本實用新型涉及電氣檢驗領域，特別涉及一種PIN針測試設備。

背景技術：

短路測試及導通測試，主要是用于測試電子器件的連接情況，就是測試短路與導通，具體點說就是測試一個電子元件應該連接的地方是否連接，如果沒有連接上就是開路，如果不應該連接的地方連接了就是短路；

目前通常利用開短路測試儀對電子元件進行檢測，然而由于電子元件以及PIN針的體積較小，因此通過人工依次對電子元件上的PIN針進行短路測試及導通測試，往往測試效率低并且檢測成本高，使得企業的負擔較大。

技術實現要素：

為了解決上述問題，本實用新型提供一種PIN針測試設備。本技術方案通過利用進料機構接收具有PIN針的電子元件，并通過送料機構將該電子元件傳送至測試設備，控制器通過測試設備對該電子元件的PIN針進行短路測試和導通測試后，確定該電子元件的PIN針為合格PIN針或不合格PIN針，送料機構將經由測試機構測試后的電子元件傳送至選擇機構；控制器控制選擇機構和送料機構將位于內的不合格的PIN針去除出選擇機構，進而實現自動對電子元件的PIN針進行短路測試和導通測試，以及自動去除具有不合格PIN針的電子元件的技術效果，提高了電子元件的測試效率，減少了人工投入，降低了企業生產及檢測成本。

本實用新型中的一種PIN針測試設備，用于測試電子元件的PIN針，包括機臺、控制器、進料機構、送料機構、選擇機構和測試機構；所述控制器、進料機構、送料機構、選擇機構和測試機構分別固定在所述機臺上，所述控制器分別與所述進料機構、送料機構、選擇機構和測試機構連接；所述進料機構位于所述測試機構的一側，所述選擇機構位于所述測試機構背向所述進料機構的一側，所述進料機構用于接收所述電子元件，所述送料機構用于將所述電子元件從所述進料機構依次傳送至所述測試機構和所述選擇機構，所述控制器控制所述測試機構對所述電子元件的PIN針進行短路測試或導通測試，并確定所述PIN針為合格PIN針或不合格PIN針；所述控制器控制所述選擇機構去除經由所述測試機構測試為不合格的PIN針。

上述方案中，所述進料機構包括進料滑道、準備臺、進料氣缸，所述進料滑道和進料氣缸分別固定在所述機臺上；所述進料氣缸與所述控制器連接；

所述進料滑道的一端接收所述電子元件，所述進料滑道的另一端朝向所述準備臺并與所述準備臺相對應，所述準備臺與所述進料氣缸的活塞桿連接，所述進料氣缸的活塞桿與所述進料滑道相互垂直；所述進料氣缸的活塞桿可使所述準備臺沿垂直于所述進料滑道的徑向移動，使所述準備臺與所述進料滑道錯位；

所述控制器控制所述進料氣缸使所述準備臺移動，將位于所述準備臺內的電子元件轉送至所述送料機構。

上述方案中，所述送料機構包括送料氣缸、送料固定條、送料隔板、送料限位條，所述送料氣缸通過固定板固定在所述機臺上，所述送料限位條固定在所述機臺上；

所述送料固定條的一端與所述送料氣缸的活塞桿連接，所述送料固定條與所述送料限位條相互平行，所述送料隔板位于所述送料固定條和送料限位條之間，所述送料隔板與所述送料固定條固定連接，所述送料隔板朝向所述送料限位條的一側具有限位槽，所述送料限位條插入所述限位槽內并與所述送料隔板滑動連接；

所述送料隔板的一端伸出所述送料固定條，用于與所述電子元件接觸；所述送料氣缸與所述控制器連接，所述控制器控制所述送料氣缸的活塞桿使所述送料固定條沿所述送料固定條的軸向往復移動，所述送料隔板伸出所述送料固定條的部分將推移所述電子元件。

