專利名稱：一種可甄別深度信息的射線背散射成像系統的制作方法
技術領域：
本發明涉及圖像檢測技術領域，尤其涉及一種可甄別深度信息的射線背散射成像系統。
背景技術：
X射線背散射成像技術(以下簡稱背散射成像)，是一種基于康普頓散射的新型非侵入性成像技術，現已被應用于工業探傷、藏物搜索、邊防安檢等領域。相比于其他成像技術，背散射成像具有三個優點。(I)射線源和探測器位置擺放靈活，特別是可以同時放置于被測物體同側，因此背散射成像適于探測傳統X射線透射技術難以穿透的大型物體以及藏在墻體內部或地下的物體。(2)背散射成像對低原子序數的元素如碳、氫和氧等尤其敏感，因此特別適于發現藏在金屬掩體后的有機違禁品如汽油、炸藥和毒品等。(3)背散射成像對外界溫度濕度條件不敏感，可在惡劣環境中使用。但是現有的背散射成像受限于自身探測 幾何和物理因素的影響，信噪比低，進而影響到成像質量。為了改善信噪比，通常采取提高射線能量和強度、增大探測面積以及延長采樣時間的措施。如中國專利(CN101113960B)中的一種背散射探測裝置所述，X射線源發出60°扇束，經過切輪準直器形成筆形射線束。切輪準直器下方的旋轉驅動裝置帶動切輪準直器繞X射線源旋轉，使光斑周而復始的從下到上或從上到下掃描，當一個角度掃描完成，下一個準直孔正好進入入射面，同時被測物平行于切輪準直器的軸向方向前進，由此形成連續的掃描射線，以實現“飛點掃描”。其背散射探測器組包含若干背散射探測器單元，并被放置于射線源與被測物之間以接收被物體散射后形成的背散射X射線。根據切輪準直器的旋轉速率和被測物的前進速率可以唯一計算出“飛點”的時間序列以及所對應的物體上的具體位置，因此通過計算機處理后就可以得到物體的背散射圖像。但是，現有的“飛點”掃描設備雖然技術成熟，但存在幾個缺陷(I) “飛點”掃描設備的機械結構復雜，需要專門的旋轉驅動裝置帶動切輪準直器才能工作，故障率較高；(2)對X射線的利用率低，同等條件下僅有線掃描的千分之幾至百分之幾，探測單元往往因接受信號不足而顯著降低信噪比；(3)為了提高信噪比，通常要延長采樣時間，同時掃描速度還受限于機械旋轉裝置，不適合高通量場合下的應用。孫光智等所著的“Development of a type of a one-dimensionalposition-sensitive scintillator - fiber detector for X-ray backscatter imaging，，(一種基于一維位置靈敏閃爍光纖探測器的X射線背散射成像系統的研制)(NuclearInstruments and Methods in Physics A 594 (2008)61-65),揭不了一種一維的位置靈敏背散射探測器。該X射線源被前置的狹縫準直器準直成扇束后直接照射物體。被物體散射后形成的背散射X射線通過平行孔準直器加以定位后被一排位置靈敏的探測器單元同時接收。被測物在傳送帶的帶動下前進，由此得到物體的背散射圖像。該一維的位置靈敏背散射探測器，能夠不依賴于旋轉驅動裝置，結構較為簡單，且穩定性強，掃描速度快，適于高通量場合下的應用。但是，該一維的位置靈敏背散射探測器，無法測量物體所處的深度。

發明內容
本發明的目的在于提供一種可甄別深度信息的射線背散射成像系統，以解決現有的背散射成像無法判斷被測物體所處的深度的問題。本發明一種射線背散射成像系統，其特征在于，包括，射線源、第一準直器、多個探測器、多個第二準直器、移動裝置以及至少一擋光板；該移動裝置使該射線源和該多個探測器作為一個整體與物體進行相對移動；該射線源與該第一準直器的入射側對應，該第一準直器的射出側朝向一第一指定方向，該第一準直器用于將該射線源發出的射線準直成扇形射線面，該扇形射線面對相對運動的該物體進行掃描；該扇形射線面在該物體處發生背散射后的射線，與各該第二準直器的入射側分別形成不同的入射角度，并使得發生背散射后的射線能夠射入該多個第二準直器中的至少一個；該多個第二準直器的數量與該多個探測器的數量相等，該多個探測器與該多個第二準直器的射出側一一對應設置；所述至少一擋光板設置在該發生背散射后的射線的路徑上，用于與該多個第二準直器配合，對該發生背散射后的射線進行約束，使得該多個探測器接收到的該發生背散射后的射線的強度產生差 異信息，進而判斷康普頓散射效應發生的深度信息。