本技術涉及存儲系統領域，尤其涉及一種硬盤性能測試方法、系統和裝置。

背景技術：

1、在分布式存儲系統中，緩存硬盤為用戶提供在分布式存儲網關上讀寫數據的緩存空間。這種緩存機制能夠顯著降低用戶訪問文件共享數據的時延，從而提高系統的響應速度和整體性能。因此，在部署分布式存儲系統之前，對緩存硬盤的各項性能指標進行快速而準確的測試顯得尤為重要。

2、然而，不同類型的緩存硬盤具有不同的特性。一方面，部分固態硬盤（solid?statedrive，ssd）配備了單階存儲單元（single-level?cell，slc）緩存，當寫入的數據量較小時，這些數據主要被存儲在slc緩存中，此時測試得到的是緩內性能；而當寫入的數據量較大，以至于寫滿了slc緩存時，數據被存儲在slc緩存之外的其他區域，此時測試得到的是緩外性能。另一方面，部分固態硬盤和機械硬盤（hard?disk?drive，hdd）沒有配備slc緩存，測試得到的相當于slc緩存寫滿后的緩外性能。

3、對于分布式存儲系統而言，無論是緩內性能還是緩外性能，都是緩存硬盤性能的重要指標。因此，如何通過一種通用的方法，覆蓋不同類型的緩存硬盤，并快速準確地測試出它們的各項性能指標，是本技術亟需解決的問題。

技術實現思路

1、本技術提供一種硬盤性能測試方法、系統和裝置，用以解決如何通過一種通用的方法，覆蓋不同類型的緩存硬盤，并快速準確地測試出它們的各項性能指標的問題。

2、本技術的第一方面提供一種硬盤性能測試方法，該方法應用于分布式存儲系統的硬盤性能測試裝置，分布式存儲系統還包括多個緩存硬盤，目標硬盤是多個緩存硬盤中的任意一個；對于目標硬盤，該方法包括：

3、對目標硬盤進行首次性能測試，得到第一測試數據；其中，首次性能測試寫入的數據量，小于目標硬盤的預測緩內容量；

4、獲取目標硬盤的持續寫入時間；

5、對目標硬盤交替執行連續寫入操作和隨機寫入操作，并記錄瞬時寫入速度的日志數據，直到日志數據指示瞬時寫入速度滿足預設速度要求，或者，交替寫入操作的持續時間達到持續寫入時間，則確定交替寫入操作寫入的數據量，大于預測緩內容量；

6、對目標硬盤進行二次性能測試，得到第二測試數據；

7、根據第一測試數據、第二測試數據和日志數據，得到目標硬盤的多個性能指標。

8、在一種可能的設計中，獲取目標硬盤的持續寫入時間，包括：

9、獲取目標硬盤的硬盤容量和硬盤類型；

10、根據硬盤容量和硬盤類型，得到預期寫入時間；其中，預期寫入時間是指預期寫滿硬盤容量的時間；

11、將預期寫入時間與預設的測試上限時間中，時間短的確定為持續寫入時間。

12、在一種可能的設計中，硬盤類型為第一類型或第二類型；其中，第一類型用于指示目標硬盤包括機械硬盤，第二類型用于指示目標硬盤不包括機械硬盤；

13、在硬盤類型為第二類型時，根據硬盤容量和硬盤類型，得到預期寫入時間，包括：

14、根據預設的比例系數，修正硬盤容量；其中，修正后的硬盤容量小于修正前的硬盤容量；

15、根據修正后的硬盤容量，得到預期寫入時間。

16、在一種可能的設計中，第一類型的目標硬盤對應的測試上限時間，短于第二類型的目標硬盤對應的測試上限時間。

17、在一種可能的設計中，獲取目標硬盤的硬盤容量和硬盤類型，包括：

18、獲取目標硬盤的屬性信息的字段；

19、對屬性信息的字段進行解析，得到硬盤容量和硬盤類型。

20、在一種可能的設計中，對目標硬盤交替執行連續寫入操作和隨機寫入操作，包括：

21、在第一預設時間以內，對目標硬盤首次交替執行連續寫入操作和隨機寫入操作；其中，首次交替寫入的數據量，小于預測緩內容量；

22、對目標硬盤二次交替執行連續寫入操作和隨機寫入操作。

23、在一種可能的設計中，第一測試數據包括：第二預設時間以內的隨機讀寫時延、連續讀帶寬和隨機讀iops；第二測試數據包括：第三預設時間以內的隨機讀寫時延、連續讀帶寬和隨機讀iops；

