本發(fā)明涉及核儀器開(kāi)發(fā)領(lǐng)域，尤其涉及一種γ能譜測(cè)量?jī)x的能譜中假峰的甄別方法。

背景技術(shù)：

γ能譜測(cè)量?jī)x是一種測(cè)量樣品或環(huán)境中γ射線及其能量大小的儀器。其直接測(cè)量結(jié)果是一個(gè)以道址為橫坐標(biāo)，以計(jì)數(shù)為縱坐標(biāo)的譜圖，道址與能量之間存在一定的正相關(guān)換算關(guān)系(近似呈線性關(guān)系)，我們稱該譜圖為γ能譜。γ射線與γ能譜測(cè)量?jī)x探測(cè)器之間的相互作用包括光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)。其中發(fā)生光電效應(yīng)的γ射線將被探測(cè)器完全吸收，其能量完全沉積；發(fā)生康普頓效應(yīng)的γ射線將部分能量沉積在探測(cè)器內(nèi)，剩余部分以新的γ射線的形式繼續(xù)與探測(cè)器發(fā)生相互作用或者逃逸；當(dāng)γ射線能量大于1.022mev，還可能發(fā)生電子對(duì)效應(yīng)，生成一對(duì)正負(fù)電子，正負(fù)電子后續(xù)可能發(fā)生湮滅產(chǎn)生新的γ射線。

由于光電效應(yīng)中，γ射線全部能量均沉積在探測(cè)器內(nèi)，因此會(huì)在γ能譜圖上表現(xiàn)出一個(gè)尖峰，我們稱之為光電峰。一方面可以由光電峰的峰位判斷γ射線由何種同位素發(fā)出，另一方面根據(jù)光電峰的峰面積可以對(duì)同位素的活度信息進(jìn)行分析。

由于光電峰的重要作用，從測(cè)量的γ能譜中自動(dòng)識(shí)別光電峰是能譜解析算法中的重要一環(huán)。采用高斯函數(shù)二階導(dǎo)對(duì)γ能譜進(jìn)行卷積計(jì)算，并尋找卷積函數(shù)的極值是其中一種效果較好，實(shí)用較廣泛的尋峰算法，該算法已經(jīng)在各學(xué)術(shù)作品中廣泛公開(kāi)。然而無(wú)論何種峰識(shí)別方法，均存在一定程度的誤識(shí)別峰和漏識(shí)別峰的問(wèn)題，高斯函數(shù)二階導(dǎo)法也不例外。要解決該問(wèn)題需提供一種有效的假峰甄別技術(shù)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

以下給出一個(gè)或多個(gè)方面的簡(jiǎn)要概述以提供對(duì)這些方面的基本理解。此概述不是所有構(gòu)想到的方面的詳盡綜覽，并且既非旨在指認(rèn)出所有方面的關(guān)鍵性或決定性要素亦非試圖界定任何或所有方面的范圍。其唯一的目的是要以簡(jiǎn)化形式給出一個(gè)或多個(gè)方面的一些概念以為稍后給出的更加詳細(xì)的描述之序。

本發(fā)明的目的在于解決上述問(wèn)題，提供了一種γ譜假峰甄別方法、存儲(chǔ)介質(zhì)和系統(tǒng)，能夠有效識(shí)別出γ能譜測(cè)量?jī)x的能譜中假峰。

本發(fā)明的技術(shù)方案為：本發(fā)明揭示了一種γ譜假峰甄別方法，包括：

步驟1：輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列；

步驟2：對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算；

步驟3：根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理；

步驟4：在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址；

步驟5：計(jì)算極小值位置的特征值；

步驟6：根據(jù)特征值甄別真假峰。

根據(jù)本發(fā)明的γ譜假峰甄別方法的一實(shí)施例，在步驟1和步驟2之間還包括能譜前處理的步驟，包括扣除本底與能譜平滑化。

根據(jù)本發(fā)明的γ譜假峰甄別方法的一實(shí)施例，在步驟2中的高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)為：

