本發明涉及電磁兼容測試技術領域，特別涉及一種用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統。

背景技術：

對于10m(米)法半電波暗室主要用于輻射騷擾測試，最初只用于1GHz以下的輻射騷擾測試，隨著標準要求的提升，輻射騷擾測試頻率提升到了6GHz，要求在1GHz以上在全電波暗室或半電波暗室中鋪設吸波材料進行測試。即30MHz-1GHz低頻測試要求使用半電波暗室，測試距離為10m或3m；1GHz-6GHz高頻測試要求使用全電波暗室或在半電波暗室中鋪設吸波材料，測試距離為3m。當使用10m法半電波暗室進行輻射騷擾高低頻測試時，傳統的方法是在10m距離測試低頻，當測試高頻時，將天線移到3m測試距離，鋪設吸波材料，變換測試系統，然后再進行高頻測試。測試低頻時再恢復到10m測試距離，將吸波材料取出，恢復到低頻測試系統，這樣不斷變換測試場地的布置和測試系統進行測試。即存在高低頻輻射測試不能同時兼顧的問題。

技術實現要素：

本發明實施例提供了一種用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統，以解決現有技術中10m法半電波暗室對高低頻輻射測試不能同時兼顧的技術問題。該系統包括：第一轉臺，用于承載待測試設備；第二轉臺，用于承載待測試設備，其中，所述第一轉臺和所述第二轉臺的中心點位于同一條直線上，所述第一轉臺的直徑大于所述第二轉臺的直徑；第一天線支架，所述第一天線支架的位置與所述第一轉臺邊緣的距離的最小值為3米，所述第一天線支架用于承載天線，該天線接收所述第一轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第一轉臺上的待測試設備進行高頻輻射騷擾測試，其中，所述第一天線支架的位置與所述第一轉臺的中心點的連線形成第一測試軸線，在所述第一測試軸線上鋪設吸波材料；第二天線支架，所述第二天線支架的位置與所述第二轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第二天線支架用于承載天線，該天線接收所述第二轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第二轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，其中，所述第二天線支架的位置與所述第二轉臺的中心點的連線形成第二測試軸線，所述第一測試軸線與所述第二測試軸線的夾角為40度；測試切換設備，與所述第一天線支架上的天線和所述第二天線支架上的天線連接，用于接收所述第一天線支架上的天線的測試信號和所述第二天線支架上的天線的測試信號，將所述第一天線支架上的天線的測試信號或所述第二天線支架上的天線的測試信號輸出。

在一個實施例中，所述第一轉臺的直徑為3米，所述第二轉臺的直徑為1.2米。

在一個實施例中，所述第一轉臺的中心點與所述第二轉臺的中心點之間的距離為2.3米，所述第一轉臺的邊緣與所述第二轉臺的邊緣之間距離的最小值為0.2米。

在一個實施例中，所述吸波材料關于所述第一測試軸線對稱鋪設。

在一個實施例中，在第一轉臺邊緣上距離所述第二轉臺的中心最遠的點做第一切線，半電波暗室內鄰近該第一切線且和該第一切線平行的墻體上的吸波材料與所述第一切線之間的距離為4.2米；在第二轉臺邊緣上距離所述第一轉臺的中心最遠的點做第二切線，半電波暗室內鄰近該第二切線且和該第二切線平行的墻體上的吸波材料與所述第二切線之間的距離為4.6米。

在一個實施例中，所述測試切換設備為射頻開關。

在一個實施例中，還包括：第三天線支架，在所述第一測試軸線的遠離所述第一轉臺方向的延長線上，所述第三天線支架的位置與所述第一轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第三天線支架用于承載天線，該天線接收所述第一轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第一轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試；所述測試切換設備，還用于與所述第三天線支架上的天線連接，用于接收所述第三天線支架上的天線的測試信號。

在一個實施例中，還包括：第四天線支架，所述第四天線支架的位置與所述第二轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第四天線支架用于承載天線，該天線接收所述第二轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第二轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，其中，所述第四天線支架的位置與所述第二轉臺的中心點的連線形成第三測試軸線；所述測試切換設備，還用于與所述第四天線支架上的天線連接，用于接收所述第四天線支架上的天線的測試信號。

在一個實施例中，所述第二天線支架與所述第一轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第二天線支架所承載的天線還用于接收所述第一轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第一轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，其中，所述第二天線支架的位置與所述第一轉臺的中心點的連線形成第四測試軸線。

