技術總結
一種測量硅基液晶相位分辨率的裝置及方法，涉及光通信領域，光信號從環(huán)形器的一號端口輸入，從二號端口輸出后進入單光纖準直器，經(jīng)準直后的空間光通過透鏡后入射到硅基液晶上，硅基液晶的反射光通過透鏡耦合到單光纖準直器，再經(jīng)過環(huán)形器第三端口輸出至功率計；調(diào)節(jié)硅基液晶相鄰像素間的相位差，同時觀察功率計，當功率計的測量值不變時，此時硅基液晶相鄰像素間的相位差，即為硅基液晶的相位分辨率；本發(fā)明能夠降低測量的復雜程度，且測量精度高。

技術研發(fā)人員：謝德權;徐鳳;劉子晨;尤全;楊奇;余少華
受保護的技術使用者：武漢郵電科學研究院
文檔號碼：201611169913
技術研發(fā)日：2016.12.16
技術公布日：2017.02.15