專利名稱：紅外線光學系統和紅外成像裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及在例如熱錄像儀和夜視設備的攝取紅外圖像的系統中使用的紅外線光學系統以及使用該紅外線光學系統的紅外成像裝置。
背景技術：
遠紅外光具有在8 ii m至12 ii m的波段，并且例如從人和動物以熱量的方式(即， 以遠紅外線輻射的方式)發出。鑒于該事實，在黑暗的地方成像、觀察溫度分布以及其他類似應用中使用遠紅外光。用于收集遠紅外光的光學系統由于遠紅外光的低透射性而不包括用于收集一般可見光的玻璃透鏡，而是在很多情況下包括由鍺(Ge)或透過足夠量的紅外光的任何其他材料制成的透鏡。由于鍺具有約為四的高折射率，并且表面反射比較高，但吸收幾乎為零， 這使得當涂覆適當的抗反射膜時實現90%以上的高透射率。然而，由于鍺為稀有礦物而非常昂貴。廉價但透射率比鍺低的透鏡材料包括硅(Si)、硫化鋅(ZnS)、硒化鋅(ZnSe)、由硫族元素和鍺組成的硫屬化物玻璃以及其他結晶材料。盡管這些材料是廉價的，不利的是如同Ge —樣非常硬。也就是，由于它們非常硬， 所以需要花費很長時間來加工，由此在一些情況下難以降低成本。特別地，為了將上述任何材料研磨為非球面形狀，需要長時間使用精密制造設備，通常導致成本增加。硫化鋅(ZnS)和硫屬化物的壓力加工處于研究中，但到目前為止，也還沒有以低成本生產出用于遠紅外光的透鏡或光學系統。例如，JP-A-2010-39243、JP-A-2009-63942和 JP-A-2008-128913 描述了現有技術的紅外線光學系統。例如，JP-A-2010-39243公開了使用三個Ge透鏡的光學系統。該光學系統在30度以上的視角內呈現優良的光學特性。此外，在JP-A-2010-39243中，使用球面透鏡使得加工成本降低。然而，首先，由于Ge是非常昂貴的材料，所以不能實現低價的設備。在JP-A-2009-63942中，使用了 ZnS，其材料成本比Ge便宜很多。為了降低由于 ZnS的折射率低于Ge所引起的較大像差量，采用了非球面表面。結果，難以加工非球面表面以及長的加工周期導致其難以降低成本。在JP-A-2008-128913中公開了使用聚乙烯來校正像差并且使用硅透鏡來收集光的例子，由于聚乙烯透鏡被設置在最接近物體的位置，所以聚乙烯透鏡不可避免地因外力和紫外線輻射而劣化。此外，由于光學系統相對于光闌(aperture)不是對稱的，所以像差校正能力不足。

發明內容
在這種情況下，期望提供在從8 iim至12 iim的遠紅外線范圍內具有令人滿意的光學特性并且可以以低成本實現的紅外線光學系統和紅外線成像裝置。根據本發明的實施方式，提供了一種如下構造的紅外線光學系統。也就是，根據本發明的一個實施方式的紅外線光學系統包括沿著從物體側朝向圖像平面側的方向配置的第一光學元件、第二光學元件、第三光學元件和第四光學元件。第四光學元件具有正折射率，在第二光學元件和第三光學元件之間設置有光闌。第一光學元件和第四光學元件由硅(Si)、硫屬化物玻璃和硫化鋅(ZnS)中的任一種制成。此外，第二光學元件和第三光學元件由樹脂材料制成，并且第二光學元件和第三光學元件中的每一個的面向物體的表面和面向圖像平面的表面中的至少一個為非球面表面。根據本發明的另一實施方式，提供了一種如下構造的紅外線成像裝置。也即是，根據本發明的另一實施方式的紅外線成像裝置包括根據本發明的實施方式的紅外線光學系統；紅外線檢測單元，檢測通過所述紅外線光學系統收集的紅外光； 以及圖像信號獲取單元，基于由所述紅外線檢測單元提供的紅外線檢測信號來產生紅外線圖像信號。為了實現成本降低，需要減少光學系統中使用的透鏡的數量并減少具有加工困難的非球面形狀的表面和透鏡的數量。另一方面，為了確保足夠量的透過的光，期望減小透鏡的厚度。此外，為了實現令人滿意的光學特性，需要適當地抑制各種像差。