其中σ為高斯分布的標(biāo)準(zhǔn)差，z表示卷積計(jì)算中兩道址之差。

根據(jù)本發(fā)明的γ譜假峰甄別方法的一實(shí)施例，步驟5中的特征值f為：

其中σ為高斯分布的標(biāo)準(zhǔn)差，p為光電峰峰位，s為光電峰面積，con(p)為識(shí)別峰位處卷積值。

根據(jù)本發(fā)明的γ譜假峰甄別方法的一實(shí)施例，步驟6中的根據(jù)特征值甄別真假峰的方法包括閾值法、聚類分析法、多因素判別法。

本發(fā)明還揭示了一種甄別γ譜假峰的存儲(chǔ)介質(zhì)，存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)了計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序用于實(shí)現(xiàn)以下步驟：

步驟1：輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列；

步驟2：能譜前處理；

步驟3：對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算；

步驟4：根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理；

步驟5：在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址；

步驟6：計(jì)算極小值位置的特征值；

步驟7：根據(jù)特征值甄別真假峰。

本發(fā)明還揭示了一種甄別γ譜假峰的系統(tǒng)，包括處理器、存儲(chǔ)器，存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)一計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序在處理器中以計(jì)算機(jī)指令運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)以下的步驟：

步驟1：輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列；

步驟2：能譜前處理；

步驟3：對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算；

步驟4：根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理；

步驟5：在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址；

步驟6：計(jì)算極小值位置的特征值；

步驟7：根據(jù)特征值甄別真假峰。

本發(fā)明還揭示了一種甄別γ譜假峰的系統(tǒng)，包括：

輸入模塊，輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列；

能譜前處理模塊，扣除本底與能譜平滑化；

卷積核函數(shù)離散化計(jì)算模塊，對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算；

離散化有限卷積模塊，根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理；

卷積值序列極小值挑選模塊，在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址；

特征值計(jì)算模塊，計(jì)算極小值位置的特征值；

甄別模塊，根據(jù)特征值甄別真假峰。

本發(fā)明對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)有如下的有益效果：本發(fā)明的技術(shù)方案從一個(gè)理想的光電峰出發(fā)，基于推導(dǎo)出的其與高斯函數(shù)二階導(dǎo)卷積的公式，得到了一個(gè)理想光電峰峰位卷積值、峰面積及光電峰分布標(biāo)準(zhǔn)差之間存在的固定關(guān)系。基于該固定關(guān)系，提出一個(gè)特征參數(shù)f，最后利用f的取值來(lái)甄別真假峰。

附圖說(shuō)明

圖1示出了本發(fā)明的γ譜假峰甄別方法的實(shí)施例的流程圖。

圖2示出了本發(fā)明的甄別γ譜假峰系統(tǒng)的實(shí)施例的原理圖。

圖3和圖4分別示出了兩個(gè)示例的能譜尋峰結(jié)果示意圖。

具體實(shí)施方式

在結(jié)合以下附圖閱讀本公開(kāi)的實(shí)施例的詳細(xì)描述之后，能夠更好地理解本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)。在附圖中，各組件不一定是按比例繪制，并且具有類似的相關(guān)特性或特征的組件可能具有相同或相近的附圖標(biāo)記。

在詳述本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的技術(shù)方案之前，首先說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案所依賴的原理。

已知理想的光電峰符合高斯分布，可以寫作：

其中x為道址，f(x)為光電峰分布函數(shù)，c為光電峰的峰高，σ為高斯分布的標(biāo)準(zhǔn)差，p為光電峰峰位。該光電峰面積s根據(jù)高斯函數(shù)計(jì)分公式應(yīng)為：

卷積用的高斯函數(shù)二階導(dǎo)(卷積用高斯函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差與光電峰一致)如下所示：