上述方案中，所述送料固定條位于所述進料機構、測試機構和選擇機構的一側，所述送料隔板包括沿所述送料固定條的軸向依次分布第一隔板、第二隔板、第三隔板；

所述第一隔板位于所述進料機構，用于隨所述送料固定條的移動將位于所述進料機構的電子元件推送至所述測試機構；所述第二隔板位于所述測試機構，用于隨所述送料固定條的移動將位于所述測試機構的電子元件推送至所述選擇機構；所述第三隔板位于所述選擇機構，用于隨所述送料固定條的移動將位于所述選擇機構的電子元件推出所述選擇機構。

上述方案中，所述選擇機構包括選擇氣缸和選擇滑道，所述選擇滑道的一端對應所述測試機構，以接收由所述測試機構輸出的電子元件，所述選擇氣缸與所述控制器連接，控制器通過所述測試機構確定所述電子元件的PIN針為合格PIN針或不合格PIN針；所述控制器控制所述送料機構使位于所述選擇滑道的具有合格PIN針的電子元件由所述選擇滑道輸出；

所述控制器控制所述選擇氣缸使所述選擇氣缸的活塞桿移動，所述選擇滑道將與所述測試機構錯位，所述控制器還控制所述送料機構將位于所述選擇滑道的具有不合格PIN針的電子元件推出至所述機臺上。

上述方案中，所述測試機構包括短路工位和導通工位，所述短路工位與所述控制器連接，所述控制器通過所述短路工位對所述電子元件的PIN針進行短路測試，并確定所述PIN針為合格PIN針或不合格PIN針；所述導通工位與所述控制器連接，所述控制器通過所述導通工位對所述電子元件的PIN針進行導通測試，并確定所述PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

上述方案中，所述短路工位包括具有多個短路頂針的短路測試塊，以及短路氣缸；所述短路氣缸固定在所述機臺上，所述短路氣缸和所述短路頂針分別與所述控制器連接，所述短路氣缸的活塞桿與所述短路測試塊連接，所述控制器控制所述短路氣缸使所述短路測試塊沿所述短路氣缸的活塞桿的軸向往復移動；所述短路頂針的一端朝向所述電子元件側面的PIN針，所述控制器控制所述短路氣缸使所述短路測試塊背向所述短路氣缸移動，并使所述短路頂針與所述PIN針接觸，所述控制器通過所述短路頂針向所述PIN針輸出測試電壓或測試電流，并根據所述PIN針的反饋確定所述PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

上述方案中，所述導通工位包括具有多個導通頂針的導通測試塊，以及導通氣缸；所述導通氣缸和所述導通頂針分別與所述控制器連接，所述導通氣缸的活塞桿與所述導通測試快連接，所述控制器控制所述導通氣缸使所述導通測試塊沿所述導通氣缸的活塞桿的軸向往復移動；所述導通頂針的一端朝向所述電子元件側面的PIN針，所述導通氣缸固定在所述機臺上，所述控制器控制所述導通氣缸使所述導通測試塊背向所述導通氣缸移動，并使所述導通頂針與所述PIN針接觸，所述控制器通過所述導通頂針向所述PIN針輸出測試電壓或測試電流，并根據所述PIN針的反饋確定所述PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

上述方案中，所述測試機構包括頂部工位，所述頂部工位包括頂部氣缸和具有頂部頂針的頂部測試塊，所述頂部氣缸與所述控制器連接，所述頂部氣缸的活塞桿與所述頂部測試塊連接，使所述頂部測試塊沿所述頂部氣缸的活塞桿的軸向往復移動；所述頂部頂針的一端朝向所述電子元件頂部的PIN針，所述控制器控制所述頂部測試塊背向所述頂部氣缸移動，使所述頂部頂針與位于所述電子元件頂部的PIN針接觸；所述控制器通過所述頂部頂針向位于所述電子元件頂部的PIN針輸出測試電壓或測試電流，并根據所述PIN針的反饋確定所述PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

上述方案中，所述PIN針測試設備還包括輸出機構和用于固定管子的卡座，所述輸出機構包括輸出滑道，所述輸出滑道的一端與所述選擇機構對應，用于接收由所述選擇機構輸出的PIN針；所述卡座固定在所述機臺上，所述卡座的一側對應所述輸出滑道背向所述選擇機構的一端，所述管子固定在所述卡座上以接收由所述輸出滑道所輸出的PIN針；