如上所述，使用非球面表面校正像差是有效的。在本發明的實施方式中，如上所述，設置在第一光學元件和第四光學元件之間的第二光學元件和第三光學元件由樹脂材料制成并具有非球面表面。使用樹脂材料使得材料成本降低并由此使得產品成本降低。此外，當透鏡由樹脂材料制成時，可以通過壓力加工或由任何其他簡單的方法形成非球面表面，從而與例如由硅制成的現有技術的紅外線透鏡進行非球面表面加工的情況相比，可以降低加工成本，由此降低產品成本。此外，使用樹脂材料使得第二光學元件和第三光學元件更薄，由此容易提高其透射率。然而，簡單地用樹脂材料形成構成光學系統的光學元件通常由于紫外線輻射而導致樹脂光學元件的性能劣化。為了解決該問題，在本發明的實施方式中，將第二光學元件和第三光學元件夾置在由硅、硫屬化物玻璃和硫化鋅中的任一種制成的第一光學元件和第四光學元件之間。在這種情況下，由于第一光學元件和第四光學元件由在可見光范圍內具有低透射率的晶體材料制成，所以可以有效地保護由樹脂制成的第二光學元件和第三光學元件以避免可見光的傷害。根據本發明的實施方式，提供了在遠紅外范圍內具有滿意的光學特性并且可以低成本獲得的紅外線光學系統和紅外成像裝置。


圖I是示出了根據實施方式的紅外成像裝置I的內部構造的框圖2概括了根據實施方式的紅外線光學系統的構造；
圖3示出了通過使用FZ法和CZ法所生產的Si的紅外透射率；
圖4示出了實施例I的紅外線光學系統的構造；
圖5示出了在實施例I的紅外線光學系統中透鏡形狀(以及光闌)的系數、以及透鏡表面之間的距離；
圖6示出了實施例I的紅外線光學系統在不同圖像高度(0mm、l.5mm、3. 5mm 和5. Omm)下的分辨率特性(MTF)；
圖7示出了實施例2的紅外線光學系統的構造；
圖8示出了在實施例2的紅外線光學系統中透鏡形狀(以及光闌)的系數、以及透鏡表面之間的距離；
圖9示出了實施例2的紅外線光學系統在不同圖像高度(0mm、l.5mm、3. 5mm 和5. Omm)下的分辨率特性(MTF)；
圖10示出了實施例3的紅外線光學系統的構造；
圖11示出了在實施例3的紅外線光學系統中透鏡形狀(以及光闌)的系數、以及透鏡表面之間的距離；
圖12示出了實施例3的紅外線光學系統在不同圖像高度(0mm、l.5mm、3. 5mm 和5. Omm)下的分辨率特性(MTF)。
具體實施方式
下文將描述用于實現本發明的形式(下文中，被稱作實施方式)。
將以下列順序進行描述。
〈I.根據實施方式的紅外線光學系統和紅外成像裝置>
[1-1.紅外成像裝置的構造]
[1-2.根據實施方式的紅外線光學系統的概述]
〈2.具體實施例>
[2-1.實施例I]
[2-2.實施例2]
[2-3.實施例3]
〈3.變形例>
〈I.根據實施方式的紅外線光學系統和紅外成像裝置>
[1-1.紅外成像裝置的構造]
圖I是示出了根據本發明實施方式的紅外成像裝置I的內部構造的框圖。
如圖I所示，紅外成像裝置I包括光學塊2、圖像傳感器3、圖像信號獲取單元4以及圖像信號處理單元5。
光學塊2統一表示下文將描述的根據實施方式的紅外線光學系統。光學塊2將來
自對象(物體)的在圖I中被表示為入射光Li的紅外光(紅外輻射)收集到圖像傳感器 3的成像表面(圖像面)上。 圖像傳感器3檢測由光學塊2收集的紅外輻射，并且根據來自對象的紅外輻射量而生成紅外檢測信號。
