專利名稱：一種高速光組件測試夾具的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種光通信用光組件測試裝置，尤其涉及一種IOG以上高速光組件測試夾具。
背景技術：
壽命參數是衡量光組件產品最重要的性能指標之一。傳統的光組件壽命測試方法是將器件在其正常工作條件下，根據其失效時間來計算其壽命。由于光組件中的半導體光器件(激光器LD、光接收器PD)的壽命一般都很長，不便于實際操作。于是對于光器件的壽命測試，通常的測試方法都是采用升溫加速失效，在該過程中測量相關參數來計算半導體光器件的有效預期壽命。現有的壽命試驗裝置都是針對低速率(10G以下速率)的光器件，由于產品速率較低，RF射頻指標的測試受到器件管腳的寄生參數影響較小，測試電路 板(PCBA)可以使用一般的加電管腳插座直接與TO管腳插拔,壽命考核用電路板(PCBA)和測試用電路板(PCBA)上設置對應的插孔，光組件可以方便的插拔切換，比如先將光組件在一壽命考核用電路板(PCBA)上進行批量供電的壽命試驗，到達一定時間后可以快速的拆卸，然后將光組件轉移至常溫測試系統中進行測試。由于光組件可直接插拔的特性，壽命考核和光電指標的測試可以獨立進行，互不影響。但是，當光組件的速率達到IOG以上，由于RF射頻指標的測試受光器件管腳的寄生參數影響很大，光器件管腳必須通過一柔性電路板(FPC)與不同實驗環境用電路板(PCBA)連接，才能保證測試結果的準確性，導致在壽命試驗與性能測試的交替過程中，柔性電路板(FPC)需要與不同電路板反復焊接、拆卸，造成柔性電路板(FPC)損傷大，不能保證壽命試驗和測試條件的一致性，嚴重影響了壽命試驗結果。

實用新型內容為了克服以上缺點，本實用新型提供了一種結構簡單、拆裝方便快捷的高速光組件測試夾具。為實現以上發明目的，本實用新型提供一種高速光組件測試夾具，包括一測試夾具主體座，其上表面包括第一、第二區域，第一區域活動連接一測試電路板，所述第二區域用于活動放置一待測光組件，該光組件的高速TO管腳通過一柔性電路板與所述測試電路板連接；位于測試夾具主體座一側設有滑塊腔體用于容納一帶第一彈簧的滑塊，該滑塊底部設有限位突起，其第一彈簧頂于滑塊腔體側壁；位于測試夾具主體座的第二區域設有一限位塊和一通孔，該通孔內設有一帶有第二彈簧的擋塊，擋塊頂部自通孔底部向外伸出，第二彈簧頂于通孔的側壁處；一密封底板與所述測試夾具主體座下表面活動連接，該密封底板設有一限位槽與所述滑塊底部的限位突起相適配；所述密封底板四角設有向外伸出的四個定位突起；一測試夾具固定基座，其中心設有一空腔與所述密封底板相適配，該空腔的四角分別設有與所述定位突起相適配的凹槽，且空腔的其中一邊設有與所述滑塊位置對應的鎖定臺階；壽命試驗供電板，該主板上設有多個所述測試夾具固定基座的安裝位，所述測試電路板通過跳線連接頭與壽命試驗供電板電連接。[0005]還設有一頂緊螺栓通過與所述測試夾具主體座的螺孔相適配用于前后調節擋塊。所述壽命試驗供電板還設有多個加電管腳插座與所述待測光組件的低速TO管腳連接。所述壽命試驗供電板還設有多個發光二極管LED指示燈。由于上述高速光組件測試夾具可以通過密封底板設置的多個定位突起與測試夾具固定基座空腔活動連接，當需要將位于壽命試驗供電板上正進行壽命實驗中的光組件移出光電性能測試時，只需移動動滑塊，使密封底板的四個定位突起自測試夾具固定基座的
凹槽內脫落即可；而當光組件性能參數測試完畢后再繼續進行壽命時，移動滑塊，反方向輕推測試夾具主體座，使密封地板的定位突起卡入測試夾具固定基座的凹槽中，并通過鎖定臺階使整個測試夾具穩固于測試夾具固定基座的空腔內，即可置于高溫箱中繼續進行壽命試驗。測試電路板與壽命試驗供電板之間通過跳線實現活動電連接，光組件能夠方便快捷地拆卸和安裝，可以在壽命實驗與性能參數測試兩種環境間切換，不需要反復焊接、拆卸柔性電路板。同時在供電PCBA板上設置了加電管腳插座，還可以兼容低速率(10G以下速率)光組件以及高速光組件低速管腳的壽命試驗和測試；在供電PCBA板上還安裝了發光二極管LED指示燈，能夠時時監控組件的工作狀態，經濟實用。