用高斯分布二階導(dǎo)數(shù)做卷積核，對(duì)于理想峰型譜任意一點(diǎn)x做卷積運(yùn)算，得到：

其中z表示卷積計(jì)算中兩道址之差。

該卷積方程經(jīng)過(guò)一系列的積分轉(zhuǎn)化，可以計(jì)算得到：

其中：

當(dāng)x＝p時(shí)，函數(shù)有極小值：

也即，在光電峰峰位處，對(duì)于理想峰型有關(guān)系式：

在實(shí)際尋峰過(guò)程中，可以定義峰特征值f：

根據(jù)上述數(shù)學(xué)關(guān)系，當(dāng)光電峰為符合理想高斯分布時(shí)，f＝1。f越接近1，對(duì)應(yīng)峰為真峰的概率越大，反之則對(duì)應(yīng)峰為假峰的概率越大。根據(jù)我們的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)，假峰的特征值一般偏小，且與真峰特征值具有明顯的區(qū)分度。

基于以上的原理，參考圖1，下面是對(duì)γ譜假峰甄別方法的實(shí)施例的各個(gè)實(shí)施步驟的詳細(xì)描述。

步驟s1：輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列。

輸入量也可以是測(cè)量能譜與本底譜。道址的取值范圍為連續(xù)的正整數(shù)(一般取值范圍為1～2ⁿ，n一般取10～13)。

步驟s2：能譜前處理，包括扣除本底與能譜平滑化。

在能譜尋峰前一般需要經(jīng)過(guò)前處理，這是一個(gè)使得效果相對(duì)更好的步驟。

步驟s3：對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算。

對(duì)前述的公式(3)所示的高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算，由于能譜數(shù)據(jù)為離散化的整數(shù)，因此卷積核函數(shù)也只需要計(jì)算自變量為整數(shù)的情況。

步驟s4：根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理。

根據(jù)前述的公式(4)對(duì)能譜進(jìn)行卷積計(jì)算，由于計(jì)算機(jī)數(shù)值計(jì)算的特點(diǎn)，卷積函數(shù)是做離散化處理，且卷積范圍由無(wú)限變?yōu)橛邢蕖?/p>

步驟s5：在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址。

挑選出的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址就完成了高斯函數(shù)二階導(dǎo)法的尋峰。

步驟s6：計(jì)算極小值位置的特征值。

根據(jù)前述的公式(9)計(jì)算每個(gè)峰位的特征值，在公式(9)中的σ為該峰位處光電峰的標(biāo)準(zhǔn)差，其量值等于該光電峰半高寬除以2.35，是儀器的固有特性，也是高斯函數(shù)二階導(dǎo)法尋峰計(jì)算所必須的量，尋峰前應(yīng)提前刻度好。其中s為該光電峰的峰面積。光電峰標(biāo)準(zhǔn)差σ的刻度方法與峰面積s的計(jì)算方法為本領(lǐng)域的常規(guī)技術(shù)。

步驟s7：根據(jù)特征值甄別真假峰。

具體的用特征值來(lái)甄別的手段包括閾值法、聚類分析法或者多因素判別法。對(duì)于閾值法，是人為設(shè)定一個(gè)下閾值(比如0.5)或者上下閾值(比如0.5和1.5)，認(rèn)為特征值小于下閾值或者大于上閾值的峰為假峰。對(duì)于聚類分析法，對(duì)峰位的閾值集合做聚類分析，劃分為量值靠近1與量值不靠近1的類別，取量值不靠近1的類別為假峰類。對(duì)于多因素判別法，除了特征值外，還引入其他判斷真假峰的指標(biāo)，然后根據(jù)多個(gè)指標(biāo)綜合判斷峰是否為假峰。

本發(fā)明還公開(kāi)了甄別γ譜假峰的存儲(chǔ)介質(zhì)，存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)了計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序用于實(shí)現(xiàn)以下的步驟：

