發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，涉及發(fā)電機(jī)故障檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，該發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備包括：雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路、阻抗匹配集成電路以及嵌入式數(shù)據(jù)采集卡；阻抗匹配集成電路設(shè)置有多個接口，嵌入式數(shù)據(jù)采集卡設(shè)置有數(shù)據(jù)輸出接口；雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路與阻抗匹配集成電路連接；發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接；發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接；發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的大軸相連接；該多個接口中的數(shù)據(jù)采集連接接口與嵌入式數(shù)據(jù)采集卡連接。本實(shí)用新型能夠獲取發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備所需的脈沖反射信號。
【專利說明】發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及發(fā)電機(jī)故障檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，隨著電力工業(yè)的飛速發(fā)展以及用電量的大幅提高，人們對發(fā)電機(jī)的可靠性提出了更高的要求。然而發(fā)電機(jī)的轉(zhuǎn)子在制造工藝、絕緣材料上可能存在缺陷，且發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子在運(yùn)行中由于受到機(jī)械應(yīng)力、溫度、油污等工作環(huán)境因素的影響，近年來出現(xiàn)了越來越多的轉(zhuǎn)子匝間短路故障。轉(zhuǎn)子匝間短路故障對發(fā)電機(jī)的安全運(yùn)行危害比較大。例如，容易引起轉(zhuǎn)子異常振動或振動幅值超標(biāo)；另外，匝間短路點(diǎn)的高溫可能造成鄰近的匝間絕緣墊條的損傷，引發(fā)更嚴(yán)重的匝間短路，甚至引起轉(zhuǎn)子繞組接地故障，燒壞轉(zhuǎn)子繞組或轉(zhuǎn)子本體；另外，匝間短路還可能使轉(zhuǎn)子大軸磁化，進(jìn)一步加劇轉(zhuǎn)子運(yùn)行中的振動，可能損壞軸瓦或軸頸，并形成惡性循環(huán)，嚴(yán)重危及發(fā)電機(jī)的安全運(yùn)行。因此，當(dāng)前對發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子進(jìn)行定期檢測發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子是否發(fā)生匝間短路故障尤為重要。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，以獲取發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備所需的脈沖反射信號。
[0004]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0005]一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，連接發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備，包括雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路、阻抗匹配集成電路以及嵌入式數(shù)據(jù)采集卡；所述阻抗匹配集成電路設(shè)置有發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口、數(shù)據(jù)采集連接接口以及發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口，所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡設(shè)置有數(shù)據(jù)輸出接口與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備連接；
[0006]所述雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路與所述阻抗匹配集成電路連接以向所述阻抗匹配集成電路傳輸?shù)谝幻}沖信號；
[0007]所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接，以傳輸?shù)诙}沖信號并接收所述第二脈沖信號的反射信號；所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接，以傳輸?shù)谌}沖信號并接收所述第三脈沖信號的反射信號；所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的大軸相連接；所述數(shù)據(jù)采集連接接口與所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡連接，以向所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡傳輸所述第二脈沖信號的反射信號和第三脈沖信號的反射信號。
[0008]進(jìn)一步的，所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，還包括脈沖放電調(diào)制電路，所述脈沖放電調(diào)制電路與所述雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路和阻抗匹配集成電路分別連接。
[0009]進(jìn)一步的，所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，還包括脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路，所述脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口和發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口連接。
[0010]具體的，所述脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路包括:第一電阻、第二電阻、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路以及一開關(guān)；
[0011 ] 所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口依次通過所述第一電阻、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路以及所述第二電阻與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口連接；
[0012]或者，發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口依次通過所述第一電阻、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路以及所述第二電阻與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口連接；
[0013]所述第二電阻與所述開關(guān)并聯(lián)。
[0014]進(jìn)一步的，所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，還包括交流電源，所述交流電源通過過流保護(hù)器、雙繞組降壓變壓器、半波整流電路、濾波電路、調(diào)制電路與所述雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路連接。
