專利名稱：一種全微晶鏡頭的裝調方法
技術領域：
本發明涉及一種望遠鏡頭的裝調方法，特別是全微晶鏡頭的裝調方法。
背景技術：
全微晶鏡頭是遙感相機望遠鏡頭的一種新穎形式，主要用于低溫光學領域。而對于低溫鏡頭而言，鏡頭需要在常溫工況下完成加工、裝調和測試之后，在低溫工況下進行工作。全微晶鏡頭的研制屬于全新的領域，其裝調由于其結構形式的特殊性需要使用特殊的方法進行，并未見公開的資料報道。

發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種全微晶鏡頭的裝調方法，實現全微晶鏡頭的高質量裝調。本發明包括如下技術方案一種全微晶鏡頭的裝調方法，全微晶鏡頭包括多個反射鏡和多個結構件，其特征在于，包括下列步驟(1)利用外置的框式輔助支撐結構支撐全微晶鏡頭；(2)在全微晶鏡頭各個部件的連接面涂膠粘劑實施粘接；(3)利用干涉測量裝置測量的全微晶鏡頭的彗差項來調整各反射鏡的相對平移， 調整完成后繼續監測干涉測量數據直至膠粘劑固化；(4)拆除框式輔助支撐結構完成全微晶鏡頭裝調。所述步驟(1)中外置的框式輔助支撐結構與全微晶鏡頭的單邊間隙0. 3-0. 5mm。 框式輔助支撐結構與全微晶鏡頭使用RTV膠粘接固定，或在周圈使用多個小型真空吸盤裝置吸附固定。所述步驟(2)中全微晶鏡頭的各個部件的連接面涂膠粘劑的厚度為 0.01-0. 02mm。所述步驟O)中粘接過程需要零件相對滑動減少膠層氣泡。通過控制膠層厚度保證了粘接強度、減少了氣泡等粘接缺陷所述步驟(3)中測量的全微晶鏡頭的彗差項包括0°彗差和90°彗差，其中0°彗差對應反射鏡水平方向的平移，90 °彗差對應反射鏡豎直方向的平移。多個反射鏡包括次鏡、主四鏡、三鏡；多個結構件包括次鏡框、主次鏡間結構、三四鏡間結構和三鏡框；框式輔助支撐結構包括次鏡支撐框、主次鏡間結構支撐框、主四鏡支撐框、三四鏡間結構支撐框、三鏡支撐框。所述步驟(3)中反射鏡的平移為次鏡和三鏡的平移，其中次鏡平移為主要調整環節，三鏡平移為補充調整環節。所述步驟(4)拆除輔助支撐結構時使用刀片割斷RTV膠，或者在真空吸盤中注入空氣實現支撐結構與鏡頭的分離。本發明與現有技術相比的有益效果是
(1)外置的框式結構保證了粘接過程微晶零件的穩定，并提供支撐便于調整以及測試。(2)使用干涉測量數據作為調整依據提高了調整的精度，通過固化過程的監測保證了粘接過程受控，保證了鏡頭的質量。實現了全微晶鏡頭裝調過程中監測固化過程像質， 克服微晶鏡頭粘接與測試難以同時進行的問題。(3)使用易于拆除的連接方式，避免鏡頭在拆除環節的損壞。


圖1是本發明全微晶鏡頭的裝調方法的結構示意圖；圖2是本發明進行全微晶鏡頭裝調測試的示意圖。
具體實施例方式如圖1所示，本發明優選的全微晶鏡頭裝調結構包括次鏡1、次鏡框2、主次鏡間結構3、主四鏡4、三四鏡間結構5、三鏡框6、三鏡7、次鏡支撐框8、主次鏡間結構支撐框9、主四鏡支撐框10、三四鏡間結構支撐框11、三鏡支撐框12。其中部件1-7構成全微晶鏡頭，部件8-12構成輔助支撐結構。其中次鏡1、主四鏡4和三鏡7都是反射鏡，如圖2所示，進行全微晶鏡頭裝調測試時，將干涉測量設備14設置在全微晶鏡頭的一側，將反射鏡13設置在全微晶鏡頭的另一側，建立干涉測量自準直光路，用于在全微晶鏡頭裝調時測試全微晶鏡頭的彗差。干涉測量設備發射出的光經全微晶鏡頭變為平行光，平行光經反射鏡13反射回全微晶鏡頭，反射光通過全微晶鏡頭匯聚后入射到干涉測量設備，通過干涉測量設備測量全微晶鏡頭的彗差。干涉測量設備選用已有的干涉儀，如ZYGO 公司的GPI XP系列干涉儀。(請修改和補充)實施例1全微晶鏡頭的裝調方法包括如下步驟(1)將次鏡框2裝入次鏡支撐框8，三鏡框6裝入三鏡支撐框12，主四鏡4裝入主四鏡支撐框10，主次鏡間結構3裝入主次鏡間結構支撐框9，三四鏡間結構5裝入三四鏡間結構支撐框11，裝框使用RTV膠(室溫硫化硅橡膠)粘接固定，膠層厚度0. 3-0. 5mm。(2)將次鏡1與次鏡框2、三鏡7與三鏡框6使用環氧膠粘接并固化，膠層厚度 0. 01-0. 