一種研磨棒直徑測量儀的制作方法
【專利摘要】一種研磨棒直徑測量儀，它涉及測量設備【技術領域】。電腦組件與控制系統連接，控制系統與非接觸式研磨棒直徑測量平臺連接，非接觸式研磨棒直徑測量平臺的上表面設有直線軸，研磨棒自動夾持裝置、精密光學測頭和研磨棒遠程支撐模塊依次設置在非接觸式研磨棒直徑測量平臺上，研磨棒自動夾持裝置的一側設有夾頭，精密光學測頭的一端設有信號發生器，精密光學測頭的另一側設有信號接收器。它采用非接觸測量方式，能自動對研磨棒上的各點進行直徑測量。
【專利說明】一種研磨棒直徑測量儀
【技術領域】:
[0001]本發明涉及測量設備【技術領域】，具體涉及一種研磨棒直徑測量儀。
【背景技術】:
[0002]隨著精密軸類零件加工精度要求越來越高，對作為精密軸類零件毛坯料的研磨棒自身精度提出更高的要求，衡量研磨棒自身精度的關鍵技術指標有研磨棒的直徑、直線度、圓度等，為了適應后續的精密軸類零件的加工，研磨棒直徑規格粗細不等，種類繁多；研磨棒一般采用無心磨床對外表面進行磨削加工，以使得加工后的研磨棒具有符合要求的表面粗糙度、圓度及直徑等技術指標。
[0003]傳統研磨棒直徑的檢測方法，一般采用螺旋測微儀或游標卡尺等測量工具，由人工采取抽檢方式，對研磨棒進行接觸式測量。這種方法有如下缺點:
[0004]I)接觸測量方式，即測量過程中，測量工具必須與研磨棒進行接觸，在一個研磨棒上需要在多點進行測量則需要在多點進行接觸，以讀取多個數據取平均值，才能得到整根研磨棒的實際直徑，這種方式難免造成研磨棒表面與測量工具易受磨損，進而影響研磨棒自身品質，所使用的測量工具也易受損傷；
[0005]2)采取人工測量方式，測量效率低；
[0006]3)采取抽檢測量方式，僅能在整根研磨棒上通過多次采點測量，取平均值，并通過統計學計算，得到的研磨棒直徑實際上并不能真實反映出研磨棒各點實際的直徑值，難免造成較大的測量誤差，難以作為研磨棒現代化大規模生產所要求的可靠度更高的質量控制手段;
[0007]4)人工檢測，從測量工具中讀取數值，易受人為因素影響，尤其是不同的測量員之間，讀數及測量操作均有一定差異，測量誤差大。
【發明內容】
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[0008]本發明的目的是提供一種研磨棒直徑測量儀，它采用非接觸測量方式，能自動對研磨棒上的各點進行直徑測量，僅需測量員上料、取料和分析測量數據，測量的中間過程無需人工干預，測量出的研磨棒數據會自動傳遞到控制系統，并最終顯示在測量軟件直觀顯示出來。
[0009]為了解決【背景技術】所存在的問題，本發明是采用以下技術方案:它包含電腦組件
1、非接觸式研磨棒直徑測量平臺2和控制系統3 ;電腦組件I與控制系統3連接，控制系統3與非接觸式研磨棒直徑測量平臺2連接，非接觸式研磨棒直徑測量平臺2包含研磨棒遠程支撐模塊21、精密光學測頭22、夾頭23、研磨棒自動夾持裝置24、直線軸25、信號發生器26和信號接收器27 ;非接觸式研磨棒直徑測量平臺2的上表面設有直線軸25，研磨棒自動夾持裝置24、精密光學測頭22和研磨棒遠程支撐模塊21依次設置在非接觸式研磨棒直徑測量平臺2上，研磨棒自動夾持裝置24的一側設有夾頭23，精密光學測頭22的一端設有信號發生器26，精密光學測頭22的另一側設有信號接收器27。[0010]本發明測量前，由測量員將研磨棒4從研磨棒自動夾持裝置24的一端插入，從另一端的夾頭23中穿出，再將研磨棒4的一端穿過研磨棒遠程支撐模塊21上的軸套，上料完成后，通過控制系統3給夾頭23供氣，以使夾頭23夾緊研磨棒4，通過電腦組件I點擊開始測量，則精密光學測頭22將開始讀取所對應測量點上的直徑，并實時將數據傳遞回控制系統3，隨著直線軸25帶動研磨棒自動夾持裝置24和研磨棒4 一起向精密光學測頭22方向不斷進給，精密光學測頭22將不斷讀取研磨棒4上各點的直徑數據，從而有序的測量完研磨棒4上所有經過精密光學測頭22的直徑；此時，關閉控制系統3停止供應給研磨棒自動夾持裝置24的壓縮空氣，則夾頭23將松開研磨棒4，測量員將研磨棒4從研磨棒自動夾持裝置24上取下，再讓研磨棒自動夾持裝置24在直線軸25的帶動下歸零；歸零動作完成后，測量員進行下一根研磨棒的上料及測量動作。