步驟s1：輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列。

輸入量也可以是測(cè)量能譜與本底譜。道址的取值范圍為連續(xù)的正整數(shù)(一般取值范圍為1～2ⁿ，n一般取10～13)。

步驟s2：能譜前處理，包括扣除本底與能譜平滑化。

在能譜尋峰前一般需要經(jīng)過(guò)前處理，這是一個(gè)使得效果相對(duì)更好的步驟。

步驟s3：對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算。

對(duì)前述的公式(3)所示的高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算，由于能譜數(shù)據(jù)為離散化的整數(shù)，因此卷積核函數(shù)也只需要計(jì)算自變量為整數(shù)的情況。

步驟s4：根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理。

根據(jù)前述的公式(4)對(duì)能譜進(jìn)行卷積計(jì)算，由于計(jì)算機(jī)數(shù)值計(jì)算的特點(diǎn)，卷積函數(shù)是做離散化處理，且卷積范圍由無(wú)限變?yōu)橛邢蕖?/p>

步驟s5：在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址。

挑選出的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址就完成了高斯函數(shù)二階導(dǎo)法的尋峰。

步驟s6：計(jì)算極小值位置的特征值。

根據(jù)前述的公式(9)計(jì)算每個(gè)峰位的特征值，在公式(9)中的σ為該峰位處光電峰的標(biāo)準(zhǔn)差，其量值等于該光電峰半高寬除以2.35，是儀器的固有特性，也是高斯函數(shù)二階導(dǎo)法尋峰計(jì)算所必須的量，尋峰前應(yīng)提前刻度好。其中s為該光電峰的峰面積。光電峰標(biāo)準(zhǔn)差σ的刻度方法與峰面積s的計(jì)算方法為本領(lǐng)域的常規(guī)技術(shù)。

步驟s7：根據(jù)特征值甄別真假峰。

具體的用特征值來(lái)甄別的手段包括閾值法、聚類分析法或者多因素判別法。對(duì)于閾值法，是人為設(shè)定一個(gè)下閾值(比如0.5)或者上下閾值(比如0.5和1.5)，認(rèn)為特征值小于下閾值或者大于上閾值的峰為假峰。對(duì)于聚類分析法，對(duì)峰位的閾值集合做聚類分析，劃分為量值靠近1與量值不靠近1的類別，取量值不靠近1的類別為假峰類。對(duì)于多因素判別法，除了特征值外，還引入其他判斷真假峰的指標(biāo)，然后根據(jù)多個(gè)指標(biāo)綜合判斷峰是否為假峰。

此外，本發(fā)明還揭示了甄別γ譜假峰的系統(tǒng)，包括處理器、存儲(chǔ)器，存儲(chǔ)中存儲(chǔ)一計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序在處理器中以計(jì)算機(jī)指令運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)以下的步驟。

步驟s1：輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列。

輸入量也可以是測(cè)量能譜與本底譜。道址的取值范圍為連續(xù)的正整數(shù)(一般取值范圍為1～2ⁿ，n一般取10～13)。

步驟s2：能譜前處理，包括扣除本底與能譜平滑化。

在能譜尋峰前一般需要經(jīng)過(guò)前處理，這是一個(gè)使得效果相對(duì)更好的步驟。

步驟s3：對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算。

對(duì)前述的公式(3)所示的高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算，由于能譜數(shù)據(jù)為離散化的整數(shù)，因此卷積核函數(shù)也只需要計(jì)算自變量為整數(shù)的情況。

步驟s4：根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理。

根據(jù)前述的公式(4)對(duì)能譜進(jìn)行卷積計(jì)算，由于計(jì)算機(jī)數(shù)值計(jì)算的特點(diǎn)，卷積函數(shù)是做離散化處理，且卷積范圍由無(wú)限變?yōu)橛邢蕖?/p>

步驟s5：在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址。

挑選出的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址就完成了高斯函數(shù)二階導(dǎo)法的尋峰。

步驟s6：計(jì)算極小值位置的特征值。

根據(jù)前述的公式(9)計(jì)算每個(gè)峰位的特征值，在公式(9)中的σ為該峰位處光電峰的標(biāo)準(zhǔn)差，其量值等于該光電峰半高寬除以2.35，是儀器的固有特性，也是高斯函數(shù)二階導(dǎo)法尋峰計(jì)算所必須的量，尋峰前應(yīng)提前刻度好。其中s為該光電峰的峰面積。光電峰標(biāo)準(zhǔn)差σ的刻度方法與峰面積s的計(jì)算方法為本領(lǐng)域的常規(guī)技術(shù)。