為了生成紅外檢測信號，應容納在圖像傳感器3中的紅外檢測裝置例如為熱電器件?？蛇x地，也可以使用連接有產生塞貝克效應的熱電偶的熱電堆器件和利用電阻隨著溫度上升而變化的現象的輻射熱測定器件。紅外檢測器件不應當限于上文所述的器件，還可以是能夠檢測紅外輻射的任何器件。圖像信號獲取單元4接收由圖像傳感器3生成的紅外檢測信號(由上文所述的各種紅外檢測器件生成的檢測信號)并生成紅外圖像信號。圖像信號處理單元5在由圖像信號獲取單元4生成的拍攝圖像信號上執行各種圖像信號處理操作。例如，圖像信號處理單元5執行黑電平校正、缺陷像素插值、像差校正、光學陰影校正、透鏡變形校正、溫度調整、距離變化量的計算以及編碼。來自圖像信號處理單元5的輸出經由接口和其他部件(未示出)被傳送至成像裝置外部的顯示器(圖像顯示裝置)。[1-2.根據實施方式的紅外線光學系統的概述]圖2概括了光學塊2的內部構造。圖2還連同光學塊2的內部的概要一起示出了圖像傳感器3。如圖2所示，根據實施方式的光學塊2包括在從物體側至圖像平面側的方向上配置的第一透鏡10、第二透鏡11、第三透鏡13和第四透鏡14。此外，孔徑光闌12設置在第二透鏡11和第三透鏡13之間。在光學塊2中，第一透鏡10、第二透鏡11、孔徑光闌12、第三透鏡13和第四透鏡 14被布置在鏡筒中。在該實施方式中，為了不僅主要在遠紅外范圍(Sum至12pm)內提供令人滿意的光學特性，而且為了以低成本進行制造，至少包括第一透鏡10、第二透鏡11、孔徑光闌12、 第三透鏡13和第四透鏡14的光學塊2采用了下面的構造。首先，第一透鏡10和第四透鏡14由Si (硅)、硫屬化物玻璃和硫化鋅(ZnS)中的任一種制成。第二透鏡11和第三透鏡13由樹脂材料制成，并且第二透鏡11和第三透鏡13各自的物體側表面和圖像平面側表面中的至少一個為用于像差校正的非球面表面。由樹脂材料形成第二透鏡11和第三透鏡13使得材料成本降低并由此使得產品成本下降。此外，當它們由樹脂材料制成時，例如，可以通過注射成型或壓力加工來形成非球面表面，從而與由硅或任何其他結晶材料制成的透鏡進行表面加工的情況相比，大大地縮短了制造周期，并在這點上也降低了成本。此外，使用樹脂材料使得第二光學元件和第三光學元件更薄，并由此容易提高其透射率。然而，僅布置由樹脂材料制成的透鏡通常由于紫外線輻射而導致樹脂透鏡的性能劣化。為了解決該問題，在本實施方式中，第二透鏡11和第三透鏡13被夾置在如上所述的由硅、硫屬化物玻璃和硫化鋅中的任一種制成的第一透鏡10和第四透鏡14之間。第一透鏡10和第四透鏡14由硅、硫屬化物玻璃和硫化鋅中的任一種制成，換而言之，由在可見光區具有低透射率的結晶材料制成。一般而言，光學系統中的每一透鏡被布置在鏡筒中，并且除布置在鏡筒的末端處的透鏡外，沒有可見光直接照射的透鏡?？紤]到這個情況，上述構造可以有效地保護由樹脂材料制成的第二透鏡11和第三透鏡13以避免可見光直接照射。如上所述，當由樹脂材料制成的透鏡被保護免于可見光直接照射時，可以抑制在產品出貨后在實際使用過程中性能隨時間的劣化，并且可以提供更穩定的紅外線光學系統。通常，為了提高耐光性(主要是抗紫外線輻射)，樹脂透鏡有時不用純樹脂制成而由混合有碳黑的樹脂制成。然而，混合碳黑降低了遠紅外線透射率。因此，應當注意，不可以使用混合有碳黑的樹脂來形成紅外光的透鏡。如上所述，由于第二透鏡11和第三透鏡13主要負責像差校正，所以第一透鏡10 和第四透鏡14不需要非球面表面。因此，第一透鏡10和第四透鏡14可以具有球面或平坦的物體側和圖像平面側表面。由于球面表面和平坦表面比非球面表面更容易加工，所以可以降低透鏡形成成本。也就是，在這點上還可以降低產品成本。在該實施方式中，如同也在下面的實施例中描述的那樣，第一透鏡10具有平坦物體側表面和凸圖像平面側表面。也就是，第一透鏡10具有朝向圖像平面的凸起的平凸形狀。第四透鏡14具有朝向物體凸起的平凸形狀，或者具有凸物體側表面和平坦圖像平面側表面。當第四透鏡14具有平坦圖像平面側表面時，可以省略通常用于保護圖像傳感器3 的平面平行板(傳感器窗(sensor window) 15)，從而可以減少部件的數量(參見實施例2)。 也就是，在這點上還可以降低成本。此外，在根據本實施方式的紅外線光學系統中，其中，樹脂透鏡被用于降低成本， 應當謹慎地進行樹脂透鏡的具體選擇，因為樹脂材料通常大量吸收遠紅外輻射。不會大量吸收遠紅外輻射的樹脂材料的實例可以為聚烯烴樹脂。