專利名稱：一種采用單mcu實現多通道異步化測試的方法
技術領域：
本發明涉及電子技術、微電子技術及通信領域，特別是針對機械手的一種采用單MCU 實現多通道異步化測試的方法。
背景技術：
在某些單處理器單通道測試系統，可用測試資源很多，大約有iooo個左右，但現
有的單通道測試系統，如圖1所示，包括測試機、探針臺、通訊軟件，只支持一個產品 同測。由于測試硬件不支持，包括測試軟件也不支持多個產品同測，在測試一些引腳比
較少的小Pin的產品，如16個PAD的產品，如果一個PAD占用一個，測試該產品僅僅 使用了16個，其余984個完全沒用使用，處余閑置狀態，浪費測試資源。
因為現在多通道測試系統均采用了多處理器，即各通道至少一個處理器用于處理本 通道測試任務；至少一個中央處理器負責協調各通道的測試和與機械手通訊；相當于將 上述的多個單通道測試系統組合在一起加上一個用于協調各通道測試的處理器，這樣每 個通道都有很多測試資源因為處于閑置而被浪費；采用多核處理器后，在程序設計上需 要針對各處理器分別編寫各自的程序；增加開發時間、復雜性；所以不適用于單處理器 測試機系統多通道同時異步化測試，針對在單處理器測試系統上應該充分利用資源，所 以需要能實現在單MCU測試機系統實現多通道異步化測試的方法。

發明內容
本發明為解決上述問題是提供一種釆用單MCU實現多通道異步化測試的方法，使在 單MCU測試系統上可以進行多個產品同測，可以達到充分利用測試系統資源，提高測試 系統效率目的，特別適用于針對機械手用的單MCU多通道測試機系統。
本發明的技術方案如下-
一種采用單MCU實現多通道異步化測試的方法，其特征在于將一個單MCU通過多 通道分選機與多個單通道測試系統組合形成多通道測試系統，這樣就可以同時對多個產 品進行測試；所述多通道分選機與多個單通道測試系統組合，是通過一根通訊電纜連接 單測試系統與多通道分選機的通訊口；或者,依次將多通道分選機的通道1到n連接到 單MCU測試系統組合形成多通道測試系統，其中n為整數。所述多個單通道測試系統包括產品測試通道1、產品測試通道2……產品測試通道 n，其中n為整數。
所述多通道分選機還可由手動或外部事件替代，觸發啟動各通道測試應用。 所述方法的具體步驟為-
A. 系統初始化
a、 初化與多通道分選機的通訊狀態；
b、 初始化各測試通道狀態；
c、 初始化各系統變量及寄存器；
B. 等待用于啟動某通道開始測試的外部中斷；
C. 當由外部事件觸發的啟動某通道開始測試的外部中斷來臨，系統處理中斷，判 斷并啟動對應的通道開始測試；
D. 某通道在測試中還沒測試結束，由外部事件觸發的啟動另一通道的中斷來臨， 系統保護現場，判該中斷的優選級是否高于當前通道優先級；
當高于當前優先級，系統則保存當前狀態，置標志寄存器，執行高優先級 通道測試任務，當高優先級任務執行完成，系統判別先前置的標志寄存器繼續 未執行完的通道測試任務；當不高于當前通道優先級，系統則置標志寄存器， 繼續當前的測試，當當前通道測試完成，系統判別先前置的標志寄存器，開啟 另一通道的測試；
E. 當前所有通道的測試任務都己完成，系統判斷是否結束，結束則系統退出運行， 否則系統返回上述步驟B繼續運行。
本發明的有益效果如下
本發明可以充分利用單MCU測試系統的資源，并且實現了在單MCU測試系統上進行 多個產品的同測，還可以提高測試系統效率，特別適用于針對機械手用的單MCU多通道 測試機系統。


圖1為背景技術中傳統單處理器測試系統的結構示意圖
圖2為本發明適用的系統結構示意圖
圖3為本發明的具體工作流程圖
圖4為本發明實施例1中的測試系統結構示意圖
圖5為本發明實施例2中的測試系統結構示意圖具體實施方式
.實施例1
如圖2-3所示， 一種采用單MCU實現多通道異步化測試的方法，是通過將一個單MCU 通過多通道分選機與多個單通道測試系統組合形成多通道測試系統，這樣可以同時對多 個產品進行測試；所述多通道分選機與多個單通道測試系統組合，是通過一根通訊電纜 連接單MCU測試系統與多通道分選機的通訊口 ；或者，依次將多通道分選機的通道1到n 連接到單MCU測試系統組合形成多通道測試系統，其中n為整數。
所述多通道分選機還可由手動或外部事件替代，觸發啟動各通道測試應用。