步驟s7：根據(jù)特征值甄別真假峰。

具體的用特征值來(lái)甄別的手段包括閾值法、聚類分析法或者多因素判別法。對(duì)于閾值法，是人為設(shè)定一個(gè)下閾值(比如0.5)或者上下閾值(比如0.5和1.5)，認(rèn)為特征值小于下閾值或者大于上閾值的峰為假峰。對(duì)于聚類分析法，對(duì)峰位的閾值集合做聚類分析，劃分為量值靠近1與量值不靠近1的類別，取量值不靠近1的類別為假峰類。對(duì)于多因素判別法，除了特征值外，還引入其他判斷真假峰的指標(biāo)，然后根據(jù)多個(gè)指標(biāo)綜合判斷峰是否為假峰。

此外，本發(fā)明還公開(kāi)了一種甄別γ譜假峰的系統(tǒng)的實(shí)施例，如圖2所示，系統(tǒng)包括輸入模塊、能譜前處理模塊、卷積核函數(shù)離散化計(jì)算模塊、離散化有限卷積模塊、卷積值序列極小值挑選模塊、特征值計(jì)算模塊、甄別模塊。

輸入模塊用于輸入γ能譜測(cè)量?jī)x的測(cè)量能譜，測(cè)量能譜是以道址為自變量、計(jì)數(shù)值為變量的有限數(shù)據(jù)序列。

輸入量也可以是測(cè)量能譜與本底譜。道址的取值范圍為連續(xù)的正整數(shù)(一般取值范圍為1～2ⁿ，n一般取10～13)。

能譜前處理模塊用于進(jìn)行能譜前處理，包括扣除本底與能譜平滑化。在能譜尋峰前一般需要經(jīng)過(guò)前處理，這是一個(gè)使得效果相對(duì)更好的步驟。

卷積核函數(shù)離散化計(jì)算模塊用于對(duì)高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算。

對(duì)前述的公式(3)所示的高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù)形式的卷積核函數(shù)進(jìn)行離散化計(jì)算，由于能譜數(shù)據(jù)為離散化的整數(shù)，因此卷積核函數(shù)也只需要計(jì)算自變量為整數(shù)的情況。

離散化有限卷積模塊用于根據(jù)卷積核函數(shù)對(duì)測(cè)量能譜進(jìn)行卷積計(jì)算的離散化處理。

根據(jù)前述的公式(4)對(duì)能譜進(jìn)行卷積計(jì)算，由于計(jì)算機(jī)數(shù)值計(jì)算的特點(diǎn)，卷積函數(shù)是做離散化處理，且卷積范圍由無(wú)限變?yōu)橛邢蕖?/p>

卷積值序列極小值挑選模塊用于在卷積計(jì)算完成后獲取一個(gè)以道址為自變量、卷積值為變量的有限數(shù)據(jù)序列，挑選出該有限數(shù)據(jù)序列中的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址。挑選出的卷積值極小值對(duì)應(yīng)的道址就完成了高斯函數(shù)二階導(dǎo)法的尋峰。

特征值計(jì)算模塊用于計(jì)算極小值位置的特征值。根據(jù)前述的公式(9)計(jì)算每個(gè)峰位的特征值，在公式(9)中的σ為該峰位處光電峰的標(biāo)準(zhǔn)差，其量值等于該光電峰半高寬除以2.35，是儀器的固有特性，也是高斯函數(shù)二階導(dǎo)法尋峰計(jì)算所必須的量，尋峰前應(yīng)提前刻度好。其中s為該光電峰的峰面積。光電峰標(biāo)準(zhǔn)差σ的刻度方法與峰面積s的計(jì)算方法為本領(lǐng)域的常規(guī)技術(shù)。

