本發(fā)明涉及電子測試針技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種帶螺牙的測試針。

背景技術(shù)：

測試針，業(yè)內(nèi)也稱探針，用于PCB板測試時又分為彈簧針(專用針)和通用針，彈簧針在使用時，需要根據(jù)所測試的PCB板的布線情況制作測試模具，且一般情況下，一個模具只能測試一種PCB板；通用針在使用時，只需有足夠的點數(shù)即可，故現(xiàn)在很多廠家都在使用通用針；彈簧針根據(jù)使用情況又分為PCB板探針、ICT探針、BGA探針，PCB板探針主要用于PCB板測試，ICT探針主要用于插件后的在線測試，BGA探針主要用于BGA封裝測試及芯片測試。

為了應(yīng)對各種的測試產(chǎn)品，需要用到帶螺牙的測試針對產(chǎn)品進(jìn)行測試，但是目前帶螺牙的測試針需要在開口端預(yù)留收口空間，增加了該測試針的生產(chǎn)難度及成本。

因此，尋找一種不用在開口端處預(yù)留收口空間的帶螺牙測試針成為本技術(shù)領(lǐng)域人員所研究的重要課題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例公開了一種帶螺牙的測試針，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中的帶螺牙測試針在針管開口處需要做收口工藝，增加生產(chǎn)難度的問題。

本發(fā)明實施例提供了一種帶螺牙的測試針，包括：針軸、針管、彈簧和卡環(huán)；

所述卡環(huán)設(shè)置于所述針管開口端的內(nèi)壁；

所述針軸包括測試頭部和尾端部；所述尾端部通過所述卡環(huán)卡緊在所述針管內(nèi)，所述測試頭部伸出所述針管的開口端；

所述彈簧設(shè)置于所述針管內(nèi)，并且與所述尾端部進(jìn)行連接。

可選地，所述針管的表面設(shè)置有螺牙。

可選地，所述針管的底端設(shè)置有一字型凹槽。

可選地，所述針管的底端設(shè)置有十字型凹槽。

可選地，還包括連接部，用于連接所述針軸的尾端部與所述彈簧。

可選地，所述連接部為凹槽結(jié)構(gòu)；

所述凹槽結(jié)構(gòu)設(shè)置于所述尾端部，用于卡緊所述彈簧。

可選地，所述針管為黃銅針管。

可選地，所述彈簧為琴鋼線彈簧。

可選地，所述針軸為黃銅針軸。

可選地，所述彈簧表面上鍍有一層絕緣層。

從以上技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實施例具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明實施例提供了一種帶螺牙的測試針，包括：針軸、針管、彈簧和卡環(huán)；所述卡環(huán)設(shè)置于所述針管開口端的內(nèi)壁；所述針軸包括測試頭部和尾端部；所述尾端部通過所述卡環(huán)卡緊在所述針管內(nèi)，所述測試頭部伸出所述針管的開口端；所述彈簧設(shè)置于所述針管內(nèi)，并且與所述尾端部進(jìn)行連接。本實施例中的帶螺牙測試針，增設(shè)卡環(huán)代替現(xiàn)有技術(shù)中的收口工藝，簡化了組裝的過程，大大降低了生產(chǎn)的難度，提高了生產(chǎn)的效率，減少了生產(chǎn)的成本。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例中提供的一種帶螺牙的測試針的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例中提供的一種帶螺牙的測試針的一個實施例的底端凹槽示意圖；

圖示說明：針軸1；卡環(huán)2；針管3；彈簧4。

具體實施方式

本發(fā)明實施例公開了一種帶螺牙的測試針，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中的帶螺牙測試針在針管開口處需要做收口工藝，增加生產(chǎn)難度的問題。