所述方法的具體步驟為-
A. 系統初始化
a、 初化與多通道分選機的通訊狀態；
b、 初始化各測試通道狀態；
c、 初始化各系統變量及寄存器；
B. 等待用于啟動某通道開始測試的外部中斷；
c.當由外部事件觸發的啟動某通道開始測試的外部中斷來臨，系統處理中斷，判 斷并啟動對應的通道開始測試；
D. 某通道在測試中還沒測試結束，由外部事件觸發的啟動另一通道的中斷來臨， 系統保護現場，判該中斷的優選級是否高于當前通道優先級；
當高于當前優先級，系統則保存當前狀態，置標志寄存器，執行高優先級 通道測試任務，當高優先級任務執行完成，系統判別先前置的標志寄存器繼續 未執行完的通道測試任務；當不高于當前通道優先級，系統則置標志寄存器， 繼續當前的測試，當當前通道測試完成，系統判別先前置的標志寄存器，開啟 另一通道的測試；
E. 當前所有通道的測試任務都己完成，系統判斷是否結束，結束則系統退出運行， 否則系統返回上述步驟B繼續運行。
如圖4所示，在單個ARM 7上實現雙通道同時異步化測試。
每個測試通道分別使用一個ARM處理器，用于處理該通道的測試任務和與機械手的 通訊，這樣在設計中有幾個通道就需要用幾個處理器，每通道只占用了一定的處理器資 源，大部資源被乘余，超成設計成本增加、資源浪費等，每個處理都需與機械手通訊， 增加了通訊的復雜性、難度；通過將乘余的資源分配分配給另一個通道，編寫協調和處理兩通道測試任務、過程的程序代碼，就可以將兩個通道共用一個ARM處理器。 實施例2
如圖5所示，為雙通道測試機系統的結構示意圖，可以看到，通過將剩余資源分配 給另一個通道只用一顆ARM的雙通道測試機系統的結構示意。
權利要求
1、一種采用單MCU實現多通道異步化測試的方法，其特征在于將一個單MCU通過多通道分選機與多個單通道測試系統組合形成同時對多個產品進行測試的多通道測試系統；所述多通道分選機與多個單通道測試系統組合，是通過一根通訊電纜連接單MCU測試系統與多通道分選機的通訊口；或者，依次將多通道分選機的通道1到n連接到單MCU測試系統組合形成多通道測試系統，其中n為整數。
2、 根據權利要求1所述一種采用單MCU實現多通道異步化測試的方法，其特征在 于:所述多個單通道測試系統包括產品測試通道1、產品測試通道2……產品測試通道n， 其中n為整數。
3、 根據權利要求1所述一種采用單MCU實現多通道異步化測試的方法，其特征在 于所述多通道分選機由手動或外部事件替代，用于觸發啟動各通道測試。
4、 根據權利要求1所述一種采用單MCU實現多通道異步化測試的方法，其特征在 于具體步驟為A. 系統初始化a、 初化與多通道分選機的通訊狀態；b、 初始化各通道狀態；C、初始化各系統變量及寄存器；B. 等待用于啟動某通道開始測試的外部中斷；c.當由外部事件觸發的啟動某通開始測試的外部中斷來臨，系統處理中斷，判斷并啟動對應的通道開始測試；D. 某通道在測試中還沒測試結束，由外部事件觸發的啟動另一通道的中斷來臨，系 統保護現場，判該中斷的優選級是否高于當前通道優先級；當高于當前優先級，系統則保存當前狀態，置標志寄存器，執行高優先級通 道測試任務，當高優先級任務執行完成，系統判別先前置的標志寄存器繼續未執 行完的通道測試任務；當不高于當前通道優先級，系統則置標志寄存器，繼續當前測試，當當前通 道測試完成，系統判別先前置的標志寄存器，開啟另一通道的測試；E. 當前所有通道的測試任務都己完成，系統判斷是否結束，結束則系統退出運行， 否則系統返回上述步驟B繼續運行。
全文摘要
本發明公開了一種采用單MCU實現多通道異步化測試的方法，其特征在于將一個單MCU通過多通道分選機與多個單通道測試系統組合在一起形成多通道測試系統，這樣就可以同時對多個產品進行測試；本發明可以充分利用單MCU測試系統的資源，并且實現了在單MCU測試系統上進行多個產品的同測，還可以提高測試系統效率，特別適用于針對機械手用的單MCU多通道測試機系統。
文檔編號G01M99/00GK101603884SQ20091005919
公開日2009年12月16日 申請日期2009年5月6日 優先權日2009年5月6日
發明者張永林 申請人:和芯微電子(四川)有限公司