技術特征：

技術總結
本發明公開了一種多模塊教學實驗選擇通路的插入損耗及相位誤差修正裝置，該誤差修正裝置在現有多模塊教學實驗選擇通路的基礎上設計了一條參考通路，該參考通路由實驗輸入接口、輸入端實驗模塊選擇電路的第n+1路選擇開關、專用通路修正電路、輸出端實驗模塊選擇電路的第n+1路選擇開關以及實驗輸出接口通過信號線依次連接組成，專用通路修正電路用于模擬輸入端專用通路及輸出端專用通路的幅度、相位特性。本發明通過設計上述參考通路，實驗時將參考通路的插入損耗和相位誤差作為參考對測試設備進行校準，消除了多模塊教學實驗測試結果中由實驗選擇通路引入的插入損耗和相位誤差，使得測試結果能夠真實反映單元電路的特性。

技術研發人員：楊永軍;王磊;張維杰;于淼;楊華祥;鄭洪義
受保護的技術使用者：中國電子科技集團公司第四十一研究所
技術研發日：2017.05.22
技術公布日：2017.08.29