在本發明實施例中，用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統通過同時設置第一轉臺和第二轉臺兩個轉臺，并分別為兩個轉臺匹配有天線支架，第一天線支架上的天線與第一轉臺實現對待測試設備的高頻(例如，1GHz-6GHz)輻射騷擾測試，第二天線支架上的天線與第二轉臺實現對待測試設備的低頻(例如，30MHz-1GHz)輻射騷擾測試。與現有技術相比，使得在10米法半電波暗室內可以同時兼顧高低頻輻射騷擾測試，在低頻輻射騷擾測試與高頻輻射騷擾測試之間切換時，只需將待測試設備更換到不同的轉臺上即可，可以保持高低頻輻射騷擾測試布置不用變化，減少了吸波材料不斷搬運造成的損壞，也有助于提升暗室的利用效率。此外，由于第一測試軸線與第二測試軸線的夾角為40度，低頻輻射騷擾測試布置與高頻輻射騷擾測試布置同時存在，在分別進行低頻輻射騷擾測試與高頻輻射騷擾測試時，二者之間不會相互干擾，即在進行低頻輻射騷擾測試時，高頻輻射騷擾測試布置可以不用變化，避免吸波材料不斷搬運造成的損壞，同樣，在進行高頻輻射騷擾測試時，低頻輻射騷擾測試布置也可以不用變化。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，并不構成對本發明的限定。在附圖中：

圖1是本發明實施例提供的一種用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統的示意圖；

圖2是本發明實施例提供的一種吸波材料鋪設的示意圖；

圖3是本發明實施例提供的一種具體的用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統的示意圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，下面結合實施方式和附圖，對本發明做進一步詳細說明。在此，本發明的示意性實施方式及其說明用于解釋本發明，但并不作為對本發明的限定。

發明人發現，現有的10m法半電波暗室設計主要是一個天線塔一個轉臺或兩個天線塔一個轉臺，即一條測試軸線或兩條測試軸線，這樣無法避免在進行高低頻輻射騷擾測試時要更換測試系統，低頻輻射騷擾測試時吸波材料不能在暗室內，即存在高低頻輻射騷擾測試不能兼顧的問題。因此，發明人提出上述用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統，該系統實現在同一測試場地同時設置用于高頻和低頻輻射騷擾測試的布置，且可以在高頻和低頻輻射騷擾測試的布置不用變化的情況下，同時兼顧高頻和低頻輻射騷擾測試。

在本發明實施例中，提供了一種用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統，如圖1所示，該系統包括：

第一轉臺101，用于承載待測試設備；

第二轉臺102，用于承載待測試設備，其中，所述第一轉臺和所述第二轉臺的中心點位于同一條直線上，所述第一轉臺的直徑大于所述第二轉臺的直徑；

第一天線支架103，所述第一天線支架的位置與所述第一轉臺邊緣的距離的最小值為3米，所述第一天線支架用于承載天線，該天線接收所述第一轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第一轉臺上的待測試設備進行高頻輻射騷擾測試，其中，所述第一天線支架的位置與所述第一轉臺的中心點的連線形成第一測試軸線1，在所述第一測試軸線上鋪設吸波材料；

第二天線支架104，所述第二天線支架的位置與所述第二轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第二天線支架用于承載天線，該天線接收所述第二轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第二轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，其中，所述第二天線支架的位置與所述第二轉臺的中心點的連線形成第二測試軸線2，所述第一測試軸線與所述第二測試軸線的夾角為40度；

測試切換設備(圖中未示出)，與所述第一天線支架上的天線和所述第二天線支架上的天線連接，用于接收所述第一天線支架上的天線的測試信號和所述第二天線支架上的天線的測試信號，將所述第一天線支架上的天線的測試信號或所述第二天線支架上的天線的測試信號輸出。

由圖1所示可知，在本發明實施例中，用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統通過同時設置第一轉臺和第二轉臺兩個轉臺，并分別為兩個轉臺匹配有天線支架，第一天線支架上的天線與第一轉臺實現對待測試設備的高頻(例如，1GHz-6GHz)輻射騷擾測試，第二天線支架上的天線與第二轉臺實現對待測試設備的低頻(例如，30MHz-1GHz)輻射騷擾測試。與現有技術相比，使得在10米法半電波暗室內可以同時兼顧高低頻輻射騷擾測試，在低頻輻射騷擾測試與高頻輻射騷擾測試之間切換時，只需將待測試設備更換到不同的轉臺上即可，可以保持高低頻輻射騷擾測試布置不用變化，減少了吸波材料不斷搬運造成的損壞，也有助于提升暗室的利用效率。此外，由于第一測試軸線與第二測試軸線的夾角為40度，低頻輻射騷擾測試布置與高頻輻射騷擾測試布置同時存在，在分別進行低頻輻射騷擾測試與高頻輻射騷擾測試時，二者之間不會相互干擾，即在進行低頻輻射騷擾測試時，高頻輻射騷擾測試布置可以不用變化，避免吸波材料不斷搬運造成的損壞，同樣，在進行高頻輻射騷擾測試時，低頻輻射騷擾測試布置也可以不用變化。