甄別模塊用于根據(jù)特征值甄別真假峰。具體的用特征值來(lái)甄別的手段包括閾值法、聚類分析法或者多因素判別法。對(duì)于閾值法，是人為設(shè)定一個(gè)下閾值(比如0.5)或者上下閾值(比如0.5和1.5)，認(rèn)為特征值小于下閾值或者大于上閾值的峰為假峰。對(duì)于聚類分析法，對(duì)峰位的閾值集合做聚類分析，劃分為量值靠近1與量值不靠近1的類別，取量值不靠近1的類別為假峰類。對(duì)于多因素判別法，除了特征值外，還引入其他判斷真假峰的指標(biāo)，然后根據(jù)多個(gè)指標(biāo)綜合判斷峰是否為假峰。

以下結(jié)合圖3和圖4，用兩個(gè)示例說(shuō)明本發(fā)明的有效性和可靠性。

【示例一】

取一個(gè)¹³⁷cs能譜為例做分析，除40kev以下的x特征射線外，¹³⁷cs只有一個(gè)能量約為662kev的光電峰。用高斯函數(shù)二階導(dǎo)法尋找該能譜的峰位，在40kev以上共尋找到10個(gè)峰，每個(gè)峰的能量與特征值見(jiàn)圖3。

從圖3可以看出，662kev峰位的特征值明顯大于其它峰位的特征值。利用該特征值可有效區(qū)分¹³⁷cs能譜的真假峰。

【示例二】

取一個(gè)⁶⁰co能譜為例做分析，⁶⁰co有兩個(gè)光電峰，能量分別約為1173kev和1332kev。用高斯函數(shù)二階導(dǎo)法尋找該能譜的峰位，共尋找到9個(gè)峰，每個(gè)峰的能量與特征值見(jiàn)圖4。

從圖4可以看出，1173kev和1332kev峰位的特征值明顯大于其它峰位的特征值。利用該特征值可有效區(qū)分⁶⁰co能譜的真假峰。

盡管為使解釋簡(jiǎn)單化將上述方法圖示并描述為一系列動(dòng)作，但是應(yīng)理解并領(lǐng)會(huì)，這些方法不受動(dòng)作的次序所限，因?yàn)楦鶕?jù)一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例，一些動(dòng)作可按不同次序發(fā)生和/或與來(lái)自本文中圖示和描述或本文中未圖示和描述但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他動(dòng)作并發(fā)地發(fā)生。

本領(lǐng)域技術(shù)人員將進(jìn)一步領(lǐng)會(huì)，結(jié)合本文中所公開(kāi)的實(shí)施例來(lái)描述的各種解說(shuō)性邏輯板塊、模塊、電路、和算法步驟可實(shí)現(xiàn)為電子硬件、計(jì)算機(jī)軟件、或這兩者的組合。為清楚地解說(shuō)硬件與軟件的這一可互換性，各種解說(shuō)性組件、框、模塊、電路、和步驟在上面是以其功能性的形式作一般化描述的。此類功能性是被實(shí)現(xiàn)為硬件還是軟件取決于具體應(yīng)用和施加于整體系統(tǒng)的設(shè)計(jì)約束。技術(shù)人員對(duì)于每種特定應(yīng)用可用不同的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)所描述的功能性，但這樣的實(shí)現(xiàn)決策不應(yīng)被解讀成導(dǎo)致脫離了本發(fā)明的范圍。

結(jié)合本文所公開(kāi)的實(shí)施例描述的各種解說(shuō)性邏輯板塊、模塊、和電路可用通用處理器、數(shù)字信號(hào)處理器(dsp)、專用集成電路(asic)、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(fpga)或其它可編程邏輯器件、分立的門或晶體管邏輯、分立的硬件組件、或其設(shè)計(jì)成執(zhí)行本文所描述功能的任何組合來(lái)實(shí)現(xiàn)或執(zhí)行。通用處理器可以是微處理器，但在替換方案中，該處理器可以是任何常規(guī)的處理器、控制器、微控制器、或狀態(tài)機(jī)。處理器還可以被實(shí)現(xiàn)為計(jì)算設(shè)備的組合，例如dsp與微處理器的組合、多個(gè)微處理器、與dsp核心協(xié)作的一個(gè)或多個(gè)微處理器、或任何其他此類配置。

