密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法及裝置制造方法
【專利摘要】一種密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法及裝置，在密閉容器進料口的接口盤上安裝一個多相物料料位監(jiān)測裝置，多相物料料位監(jiān)測裝置中的透明法蘭盤和法蘭盤端蓋固定安裝在密閉容器的接口盤上，透明法蘭盤與接口盤的端面設有下密封墊圈，透明法蘭盤與法蘭盤端蓋的端面設有上密封墊圈，發(fā)光標尺穿過透明法蘭盤上的通孔伸入到密閉容器內(nèi)的多相物料中。對密閉容器內(nèi)的物料料位進行監(jiān)測時，打開監(jiān)測裝置中攝像頭和發(fā)光標尺的電源，發(fā)光標尺為攝像頭攝像提供光源，攝像頭對密閉容器內(nèi)的多相物料料位進行監(jiān)測，并根據(jù)發(fā)光標尺上的刻度對多相物料的料位分別進行度量，并將采集到的圖像通過信號線傳輸?shù)接嬎銠C，通過計算機顯示多相物料的料位并對其進行監(jiān)控。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種物料料位監(jiān)測方法及裝置，特別是一種對密閉容器內(nèi)多相物料進 行料位監(jiān)測的方法及裝置。 密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法及裝置

【背景技術】
[0002] 目前，對密閉容器中物料料位的監(jiān)測都是采用料位傳感器來實現(xiàn)，但碰到多相物 料混合的情況時(例如液相和固相混合)，物料會有明顯的分層，此時采用傳統(tǒng)的料位傳感 器就無法分別監(jiān)測出液相與固相的料位高度。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術的上述不足而提供一種對密閉容器內(nèi)多相物料進 行料位監(jiān)測的方法及裝置。
[0004] 本發(fā)明的技術方案是：一種密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法，在密閉容器進料口 的接口盤上安裝一個多相物料料位監(jiān)測裝置，多相物料料位監(jiān)測裝置中的透明法蘭盤和法 蘭盤端蓋通過螺栓螺母固定安裝在密閉容器的接口盤上，透明法蘭盤與接口盤的端面設有 下密封墊圈，透明法蘭盤與法蘭盤端蓋的端面設有上密封墊圈，發(fā)光標尺穿過透明法蘭盤 上的通孔伸入到密閉容器內(nèi)的多相物料中。
[0005] 對密閉容器內(nèi)的物料料位進行監(jiān)測時，打開監(jiān)測裝置中攝像頭和發(fā)光標尺的電 源，發(fā)光標尺為攝像頭攝像提供光源，攝像頭對密閉容器內(nèi)的多相物料料位進行監(jiān)測，并根 據(jù)發(fā)光標尺上的刻度對多相物料的料位分別進行度量，并將采集到的圖像通過信號線傳輸 到計算機，通過計算機顯示多相物料的料位并對其進行監(jiān)控。
[0006] 上述方法采用的多相物料料位監(jiān)測裝置包括透明法蘭盤、法蘭盤端蓋、攝像頭安 裝?而蓋、攝像頭、發(fā)光標尺接頭及發(fā)光標尺。
[0007] 所述的透明法蘭盤上設有通孔及復數(shù)個螺桿孔。
[0008] 所述的法蘭盤端蓋上設有用來安裝攝像頭安裝端蓋的中心螺紋孔、發(fā)光標尺接頭 螺紋孔及復數(shù)個螺桿孔，用來安裝發(fā)光標尺接頭的螺紋孔與透明法蘭盤上的通孔對應，法 蘭盤端蓋上的復數(shù)個螺桿孔與透明法蘭盤上的復數(shù)個螺桿孔一一對應。
[0009] 所述的發(fā)光標尺的表面涂有一層透明膠。
[0010] 攝像頭安裝端蓋安裝在法蘭盤端蓋上的中心螺紋孔內(nèi)，攝像頭固定安裝在攝像頭 安裝端蓋孔內(nèi)的底板上。發(fā)光標尺接頭安裝在法蘭盤端蓋上的發(fā)光標尺接頭螺紋孔內(nèi)，發(fā) 光標尺固定安裝在發(fā)光標尺接頭孔內(nèi)的底板上。
[0011] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比具有如下特點： 本發(fā)明提供的密閉容器多相物料料位監(jiān)測裝置克服了現(xiàn)有技術存在的缺點，采用攝像 頭和發(fā)光標尺對密閉容器內(nèi)的多相物料料位進行監(jiān)測，然后通過通過計算機顯示多相物料 的料位并對其進行監(jiān)控。
[0012] 以下結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明的詳細結(jié)構作進一步描述。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013] 附圖1為本發(fā)明的結(jié)構示意圖； 附圖2為法蘭盤端蓋的結(jié)構示意圖； 附圖3為透明法蘭盤的結(jié)構示意圖； 附圖4為攝像頭安裝端蓋與攝像頭的安裝示意圖； 附圖5為附圖4中的仰視圖； 附圖6為發(fā)光標尺接頭與發(fā)光標尺的安裝示意圖； 附圖7為附圖6中的仰視圖。