[0015]本實(shí)用新型實(shí)施例提供的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，包括雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路、阻抗匹配集成電路以及嵌入式數(shù)據(jù)采集卡；所述阻抗匹配集成電路設(shè)置有發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口、數(shù)據(jù)采集連接接口以及發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口，所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡設(shè)置有數(shù)據(jù)輸出接口與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備連接；所述雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路與所述阻抗匹配集成電路連接以向所述阻抗匹配集成電路傳輸?shù)谝幻}沖信號；所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接，以傳輸?shù)诙}沖信號并接收所述第二脈沖信號的反射信號；所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接，以傳輸?shù)谌}沖信號并接收所述第三脈沖信號的反射信號；所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的大軸相連接；所述數(shù)據(jù)采集連接接口與所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡連接，以向所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡傳輸所述第二脈沖信號的反射信號和第三脈沖信號的反射信號，進(jìn)而向發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備傳輸所述第二脈沖信號的反射信號和第三脈沖信號的反射信號。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例中的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組的匝間示意圖；
[0020]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0022]下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0023]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例提供一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備10，連接發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備11，該發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備10包括雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路101、阻抗匹配集成電路102以及嵌入式數(shù)據(jù)采集卡103。該阻抗匹配集成電路102設(shè)置有發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口 104、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口105、數(shù)據(jù)采集連接接口 106以及發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口 107，該嵌入式數(shù)據(jù)采集卡103設(shè)置有數(shù)據(jù)輸出接口 108與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備11連接。
[0024]雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路101與阻抗匹配集成電路102連接以向阻抗匹配集成電路102傳輸一第一脈沖信號。
[0025]該發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口 104與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)201連接，以傳輸一第二脈沖信號并接收第二脈沖信號的反射信號。發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口 105與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)202連接，以傳輸一第三脈沖信號并接收第三脈沖信號的反射信號。發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口 107與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的大軸203相連接。數(shù)據(jù)采集連接接口 106與嵌入式數(shù)據(jù)采集卡103連接，以向嵌入式數(shù)據(jù)采集卡103傳輸?shù)诙}沖信號的反射信號和第三脈沖信號的反射信號。
[0026]該發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備可以采用TMS320C3X/C4X/C8X、ADSP21XXX、DSP32/32C、或者 AT91SAM9x5 系列芯片等。
[0027]為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員對發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路進(jìn)行了解，如圖2所示，列舉了一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組的結(jié)構(gòu)，一個發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組包括多個線圈，即可稱為多個線包或者多套，每個線包由多匝銅片(例如7-10匝)疊制組成。而如圖3所示，各層銅片的匝(例如匝30)與匝(例如匝32)之間設(shè)置有絕緣層31。如果絕緣層31由于溫度過熱或存在異物等原因而破壞，使得兩匝銅片相導(dǎo)通，造成發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子出現(xiàn)了匝間短路故障。
[0028]進(jìn)一步的，如圖4所示，發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備10，還包括脈沖放電調(diào)制電路109，脈沖放電調(diào)制電路109與雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路101和阻抗匹配集成電路102分別連接。
[0029]該脈沖放電調(diào)制電路109可以調(diào)制脈沖的下降沿即放電時間，從而改變脈沖波形，能夠適應(yīng)待檢測的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的需要。
[0030]進(jìn)一步的，如圖4所示，該發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備10，還包括脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路110，脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路110可以與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口和發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口連接。
[0031]具體的如圖4所示，脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路110包括:第一電阻111、第二電阻112、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路113以及一開關(guān)114。
[0032]發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口 104可以依次通過第一電阻111、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路113以及第二電阻112與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口 105連接。
