級的所述拼接單元和所述低光強等 級的所述拼接單元依次按照由外向內的位置進行排列成為整屏。
5. 根據權利要求1所述的LED顯示屏的整屏校正方法，其特征在于，所述預置方式為觀 看距離，和與之對應的觀看點與LED顯示屏的中心距離三角函數的換算方式。
6. 根據權利要求1至4中任意一項所述的LED顯示屏的整屏校正方法，其特征在于，所 述光信息為色彩數值。
7. -種LED顯示屏的整屏校正裝置，其特征在于，包括： 分類排列單元，用于對若干個拼接單元按照光信息值由高至低的方式進行等級分類， 并根據所述等級的類別對所述拼接單元由外向內的位置進行排列成為整屏； 采集單元，用于按照預置方式對確定觀看角度并與采集的所述整屏的光信息進行相對 應的校正。
8. 根據權利要求7所述的LED顯示屏的整屏校正裝置，其特征在于，所述LED顯示屏的 整屏校正裝置還包括： 分類貼裝單元，用于根據若干LED的規格光強值進行分類貼裝在若干所述拼接單元 上。
9. 根據權利要求7所述的LED顯示屏的整屏校正裝置，其特征在于，所述分類排列單元 具體包括： 第一測量子單元，用于分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量； 第一分類子單元，用于將測量后獲取的所述光信息與預置閾值進行比對，若大于所述 預置閾值，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若不大于所述預置閾值， 則與所述光信息相對應的所述拼接單元為低光強等級； 第一排列子單元，用于將所述高光強等級的所述拼接單元排列在所述整屏的外圍位 置，將所述低光強等級的所述拼接單元排列在所述整屏的中心部位置。
10. 根據權利要求7所述的LED顯示屏的整屏校正裝置，其特征在于，所述分類排列單 元具體包括： 第二測量子單元，用于分別對若干個所述拼接單元的光信息進行測量； 第二分類子單元，用于將測量后獲取的所述光信息與預置閾值范圍進行比對，若大于 所述預置閾值范圍，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為高光強等級，若屬于所述預 置閾值范圍，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為中光強等級，若小于所述預置閾值 范圍，則與所述光信息相對應的所述拼接單元為低光強等級； 第二排列子單元，用于將所述高光強等級的所述拼接單元，所述中光強等級的所述拼 接單元和所述低光強等級的所述拼接單元依次按照由外向內的位置進行排列成為整屏。
【文檔編號】G09G3/32GK104143317SQ201410403623
【公開日】2014年11月12日 申請日期:2014年8月15日 優先權日:2014年8月15日
【發明者】許景翔, 陳和平, 黃竑旻 申請人:廣東威創視訊科技股份有限公司