專利名稱：孔系螺旋量規的校對規的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種校對規，特別涉及一種用于檢測高精度孔系螺旋量規的校對規。
背景技術：
目前，對于加工高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸精度和位置度關系的檢測，只能采用儀器投影進行檢測，檢測時會因儀器誤差和人為誤差而導致誤差累積過大，無法保證檢測高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸和位置度關系的精確，致使檢測后的量規在使用時，對其測量的加工產品測量不準確，造成產品報廢率高。而且采用儀器對高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸精度和位置度關系進行檢測，檢測速度也較慢，影響生產進度。

發明內容
本實用新型的目的是提供一種孔系螺旋量規的校對規，它能直觀、快速地檢測高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸精度和位置度關系。
本實用新型的目的是這樣實現的在所述定位軸的中段設有一讓位部，讓位部上設有一凸起的沿螺旋法向延伸的圓弧狀螺旋體，螺旋體的圓弧的用于測量的兩個端面的徑向延伸線相交于軸心。
由于采用了上述結構，定位軸的中段設置的讓位部及凸起的沿螺旋法向延伸的圓弧狀螺旋體作為測量部，其凸起的沿螺旋法向延伸的圓弧狀螺旋體用于檢測孔系螺旋量規的螺旋法向開口或者凹槽，由于螺旋體的圓弧的用于測量的兩個端面的徑向延伸線相交于軸心，因此能精確檢測出孔系螺旋量規的螺旋法向開口或者凹槽的尺寸精度和位置度的誤差。
本實用新型用于對高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸精度和位置度加工的檢測，能直觀、快速地檢測高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸精度和位置度的誤差，減少產品在加工過程中的報廢率，提高生產效率。
以下結合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。


圖1是本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
參見圖1，在所述定位軸1的中段設有一讓位部2，讓位部2的直徑比定位軸1的直徑大，可起限位作用。讓位部2上設有一凸起的沿螺旋法向延伸的圓弧狀螺旋體3。螺旋體3的圓弧與定位軸1同圓心，螺旋體3的圓弧的用于測量的兩個端面4的徑向延伸線相交于軸心。定位軸1、讓位部2、螺旋體3為一個整體結構。
用本實用新型校對規對加工的高精度孔系螺旋量規的螺旋法向開口或者凹槽的尺寸精度和位置度進行檢測，將定位軸1插入孔系螺旋量規圓心的導向孔內起導向和定位作用，在定位軸1的導向下，將讓位部2上的螺旋體3推入孔系螺旋量規的螺旋法向開口或者凹槽，使螺旋體3的圓弧的用于測量的兩個端面4與孔系螺旋量規的螺旋法向開口或者凹槽的兩側壁相吻合，且形成松緊適度的滑動配合。如本校對規的螺旋體3在推進過程中，沿孔系螺旋量規的螺旋法向開口或者凹槽作法向滑動時較輕松，則表示孔系螺旋量規的開口或者凹槽寬度尺寸偏大，螺旋法向精度尺寸或位置度不符合要求，產品報廢；如本校對規的螺旋體3在推進過程中，沿孔系螺旋量規的螺旋法向開口或者凹槽作法向滑動時很緊，甚至出現卡滯，則表示孔系螺旋量規的開口或者凹槽寬度尺寸偏小，螺旋法向精度尺寸或位置度不符合要求，產品需繼續加工。
權利要求1.一種孔系螺旋量規的校對規，其特征在于在所述定位軸(1)的中段設有一讓位部(2)，讓位部(2)上設有一凸起的沿螺旋法向延伸的圓弧狀螺旋體(3)，螺旋體(3)的圓弧的用于測量的兩個端面(4)的徑向延伸線相交于軸心。
2.根據權利要求1所述的孔系螺旋量規的校對規，其特征在于讓位部(2)的直徑比定位軸(1)的直徑大。
3.根據權利要求1所述的孔系螺旋量規的校對規，其特征在于螺旋體(3)的圓弧與定位軸(1)同圓心。
4.根據權利要求1所述的孔系螺旋量規的校對規，其特征在于定位軸(1)、讓位部(2)、螺旋體(3)為一個整體結構。
專利摘要本實用新型公開了一種孔系螺旋量規的校對規，在所述定位軸(1)的中段設有一讓位部(2)，讓位部(2)上設有一凸起的沿螺旋法向延伸的圓弧狀螺旋體(3)，螺旋體(3)的圓弧的用于測量的兩個端面(4)的徑向延伸線交叉于軸心。本實用新型用于對高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸精度和位置度加工的檢測，能直觀、快速地檢測高精度孔系螺旋量規的螺旋法向尺寸精度和位置度的誤差，減少產品在加工過程中的報廢率，提高生產效率。
文檔編號G01B3/00GK2722191SQ20042006132
公開日2005年8月31日 申請日期2004年9月16日 優先權日2004年9月16日
發明者宋澤軍, 唐建群 申請人:建設工業(集團)有限責任公司