有機發光顯示裝置及測試該裝置的方法
【專利摘要】提供有機發光顯示裝置及測試該裝置的方法。該有機發光顯示裝置包括：包括多個像素的顯示單元，所述像素中的每一個像素包括有機發光二極管；以及被配置為向所述顯示單元施加第一信號和第二信號并且從所述顯示單元接收第三信號的測試電路。所述測試電路被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有第一電平時所述第三信號的電壓電平確定所述顯示單元是否處于正常狀態。
【專利說明】有機發光顯示裝置及測試該裝置的方法
[0001]相關申請的交叉引用
[0002]本申請要求于2013年I月15日在韓國知識產權局(KIPO)遞交的韓國專利申請N0.10-2013-0004528的優先權和權益，該專利申請的內容通過引用整體合并于此。
【技術領域】
[0003]本公開內容涉及有機發光顯示裝置及測試該有機發光顯示裝置的方法。
【背景技術】
[0004]近年來，已開發出各種平板顯示裝置，這些平板顯示裝置與陰極射線管相比具有輕重量和纖薄尺寸。具體來說，具有諸如優越發光效率、高亮度、寬視角、快響應速度等的方面的發光顯示裝置已備受矚目。
[0005]作為發光顯示裝置之一，有機發光顯示裝置作為下一代顯示裝置已備受矚目，這是因為其具有諸如快響應速度、低驅動電壓、薄厚度、寬視角等的特性。另外，發光顯示裝置是電激發熒光有機化合物以發光的自發射顯示裝置。
[0006]有機發光顯示裝置包括多個像素。每個像素包括具有柵極線、數據線和驅動電壓線的線部分、聯接至線部分的開關晶體管、聯接至開關晶體管的有機發光器件，以及聯接至開關晶體管的電容器。開關晶體管根據通過線部分提供的信號接通或關斷，并且電流在開關晶體管接通時流過有機發光器件。在像素的開關晶體管中存在缺陷的情況下，像素可能發生故障。

【發明內容】

[0007]本公開內容提供一種能夠檢查像素的缺陷的有機發光顯示裝置。
[0008]本公開內容提供一種測試有機發光顯示裝置以檢查像素的缺陷的方法。
[0009]創造性構思的實施例提供一種有機發光顯示裝置，該裝置包括:包括多個像素的顯示單元，所述像素中的每一個像素包括有機發光二極管；以及被配置為向所述顯示單元施加第一信號和第二信號并且從所述顯示單元接收第三信號的測試電路，其中所述測試電路被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有第一電平時所述第三信號的電壓電平確定所述顯示單元是否處于正常狀態。
[0010]所述像素中的每一個可以進一步包括:包括聯接至第一節點的柵電極的第一晶體管，所述第一晶體管聯接在第二節點與第三節點之間；包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第二晶體管，所述第二晶體管聯接在數據線與所述第二節點之間；包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第三晶體管，所述第三晶體管聯接在所述第一節點與所述第三節點之間；包括被配置為接收施加至所述像素中的前一像素的所述第一信號的柵電極的第四晶體管，所述第四晶體管聯接在所述第一節點與初始化電壓之間；包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第五晶體管，所述第五晶體管聯接在源電壓與所述第二節點之間；以及包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第六晶體管，第六晶體管聯接在所述第三節點與第四節點之間，其中所述有機發光二極管聯接在所述第四節點與接地電壓源之間。
[0011 ] 所述測試電路可以被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有所述第一電平時通過所述數據線接收的所述第三信號的電壓電平確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
[0012]所述測試電路被配置為基于在具有接通所述第二晶體管和所述第五晶體管的所述第一電平的所述第一信號和所述第二信號被施加時的所述第三信號確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
[0013]所述像素中的每一個可以進一步包括:聯接在所述源電壓與所述第一節點之間的第一電容器；以及聯接在所述第二晶體管的柵電極與所述第一節點之間的第二電容器。
[0014]所述第一信號可以通過掃描線被供應，并且所述第二信號可以通過發光控制線被供應。