具體實施時，所述第一轉臺101的直徑可以為3米，可承重3000kg，可360度旋轉，可放置體積較大或重量較重的待測試設備。第一轉臺101，對應第一測試軸線1，測試距離為3米，通過第一天線支架所承載的天線實現對待測試設備進行高頻(1GHz-6GHz)輻射騷擾測試；所述第二轉臺102的直徑可以為1.2米，可承重1000kg，可360度旋轉，可放置體積較小或重量較輕的待測試設備。第二轉臺102，對應第二測試軸線2，測試距離為10米，通過第二天線支架所承載的天線實現對待測試設備進行低頻(30MHz-1GHz)輻射騷擾測試。

具體實施時，為了進一步避免高頻和低頻輻射騷擾測試之間的干擾，在本實施例中，所述第一轉臺101的中心點與所述第二轉臺102的中心點之間的距離為2.3米，所述第一轉臺的邊緣與所述第二轉臺的邊緣之間距離的最小值為0.2米。

具體實施時，用于設置上述用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統的半電波暗室的凈寬度可以為13.2m，如圖1所述，圖1的實線邊框表示半電波暗室的墻體，邊框上的梯形塊表示半電波暗室墻體上的吸波材料，在第一轉臺邊緣上距離所述第二轉臺的中心最遠的點做第一切線，半電波暗室內鄰近該第一切線且和該第一切線平行的墻體上的吸波材料與所述第一切線之間的距離a為4.2米；在第二轉臺邊緣上距離所述第一轉臺的中心最遠的點做第二切線，半電波暗室內鄰近該第二切線且和該第二切線平行的墻體上的吸波材料與所述第二切線之間的距離b為4.6米。

具體實施時，為了進一步避免高頻輻射騷擾測試干擾低頻輻射騷擾測試，在本實施例中，如圖1、2所示，所述吸波材料關于所述第一測試軸線1對稱鋪設。具體的，在第一轉臺101與第一天線支架103的位置之間的測試區域作為高頻輻射騷擾測試區域，第二轉臺102與第二天線支架104的位置之間的測試區域作為低頻輻射騷擾測試區域，第一轉臺101的前邊緣突出第二轉臺102的前邊緣，吸波材料的鋪設遠離低頻測試區域，避免對低頻輻射騷擾測試區域產生干擾，使低頻輻射騷擾測試區域的性能要求符合標準要求，第一天線支架103和第二天線支架104相距比較遠，避免測試時相互干擾。如圖2所示，上述吸波材料使用60cmx60cm，高30cm的吸波材料，在第一測試軸線1上且關于第一測試軸線1對稱鋪設吸波材料，可以使用27塊吸波材料，交叉鋪設。

具體實施時，上述測試切換設備可以為射頻開關，例如，當需要進行高低頻輻射騷擾測試時，一副天線位于第一天線支架103上，另一幅天線位于第二天線支架104上，測試切換設備同時與第一天線支架103上的天線和第二天線支架104上的天線連接，第一天線支架上的天線的測試信號和第二天線支架上的天線的測試信號作為測試切換設備的兩路輸入，測試切換設備在第一天線支架上的天線的測試信號和第二天線支架上的天線的測試信號之間進行切換，將第一天線支架上的天線的測試信號或第二天線支架上的天線的測試信號輸出給測試接收機。測試軟件能控制射頻切換開關的切換。

具體實施時，為了增強上述用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統的使用靈活性，在本實施例中，如圖3所示，上述用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統還包括：第三天線支架105，在所述第一測試軸線的遠離所述第一轉臺方向的延長線上，所述第三天線支架的位置與所述第一轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第三天線支架用于承載天線，該天線接收所述第一轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第一轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試；所述測試切換設備，還用于與所述第三天線支架上的天線連接，用于接收所述第三天線支架上的天線的測試信號。具體的，在第一轉臺不進行高頻輻射騷擾測試時，可以通過第一轉臺101對應的第三天線支架105上的天線對待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，另外，也可以通過第二天線支架104上的天線對第一轉臺101上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，即第三天線支架105上的天線和第二天線支架104上的天線同時完成對第一轉臺101上待測試設備的低頻輻射騷擾測試。既能靈活使用第二天線支架104和第三天線支架105也能進行雙天線同時測試，提升測試效率，降低由于天線支架問題而造成暗室停用的風險。