結(jié)合本文中公開(kāi)的實(shí)施例描述的方法或算法的步驟可直接在硬件中、在由處理器執(zhí)行的軟件模塊中、或在這兩者的組合中體現(xiàn)。軟件模塊可駐留在ram存儲(chǔ)器、閃存、rom存儲(chǔ)器、eprom存儲(chǔ)器、eeprom存儲(chǔ)器、寄存器、硬盤、可移動(dòng)盤、cd-rom、或本領(lǐng)域中所知的任何其他形式的存儲(chǔ)介質(zhì)中。示例性存儲(chǔ)介質(zhì)耦合到處理器以使得該處理器能從/向該存儲(chǔ)介質(zhì)讀取和寫入信息。在替換方案中，存儲(chǔ)介質(zhì)可以被整合到處理器。處理器和存儲(chǔ)介質(zhì)可駐留在asic中。asic可駐留在用戶終端中。在替換方案中，處理器和存儲(chǔ)介質(zhì)可作為分立組件駐留在用戶終端中。

在一個(gè)或多個(gè)示例性實(shí)施例中，所描述的功能可在硬件、軟件、固件或其任何組合中實(shí)現(xiàn)。如果在軟件中實(shí)現(xiàn)為計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，則各功能可以作為一條或更多條指令或代碼存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)上或藉其進(jìn)行傳送。計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)包括計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)和通信介質(zhì)兩者，其包括促成計(jì)算機(jī)程序從一地向另一地轉(zhuǎn)移的任何介質(zhì)。存儲(chǔ)介質(zhì)可以是能被計(jì)算機(jī)訪問(wèn)的任何可用介質(zhì)。作為示例而非限定，這樣的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)可包括ram、rom、eeprom、cd-rom或其它光盤存儲(chǔ)、磁盤存儲(chǔ)或其它磁存儲(chǔ)設(shè)備、或能被用來(lái)攜帶或存儲(chǔ)指令或數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)形式的合意程序代碼且能被計(jì)算機(jī)訪問(wèn)的任何其它介質(zhì)。任何連接也被正當(dāng)?shù)胤Q為計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。例如，如果軟件是使用同軸電纜、光纖電纜、雙絞線、數(shù)字訂戶線(dsl)、或諸如紅外、無(wú)線電、以及微波之類的無(wú)線技術(shù)從web網(wǎng)站、服務(wù)器、或其它遠(yuǎn)程源傳送而來(lái)，則該同軸電纜、光纖電纜、雙絞線、dsl、或諸如紅外、無(wú)線電、以及微波之類的無(wú)線技術(shù)就被包括在介質(zhì)的定義之中。如本文中所使用的盤(disk)和碟(disc)包括壓縮碟(cd)、激光碟、光碟、數(shù)字多用碟(dvd)、軟盤和藍(lán)光碟，其中盤(disk)往往以磁的方式再現(xiàn)數(shù)據(jù)，而碟(disc)用激光以光學(xué)方式再現(xiàn)數(shù)據(jù)。上述的組合也應(yīng)被包括在計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)的范圍內(nèi)。

提供對(duì)本公開(kāi)的先前描述是為使得本領(lǐng)域任何技術(shù)人員皆能夠制作或使用本公開(kāi)。對(duì)本公開(kāi)的各種修改對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)說(shuō)都將是顯而易見(jiàn)的，且本文中所定義的普適原理可被應(yīng)用到其他變體而不會(huì)脫離本公開(kāi)的精神或范圍。由此，本公開(kāi)并非旨在被限定于本文中所描述的示例和設(shè)計(jì)，而是應(yīng)被授予與本文中所公開(kāi)的原理和新穎性特征相一致的最廣范圍。