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該多個第二準直器并排設置，該多個探測器與該多個第二準直器對應并排設置，該多個第二準直器的入射側面向一第二指定方向，該第一指定方向與該第二指定方向成一夾角，該夾角為大于等于10°小于等于90° ;任意兩相鄰的該第二準直器之間均設置有一該擋光板，用于根據扇形射線面在該物體處發生背散射的深度的差異，對部分發生背散射的射線進行阻擋和吸收。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該夾角為60°。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，還包括，該多個第二準直器以及該至少一擋光板通過一擋光外殼固定在一起，每一該擋光板上均設置有一滑動部件，該滑動部件伸出該擋光外殼，該擋光外殼上開設有供該滑動部件滑動的滑孔，該滑動部件能夠沿該滑孔帶動該擋光板滑動，以調整該擋光板的位置。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，還包括，還包括一第一支架以及一第二支架；該移動裝置為一傳動帶；該第一支架以及第二支架分別沿該傳動帶的傳動方向前后設置；該射線源固定在該第一支架上，該第一準直器與該射線源固定；該多個探測器固定在該第二支架上，該多個第二準直器固定在該多個探測器上；其中，該第一指定方向以及該第二指定方向均朝向該傳動帶上的該物體經過的位置；該扇形射線面與傳動帶的交線，與傳動帶的傳動方向垂直。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該探測器為兩個，該第二準直器對應為兩個，一該擋光板設置在兩該第二準直器之間，并能夠對兩該第二準直器的入射側的部分發生背散射的射線進行阻擋和吸收；扇形射線面與該擋光板下端的延長面所形成的交線至該擋光板的下端的距離為第一距離，該擋光板下端的延長面與扇形射線面所形成的交線與該多個探測器的入射側端面的距離為第二距離，第一距離為第二距離的二分之一至三分之二。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，一供電裝置，與該多個探測器連接，用于向該多個探測器供電。
本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該第二準直器為平行孔準直器、匯聚孔準直器或發散孔準直器。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該第一準直器為扇面準直器或狹縫準直器。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該探測器包括光收集器件、光傳輸器件、光電探測器件以及前端電子學電路；該光收集器件由硅酸釔镥、鍺酸鉍或碘化鈉閃爍晶體材料加工而成；該光傳輸器件為光學玻璃或有機玻璃制成的光導或光纖；該光電探測器件是位置靈敏型的光電倍增管、微通道板或硅光電二極管，或非位置靈敏型的光電
倍增管。本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該擋光板的材料為鎢或鉛。
本發明一種射線背散射成像系統的一實施例，其中，該射線源為X射線源或Y射線源。綜上所述，本發明通過設置多個探測器以及多個第二準直器，通過調整該射線源與該多組探測器的相對位置，以及多個該第二準直器和該擋光板的約束，造成該多組探測器的探測幾何角不同，通過比較不同組探測器中對應位置的探測單元所收集的背散射射線的強度的差異，可判斷射線在該被測物體中發生康普頓散射效應的深度信息；通過比較同組探測器中不同位置的探測單元所收集的背散射射線的強度的差異，可獲取射線在該被測物體中發生康普頓散射效應的橫向信息；通過該射線源與該多組探測器所構成的整體與被測物體形成的相對運動，可以連續推掃，從而獲得完整的多層背散射圖像。