圖I表示本實用新型高速光組件測試夾具零件爆炸示意圖；圖2表示圖I所示測試夾具主體座底部立體結構示意圖；圖3表示圖I所示測試夾具固定基座的平面結構示意圖；圖4表示圖I所示高速光組件測試夾具裝配結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖詳細描述本實用新型最佳實施例。如圖I、圖2、圖3和圖4所示的高速光組件測試夾具，包括一測試夾具主體座100，其上表面包括第一、第二區域110、120，第一區域110通過螺栓活動連接一測試電路板200，第二區域120用于活動放置一待測光組件400，該光組件的高速TO管腳通過一柔性電路板300與測試電路板200連接；位于測試夾具主體座100 —側設有滑塊腔體150用于容納一帶第一彈簧510的滑塊500，該滑塊底部設有限位突起520，其第一彈簧510頂于滑塊腔體150側壁151 ;位于測試夾具主體座100的第二區域120設有一限位塊160和一通孔170，該通孔內設有一帶有第二彈簧132的擋塊130，擋塊130頂部131自通孔170底部向外伸出，第二彈簧132頂于通孔170的側壁171處，測試夾具主體座100還設有一頂緊螺栓140通過與測試夾具主體座100的螺孔180相適配用于前后調節擋塊130。一密封底板600與測試夾具主體座100下表面通過螺栓活動連接，該密封底板設有一限位槽610與滑塊500底部的限位突起520相適配，使滑塊位于該槽內滑動,不會自滑塊腔體150內脫落。密封底板600四角設有向外伸出的四個定位突起620。一測試夾具固定基座700，其中心設有一空腔710與密封底板600相適配，該空腔710的四角分別設有與定位突起620相適配的凹槽720，且空腔710的其中一邊設有與滑塊500位置對應的鎖定臺階730。一壽命試驗供電板800，該主板上設有多個測試夾具固定基座700的安裝位用于安裝多個光組件測試夾具。測試電路板200通過跳線連接頭與壽命試驗供電板800電連接。壽命試驗供電板800還可以設有多個加電管腳插座810與光組件400的低速TO管腳連接；壽命試驗供電板800還設有多個發光二極管LED指示燈820用于監視發射器件的背光電流或接收器件的暗電流大小。本實用新型高速光組件測試夾具的工作過程如下首先將夾具組裝起來，將測試電路板200通過螺栓固定于測試夾具主體座100的第一區域110，再將裝有第一彈簧510的滑塊500置于測試夾具主體座100中的滑塊腔體150內，使第一彈簧510頂住滑塊腔體150的側壁151，將裝有第二彈簧132的擋塊130置于測試夾具主體座100底部的通孔170內，使第二彈簧132頂住通孔170的側壁171。蓋上密封底板600，并用螺栓固定，這樣光組件測試夾具就組裝完成了，如圖4所示。對于高速率(10G及以上速率)光組件的壽命試驗，先將待測光組件400的光發射和光接收高速TO管腳焊上柔性電路板300，調節并鎖定頂緊螺栓140固定待測光組件400于測試夾具主體座100第二區域120中，以保證光路，再將光組件400接收、發射部分的柔性板FPC分別焊接到測試電路板200上。由于壽命試驗供電板800上面螺紋活動連接有多個測試夾具固定基座700，將組裝好的測試夾具放置于測試夾具固定基座700的空腔710中，移動滑塊500，輕推測試夾具主體座100，使密封地板600的定位突起620卡入空腔710的凹槽720中，并通過鎖定臺階730使整個測試夾具穩固于 測試夾具固定基座700的空腔710中，即可置于高溫箱進行壽命試驗，在此過程中，可以根據壽命試驗供電板800上的發光二極管LED指示燈820的明暗程度來監控待測光組件400的工作狀況。