所述控制器還連接有人機界面，所述人機界面用于人工控制所述控制器，所述人機界面還用于顯示所述控制器對所述PIN針的測試結果。

本實用新型的優點和有益效果在于：本實用新型提供一種PIN針測試設備，實現了自動對電子元件的PIN針進行短路測試和導通測試，以及自動去除具有不合格PIN針的電子元件的技術效果，提高了電子元件的測試效率，減少了人工投入，降低了企業生產及檢測成本。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型一種PIN針測試設備的機構示意圖。

圖中：1、機臺 2、控制器 3、進料機構 4、送料機構

5、選擇機構 6、測試機構 7、輸出機構 8、卡座

9、電子元件

21、人機界面 31、進料滑道 32、準備臺 33、進料氣缸

41、送料氣缸 42、送料固定條 43、送料隔板

44、送料限位條 45、固定板 46、限位槽

431、第一隔板 432、第二隔板 433、第三隔板

434、第四隔板 51、選擇氣缸 52、選擇滑道

61、短路工位 62、導通工位 63、頂部工位

611、短路頂針 612、短路測試塊 613、短路氣缸

621、導通頂針 622、導通測試塊 623、導通氣缸

631、頂部頂針 632、頂部測試塊 633、頂部氣缸

71、輸出滑道 81、管子

具體實施方式

下面結合附圖和實施例，對本實用新型的具體實施方式作進一步描述。以下實施例僅用于更加清楚地說明本實用新型的技術方案，而不能以此來限制本實用新型的保護范圍。

如圖1所示，本實用新型是一種PIN針測試設備，用于測試電子元件9的PIN針，包括機臺1、控制器2、進料機構3、送料機構4、選擇機構5和測試機構6；控制器2、進料機構3、送料機構4、選擇機構5和測試機構6分別固定在機臺1上，控制器2分別與進料機構3、送料機構4、選擇機構5和測試機構6連接；進料機構3位于測試機構6的一側，選擇機構5位于測試機構6背向進料機構3的一側，進料機構3用于接收電子元件9，送料機構4用于將電子元件9從進料機構3依次傳送至測試機構6和選擇機構5，控制器2控制測試機構6對電子元件9的PIN針進行短路測試或導通測試，并確定PIN針為合格PIN針或不合格PIN針；控制器2控制選擇機構5去除經由測試機構6測試為不合格的PIN針。

上述技術方案的工作原理是：利用進料機構3接收具有PIN針的電子元件9，并通過送料機構4將該電子元件9傳送至測試設備，控制器2通過測試設備對該電子元件9的PIN針進行短路測試和導通測試后，確定該電子元件9的PIN針為合格PIN針或不合格PIN針，送料機構4將經由測試機構6測試后的電子元件9傳送至選擇機構5；控制器2控制選擇機構5和送料機構4將位于內的不合格的PIN針去除出選擇機構5。

具體的，進料機構3包括進料滑道31、準備臺32、進料氣缸33，進料滑道31和進料氣缸33分別固定在機臺1上；進料氣缸33與控制器2連接；

進料滑道31的一端接收電子元件9，進料滑道31的另一端朝向準備臺32并與準備臺32相對應，準備臺32與進料氣缸33的活塞桿連接，進料氣缸33的活塞桿與進料滑道31相互垂直；進料氣缸33的活塞桿可使準備臺32沿垂直于進料滑道31的徑向移動，使準備臺32與進料滑道31錯位；

控制器2控制進料氣缸33使準備臺32移動，將位于準備臺32內的電子元件9轉送至送料機構4。

具體的，送料機構4包括送料氣缸41、送料固定條42、送料隔板43、送料限位條44，送料氣缸41通過固定板45固定在機臺1上，送料限位條44固定在機臺1上；

送料固定條42的一端與送料氣缸41的活塞桿連接，送料固定條42與送料限位條44相互平行，送料隔板43位于送料固定條42和送料限位條44之間，送料隔板43與送料固定條42固定連接，送料隔板43朝向送料限位條44的一側具有限位槽46，送料限位條44插入限位槽46內并與送料隔板43滑動連接；