[0011]本發明為精密研磨棒直徑測量提供了更為科學且適應現代化大規模生產所要求的質量控制方法，它采用非接觸測量方式，能自動對研磨棒上的各點進行直徑測量，僅需測量員上料、取料和分析測量數據，測量的中間過程無需人工干預，測量出的研磨棒數據會自動傳遞到控制系統，并最終顯示在測量軟件直觀顯示出來。
【專利附圖】
【附圖說明】:
[0012]圖1為本發明的結構示意圖；
[0013]圖2為本發明中非接觸式研磨棒直徑測量平臺2的結構示意圖；
[0014]圖3為精密光學測頭22的工作原理圖。
【具體實施方式】:
[0015]參照圖1至圖3，本具體實施采用以下技術方案:它包含電腦組件1、非接觸式研磨棒直徑測量平臺2和控制系統3 ;電腦組件I與控制系統3連接，控制系統3與非接觸式研磨棒直徑測量平臺2連接，非接觸式研磨棒直徑測量平臺2包含研磨棒遠程支撐模塊21、精密光學測頭22、夾頭23、研磨棒自動夾持裝置24、直線軸25、信號發生器26和信號接收器27 ;非接觸式研磨棒直徑測量平臺2的上表面設有直線軸25，研磨棒自動夾持裝置24、精密光學測頭22和研磨棒遠程支撐模塊21依次設置在非接觸式研磨棒直徑測量平臺2上，研磨棒自動夾持裝置24的一側設有夾頭23，精密光學測頭22的一端設有信號發生器26，精密光學測頭22的另一側設有信號接收器27。
[0016]本具體實施測量前，由測量員將研磨棒4從研磨棒自動夾持裝置24的一端插入，從另一端的夾頭23中穿出，再將研磨棒4的一端穿過研磨棒遠程支撐模塊21上的軸套，上料完成后，通過控制系統3給夾頭23供氣，以使夾頭23夾緊研磨棒4，通過電腦組件I點擊開始測量，則精密光學測頭22將開始讀取所對應測量點上的直徑，并實時將數據傳遞回控制系統3，隨著直線軸25帶動研磨棒自動夾持裝置24和研磨棒4 一起向精密光學測頭22方向不斷進給，精密光學測頭22將不斷讀取研磨棒4上各點的直徑數據，從而有序的測量完研磨棒4上所有經過精密光學測頭22的直徑；此時，關閉控制系統3停止供應給研磨棒自動夾持裝置24的壓縮空氣，則夾頭23將松開研磨棒4，測量員將研磨棒4從研磨棒自動夾持裝置24上取下，再讓研磨棒自動夾持裝置24在直線軸25的帶動下歸零；歸零動作完成后，測量員進行下一根研磨棒的上料及測量動作。[0017]本具體實施操作時通過信號發生器26向研磨棒4發射測量光束5，這些測量光束位于研磨棒4測量點處的垂直截面內，足夠覆蓋研磨棒4直徑范圍，有一部分測量光束被研磨棒4擋住無法進入到對面的信號接收器27內；由于測量光束5是以光幕方式由信號發生器26對射到正對面的信號接收器27的，只要所測量時研磨棒4位于信號發生器26和信號接收器27之間，且研磨棒直徑小于信號發生器26發射光幕在垂直方向上的總長度，則采用這種方式就可以非常精確的測量出研磨棒4在該點處的直徑。
[0018]本具體實施采用非接觸測量方式，能自動對研磨棒上的各點進行直徑測量，僅需測量員上料、取料和分析測量數據，測量的中間過程無需人工干預，測量出的研磨棒數據會自動傳遞到控制系統，并最終顯示在測量軟件直觀顯示出來。
【權利要求】
1.一種研磨棒直徑測量儀，其特征在于它包含電腦組件(I)、非接觸式研磨棒直徑測量平臺⑵和控制系統⑶；電腦組件⑴與控制系統⑶連接，控制系統⑶與非接觸式研磨棒直徑測量平臺(2)連接，非接觸式研磨棒直徑測量平臺(2)包含研磨棒遠程支撐模塊(21)、精密光學測頭(22)、夾頭(23)、研磨棒自動夾持裝置(24)、直線軸(25)、信號發生器(26)和信號接收器(27);非接觸式研磨棒直徑測量平臺(2)的上表面設有直線軸(25)，研磨棒自動夾持裝置(24)、精密光學測頭(22)和研磨棒遠程支撐模塊(21)依次設置在非接觸式研磨棒直徑測量平臺(2)上，研磨棒自動夾持裝置(24)的一側設有夾頭(23)，精密光學測頭(22)的一端設有信號發生器(26)，精密光學測頭(22)的另一側設有信號接收器(27)。
【文檔編號】G01B11/08GK103852022SQ201210509276
【公開日】2014年6月11日 申請日期:2012年11月30日 優先權日:2012年11月30日
【發明者】夏發平 申請人:昆山允可精密工業技術有限公司