當試驗進行一定時間后，移動滑塊500，輕推測試夾具主體座100，使密封底板600的定位突起620自測試夾具固定基座700的四個凹槽720內脫落，就可以方便取下光組件測試夾具并對其進行光電性能測試。另外，當待測光組件400的某個TO為低速率(10G以下速率)時，就不需要焊接柔性板了，可以將其管腳直接插入壽命試驗供電板800的加電管腳插座810。這樣高速光組件測試夾具(IOG及以上速率)就同時兼容了對低速光組件的壽命試驗與測試。
權利要求1.一種高速光組件測試夾具，其特征在于，包括一測試夾具主體座(100)，其上表面包括第一、第二區域(110、120)，第一區域(110)活動連接一測試電路板(200)，第二區域(120)用于活動放置一待測光組件(400)，該光組件的高速TO管腳通過柔性電路板(300)與所述測試電路板(200)連接；位于測試夾具主體座(100) —側設有滑塊腔體(150)用于容納一帶第一彈簧(510)的滑塊(500)，該滑塊底部設有限位突起(520)，其第一彈簧(510)頂于滑塊腔體(150)側壁(151);位于測試夾具主體座(100)的第二區域(120)設有一限位塊(160)和一通孔(170)，該通孔內設有一帶有第二彈簧(132)的擋塊(130)，擋塊(130)頂部(131)自通孔(170)底部向外伸出，第二彈簧(132)頂于通孔(170)的側壁(171)處；一密封底板(600 )與所述測試夾具主體座(100 )下表面活動連接，該密封底板設有一限位槽(610)與所述滑塊(500)底部的限位突起(520)相適配；所述密封底板(600)四角設有四個定位突起(620);—測試夾具固定基座(700)，其中心設有一空腔(710)與所述密封底板(600)相適配，該空腔(710)的四角分別設有與所述定位突起(620)相適配的凹槽(720)，且空腔(710)的其中一邊設有與所述滑塊(500)位置對應的鎖定臺階(730);—壽命試驗供電板(800)，該主板上設有多個所述測試夾具固定基座(700)的安裝位，所述測試電路板(200)通過跳線連接頭與壽命試驗供電板(800)電連接。
2.根據權利要求I所述的高速光組件測試夾具，其特征在于，還設有一頂緊螺栓(140)通過與所述測試夾具主體座(100)的螺孔(180)相適配用于前后調節擋塊(130)。
3.根據權利要求I所述的高速光組件測試夾具，其特征在于，所述壽命試驗供電板(800)還設有多個加電管腳插座(810)與所述待測光組件(400)的低速TO管腳連接。
4.根據權利要求I所述的高速光組件測試夾具，其特征在于，所述壽命試驗供電板(800)還設有多個發光二極管LED指示燈(820)。
專利摘要本實用新型提供一種高速光組件測試夾具，包括一測試夾具主體座，包括第一、第二區域，第一區域活動連接一測試電路板，第二區域用于活動放置一待測光組件；位于測試夾具主體座一側設有滑塊腔體用于容納帶第一彈簧的滑塊，該滑塊底部設有限位突起；位于測試夾具主體座的第二區域設有一限位塊和一通孔，該通孔內設有一帶有第二彈簧的擋塊，擋塊頂部自通孔底部向外伸出，第二彈簧頂于通孔的側壁處；密封底板與測試夾具主體座下表面活動連接，該密封底板設有一限位槽與滑塊底部的限位突起相適配；密封底板四角設有向外伸出的四個定位突起；測試夾具固定基座中心設有一空腔，該空腔四角分別設有與定位突起相適配的凹槽，以及滑塊位置對應的鎖定臺階。
文檔編號G01R31/00GK202522592SQ20122016181
公開日2012年11月7日 申請日期2012年4月17日 優先權日2012年4月17日
發明者李維杰, 王煜東, 鎮磊 申請人:深圳新飛通光電子技術有限公司