專利名稱：一種通電可靠性測試系統的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于電子電路的可靠性測試驗證領域，尤其涉及一種通電可靠性測試系統。
背景技術：
當前的電子產品在出廠前，需要進行通電可靠性測試，通過模擬突發停電或掉電、以及頻繁上下電等情況，來評估電子產品的各種通電狀況下的運行穩定性，以此及時發現廣品可能存在的潛在隱患?，F有技術通過可編程定時器產生定時觸發信號，來實現對電子產品的通電可靠性測試?？删幊潭〞r器又分為家居應用的定時器和企業應用的定時器。對家居應用的定時器而言，當其進行測試時，最短設置時間是分鐘級；對企業應用的定時器而言，通過將幾個定·時計時器集成，可設置小時級、分鐘級、秒級，最短設置時間是秒級。然而對于電子產品最小系統中的各被測電路而言，從電源輸入被測電路到被測電路完成上電的時間是毫秒級的，因此應用現有技術提供的可編程定時器僅能實現對最小系統中的各被測電路的冷啟動或熱啟動的測試，而無法完成對最小系統中的各被測電路頻繁上下電的測試。

實用新型內容本實用新型的目的在于提供一種通電可靠性測試系統，旨在解決現有技術提供的通電可靠性測試系統由于可編程定時器的最短設置時間級別是秒級或分鐘級，不適用于對上電時間是毫秒級的被測電路進行頻繁上下電的測試的問題。本實用新型是這樣實現的，一種通電可靠性測試系統，所述系統包括串聯在相應被測電路組供電通路上的至少一個測試單元組，所述被測電路組包括至少一個被測電路，所述測試單元組包括串聯在相應所述被測電路組供電通路上的至少一個測試單元；通過數據線連接所述測試單元組，根據用戶的設置指令控制相應所述測試單元的開關狀態、以控制相應所述被測電路上電與否的上位機。進一步地，所述上位機可以包括接收用戶的所述設置指令并發出控制相應所述測試單元開關狀態的控制信號的控制平臺；連接所述控制平臺的數據采集卡；連接所述數據采集卡，將所述控制平臺發出的所述控制信號發送給相應所述測試單元的第一接口，所述第一接口通過所述數據線連接所述測試單元組。更近一步地，所述控制平臺可以是基于Labview的控制平臺。同時，所述第一接口可以是PCI-E接口。上述通電可靠性測試系統中，所述測試單元可以包括[0016]通過所述數據線連接所述上位機的第二接口 ；連接所述第二接口并串聯在相應所述被測電路組供電通路上，由所述上位機通過所述第二接口控制開關狀態、以控制相應所述被測電路上電與否的至少一個通電切換單
J Li ο進一步地,所述第二接口可以是通用接口總線接口。同時，所述通電切換單元可以是繼電器單元。此時，所述至少一個測試單元組可以集成于一 ATE測試板。此時，進一步地，所述通電切換單元可以包括繼電器J ;所述繼電器J中線圈的一端連接一直流電，所述繼電器J中線圈的另一端連接所述第二接口；所述繼電器J的開關是 一雙聯開關，所述雙聯開關中兩個開關的動觸點均連接所述被測電路的供電單元，所述雙聯開關中兩個開關的常閉觸點懸空，所述雙聯開關中兩個開關的常開觸點連接所述被測電路。更近一步地，所述通電切換單元還可以包括電阻Rl和發光二極管Dl ;所述發光二極管Dl的陽極通過所述電阻Rl連接一直流電，所述發光二極管Dl的陰極連接所述第二接口。由于本實用新型實施例提供的通電可靠性測試系統是采用上位機控制方式，用戶可以通過上位機選擇相應測試單元組以及對應的通電可靠性測試項目，并對通電可靠性測試項目的時間參數進行設置，相對于現有可編程定時器，可設置的時間級別達到毫秒級，因而可實現對電子產品最小系統中的各被測電路進行頻繁上下電的測試；另外，當該通電可靠性測試系統包括有多個測試單元組時，可以設置不同的測試單元組進行不同的測試項目，可實現各測試組的獨立控制，拓展了系統的應用功能。

圖I是本實用新型實施例提供的通電可靠性測試系統的結構圖；圖2是圖I中上位機與測試單元的具體結構圖；圖3是圖2中通電切換單元122的一種電路圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，
