1.一種圓柱體檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對(duì)待檢測(cè)點(diǎn)云進(jìn)行切分處理,得到多個(gè)切分部分,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對(duì)所述投影點(diǎn)云進(jìn)行簡(jiǎn)化處理,得到簡(jiǎn)化投影點(diǎn)云,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)各所述第一待處理點(diǎn),計(jì)算出所述點(diǎn)云點(diǎn)法向范圍內(nèi)的點(diǎn)的中心點(diǎn),包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對(duì)所述簡(jiǎn)化投影點(diǎn)云進(jìn)行聚類,得到至少一個(gè)聚類點(diǎn)云,包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對(duì)各所述聚類點(diǎn)云進(jìn)行圓柱體檢測(cè),以確定所述切分部分中的所有圓柱體,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述選取任一所述聚類點(diǎn)云進(jìn)行圓弧檢測(cè),當(dāng)在所述聚類點(diǎn)云滿足圓弧特征的情況下,計(jì)算出所述聚類點(diǎn)云的圓心以及半徑,包括:
8.一種圓柱體檢測(cè)裝置,其特征在于,所述裝置包括:
9.一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法。
10.一種存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于:所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法。