一種金屬探測門結構的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種金屬探測門結構，包括門體和設置在門體內的控制電路，所述的門體內設有接收線圈和發射線圈，所述的接收線圈、發射線圈分別連接控制電路，所述的接收線圈繞設在發射線圈兩側。與現有技術相比，本實用新型具有抗共模干擾能力強，提高系統的檢測精度，實現對小金屬的精確檢測等優點。
【專利說明】一種金屬探測門結構
【技術領域】
[0001 ] 本實用新型涉及異物檢測技術，尤其是涉及一種金屬探測門結構。
[0002]【背景技術】
[0003]金屬探測門是一種檢測行人有無攜帶金屬物品的探測裝置，又稱安檢門(Metaldetection door)。其原理為在門中建立有電磁場，當人體攜帶金屬物品通過時能產生報警，可準確探測到人身上或手體包中所攜帶的金屬物品，如各種管制刀具、武器、金屬制品、電子產品及其他含有金屬的物品等，它是一種安全、有效的安檢裝置。金屬探測安檢門主要應用在機場，車站，大型會議等人流較大的公共場所用來檢查人身體上隱藏的金屬物品。
[0004]金屬安全探測門已經進入數字化時代，使用了很多當今的先進技術，性能越來越出色，但是仍然處在不斷發展完善中，目前對于小金屬(如直徑為0.5mm的Fe等)，金屬安全探測門的檢測精度較差，這大大影響了檢測時的準確性。
【發明內容】
[0005]本實用新型的目的就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供一種金屬探測門結構，采用封閉型的門體結構，抗共模干擾能力強，提高系統的檢測精度，實現對小金屬的精確檢測。
[0006]本實用新型的目的可以通過以下技術方案來實現:
[0007]一種金屬探測門結構，包括門體和設置在門體內的控制電路，所述的門體內設有接收線圈和發射線圈，所述的接收線圈、發射線圈分別連接控制電路，所述的接收線圈繞設在發射線圈兩側。
[0008]所述的接收線圈為一根銅線繞制而成。
[0009]所述的控制電路包括信號激勵子電路、信號預處理子電路和CPU，所述的CPU分別連接信號激勵子電路和信號預處理子電路，所述的信號激勵子電路與發射線圈連接，所述的信號預處理子電路與接收線圈連接。
[0010]所述的門體為中空的框架結構，所述的接收線圈和發射線圈分別沿框架結構繞制。
[0011]與現有技術相比，本實用新型采用發射線圈兩側分布接收線圈的結構形式，接收線圈采用整個銅線繞制而成，為差分接收方式，這將增加本實用新型的抗共模干擾能力。同時由于本實用新型沒有分區的概念，工作頻率將極大地提高，提高系統的檢測精度，減小相應的相應時間。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0012]圖1為本實用新型的結構示意圖；
[0013]圖2為本實用新型的使用示意圖；
[0014]圖2中，箭頭表示待檢測體通過方向；
[0015]圖3為本實用新型接收線圈與發射線圈的繞制示意圖?！揪唧w實施方式】
[0016]下面結合附圖和具體實施例對本實用新型進行詳細說明。本實施例以本實用新型技術方案為前提進行實施，給出了詳細的實施方式和具體的操作過程，但本實用新型的保護范圍不限于下述的實施例。
[0017]如圖1-2所示，一種金屬探測門結構，包括門體I和設置在門體內的控制電路2，所述的門體I內設有接收線圈3和發射線圈4，所述的接收線圈3、發射線圈4分別連接控制電路2，如圖3所示，所述的接收線圈3繞設在發射線圈4兩側，接收線圈3為一根銅線繞制而成，形成差分接收方式，即兩信號輸出端口信號相位相反，其具體取值為二者之間的差值，增加了抗共模干擾能力。所述的門體I為中空的框架結構，所述的接收線圈4和發射線圈3分別沿框架結構繞制。
[0018]所述的控制電路2包括信號激勵子電路、信號預處理子電路和CPU，所述的CRJ分別連接信號激勵子電路和信號預處理子電路，信號預處理包括濾波和放大，所述的信號激勵子電路與發射線圈4連接，發射線圈4將信號激勵子電路產生的發射信號轉變為空間磁場，所述的信號預處理子電路與接收線圈3連接，接收線圈3感應與接收空間磁場信號并將其傳送給信號預處理子電路。
【權利要求】
1.一種金屬探測門結構，包括門體和設置在門體內的控制電路，其特征在于，所述的門體內設有接收線圈和發射線圈，所述的接收線圈、發射線圈分別連接控制電路，所述的接收線圈繞設在發射線圈兩側。
2.根據權利要求1所述的一種金屬探測門結構，其特征在于，所述的接收線圈為一根銅線繞制而成。
3.根據權利要求1所述的一種金屬探測門結構，其特征在于，所述的控制電路包括信號激勵子電路、信號預處理子電路和CPU，所述的CRJ分別連接信號激勵子電路和信號預處理子電路，所述的信號激勵子電路與發射線圈連接，所述的信號預處理子電路與接收線圈連接。
4.根據權利要求1所述的一種金屬探測門結構，其特征在于，所述的門體為中空的框架結構，所述的接收線圈和發射線圈分別沿框架結構繞制。
【文檔編號】G01V3/11GK203606512SQ201320700460
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2013年11月7日 優先權日:2013年11月7日
【發明者】幸波, 周茂林, 施利輝, 劉曉東, 彭亮, 項安 申請人:上海太易檢測技術有限公司