[0015]創造性構思的實施例提供一種測試有機發光顯示裝置的方法，所述方法包括:向顯示單元施加第一信號和第二信號，其中所述顯示單元包括各自具有有機發光二極管的多個像素；從所述顯示單元接收第三信號；以及基于所述第一信號和所述第二信號具有第一電平時所述第三信號的電壓電平確定所述顯示單元是否處于正常狀態。
[0016]所述像素中的每一個可以進一步包括:包括聯接至第一節點的柵電極的第一晶體管，所述第一晶體管聯接在第二節點與第三節點之間；包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第二晶體管，所述第二晶體管聯接在數據線與所述第二節點之間；包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第三晶體管，所述第三晶體管聯接在所述第一節點與所述第三節點之間；包括被配置為接收施加于所述像素的前一像素的所述第一信號的柵電極的第四晶體管，所述第四晶體管聯接在所述第一節點與初始化電壓之間；包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第五晶體管，所述第五晶體管聯接在源電壓與所述第二節點之間；以及包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第六晶體管，所述第六晶體管聯接在所述第三節點與第四節點之間，并且所述有機發光二極管聯接在所述第四節點與接地電壓源之間。
[0017]確定所述顯示單元是否處于正常狀態可以包括:基于所述第一信號和所述第二信號具有所述第一電平時通過所述數據線接收的所述第三信號的電壓電平確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
[0018]確定所述顯示單元是否處于正常狀態可以包括:基于具有接通所述第二晶體管和所述第五晶體管的所述第一電平的所述第一信號和所述第二信號被施加時的所述第三信號確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
[0019]所述第一信號可以通過柵極線被供應，并且所述第二信號可以通過發光控制線被供應。
[0020]根據上述，像素的晶體管中的缺陷可以在制造有機發光顯示裝置時被確定。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]通過參照以下結合附圖考慮時的詳細描述，本公開內容的上述及其它方面將變得容易明顯，其中:[0022]圖1是示出根據本公開內容的示例性實施例的有機發光顯示裝置的示意圖；
[0023]圖2是示出聯接至圖1中示出的顯示單元以測試顯示單元的測試電路的示意圖；
[0024]圖3是示出圖2中示出的像素之一的示意性電路圖；
[0025]圖4是示出用于測試圖3中示出的像素的信號的時序圖；以及
[0026]圖5是示出通過確定圖3中示出的像素是否正常操作而獲得的測試結果的視圖。
【具體實施方式】
[0027]將參照附圖詳細描述實施例。然而，創造性的構思可以以各種不同的形式具體實現，而不應當被解釋為僅僅限于所圖示的實施例。更確切地說，這些實施例被提供作為示例，使得本公開內容將是徹底和完整的并且將向本領域技術人員傳達創造性構思的構思。相應地，不針對創造性構思的一些實施例描述已知過程、元件和技術。除非另外指出，否則相同的附圖標記在附圖和書面描述中始終指代相同的元件，因此將不重復描述。附圖中，層和區域的尺寸和相對尺寸為了清楚起見可以被放大。
[0028]圖1是示出根據本公開內容的示例性實施例的有機發光顯示裝置的示意圖。
[0029]參照圖1，有機發光顯示裝置100包括顯示單元110、時序控制器120、掃描驅動器130和數據驅動器140。顯示單元110包括布置在由多條掃描線SI至Sn、多條發光控制線El至En和多條數據線Dl至Dm限定的區域中的多個像素PX。
[0030]時序控制器120響應從外部源(未示出)提供的同步信號和圖像信號，向掃描驅動器130施加掃描驅動控制信號SCS并且向數據驅動器140施加數據驅動控制信號DCS和圖像數據DATA。
[0031]掃描驅動器130響應來自時序控制器120的掃描驅動控制信號SCS向掃描線SI至Sn施加掃描信號，并且向發光控制線El至En施加發光控制信號。
[0032]在本示例性實施例中，掃描驅動器130向掃描線SI至Sn順序施加掃描信號，使得聯接至掃描線SI至Sn的像素PX被順序驅動。另外，掃描驅動器130在向前一掃描線Sj-1施加掃描信號的同時向與當前掃描線Sj基本平行的發光控制線Ej施加發光控制信號，因此像素PX中的晶體管被接通。在此情況下，j是自然數。