24、根據第一測試數據、第二測試數據和日志數據，得到目標硬盤的多個性能指標，包括：

25、根據日志數據，確定目標硬盤的實際緩內容量；

26、在實際緩內容量大于零時，根據第一測試數據和日志數據，得到目標硬盤的緩內性能，并根據第二測試數據，得到目標硬盤的緩外性能。

27、在一種可能的設計中，根據第一測試數據、第二測試數據和日志數據，得到目標硬盤的多個性能指標之后，該方法還包括：

28、將未測試過的緩存硬盤，確定為新的目標硬盤，以測試新的目標硬盤的多個性能指標。

29、本技術的第二方面提供一種硬盤性能測試系統，該系統包括：

30、多個緩存硬盤，以及分別與每個緩存硬盤通信連接的硬盤性能測試裝置，硬盤性能測試裝置用于實現如第一方面任一項的硬盤性能測試方法。

31、本技術的第三方面提供一種硬盤性能測試裝置，該裝置位于硬盤性能測試系統，硬盤性能測試系統還包括多個緩存硬盤，目標硬盤是多個緩存硬盤中的任意一個；對于目標硬盤，該裝置包括：

32、首次測試模塊，用于對目標硬盤進行首次性能測試，得到第一測試數據；其中，首次性能測試寫入的數據量，小于目標硬盤的預測緩內容量；

33、時間獲取模塊，用于獲取目標硬盤的持續寫入時間；

34、持續寫入模塊，用于對目標硬盤交替執行連續寫入操作和隨機寫入操作，并記錄瞬時寫入速度的日志數據，直到日志數據指示瞬時寫入速度滿足預設速度要求，或者，交替寫入操作的持續時間達到持續寫入時間，則確定交替寫入操作寫入的數據量，大于預測緩內容量；

35、二次測試模塊，用于對目標硬盤進行二次性能測試，得到第二測試數據；

36、性能確定模塊，用于根據第一測試數據、第二測試數據和日志數據，得到目標硬盤的多個性能指標。

37、本技術的第四方面提供一種電子設備，包括：存儲器，以及與處理器通信連接的存儲器；

38、存儲器存儲計算機執行指令；

39、處理器執行存儲器存儲的計算機執行指令時，用于實現第一方面任一項的硬盤性能測試方法。

40、本技術的第五方面提供一種計算機可讀存儲介質，計算機可讀存儲介質中存儲有計算機執行指令，計算機執行指令被處理器執行時，用于實現第一方面任一項的硬盤性能測試方法。

41、本技術的第六方面提供一種計算機程序產品，包括計算機程序，計算機程序被處理器執行時，用于實現第一方面任一項的硬盤性能測試方法。

42、本技術提供的一種硬盤性能測試方法、系統和裝置，對于分布式存儲系統的目標硬盤，該方法包括：對目標硬盤進行首次性能測試，得到第一測試數據；獲取目標硬盤的持續寫入時間；對目標硬盤交替執行連續寫入操作和隨機寫入操作，并記錄瞬時寫入速度的日志數據，直到日志數據指示瞬時寫入速度滿足預設速度要求，或者，交替寫入操作的持續時間達到持續寫入時間；對目標硬盤進行二次性能測試，得到第二測試數據；根據第一測試數據、第二測試數據和日志數據，得到目標硬盤的多個性能指標。實現了如下技術效果：通過兩輪性能測試，即可以測試出配備slc緩存的硬盤的性能，也可以測試出未配備slc緩存的硬盤的性能，解決了如何通過一種通用的方法，覆蓋不同類型的緩存硬盤的問題；通過首次性能測試確定目標硬盤的緩內性能，通過二次性能測試確定目標硬盤的緩外性能，并通過交替寫入操作確定目標硬盤的緩內緩外寫入速度，解決了如何準確測試出目標硬盤的各項性能指標的問題；通過交替寫入操作，確保目標硬盤的slc緩存被寫滿，同時，限制交替寫入操作的速度要求和持續時間，解決了如何快速測試出目標硬盤的各項性能指標的問題。