送料隔板43的一端伸出送料固定條42，用于與電子元件9接觸；送料氣缸41與控制器2連接，控制器2控制送料氣缸41的活塞桿使送料固定條42沿送料固定條42的軸向往復移動，送料隔板43伸出送料固定條42的部分將推移電子元件9。

進一步的，送料固定條42位于進料機構3、測試機構6和選擇機構5的一側，送料隔板43包括沿送料固定條42的軸向依次分布第一隔板431、第二隔板432、第三隔板433；

第一隔板431位于進料機構3，用于隨送料固定條42的移動將位于進料機構3的電子元件9推送至測試機構6；第二隔板432位于測試機構6，用于隨送料固定條42的移動將位于測試機構6的電子元件9推送至選擇機構5；第三隔板433位于選擇機構5，用于隨送料固定條42的移動將位于選擇機構5的電子元件9推出選擇機構5；

其中，第一隔板431位于準備臺32朝向進料滑道31的一側，第三隔板433位于選擇滑道52朝向測試工位的一側。

具體的，選擇機構5包括選擇氣缸51和選擇滑道52，選擇滑道52的一端對應測試機構6，以接收由測試機構6輸出的電子元件9，選擇氣缸51與控制器2連接，控制器2通過測試機構6確定電子元件9的PIN針為合格PIN針或不合格PIN針；控制器2控制送料機構4使位于選擇滑道52的具有合格PIN針的電子元件9由選擇滑道52輸出；

控制器2控制選擇氣缸51使選擇氣缸51的活塞桿移動，選擇滑道52將與測試機構6錯位，控制器2還控制送料機構4將位于選擇滑道52的具有不合格PIN針的電子元件9推出至機臺1上。

具體的，測試機構6包括短路工位61和導通工位62，短路工位61與控制器2連接，控制器2通過短路工位61對電子元件9的PIN針進行短路測試，并確定PIN針為合格PIN針或不合格PIN針；導通工位62與控制器2連接，控制器2通過導通工位62對電子元件9的PIN針進行導通測試，并確定PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

進一步的，短路工位61包括具有多個短路頂針611的短路測試塊612，以及短路氣缸613；短路氣缸613固定在機臺1上，短路氣缸613和短路頂針611分別與控制器2連接，短路氣缸613的活塞桿與短路測試塊612連接，控制器2控制短路氣缸613使短路測試塊612沿短路氣缸613的活塞桿的軸向往復移動；短路頂針611的一端朝向電子元件9側面的PIN針，控制器2控制短路氣缸613使短路測試塊612背向短路氣缸613移動，并使短路頂針611與PIN針接觸，控制器2通過短路頂針611向PIN針輸出測試電壓或測試電流，并根據PIN針的反饋確定PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

進一步的，導通工位62包括具有多個導通頂針621的導通測試塊622，以及導通氣缸623；導通氣缸623和導通頂針621分別與控制器2連接，導通氣缸623的活塞桿與導通測試快連接，控制器2控制導通氣缸623使導通測試塊622沿導通氣缸623的活塞桿的軸向往復移動；導通頂針621的一端朝向電子元件9側面的PIN針，導通氣缸623固定在機臺1上，控制器2控制導通氣缸623使導通測試塊622背向導通氣缸623移動，并使導通頂針621與PIN針接觸，控制器2通過導通頂針621向PIN針輸出測試電壓或測試電流，并根據PIN針的反饋確定PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