[0033]然后，掃描驅動器130向發光控制線Ej施加發光控制信號，以允許像素PX中的晶體管從前一信號被施加至前一掃描線的時間段中第一時段后的第二時段至當前掃描信號被施加至當前掃描線的第三時段期間關斷。
[0034]同時,為了解釋方便，在圖1中一個掃描驅動器130產生并輸出掃描信號和發光控制信號，但不應當限于此或由此被限定。
[0035]也就是說，掃描驅動器130可以以復數提供。在這種情況下，多個掃描驅動器可以放置在顯示單元110的相對側以施加掃描信號和發光控制信號。可替代地，產生并輸出掃描信號的驅動電路和產生并輸出發光控制信號的驅動電路可以彼此不同，并且分別被稱為掃描驅動器和發光控制驅動器。掃描驅動器和發光控制驅動器可以放置在顯示單元110的相同側或不同(例如，相對)側。
[0036]數據驅動器140從時序控制器120接收數據驅動控制信號DCS和圖像數據DATA并且驅動數據線Dl至Dm。
[0037]顯示單元110從外部源(未示出)接收第一源電壓ELVDD和第二源電壓ELVSS，并且產生與通過數據線Dl至Dm提供的數據信號相對應的光。另外，根據像素PX的結構，顯示單元110可以進一步接收初始化電壓VINT。
[0038]顯示單元110中的每個像素PX包括有機發光二極管。每個像素PX包括一個或多個晶體管，以選擇性地向有機發光二極管提供電流。根據本示例性實施例，當在晶體管被形成并聯接至掃描線SI至Sn和有機發光控制線El至En之后而制造了有機發光顯示裝置100時，像素PX中的晶體管可以被測試以確定晶體管是否正常操作(例如，正確地發揮作用)。
[0039]圖2是聯接至圖1中示出的顯示單元以測試顯示單元的測試電路的示意圖。
[0040]參照圖2，測試電路200通過開關部分210聯接至顯示單元110。開關部分210包括將測試電路200聯接至掃描線SI至Sn和發光控制線El至En的多個開關。開關部分210在測試模式期間將掃描線SI至Sn和發光控制線El至En順序聯接至測試電路200。
[0041]測試電路200通過開關部分210分別向掃描線SI至Sn和發光控制線El至En施加掃描信號SS和發光控制信號ES，并且基于通過數據線Dl至Dm提供的信號確定顯示單元110的像素PX是否正常操作(例如，正確地發揮作用)。
[0042]圖3是圖2中示出的像素PX之一的示意性電路圖。詳細地說，圖3示出聯接至第i條數據線Di (i為正整數)和第j條水平線(j為正整數)的像素PXij作為代表性示例。
[0043]參照圖3，像素PXij分別包括第一晶體管Tl、第二晶體管T2、第三晶體管T3、第四晶體管T4、第五晶體管T5和第六晶體管T6、第一電容器Cl、第二電容器C2以及有機發光二極管OLED。
[0044]第一晶體管Tl聯接在第二節點N2與第三節點N3之間，并且包括聯接至第一節點的控制(或柵)電極。第二晶體管T2聯接在數據線Di與第二節點N2之間，并且包括聯接至掃描線Sj的柵電極，其中第二晶體管T2的柵電極被配置為接收由掃描線Sj供應的掃描信號。
[0045]第三晶體管T3聯接在第一節點NI與第三節點N3之間，并且包括聯接至掃描線Sj的柵電極，其中第三晶體管T3的柵電極被配置為接收由掃描線Sj供應的掃描信號。
[0046]第四晶體管T4聯接在第一節點與供應初始化電壓VINT的電壓源之間，并且包括聯接至掃描線Sj-1的柵電極，其中第四晶體管T4的柵電極被配置為接收由與前一像素相對應的掃描線Sj-1供應的掃描信號。
[0047]第五晶體管T5聯接在第一源電壓ELVDD與第二節點N2之間，并且包括聯接至發光控制線Ej的柵電極，其中第五晶體管T5的柵電極被配置為接收由發光控制線Ej供應的發光控制信號。
[0048]第六晶體管T6聯接在第三節點N3與第四節點N4之間，并且包括聯接至發光控制線Ej的柵電極，其中第六晶體管T6的柵電極被配置為接收由發光控制線Ej供應的發光控制信號。
[0049]有機發光二極管OLED聯接在第四節點N4與第二源電壓ELVSS (或接地電壓源)之間。
[0050]第一電容器Cl聯接在第一源電壓ELVDD與第一節點NI之間。第二電容器C2聯接在掃描線Sj與第一節點NI之間。
[0051]當處于低電平的掃描信號被施加至像素PXij的掃描線Sj時，第二晶體管T2接通。通過數據線Di提供的數據信號在第二晶體管T2接通的同時通過第一晶體管Tl和第六晶體管T6被施加至有機發光二極管OLED。另外，當處于低電平的掃描信號被施加至掃描線Sj時，第三晶體管T3接通以允許第一晶體管Tl執行二極管連接操作。