在各種聚烯烴樹脂中，考慮到材料成本、透鏡加工的容易性、透鏡長度和其他因素，可以優選使用直鏈聚烯烴樹脂、高密度聚乙烯或者超高分子量聚乙烯。本文中使用的高密度聚乙烯指的是具有0.942[kg/m3]以上密度的聚乙烯。然而，上文所述的任一樹脂材料的透射率仍低于上述的硅、硫屬化物玻璃、硫化鋅以及其他結晶材料的透射率。因此，期望由樹脂材料制成的第二透鏡11和第三透鏡13被制造得較薄?？梢哉f，當光學路徑長度沿著光穿過透鏡的路徑增大時，透鏡的透射率降低。因此，為了增大透鏡的透射率，其厚度應當被設定為使得將沿著光(在這種情況下為紅外輻射)通過透鏡的路徑的最長光學路徑長度最小化(有大量的光線穿過透鏡，最長光學路徑長度指的是光線傳播最長距離的路徑長度)。具體地，期望上述的最長光學路徑長度為2_以下。更優選地，考慮到現有技術的圖像傳感器3的靈敏度，最長光學路徑長度為1_以下。在本實施方式中，第二透鏡11和第三透鏡13各自為彎月透鏡。彎月透鏡的優點是降低透鏡厚度并因此提高紅外線透射率。此外，在該實施方式中，第二透鏡11為具有凸物體側表面的彎月透鏡，而第三透鏡13為具有凹物體側表面的彎月透鏡。由于孔徑光闌12如上所述地設置在第二透鏡11和第三透鏡13之間，所獲得的光學構造相對于光闌12是對稱的。因此，該光學構造成功地抑制了像差。此外，負責校正像差的第二透鏡11和第三透鏡13各自具有各個物體側表面和圖像平面側表面的有效區域，并且有效區域(由圖像傳感器3接收的紅外輻射所穿過或出射的區域)被形成為使得“其在二次微分(twice differentiation)之后是連續的”。例如，JP-A-10-68656和JP-A-2009-175018公開了例如在人檢測傳感器中使用的基于樹脂透鏡的光學系統。在JP-A-10-68656和JP-A-2009-175018中公開的樹脂透鏡具有在二次微分之后不連續的表面，例如透鏡陣列和菲涅耳透鏡。在這種情況下，不利地改變了穿過光學表面的電磁波的相位面。因此，在JP-A-10-68656和JP-A-2009-175018中描述的技術幾乎不能對焦高分辨率圖像。相反，在本實施方式中，第二透鏡11和第三透鏡13具有各個物體側表面和圖像平面側表面的有效區域，并且該有效區域被形成為使得其在二次微分之后是連續的，從而實現了高分辨率。JP-A-10-68656和JP-A-2009-175018依賴于具有單像素或非常少的像素的紅外傳感器，諸如人檢測傳感器。在JP-A-10-68656和JP-A-2009-175018中，應當注意這些紅外傳感器不需要非常高的分辨率光學系統，與本實施方式不同，本實施方式依賴于具有大量像素(例如，水平像素尺寸X垂直像素尺寸=幾百(或幾千)X幾百(或幾千))的紅外傳感器作為用于攝取紅外圖像的成像器?？紤]到材料成本，期望第一透鏡10和第四透鏡14由上述的硅、硫屬化物玻璃、硫化鋅以及其他結晶材料中的Si制成。當使用Si時，Si優選地具有400 Q/cm以上的電阻率以及I. 5X1018/cm3的氧濃度，并且優選通過使用FZ(浮區(floating zone))法、CZ(丘克拉斯基(Czochralski))法或MCZ (外加磁場的CZ)法在晶體生長工藝中產生。高電阻率和低氧濃度指的是由此產生的Si透鏡包含少量的雜質。已知Si透鏡在遠紅外范圍內的透射率隨著雜質量的減少而增大。圖3示出了通過使用FZ法和CZ法所制造的Si的紅外透射率。圖3示出了針對各個制造方法在Si上提供AR(抗反射)涂層和沒提供AR涂層的 Si的透射率。虛線表示CZ法的結果，而實線表示FZ法的結果。從圖3看出，當波長為9 u m附近時Si的透射率表現為降低。透射率的降低主要是由于氧吸收紅外輻射而產生。因此，降低Si中的氧濃度能夠提高Si的透射率。圖3表明使用FZ法比使用CZ法更能大幅提高透射率。也就是，使用FZ法比使用 CZ法或基于CZ法的MCZ法更大幅度地促進氧濃度的降低，從而實現更滿意的光學特性。因此，FZ法在上述的三種方法中是最理想的。此外，更優選Si具有500 Q/cm以上的電阻率和I. 3 X 1018/cm3以下的氧濃度。最優選，Si具有1000 Q/cm以上的電阻率和1.0X1018/cm3以下的氧濃度，并且在