02mm。(3)在次鏡框2、主次鏡間結構3、主四鏡4、三四鏡間結構5、三鏡框6的連接面上抹環氧膠，膠層厚度為0. 01-0. 02mm ；粘接過程需要零件相對滑動減少膠層氣泡。(4)依次使用螺釘連接次鏡支撐框8、主次鏡間結構支撐框9、主四鏡支撐框10、 三四鏡間結構支撐框11、三鏡支撐框12。(5)圍繞全微晶鏡頭及輔助支撐結構架設平面鏡13和干涉儀14，建立干涉測量自準直光路，測試全微晶鏡頭的像質。(6)獲取干涉測試結果中的0°方向彗差和90°方向彗差參數，根據0°方向彗差調整次鏡框支撐框8水平方向平移，根據90 °方向彗差調整次鏡框支撐框8豎直方向平移， 直至系統像質滿足要求，鎖緊次鏡支撐框8和主次鏡間結構支撐框9間的連接螺釘。(7)再次測試鏡頭像質，獲取干涉測試結果中的0°方向彗差和90°方向彗差參數，根據0°方向彗差調整三鏡支撐框12水平方向平移，根據90°方向彗差調整三鏡支撐框12豎直方向平移，直至系統像質滿足要求，鎖緊三四鏡間結構支撐框11和三鏡支撐框12 間的連接螺釘。(8)利用干涉儀14和平面鏡13測試并監測系統的像質，直至環氧膠完全固化。(9)用刀片割斷連接框與鏡頭間的RTV膠，取出鏡頭，裝調完成。實施例2在輔助支撐結構與全微晶鏡頭固定時，通過在全微晶鏡頭外表面和輔助支撐結構內表面的周圈使用多個小型真空吸盤裝置吸附固定；在輔助支撐結構與全微晶鏡頭分離時，通過在真空吸盤中注入空氣實現支撐結構與鏡頭的分離。其它部分同實施例1。說明書中未作詳細描述的內容屬本領域技術人員的公知技術。
權利要求
1.一種全微晶鏡頭的裝調方法，全微晶鏡頭包括多個反射鏡和多個結構件，其特征在于，包括下列步驟(1)利用外置的框式輔助支撐結構支撐全微晶鏡頭；(2)在全微晶鏡頭各個部件的連接面涂膠粘劑實施粘接；(3)利用干涉測量裝置測量的全微晶鏡頭的彗差項來調整各反射鏡的相對平移，調整完成后繼續監測干涉測量數據直至膠粘劑固化；(4)拆除框式輔助支撐結構完成全微晶鏡頭裝調。
2.根據權利要求1所述的全微晶鏡頭的裝調方法，其特征在于所述步驟(1)中外置的框式輔助支撐結構與全微晶鏡頭的單邊間隙0. 3-0. 5mm。
3.根據權利要求1所述的全微晶鏡頭的裝調方法，其特征在于所述步驟(1)中外置的框式輔助支撐結構與全微晶鏡頭使用RTV膠粘接固定，或在周圈使用多個小型真空吸盤裝置吸附固定。
4.根據權利要求1所述的全微晶鏡頭的裝調方法，其特征在于所述步驟O)中全微晶鏡頭的各個部件的連接面涂膠粘劑的厚度為0. 01-0. 02mm。
5.根據權利要求1所述的全微晶鏡頭的裝調方法，其特征在于所述步驟(3)中測量的全微晶鏡頭的彗差項包括0°彗差和90°彗差，其中0°彗差對應反射鏡水平方向的平移，90°彗差對應反射鏡豎直方向的平移。
6.根據權利要求1所述的全微晶鏡頭的裝調方法，其特征在于多個反射鏡包括次鏡、 主四鏡、三鏡；多個結構件包括次鏡框、主次鏡間結構、三四鏡間結構和三鏡框；框式輔助支撐結構包括次鏡支撐框、主次鏡間結構支撐框、主四鏡支撐框、三四鏡間結構支撐框、三鏡支撐框。
7.根據權利要求6所述的全微晶鏡頭的裝調方法，其特征在于所述步驟(3)中反射鏡的平移為次鏡和三鏡的平移，其中次鏡平移為主要調整環節，三鏡平移為補充調整環節。
8.根據權利要求1所述的全微晶鏡頭的裝調方法，其特征在于所述步驟中拆除輔助支撐結構時使用刀片割斷RTV膠，或者在真空吸盤中注入空氣實現輔助支撐結構與全微晶鏡頭的分離。
全文摘要
一種全微晶鏡頭的裝調方法，利用外置的框式結構輔助支撐微晶反射鏡及微晶結構件，在微晶零件的連接面涂膠實施粘接，利用干涉測量結果調整各反射鏡的相對平移，監測干涉測量數據直至膠粘劑完全固化，拆除輔助支撐結構完成鏡頭裝調。本發明實現了全微晶鏡頭的裝調，在膠粘劑固化過程能夠監控，保證鏡頭的質量。
文檔編號G02B7/198GK102338919SQ201110317009
公開日2012年2月1日 申請日期2011年10月18日 優先權日2011年10月18日
發明者王昀, 王瑩, 蘇云, 陳佳夷 申請人:北京空間機電研究所