以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。針對現有技術存在的問題，本實用新型實施例提供的通電可靠性測試系統是由上位機根據用戶的設置，控制串聯在被測電路供電通路上的相應測試單元的開關狀態，以控制被測電路上電與否，實現對被測電路的通電可靠性測試。圖I示出了本實用新型實施例提供的通電可靠性測試系統的結構，為了便于說明，僅示出了與本實用新型實施例相關的部分。本實用新型實施例提供的通電可靠性測試系統包括串聯在相應被測電路組供電通路上的至少一個測試單元組12 ;通過數據線連接測試單元組12，根據用戶的設置指令控制相應測試單元組12中相應測試單元的開關狀態、以控制相應被測電路組中相應被測電路上電與否的上位機11。其中的被測電路組包括有至少一個被測電路，該被測電路可以是直流輸入電路或交流輸入電路(如電源適配器等);相應地，其中的測試單元組12包括串聯在相應被測電路供電通路上的至少一個測試單元。該至少一個測試單元組12優選地集成于一自動測試設備(Automatic Test Equipment, ATE)測試板上。當采用該通電可靠性測試系統對被測電路進行通電可靠性測試時，用戶通過上位機11選取被測電路對應的測試單元地址，并選擇所需的通電可靠性測試項目，如頻繁上下電測試、定時開關機測試、冷啟動測試或熱啟動測試等；之后設置選擇的測試項目的時間參數，如上電時間、下電時間、上下電次數、單次測試或循環測試等。上位機11根據用戶的設置，向相應的測試單元組12中的相應測試單元發出控制信號，控制相應測試單元按照設置的時間參數執行開關動作，完成對被測電路的單次通電可靠性測試或循環通電可靠性測試。由于本實用新型實施例提供的通電可靠性測試系統是采用上位機11控制方式，用戶可以通過上位機選擇相應測試單元組12以及對應的通電可靠性測試項目，并對通電 可靠性測試項目的時間參數進行設置，相對于現有可編程定時器，可設置的時間級別達到毫秒級，因而可實現對電子產品最小系統中的各被測電路進行頻繁上下電的測試；另外，當該通電可靠性測試系統包括有多個測試單元組12時，可以設置不同的測試單元組12進行不同的測試項目，如利用一測試單元組12對被測電路組進行頻繁上下電測試；利用另一測試單元組12對被測電路組進行定時開關機測試；利用再一測試單元組12對被測電路組進行冷啟動測試；利用再一測試單元組12對被測電路組進行熱啟動測試，可實現各測試組的獨立控制，拓展了系統的應用功能。圖2以一個測試單元組12為例，示出了圖I中上位機11與測試單元組12的具體結構。上位機11可以包括接收用戶的設置指令并發出控制相應測試單元開關狀態的控制信號的控制平臺111 ;連接控制平臺111的數據采集卡113 ;連接數據采集卡113，將控制平臺111發出的控制信號發送給相應測試單元的第一接口 113，第一接口 113通過數據線連接測試單元組12。優選地,控制平臺111是基于Labview的控制平臺；第一接口 113是PCI-E 接口。測試單元可以包括通過數據線連接上位機11的第二接口 121;連接第二接口121并串聯在相應被測電路供電通路上，由上位機11通過第二接口 121控制開關狀態、以控制相應被測電路上電與否的至少一個通電切換單元122，每一通電切換單元122與第二接口 121的組合構成一測試單元。優選地，第二接口121 是通用接口總線(General-Purpose Interface Bus, GPIB)接口 ；通電切換單元122是繼電器單元。圖3以通電切換單元122是繼電器單元時，示出了通電切換單元122的一種電路。具體地，通電切換單元122可以包括繼電器J，繼電器J中線圈的一端連接+5V直流電，繼電器J中線圈的另一端連接第二接口 121 ;繼電器J的開關是一雙聯開關，雙聯開關中兩個開關的動觸點均連接被測電路的供電單元，雙聯開關中兩個開關的常閉觸點懸空，雙聯開關中兩個開關的常開觸點連接被測電路。該通電切換單元122的電路在工作時，在上電時間內，上位機11通過第二接口 121發送低電平控制信號，使得繼電器J的線圈上電，帶動繼電器J的開關閉合，則供電單元向被測電路供電；在下電時間內，上位機11通過第二接口 121發送高電平控制信號，使得繼電器J的線圈失電，帶動繼電器J的開關斷開，則供電單元停止向被測電路供電。進一步地，通電切換單元122還可以包括電阻Rl和發光二極管D1。發光二極管Dl的陽極通過電阻Rl連接+5V直流電，發光二極管Dl的陰極連接第二接口 121。則上位機11在通過第二接口 121發送低電平控制信號時，發光二極管Dl同時發光，以提供當前繼電器J的工作狀態。