晶體生長工藝中使用FZ制造方法來產生。
實際上，還應當考慮下面的要點來設計紅外線光學系統。近年來，基于遠紅外線的設備越來越多地被用作溫度傳感器和人檢測傳感器。然 而，目前，基于遠紅外線的設備分辨率低，并且很少設備具有能夠清晰地形成目標物體的形 狀的光學系統(諸如紅外熱攝像儀和夜視系統)。為了使基于遠紅外線的設備在將來有更 廣泛的應用，還需要使紅外線光學系統的視角變寬。具體地，特別當基于遠紅外線的設備用 于夜視系統中時，期望視角大于25度，或者甚至至少為50度。此外，在安全應用中期望視 角為至少65度。在下文描述的具體實施例中，考慮到上述的要點進行光學系統設計。此外，由于遠紅外光能量低，所以不能使用在可見光范圍內使用的成像設備，為了 收集更大量的光，f數需要為1.8以下。此外，在諸如溫度分布測量的分辨率定向應用中，為了增大所收集的光量和提高 分辨率，期望f數為1.3以下。在實施例中，還考慮對f數的要求來執行光學系統設計?！?.具體實施例〉[2-1.實施例 1]圖4示出了在實施例1中的光學塊2的構造。在圖4中，平面Simg表示圖1(和圖2)中所示的圖像傳感器3的成像表面。圖4還示出了紅外光線。由圖4中的短虛線所示的光線表示聚集在0mm圖像高度的點上的光線，而由點狀 虛線所示的光線表示聚集在1. 5mm圖像高度處的點上的光線。由實線所示的光線表示聚集在3. 5_圖像高度處的點上的光線，而由長虛線所示 的光線表示聚集在5. 0mm圖像高度處的點上的光線。在實施例1中，第一透鏡10和第四透鏡14由Si制成，而第二透鏡11和第三透鏡 13由高密度聚乙烯制成。在實施例1中，由平坦構件形成的傳感器窗15設置為從物體側數的第五構件。傳 感器窗15被設置用于保護圖像傳感器3的成像表面。傳感器窗15也由Si制成。第一透鏡10為具有正折射率并具有平坦物體側表面和球面圖像平面側表面的平 凸透鏡。第二透鏡11為具有兩個非球面表面并朝物體凸出的彎月透鏡。第三透鏡13為具有兩個非球面表面并朝圖像表面凸出的彎月透鏡。第四透鏡14具有正折射率并具有球面物體側表面和平坦圖像平面側表面。圖5示出了透鏡的形狀(以及孔徑光闌12)的系數和透鏡表面之間的距離。透鏡的凸凹表面由下面的半徑r的函數來表示。
權利要求
1.一種紅外線光學系統,包括沿著從物體側朝向圖像平面側的方向配置的第一光學元件、第二光學元件、第三光學元件和第四光學元件，其中，所述第四光學元件具有正折射率，在所述第二光學元件和所述第三光學元件之間設置有光闌，所述第一光學元件和所述第四光學元件由硅、硫屬化物玻璃和硫化鋅中的任一種制成，以及所述第二光學元件和所述第三光學元件由樹脂材料制成，并且各個所述第二光學元件和所述第三光學元件的面向所述物體的表面和面向所述圖像平面的表面中的至少一個為非球面表面。
2.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，制成所述第二光學元件和所述第三光學元件的樹脂材料為聚烯烴樹脂。
3.根據權利要求2所述的紅外線光學系統，其中，所述樹脂材料為直鏈聚烯烴樹脂。
4.根據權利要求2所述的紅外線光學系統，其中，所述樹脂材料為高密度聚乙烯或超高分子量聚乙烯。
5.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，所述第二光學元件和所述第三光學元件各自具有被設定為使得穿過所述第二光學元件和所述第三光學元件的光所傳輸的最長光學路徑長度為2_以下的厚度。