具體實施時，為了進一步增強上述用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統的使用靈活性，如圖3所示，上述用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統還包括：第四天線支架106，所述第四天線支架的位置與所述第二轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第四天線支架用于承載天線，該天線接收所述第二轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第二轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，其中，所述第四天線支架的位置與所述第二轉臺的中心點的連線形成第三測試軸線3；所述測試切換設備，還用于與所述第四天線支架上的天線連接，用于接收所述第四天線支架上的天線的測試信號。具體的，在第一轉臺101或第二天線支架104出問題時，為了避免造成暗室停用的風險，可以通過第二轉臺102對應的第四天線支架106上的天線對待測試設備進行低頻輻射騷擾測試。

具體實施時，如圖3所示，所述第二天線支架104與所述第一轉臺邊緣的距離的最小值為10米，所述第二天線支架所承載的天線還用于接收所述第一轉臺上的待測試設備的測試信號，對所述第一轉臺上的待測試設備進行低頻輻射騷擾測試，其中，所述第二天線支架的位置與所述第一轉臺的中心點的連線形成第四測試軸線4。具體的，在第二轉臺102故障或第二轉臺102對應的第四天線支架106上的天線正在進行低頻輻射騷擾測試時，可以通過第一轉臺101對應的第二天線支架104上的天線對待測試設備進行低頻輻射騷擾測試。

具體實施時，如圖3所示，第一轉臺101對應第一天線支架103、第二天線支架104和第三天線支架105，即第一轉臺101對應第一測試軸線1和第四測試軸線4，可以進行高低和低頻輻射騷擾測試；同時，第二轉臺102對應第二天線支架104和第四天線支架106，即第二轉臺102對應第二測試軸線2和第三測試軸線3，可以進行低頻輻射騷擾測試。因此，可以根據具體需求將第一測試軸線1和第二測試軸線2組合，作為高低頻輻射騷擾測試軸線的組合，這兩條軸線的夾角達到了40度，避免在測試時相互干擾。另外，在單獨進行低頻輻射騷擾測試時，4條測試軸線可以使用任何一條，每條測試軸線都滿足低頻測試的要求。另外可以將第一測試軸線1和第四測試軸線4組合，或將第三測試軸線3和和第二測試軸線2組合，進行雙天線同時低頻輻射騷擾測試(在第一測試軸線1和第四測試軸線4組合進行雙天線同時低頻輻射騷擾測試時，可以不在第一測試軸線1上鋪設吸波材料)，多條測試軸線的設計，既能靈活使用也能提升測試效率，降低由于轉臺或天線支架問題而造成暗室停用的風險。

在本發明實施例中，用于10米法半電波暗室高頻和低頻輻射騷擾測試的系統通過同時設置第一轉臺和第二轉臺兩個轉臺，并分別為兩個轉臺匹配有天線支架，第一天線支架上的天線與第一轉臺實現對待測試設備的高頻(例如，1GHz-6GHz)輻射騷擾測試，第二天線支架上的天線與第二轉臺實現對待測試設備的低頻(例如，30MHz-1GHz)輻射騷擾測試。與現有技術相比，使得在10米法半電波暗室內可以同時兼顧高低頻輻射騷擾測試，在低頻輻射騷擾測試與高頻輻射騷擾測試之間切換時，只需將待測試設備更換到不同的轉臺上即可，可以保持高低頻輻射騷擾測試布置不用變化，減少了吸波材料不斷搬運造成的損壞，也有助于提升暗室的利用效率。此外，由于第一測試軸線與第二測試軸線的夾角為40度，低頻輻射騷擾測試布置與高頻輻射騷擾測試布置同時存在，在分別進行低頻輻射騷擾測試與高頻輻射騷擾測試時，二者之間不會相互干擾，即在進行低頻輻射騷擾測試時，高頻輻射騷擾測試布置可以不用變化，避免吸波材料不斷搬運造成的損壞，同樣，在進行高頻輻射騷擾測試時，低頻輻射騷擾測試布置也可以不用變化。

以上所述僅為本發明的優選實施例而已，并不用于限制本發明，對于本領域的技術人員來說，本發明實施例可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。