本發明涉及一種光譜定標設備。

背景技術：

光譜定標用于確定成像光譜儀各個像元對于不同波長光的響應，是一種重要的光學設備，現有設計中，通過控制器控制單色儀在相應波長范圍內以一定步長掃描，并采集光經過一系列的處理、變換得到的信號，最終得到各個像元對于不同波長光的響應。由于光源發出的光需要經過長距離的變換、處理，而控制器端僅能處理最終的結果，若中間出現異常，則控制器端將獲得錯誤的數據，導致光譜定標誤差較大，影響后續的使用。

技術實現要素：

針對上述問題，本發明提供一種光譜定標設備，對現有設計的光譜定標設備進行結構改進，減少光譜定標的誤差，提高光譜定標的精度，方便后續的使用。

為實現上述技術目的，達到上述技術效果，本發明通過以下技術方案實現：

一種光譜定標設備，包括光源、單色儀、反射鏡、成像光譜儀和控制器，所述光源發出的光經過光學斬波器入射到單色儀的輸入狹縫，所述控制器與單色儀相連，單色儀輸出狹縫輸出的光依次經平行光管和反射鏡入射到成像光譜儀的孔徑內，成像光譜儀的輸出端通過前置放大器與鎖相放大器相連，所述鎖相放大器通過模數轉換器與控制器相連。

優選，所述平行光管和反射鏡之間設置有第一光探測器，所述反射鏡和成像光譜儀之間設置有第二光探測器，所述第一光探測器和第二光探測器均與控制器相連，所述控制器與顯示器相連。

優選，所述反射鏡與豎直平面呈45°夾角。

優選，所述模數轉換器的型號是ad7478。

優選，所述鎖相放大器的型號是sr830。

優選，所述前置放大器的型號是awa14604。

本發明的有益效果是：光源發出的光會聚后經過光學斬波器入射到單色儀，依次經過平行光管、反射鏡、成像光譜儀、前置放大器、鎖相放大器、模數轉換器，最后輸出至控制器。減少光譜定標的誤差，提高光譜定標的精度，方便后續的使用。另外，通過第一光探測器和第二光探測器用于輔助監測光路是否出現異常，以提高光譜定標的精度。

附圖說明

圖1是本發明一種光譜定標設備的結構示意圖；

附圖的標記含義如下：

1：光源；2：光學斬波器；3：單色儀；4：平行光管；5：第一光探測器；6：反射鏡；7：第二光探測器；8：成像光譜儀；9：前置放大器；10：鎖相放大器；11：模數轉換器；12：控制器。

具體實施方式

下面結合附圖和具體的實施例對本發明技術方案作進一步的詳細描述，以使本領域的技術人員可以更好的理解本發明并能予以實施，但所舉實施例不作為對本發明的限定。

如圖1所示，一種光譜定標設備，包括光源1、單色儀3、反射鏡6、成像光譜儀8和控制器12，所述光源1發出的光經過光學斬波器2入射到單色儀3的輸入狹縫，所述控制器12與單色儀3相連，單色儀3輸出狹縫輸出的光依次經平行光管4和反射鏡6入射到成像光譜儀8的孔徑內，成像光譜儀8的輸出端通過前置放大器9與鎖相放大器10相連，所述鎖相放大器10通過模數轉換器11與控制器12相連。

單色儀3為成像光譜儀8提供標準的單色光，可以采用汞燈、氦氖激光器等，光源發出的光會聚后經過光學斬波器入射到單色儀，單色儀3輸出狹縫輸出的光依次經平行光管、反射鏡、成像光譜儀、前置放大器、鎖相放大器、模數轉換器，最后輸出至控制器?？刂破鞑杉瘮祿⒖刂茊紊珒x在相應波長范圍內以一定步長掃描。

優選，所述平行光管4和反射鏡6之間設置有第一光探測器5，所述反射鏡6和成像光譜儀8之間設置有第二光探測器7，所述第一光探測器5和第二光探測器7均與控制器12相連，所述控制器12與顯示器相連，顯示器顯示第一光探測器5和第二光探測器7的光功率，若二者差距大于設定值，則可以判斷光路出現異常。

圖1中，所述反射鏡6與豎直平面呈45°夾角。

優選各型號如下：所述模數轉換器11的型號是ad7478，所述鎖相放大器10的型號是sr830，所述前置放大器9的型號是awa14604。

本發明的有益效果是：光源發出的光會聚后經過光學斬波器入射到單色儀，依次經過平行光管、反射鏡、成像光譜儀、前置放大器、鎖相放大器、模數轉換器，最后輸出至控制器。減少光譜定標的誤差，提高光譜定標的精度，方便后續的使用。另外，通過第一光探測器和第二光探測器用于輔助監測光路是否出現異常，以提高光譜定標的精度。

以上僅為本發明的優選實施例，并非因此限制本發明的專利范圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或者等效流程變換，或者直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發明的專利保護范圍內。

技術特征：

技術總結
本發明公開了一種光譜定標設備，包括光源、單色儀、反射鏡、成像光譜儀和控制器，所述光源發出的光經過光學斬波器入射到單色儀的輸入狹縫，所述控制器與單色儀相連，單色儀輸出狹縫輸出的光依次經平行光管和反射鏡入射到成像光譜儀的孔徑內，成像光譜儀的輸出端通過前置放大器與鎖相放大器相連，所述鎖相放大器通過模數轉換器與控制器相連。優選，所述平行光管和反射鏡之間設置有第一光探測器，所述反射鏡和成像光譜儀之間設置有第二光探測器，所述第一光探測器和第二光探測器均與控制器相連，所述控制器與顯示器相連。減少光譜定標的誤差，提高光譜定標的精度，方便后續的使用。

技術研發人員：薛文英
受保護的技術使用者：蘇州華徠光電儀器有限公司
技術研發日：2017.07.05
技術公布日：2017.09.29