技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種基于微粒散射光近場照明的超分辨光學(xué)顯微成像方法，在現(xiàn)有暗場光學(xué)顯微鏡的基礎(chǔ)上，利用微粒的散射光作為顯微鏡的照明光源，被散射光照明的區(qū)域可以獲得超越衍射極限的空間分辨率，實現(xiàn)了空間超分辨成像。相比于普通的明場或暗場顯微鏡，本發(fā)明具有更高的空間分辨率。相比于近場掃描光學(xué)顯微鏡，通過微米顆粒在樣品表面的掃描，可以獲得整個樣品表面的超分辨圖像，本發(fā)明具有更快的成像速度，不需要在樣品表面逐點掃描，每次成像范圍可以達到10?μm2。

技術(shù)研發(fā)人員：凌進中;隋國榮;張大偉;賈星偉;嚴錦雯;高秀敏;沈奶連;莊松林
受保護的技術(shù)使用者：上海理工大學(xué)
文檔號碼：201611167202
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.16
技術(shù)公布日：2017.05.24