1.一種光斬波器，其特征在于：使用電機調制，其斬光盤由圓柱的底面和側面構成，圓柱的底面和側面分別分布有通光孔，當該光斬波器繞圓柱軸轉動的時候，可以同時對垂直于圓柱底面和側面的光路進行斬光控制。
2.如權利要求1所述的光斬波器，其特征在于，圓柱型斬光盤的側面和底面可以拆開、重新組合。
3.一種測量延遲發光的方法，其特征在于，使用如權利要求1所述的斬波器；
其中有兩條光路：光路一是激發光照射樣品的光路，光路二是探測器探測樣品發光的光路；
將樣品放置于合適的位置，使兩條光路不分先后，分別經過圓柱式斬波器的側面和底面，當斬波器繞圓柱的軸轉動時，其側面和底面可以分別對兩條光路進行斬光，對光路一的斬光相當于把穩態光源轉變成脈沖光源；對光路二的斬光相當于探測器快門的開合，兩次斬光就實現了脈沖信號發生和延遲探測的協同控制。
4.如權利要求1所述的斬波器用于熒光光譜儀或熒光成像裝置中，
其特征在于：該裝置除含有如權利要求1所述的斬波器外，還含有光源、探測器、樣品架或樣品室；此外，該裝置的光路為：光源發出的光經過斬波器的側面或底面，作為激發光照射樣品，然后樣品的光經過斬波器的底面或側面，到達探測器。
5.如權利要求1所述的斬波器用于延遲發光的成像裝置中，其特征在于：激發光經過圓柱式斬波器201的側面轉變為脈沖光源，再經過二向色鏡204反射，經過物鏡205后照射樣品臺206中的樣品207，樣品發光依此經過物鏡205、二向色鏡204，再經過斬波器的底面、透鏡208后到達探測器209。
6.如權利要求4或5所述的任意一種裝置，光路上還含有一種或幾種附加的部件，這些附加的部件選自狹縫、光柵、透鏡、濾光片、分光片、衰減片、二向色鏡、棱鏡、反光鏡和光纖。