由于本實用新型實施例提供的通電可靠性測試系統是采用上位機11控制方式，用戶可以通過上位機選擇相應測試單元組12以及對應的通電可靠性測試項目，并對通電可靠性測試項目的時間參數進行設置，相對于現有可編程定時器，可設置的時間級別達到毫秒級，因而可實現對電子產品最小系統中的各被測電路進行頻繁上下電的測試；另外，當該通電可靠性測試系統包括有多個測試單元組12時，可以設置不同的測試單元組12進行不同的測試項目，如利用一測試單元組12對被測電路組進行頻繁上下電測試；利用另一測試單元組12對被測電路組進行定時開關機測試；利用再一測試單元組12對被測電路組·進行冷啟動測試；利用再一測試單元組12對被測電路組進行熱啟動測試，可實現各測試組的獨立控制，拓展了系統的應用功能。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1.一種通電可靠性測試系統，其特征在于，所述系統包括 串聯在相應被測電路組供電通路上的至少一個測試單元組，所述被測電路組包括至少一個被測電路，所述測試單元組包括串聯在相應所述被測電路組供電通路上的至少一個測試單元； 通過數據線連接所述測試單元組，根據用戶的設置指令控制相應所述測試單元的開關狀態、以控制相應所述被測電路上電與否的上位機。
2.如權利要求I所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述上位機包括 接收用戶的所述設置指令并發出控制相應所述測試單元開關狀態的控制信號的控制平臺； 連接所述控制平臺的數據采集卡； 連接所述數據采集卡，將所述控制平臺發出的所述控制信號發送給相應所述測試單元的第一接口，所述第一接口通過所述數據線連接所述測試單元組。
3.如權利要求2所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述控制平臺是基于Labview的控制平臺。
4.如權利要求2所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述第一接口是PCI-E接□。
5.如權利要求I至4任一項所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述測試單元包括 通過所述數據線連接所述上位機的第二接口； 連接所述第二接口并串聯在相應所述被測電路組供電通路上，由所述上位機通過所述第二接口控制開關狀態、以控制相應所述被測電路上電與否的至少一個通電切換單元。
6.如權利要求5所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述第二接口是通用接口總線接口。
7.如權利要求5所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述通電切換單元是繼電 器單元。
8.如權利要求7所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述至少一個測試單元組集成于一 ATE測試板。
9.如權利要求7所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述通電切換單元包括繼電器J ; 所述繼電器J中線圈的一端連接一直流電，所述繼電器J中線圈的另一端連接所述第二接口 ；所述繼電器J的開關是一雙聯開關，所述雙聯開關中兩個開關的動觸點均連接所述被測電路的供電單元，所述雙聯開關中兩個開關的常閉觸點懸空，所述雙聯開關中兩個開關的常開觸點連接所述被測電路。
10.如權利要求9所述的通電可靠性測試系統，其特征在于，所述通電切換單元還包括電阻Rl和發光二極管Dl ； 所述發光二極管Dl的陽極通過所述電阻Rl連接一直流電，所述發光二極管Dl的陰極連接所述第二接口。
專利摘要本實用新型適用于電子電路的可靠性測試驗證領域，提供了一種通電可靠性測試系統，包括串聯在相應被測電路組供電通路上的至少一個測試單元組，被測電路組包括至少一個被測電路，測試單元組包括串聯在相應被測電路供電通路上的至少一個測試單元；通過數據線連接測試單元組的上位機。該系統采用上位機控制方式，用戶通過上位機選擇相應測試單元組以及對應的通電可靠性測試項目，并對項目的時間參數進行設置，相對于現有可編程定時器，可設置的時間級別達到毫秒級，因而可實現對電子產品最小系統中的各被測電路進行頻繁上下電的測試；另外，當該通電可靠性測試系統包括有多個測試單元組時，可設置不同的測試單元組進行不同的測試項目。
文檔編號G01R31/00GK202710672SQ20122016573
公開日2013年1月30日 申請日期2012年4月18日 優先權日2012年4月18日
發明者陳吉 申請人:深圳市宏電技術股份有限公司