可選的，送料隔板43還包括第四隔板434，第四隔板434位于短路工位61朝向進料機構3的一側，第二隔板432位于導通工位62朝向短路工位61的一側。

優選的，測試機構6包括頂部工位63，頂部工位63包括頂部氣缸633和具有頂部頂針631的頂部測試塊632，頂部氣缸633與控制器2連接，頂部氣缸633的活塞桿與頂部測試塊632連接，使頂部測試塊632沿頂部氣缸633的活塞桿的軸向往復移動；頂部頂針631的一端朝向電子元件9頂部的PIN針，控制器2控制頂部測試塊632背向頂部氣缸633移動，使頂部頂針631與位于電子元件9頂部的PIN針接觸；控制器2通過頂部頂針631向位于電子元件9頂部的PIN針輸出測試電壓或測試電流，并根據PIN針的反饋確定PIN針為合格PIN針或不合格PIN針。

可選的，頂部工位63位于短路工位61的上方。

優選的，PIN針測試設備還包括輸出機構7和用于固定管子81的卡座8，輸出機構7包括輸出滑道71，輸出滑道71的一端與選擇機構5對應，用于接收由選擇機構5輸出的PIN針；卡座8固定在機臺1上，卡座8的一側對應輸出滑道71背向選擇機構5的一端，管子81固定在卡座8上以接收由輸出滑道71所輸出的PIN針；

控制器2還連接有人機界面21，人機界面21用于人工控制控制器2，人機界面21還用于顯示控制器2對PIN針的測試結果。

上述技術方案的操作過程為：控制器2控制進料氣缸33，使準備臺32背向進料氣缸33移動，進而使準備臺32與進料滑道31錯位；控制器2控制送料氣缸41使送料固定條42移動，使第一隔板431將位于準備臺32上的電子元件9推送至短路工位61，控制器2操作送料氣缸41復位；

控制器2控制短路氣缸613使短路測試塊612背向短路氣缸613移動，進而使短路頂針611與位于電子元件9側面的PIN針接觸，控制器2通過短路頂針611向該PIN針輸出測試電壓或測試電流進行短路測試，并根據該PIN針的反饋判定該PIN針為合格PIN針或不合格PIN針，短路測試完成后控制器2控制短路氣缸613復位，短路測試塊612朝向短路氣缸613移動，使短路頂針611脫離該PIN針；

控制器2還控制頂部氣缸633使頂部測試塊632背向頂部氣缸633移動，使頂部頂針631與位于電子元件9頂部的PIN針接觸，控制器2通過頂部頂針631向該PIN針輸出測試電壓或測試電流進行短路測試或導通測試，并根據該PIN針的反饋判定該PIN針為合格PIN針或不合格PIN針，控制器2再控制頂部氣缸633復位，頂部測試塊632朝向頂部氣缸633移動，使頂部頂針631脫離該PIN針；

控制器2控制送料氣缸41使送料固定條42移動，第四隔板434將位于短路工位61上的電子元件9推送至導通工位62，控制器2操作送料氣缸41復位；

控制器2控制導通氣缸623使導通測試塊622背向短路氣缸613移動，進而使導通頂針621與位于電子元件9側面的PIN針接觸，控制器2通過導通頂針621向該PIN針輸出測試電壓或測試電流進行導通測試，并根據該PIN針的反饋判定該PIN針為合格PIN針或不合格PIN針，導通測試完成后控制器2控制導通氣缸623復位，導通測試塊622朝向導通氣缸623移動，使導通頂針621脫離該PIN針；控制器2控制送料氣缸41使送料固定條42移動，第二隔板432將位于導通工位62上的電子元件9推送至選擇滑道52，控制器2操作送料氣缸41復位；

若該電子元件9上的PIN針為合格PIN針，控制器2操作送料氣缸41使送料固定條42移動，第三隔板433將位于選擇滑道52上的電子元件9推送至輸出滑道71，并通過輸出滑道71將電子元件9傳送至固定在卡座8上的管子81內；

若該電子元件9上的PIN針為不合格PIN針，控制器2操作選擇氣缸51使選擇滑道52背向選擇氣缸51移動，控制器2再操作送料氣缸41使送料固定條42移動，第三隔板433將位于選擇滑道52上的電子元件9推出至機臺1上，使工作人員便于分辨篩選不合格的電子元件9。

以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。