[0052]第六晶體管T6根據通過發光控制線Ej提供的發光控制信號ES的電平被接通或關斷，以形成通過像素PXij中的有機發光二極管OLED的電流通路或者防止電流通路形成。
[0053]第四晶體管T4在前一掃描信號通過前一掃描線Sj-1被提供時接通，因此第一節點NI被初始化成初始化電壓VINT。
[0054]第五晶體管T5根據通過發光控制線Ej提供的發光控制信號的電平被接通或關斷，以形成通過像素PXij中的有機發光二極管OLED的電流通路或者防止電流通路形成。
[0055]圖4是示出用于測試圖3中示出的像素的信號的時序圖。圖4示出施加至前一掃描線Sj-1和第j條掃描線Sj的掃描信號SS以及發光控制信號ES。
[0056]參照圖2、圖3和圖4，測試電路200向掃描線Sj和發光控制線Ej分別施加掃描信號SS和發光控制信號ES，以測試顯示單元110。
[0057]發光控制信號ES在第一時間點tl從低電平變為高電平。當通過發光控制線Ej提供的發光控制信號ES變為高電平時，第五晶體管T5和第六晶體管T6被關斷。
[0058]施加至前一掃描線Sj-1的前一掃描信號SS在第二時間點t2從高電平變為低電平。當施加至前一掃描線Sj-1的前一掃描信號SS變為低電平時，第四晶體管T4被接通并且第一節點NI的電壓被設置成初始化電壓VINT。
[0059]施加至前一掃描線Sj-1的前一掃描信號SS在第三時間點t3從低電平變為高電平，并且施加至發光控制線Ej的發光控制信號ES在第四時間點t4從高電平變為低電平。因此，第四晶體管T4被關斷，并且第五晶體管T5和第六晶體管T6被接通。
[0060]施加至掃描線Sj的掃描信號SS在第五時間點t5變為低電平。當施加至掃描線Sj的掃描信號SS變為低電平時，第二晶體管T2和第三晶體管T3被接通。
[0061]在測試模式下，在初始化電壓VINT被設置成第一晶體管Tl被關斷的電壓電平的情況下，當第五晶體管T5正常操作時，在第一源電壓ELVDD與數據線Di之間通過第五晶體管T5和第二晶體管T2形成電流通路。因此，當處于高電平的信號在第五時間點t5與第六時間點t6之間被施加至數據線Di時，圖2中示出的測試電路200確定第五晶體管T5正常操作(或正確地發揮作用)，其中掃描信號SS和發光控制信號ES在第五時間點t5和第六時間點t6被維持在低電平。
[0062]在第五晶體管T5由于第五晶體管T5的缺陷而異常操作(例如，不正確地發揮作用)的情況下，處于高電平的信號在第五時間點t5與第六時間點t6之間不被施加至數據線Di，其中掃描信號SS和發光控制信號ES在第五時間點t5和第六時間點t6被維持在低電平。在此情況下，測試電路200確定第五晶體管T5異常操作(例如，不正確地發揮作用)。
[0063]圖5是示出通過確定圖3中示出的像素是否正常操作而獲得的測試結果的視圖。
[0064]參照圖5,當在測試模式期間施加至前一掃描線Sj-1的前一掃描信號SS具有高電平并且施加至掃描線Sj的掃描信號SS具有低電平時，可以從數據線Di檢測到處于高電平的信號。然而，當第五晶體管T5上存在缺陷時，在施加至掃描線Sj的掃描信號SS具有低電平的時段A期間，施加至數據線Di的信號具有低電平。相應地，圖2中示出的測試電路200基于施加至數據線Di的具有低電平的信號確定第五晶體管T5處于異常狀態。
[0065]如上所述,顯示單元110的缺陷可以相對容易地通過對形成顯示單元110的母基板執行測試過程來檢測。另外，由于顯示單元110的缺陷在顯示單元110聯接至圖1中示出的掃描驅動器130和數據驅動器140之前被確定，因此有機發光顯示裝置100的制造成本可以降低。
[0066]盡管已描述了本發明的示例性實施例，但應理解，本發明不應當限于這些示例性實施例，而是可以在所附權利要求及其等同物的精神和范圍內，由具有本領域普通技術的人員進行各種改變和修改。
【權利要求】
1.一種有機發光顯示裝置包括: 包括多個像素的顯示單元，所述像素中的每一個包括有機發光二極管；以及被配置為向所述顯示單元施加第一信號和第二信號并且從所述顯示單元接收第三信號的測試電路，其中所述測試電路被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有第一電平時所述第三信號的電壓電平確定所述顯示單元是否處于正常狀態。
