技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型描述了用于檢測(cè)由于輻射暴露而引起的劣化的裝置。用于檢測(cè)由于輻射暴露而引起的電路故障的示例性裝置包括：信號(hào)監(jiān)控器，其用于確定模擬電路中的半導(dǎo)體器件的電流；電流和輻射相關(guān)器，其用于基于該電流來(lái)確定該半導(dǎo)體器件已被暴露于輻射的輻射量；比較器，其用于將該輻射量與輻射劑量閾值相比較；以及報(bào)警管理器，其用于基于比較結(jié)果來(lái)指示該半導(dǎo)體器件的劣化。

技術(shù)研發(fā)人員：A·J·威特科普
受保護(hù)的技術(shù)使用者：費(fèi)希爾控制產(chǎn)品國(guó)際有限公司
文檔號(hào)碼：201620831614
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.03
技術(shù)公布日：2017.09.29