技術(shù)特征：

1.一種L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一、建立二維阻抗平面坐標(biāo)系，并在所述二維阻抗平面內(nèi)選取起始點(diǎn)(n，n)，其中,n>0；

步驟二、根據(jù)所述起始點(diǎn)(n，n)設(shè)計(jì)L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)，并測(cè)量所述L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)的特征阻抗值Z_(n，n)；判斷(n，n)是否為匹配點(diǎn)；若是，根據(jù)所述匹配點(diǎn)設(shè)計(jì)L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)；否則，繼續(xù)執(zhí)行步驟三；

步驟三、增加步驟二中起始點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電容值和電感值，直至得出電容值和電感值所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)(m，m)，點(diǎn)(m，m)滿足以下條件：測(cè)量出點(diǎn)(m，m)對(duì)應(yīng)的特征阻抗值Z_(m，m)，Z_(m，m)與史密斯圓圖中心點(diǎn)的距離小于Z_(n，n)與史密斯圓圖中心點(diǎn)的距離；其中，m>n>0；

步驟四、增加步驟三中點(diǎn)(m，m)對(duì)應(yīng)的電容值和電感值，直至得出電容值和電感值所對(duì)應(yīng)的兩個(gè)相鄰點(diǎn)(m₁，m₁)、(m₂，m₂)，點(diǎn)(m₁，m₁)、(m₂，m₂)滿足以下條件：與所述史密斯原圖中心點(diǎn)之間的距離小于步驟三中Z_(m，m)與史密斯圓圖中心點(diǎn)的距離，且與史密斯原圖中心點(diǎn)之間的距離大于步驟三中Z_(m,m)與史密斯圓圖中心點(diǎn)的距離；則判斷匹配點(diǎn)位于以(m₁，m₁)為坐標(biāo)原點(diǎn)的阻抗平面內(nèi)第三象限且m₂>m₁>m>0，繼續(xù)執(zhí)行步驟五；

步驟五、縮小步驟四中匹配點(diǎn)所處的范圍，得出最終匹配區(qū)域，則最終匹配區(qū)域內(nèi)的任一點(diǎn)均為匹配點(diǎn)，并根據(jù)匹配點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電容值和電感值設(shè)計(jì)L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)。

2.如權(quán)利要求1所述的L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述步驟一的具體方法為：

建立二維阻抗平面坐標(biāo)系，橫軸為電感軸，縱軸為電容軸，在所述二維阻抗平面內(nèi)選擇起始點(diǎn)(n，n)其中，所述起始點(diǎn)(n，n)表示在L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)中的電感值和電容值均為n，通過(guò)所述起始點(diǎn)(n，n)分別做出平行于所述電感軸和電容軸的直線，并通過(guò)兩條所述直線將所述二維阻抗平面分為四個(gè)象限。

3.如權(quán)利要求2所述的L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)方法，其特征在于，步驟五中得出最終匹配區(qū)域的具體方法為：

步驟5.1、選取匹配區(qū)域的中心點(diǎn)(m₁/2，m₁/2)，并通過(guò)中心點(diǎn)(m₁/2，m₁/2)在所述二維阻抗平面做出分別與所述電容軸、電感軸平行的直線，將所述匹配區(qū)域分成第一象限、第二象限、第三象限和第四象限四部分，判斷所述匹配點(diǎn)所在象限，得出匹配區(qū)域；

步驟5.2、重復(fù)執(zhí)行步驟5.1，并得出最終匹配區(qū)域；

步驟5.3、以匹配區(qū)域內(nèi)任一點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的電容值和電感值設(shè)計(jì)L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)。

4.如權(quán)利要求3所述的L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)方法，其特征在于，步驟5.1中判斷所述匹配點(diǎn)所在象限的具體方法如下：

步驟5.1.1、保持所述中心點(diǎn)(m₁/2，m₁/2)的電容值不變，增大電感值，當(dāng)特征阻抗值接近所述史密斯原圖中心點(diǎn)時(shí)，則匹配點(diǎn)位于所述第一象限或所述第四象限內(nèi)，否則，匹配點(diǎn)位于所述第二象限或所述第三象限內(nèi)；

步驟5.1.2、保持所述中心點(diǎn)(m₁/2，m₁/2)的電感值不變，增大電容值，當(dāng)特征阻抗值接近所述史密斯原圖中心點(diǎn)時(shí)，則匹配點(diǎn)位于所述第一象限或第二象限內(nèi)，否則，匹配點(diǎn)位于所述第三象限或第四象限內(nèi)；

步驟5.1.3、根據(jù)所述步驟5.1.1和所述步驟5.1.2確定所述匹配點(diǎn)所在的匹配區(qū)域。

5.如權(quán)利要求3或4所述的L型阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)方法，其特征在于，在所述匹配區(qū)域內(nèi)，所述中心點(diǎn)的右上方為第一象限，所述中心點(diǎn)的左上方為第二象限，所述中心點(diǎn)的左下方為第三象限，所述中心點(diǎn)的右下方為第四象限。