2.根據權利要求1所述的有機發光顯示裝置，其中所述像素中的每一個進一步包括: 包括聯接至第一節點的柵電極的第一晶體管，所述第一晶體管聯接在第二節點與第三節點之間； 包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第二晶體管，所述第二晶體管聯接在數據線與所述第二節點之間； 包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第三晶體管，所述第三晶體管聯接在所述第一節點與所述第三節點之間； 包括被配置為接收施加至所述像素中的前一像素的所述第一信號的柵電極的第四晶體管，所述第四晶體管聯接在所述第一節點與初始化電壓之間； 包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第五晶體管，所述第五晶體管聯接在源電壓與所述第二節點之間；以及 包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第六晶體管，所述第六晶體管聯接在所述第三節點與第四節點之間， 其中所述有機發光二極管聯接在所述第四節點與接地電壓源之間。
3.根據權利要求2所述的有機發光顯示裝置，其中所述測試電路被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有所述第一電平時通過所述數據線接收的所述第三信號的電壓電平確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
4.根據權利要求3所述的有機發光顯示裝置，其中所述測試電路被配置為基于具有接通所述第二晶體管和所述第五晶體管的所述第一電平的所述第一信號和所述第二信號被施加時的所述第三信號確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
5.根據權利要求2所述的有機發光顯示裝置，其中所述像素中的每一個進一步包括: 聯接在所述源電壓與所述第一節點之間的第一電容器；以及 聯接在所述第二晶體管的柵電極與所述第一節點之間的第二電容器。
6.根據權利要求2所述的有機發光顯示裝置，其中所述第一信號通過掃描線被供應，并且所述第二信號通過發光控制線被供應。
7.—種測試有機發光顯示裝置的方法，所述方法包括: 向顯示單元施加第一信號和第二信號，其中所述顯示單元包括各自具有有機發光二極管的多個像素； 從所述顯示單元接收第三信號；以及 基于所述第一信號和所述第二信號具有第一電平時所述第三信號的電壓電平確定所述顯示單元是否處于正常狀態。
8.根據權利要求7所述的方法，其中所述像素中的每一個進一步包括: 包括聯接至第一節點的柵電極的第一晶體管，所述第一晶體管聯接在第二節點與第三節點之間；包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第二晶體管，所述第二晶體管聯接在數據線與所述第二節點之間； 包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第三晶體管，所述第三晶體管聯接在所述第一節點與所述第三節點之間； 包括被配置為接收施加于所述像素的前一像素的所述第一信號的柵電極的第四晶體管，所述第四晶體管聯接在所述第一節點與初始化電壓之間； 包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第五晶體管，所述第五晶體管聯接在源電壓與所述第二節點之間；以及 包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第六晶體管，所述第六晶體管聯接在所述第三節點與第四節點之間，并且所述有機發光二極管聯接在所述第四節點與接地電壓源之間。
9.根據權利要求8所述的方法，其中確定所述顯示單元是否處于正常狀態進一步包括:基于所述第一信號和所述第二信號具有所述第一電平時通過所述數據線接收的所述第三信號的電壓電平確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
10.根據權利要求8所述的方法，其中確定所述顯示單元是否處于正常狀態進一步包括:基于具有接通所述第二晶體管和所述第五晶體管的所述第一電平的所述第一信號和所述第二信號被施加時的所述第三信號確定所述第五晶體管是否處于正常狀態。
【文檔編號】G09G3/32GK103927971SQ201310361508
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2013年8月19日 優先權日:2013年1月15日
【發明者】崔榮佑, 李光世 申請人:三星顯示有限公司, 奈思特股份有限公司