[0033]或者如圖5所示，發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口 105可以依次通過第一電阻111、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路113以及第二電阻112與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口 104連接。
[0034]另外，如圖4和圖5所示，該第二電阻112與開關(guān)114并聯(lián)。
[0035]當(dāng)上述開關(guān)閉合的時候，第二電阻短路，從而表示電路故障；當(dāng)開關(guān)斷開時，即表示無故障。
[0036]進(jìn)一步的如圖4所示，發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備10，還包括交流電源115，交流電源115通過過流保護(hù)器116、雙繞組降壓變壓器117、半波整流電路118、濾波電路119、調(diào)制電路120與雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路101連接。
[0037]另外，該阻抗匹配集成電路102中設(shè)置有兩個相同參數(shù)的變阻器，以通過變阻器分別調(diào)整第二脈沖信號和第三脈沖信號的波形。
[0038]本實(shí)用新型實(shí)施例提供的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，連接了發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備，包括雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路、阻抗匹配集成電路以及嵌入式數(shù)據(jù)采集卡；阻抗匹配集成電路設(shè)置有發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口、數(shù)據(jù)采集連接接口以及發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口，嵌入式數(shù)據(jù)采集卡設(shè)置有數(shù)據(jù)輸出接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備連接；雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路與阻抗匹配集成電路連接以向阻抗匹配集成電路傳輸?shù)谝幻}沖信號；發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接，以傳輸?shù)诙}沖信號并接收第二脈沖信號的反射信號；發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接，以傳輸?shù)谌}沖信號并接收第三脈沖信號的反射信號；發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的大軸相連接；數(shù)據(jù)采集連接接口與嵌入式數(shù)據(jù)采集卡連接，以向嵌入式數(shù)據(jù)采集卡傳輸?shù)诙}沖信號的反射信號和第三脈沖信號的反射信號，進(jìn)而向發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備傳輸所述第二脈沖信號的反射信號和第三脈沖信號的反射信號。
[0039]本實(shí)用新型中應(yīng)用了具體實(shí)施例對本實(shí)用新型的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本實(shí)用新型的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本實(shí)用新型的限制。
【權(quán)利要求】
1.一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，連接發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備，其特征在于，包括雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路、阻抗匹配集成電路以及嵌入式數(shù)據(jù)采集卡；所述阻抗匹配集成電路設(shè)置有發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口、數(shù)據(jù)采集連接接口以及發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口，所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡設(shè)置有數(shù)據(jù)輸出接口與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀后端設(shè)備連接； 所述雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路與所述阻抗匹配集成電路連接以向所述阻抗匹配集成電路傳輸?shù)谝幻}沖信號； 所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接，以傳輸?shù)诙}沖信號并接收所述第二脈沖信號的反射信號；所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接，以傳輸?shù)谌}沖信號并接收所述第三脈沖信號的反射信號；所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子大軸接口與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的大軸相連接；所述數(shù)據(jù)采集連接接口與所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡連接，以向所述嵌入式數(shù)據(jù)采集卡傳輸所述第二脈沖信號的反射信號和第三脈沖信號的反射信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，其特征在于，還包括脈沖放電調(diào)制電路，所述脈沖放電調(diào)制電路與所述雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路和阻抗匹配集成電路分別連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，其特征在于，還包括脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路，所述脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口和發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，其特征在于，所述脈沖校準(zhǔn)及故障模擬電路包括:第一電阻、第二電阻、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路以及一開關(guān)； 所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口依次通過所述第一電阻、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路以及所述第二電阻與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口連接； 或者，發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子外環(huán)連接接口依次通過所述第一電阻、發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子參數(shù)模擬電路以及所述第二電阻與所述發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子內(nèi)環(huán)連接接口連接； 所述第二電阻與所述開關(guān)并聯(lián)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子匝間短路測試儀前端設(shè)備，其特征在于，還包括交流電源，所述交流電源通過過流保護(hù)器、雙繞組降壓變壓器、半波整流電路、濾波電路、調(diào)制電路與所述雙向擊穿脈沖發(fā)生器集成電路連接。
【文檔編號】G01R31/06GK203941260SQ201420372125
【公開日】2014年11月12日 申請日期:2014年7月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月4日
【發(fā)明者】龍飛, 王勁松, 梅志剛, 雷雨, 孫士濤 申請人:國家電網(wǎng)公司, 華北電力科學(xué)研究院有限責(zé)任公司