請參閱圖1和圖2，本發(fā)明實施例中提供的一種帶螺牙的測試針的一個實施例包括：

針軸1、針管3、彈簧4和卡環(huán)2；

卡環(huán)2設(shè)置于針管3開口端的內(nèi)壁；

針軸1包括測試頭部和尾端部；尾端部通過卡環(huán)2卡緊在針管3內(nèi)，測試頭部伸出針管3的開口端；

彈簧4設(shè)置于針管3內(nèi)，并且與尾端部進(jìn)行連接；

本實施例中，增設(shè)卡環(huán)代替現(xiàn)有技術(shù)中的收口工藝，簡化了組裝的過程，大大降低了生產(chǎn)的難度，提高了生產(chǎn)的效率，減少了生產(chǎn)的成本。

進(jìn)一步地，針管3的表面設(shè)置有螺牙；

本實施例中針管3的表面上設(shè)置有螺牙，可以對設(shè)置有螺紋的產(chǎn)品進(jìn)行測試。

進(jìn)一步地，針管3的底端設(shè)置有一字型凹槽；

進(jìn)一步地，針管3的底端設(shè)置有十字型凹槽；

本實施例中的針管3底端設(shè)置有一字型凹槽或十字型凹槽，可以利用螺絲刀幫助該測試針對帶有螺紋的產(chǎn)品進(jìn)行檢測。

進(jìn)一步地，還包括連接部，用于連接針軸的尾端部與彈簧4。

進(jìn)一步地，連接部為凹槽結(jié)構(gòu)；

凹槽結(jié)構(gòu)設(shè)置于尾端部，用于卡緊彈簧4；

本實施例中，除了在尾端部設(shè)置凹槽結(jié)構(gòu)外，還可以在彈簧4與尾端部間設(shè)置套管，同樣可以用于卡緊彈簧4。

進(jìn)一步地，針管3為黃銅針管。

進(jìn)一步地，彈簧4為琴鋼線彈簧。

進(jìn)一步地，針軸1為黃銅針軸。

進(jìn)一步地，彈簧4表面上鍍有一層絕緣層。

本實施例中，在彈簧4表面上加多一層絕緣層，更好地防止電流流過彈 簧4。通常情況下，彈簧4沒有設(shè)置有絕緣層，因為鍍上一層絕緣層后有可能會使得彈簧4變脆，但是目前很多研發(fā)商已經(jīng)找到彈簧4電鍍的臨界值，在確保彈簧4的韌性之余，同時也增強(qiáng)彈簧4的絕緣性能。

上述是對本發(fā)明實施例提供的一種帶螺牙的測試針的具體結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)的描述，下面將以一個應(yīng)用的方法對本測試針進(jìn)行進(jìn)一步的描述，本發(fā)明實施例提供的一種帶螺牙的測試針的一個應(yīng)用例包括：

電流或者電壓信號通過測試針的傳輸來測試線路板的開路或者短路，其中帶螺牙的測試針的應(yīng)用方法：

參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或者電壓輸入被測器件，然后測量該器件對于輸入信號的影響。

信號的傳輸路徑：從測試儀通過電纜束至測試針管，然后通過測試針針軸至待測的焊點，到達(dá)被測器件，并最后沿原路返回至測試儀器。

測試針分析：測試針針軸尾端部壓縮彈簧，測試時彈簧整體受力，確保壓力垂直作用于彈簧，測試時電流通過針軸到針管，有少量電流流過彈簧。

由于本測試針采用螺紋結(jié)構(gòu)，可針對帶有螺紋的測試產(chǎn)品進(jìn)行測試，但其工作的原理與一般結(jié)構(gòu)的測試針相似；本測試針增設(shè)卡環(huán)代替現(xiàn)有技術(shù)中的收口工藝，簡化了組裝的過程，大大降低了生產(chǎn)的難度，提高了生產(chǎn)的效率，減少了生產(chǎn)的成本；解決現(xiàn)有技術(shù)中的帶螺牙測試針在針管開口處需要做收口工藝，增加生產(chǎn)難度的問題。

以上對本發(fā)明所提供的一種帶螺牙的測試針進(jìn)行了詳細(xì)介紹，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明實施例的思想，在具體實施方式及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。