6.根據權利要求5所述的紅外線光學系統，其中，各個所述第二光學元件和所述第三光學元件的最長光學路徑長度為1_以下。
7.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，各個所述第二光學元件和所述第三光學元件的各個面向所述物體的表面和面向所述圖像平面的表面的有效區域被形成為在二次微分之后所述有效區域是連續的。
8.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，在所述第二光學元件和所述第三光學元件的所述表面中的任一表面上設置有衍射結構。
9.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，所述第二光學元件為具有凸物體側表面的彎月透鏡，并且所述第三光元件為具有凹物體側表面的彎月透鏡。
10.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，所述第一光學元件和所述第四光學元件由硅制成，并且所述硅是在使用浮區法、丘克拉斯基法或外加磁場的丘克拉斯基法的任一方法的晶體生長工藝中產生的，并具有400 Ω/cm以上的電阻率和I. 5 X IO1Vcm3以下的氧濃度。
11.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，所述第一光學元件具有面向所述物體的表面和面向所述圖像平面的表面，并且它們中的一個表面為平坦表面，而另一個表面為球面表面。
12.根據權利要求11所述的紅外線光學系統，其中，所述第一光學元件的面向所述物體的表面為平坦表面。
13.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，所述第一光學元件為平板。
14.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，所述第四光學元件具有面向所述物體的表面和面向所述圖像平面的表面，并且它們中的一個表面為平坦表面，而另一個表面為球面表面。
15.根據權利要求14所述的紅外線光學系統，其中，所述第四光學元件的面向所述圖像平面的表面為平坦表面。
16.根據權利要求I所述的紅外線光學系統，其中，所述紅外線光學系統具有1.8以下的f數和25度以上的視角。
17.一種紅外線成像裝置，包括紅外線光學系統，包括沿著從物體側朝向圖像平面側的方向配置的第一光學元件、第二光學元件、第三光學元件和第四光學元件，所述第四光學元件具有正折射率，在所述第二光學元件和所述第三光學元件之間設置有光闌，所述第一光學元件和所述第四光學元件由娃、硫屬化物玻璃和硫化鋅中的任一種制成，所述第二光學兀件和所述第三光學兀件由樹脂材料制成，并且各個所述第二光學元件和所述第三光學元件的面向所述物體的表面和面向所述圖像平面的表面中的至少一個為非球面表面；紅外線檢測單元，檢測通過所述紅外線光學系統收集的紅外光；以及圖像信號獲取單元，基于由所述紅外線檢測單元提供的紅外線檢測信號來產生紅外線圖像信號。
全文摘要
本發明公開了紅外線光學系統以及紅外線成像裝置，該紅外線光學系統包括沿著從物體側朝向圖像平面側的方向所配置的第一光學元件、第二光學元件、第三光學元件和第四光學元件，其中，第四光學元件具有正折射率，在第二光學元件和第三光學元件之間設置有光闌，第一光學元件和第四光學元件由硅、硫屬化物玻璃和硫化鋅中的任一種制成，以及第二光學元件和第三光學元件由樹脂材料制成，并且各個第二光學元件和第三光學元件的面向物體的表面和面向圖像平面的表面中的至少一個為非球面表面。
文檔編號G02B27/00GK102591012SQ20111044480
公開日2012年7月18日 申請日期2011年12月27日 優先權日2011年1月6日
發明者椛澤秀年, 齊藤政宏 申請人:索尼公司