【具體實施方式】
[0014] 一種密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法，在密閉容器9進料口的接口盤9-1上安裝 一個多相物料料位監(jiān)測裝置，多相物料料位監(jiān)測裝置中的透明法蘭盤1和法蘭盤端蓋2通 過螺栓螺母固定安裝在密閉容器9的接口盤9-1上，透明法蘭盤1與接口盤9-1的端面設 有下密封墊圈8,透明法蘭盤1與法蘭盤端蓋2的端面設有上密封墊圈7,發(fā)光標尺6穿過 透明法蘭盤1上的通孔1-1伸入到密閉容器9內(nèi)的多相物料10中。
[0015] 對密閉容器9內(nèi)的多相物料10的料位進行監(jiān)測時，打開監(jiān)測裝置中攝像頭4和發(fā) 光標尺6的電源，發(fā)光標尺6為攝像頭4攝像提供光源，攝像頭4對密閉容器9內(nèi)多相物料 10的料位進行監(jiān)測，并根據(jù)發(fā)光標尺6上的刻度對多相物料10的料位分別進行度量，并將 采集到的圖像通過信號線傳輸?shù)接嬎銠C，通過計算機顯示多相物料10的料位并對其進行 監(jiān)控。
[0016] 上述方法采用的多相物料料位監(jiān)測裝置包括透明法蘭盤1、法蘭盤端蓋2、攝像頭 安裝％5蓋3、攝像頭4、發(fā)光標尺接頭5及發(fā)光標尺6。
[0017] 所述的透明法蘭盤1上設有通孔1-1及復數(shù)個螺桿孔1-2。
[0018] 所述的法蘭盤端蓋2上設有用來安裝攝像頭安裝端蓋3的中心螺紋孔2-1、發(fā)光標 尺接頭螺紋孔2-2及復數(shù)個螺桿孔2-3,用來安裝發(fā)光標尺接頭5的螺紋孔2-2與透明法蘭 盤1上的通孔1-1對應，法蘭盤端蓋2上的復數(shù)個螺桿孔2-3與透明法蘭盤1上的復數(shù)個 螺桿孔1-2--對應。
[0019] 所述的發(fā)光標尺6的表面涂有一層透明膠。
[0020] 攝像頭安裝端蓋3安裝在法蘭盤端蓋2上的中心螺紋孔2-1內(nèi)，攝像頭4固定安 裝在攝像頭安裝端蓋3孔內(nèi)的底板上。發(fā)光標尺接頭5安裝在法蘭盤端蓋2上的發(fā)光標尺 接頭螺紋孔2-2內(nèi)，發(fā)光標尺6固定安裝在發(fā)光標尺接頭5孔內(nèi)的底板上。
【權利要求】
1. 一種密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法，其特征是：在密閉容器進料口的接口盤上安 裝一個多相物料料位監(jiān)測裝置，多相物料料位監(jiān)測裝置中的透明法蘭盤和法蘭盤端蓋通過 螺栓螺母固定安裝在密閉容器的接口盤上，透明法蘭盤與接口盤的端面設有下密封墊圈， 透明法蘭盤與法蘭盤端蓋的端面設有上密封墊圈，發(fā)光標尺穿過透明法蘭盤上的通孔伸入 到密閉容器內(nèi)的多相物料中； 對密閉容器內(nèi)的物料料位進行監(jiān)測時，打開監(jiān)測裝置中攝像頭和發(fā)光標尺的電源，發(fā) 光標尺為攝像頭攝像提供光源，攝像頭對密閉容器內(nèi)的多相物料料位進行監(jiān)測，并根據(jù)發(fā) 光標尺上的刻度對多相物料的料位分別進行度量，并將采集到的圖像通過信號線傳輸?shù)接?算機，通過計算機顯示多相物料的料位并對其進行監(jiān)控。
2. 根據(jù)權利要求1所述的一種密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法，其特征是：所述的多 相物料料位監(jiān)測裝置包括透明法蘭盤、法蘭盤端蓋、攝像頭安裝端蓋、攝像頭、發(fā)光標尺接 頭及發(fā)光標尺； 所述的透明法蘭盤上設有通孔及復數(shù)個螺桿孔； 所述的法蘭盤端蓋上設有用來安裝攝像頭安裝端蓋的中心螺紋孔、發(fā)光標尺接頭螺紋 孔及復數(shù)個螺桿孔，用來安裝發(fā)光標尺接頭的螺紋孔與透明法蘭盤上的通孔對應，法蘭盤 端蓋上的復數(shù)個螺桿孔與透明法蘭盤上的復數(shù)個螺桿孔一一對應； 攝像頭安裝端蓋安裝在法蘭盤端蓋上的中心螺紋孔內(nèi)，攝像頭固定安裝在攝像頭安裝 端蓋孔內(nèi)的底板上；發(fā)光標尺接頭安裝在法蘭盤端蓋上的發(fā)光標尺接頭螺紋孔內(nèi)，發(fā)光標 尺固定安裝在發(fā)光標尺接頭孔內(nèi)的底板上。
3. 根據(jù)權利要求2所述的一種密閉容器多相物料料位監(jiān)測方法，其特征是：所述的發(fā) 光標尺的表面涂有一層透明膠。
【文檔編號】G01F23/04GK104101401SQ201410363547
【公開日】2014年10月15日 申請日期:2014年7月29日 優(yōu)先權日:2014年7月29日
【發(fā)明者】雷澤勇, 趙立宏, 袁鋒偉, 鄧騫, 雷林, 胡鄂明, 鄧健, 錢皎龍, 劉兵, 莫瑾, 趙祥龍 申請人:南華大學