圖I所示為本發明射線背散射成像系統的一實施例的結構示意圖；圖2所示為兩第二準直器與擋光板連接的結構圖；圖3所示為本發明射線背散射成像系統另一實施例的結構示意圖；圖4所示為本發明射線背散射成像系統實現康普頓散射效應的深度信息判斷功能的原理圖。
具體實施例方式圖I所示為本發明射線背散射成像系統的一實施例的結構示意圖，如圖I所示，該射線背散射成像系統包括移動裝置5、第一支架501、第二支架502、射線源6、第一準直器
7、探測器205和探測器206、第二準直器102和第二準直器103、一擋光板101以及供電裝置11。如圖I所示，該射線背散射成像系統的具體結構如下所述。本實施例的移動裝置5為一傳動帶5。第一支架501以及第二支架502分別沿傳動帶5的傳動方向前后設置。射線源6固定在第一支架501上。第一準直器7與射線源6匹配固定。第一準直器7的射出側斜下朝向傳動帶5的一第一指定方向，第一指定方向可以是第一準直器7的射出側朝向傳動帶5上物體10所處的待測位置，第一準直器7用于將射線源6發出的射線準直成扇形射線面13，圖I中，第一指定方向即為扇形射線面13射出的方向。探測器205和探測器206固定在第二支架502上，探測器205與探測器206豎向并排設置。供電裝置11與探測器205與探測器206連接。第二準直器102和第二準直器103分別固定于探測器205與探測器206入射側端面，其中，第二準直器102與探測器206對應設置，第二準直器103與探測器205對應設置；第二準直器102與第二準直器103之間設置有一伸出的擋光板101。扇形射線面13與擋光板101的下端1011的延長面14形成一交線，圖I中，擋光板101的下端1011的延長面14為第二指定方向，該交線與傳動帶5的傳動方向垂直，被測物體10在傳動帶5帶動下經過該交線。扇形射線面13入射被測物體10后，在被測物體10中發生康普頓散射效應形成背散射射線(全空間各個方向均有)；部分背散射射線射入第二準直器102和/或第二準直器103，并經過第二準直器102和/或第二準直器103準直后，射入對應的探測器205和/或探測器206。其中，本實施例的移動裝置5可以替換裝置替換傳動帶5，例如使用車載等方式，使得射線源6、探測器205與探測器206作為一整體與物體10產生相對運動。同樣，本實施例中所述的第一支架501以及第二支架502，主要用于固定射線背散射成像系統的各部 件，因此，也可以采用其他方式的支撐架的結構。第一指定方向與第二指定方向之間的夾角A可以根據具體情況選擇，理論上可以大于等于0°小于等于90°，實際上一般為大于等于10°小于等于90°。本領域技術人員亦可對上述的背散射成像系統的組成結構，進行其他方式的替換，而至少應使得射線源6、探測器205與探測器206作為一整體與物體10產生相對運動。圖2所示為兩第二準直器與擋光板連接的結構圖，參考圖I以及圖2，第二準直器102以及第二準直器103均為平行孔準直器，即均由平行排列的若干準直片108構成，準直片108的材料、長度、厚度和排列間距都會影響準直效果。在實際實施中，通常使用鎢或鉛等作為準直片108的材料。準直片108過短或過薄以及排列間距過稀疏均起不到約束射線的作用，進而影響圖像分辨率，而準直片108過長或過厚以及排列間距過密集均會降低探測效率，進而影響圖像信噪比。因此在能夠保證有效準直的前提下，可以盡量減少準直片108的長度、厚度和數目。第二準直器102與第二準直器103之間的擋光板101的材料為主要為鎢或鉛，擋光板101的厚度應保證能夠有效阻止射線穿過。如圖I所示，對于一種較佳實施方式，第一指定方向與第二指定方向所成的夾角A約為60°。扇形射線面13與擋光板101的下端1011的延長面14所成的交線至擋光板101的下端1011的距離為第一距離，該交線至探測器205以及探測器206的入射側端面2011的距離為第二距離，第一距離約為第二距離的二分之一至三分之二。準直片108的主體材料為鎢合金，長度為5-10mm，厚度為O. 2-0. 4mm。擋光板101的主體材料為鉛，厚度為l_3mm。擋光板101與探測器205及206入射側端面固定，且第一距離不可調整。如圖2所示，對于一種更佳實施方式，擋光外殼104的側面107設置有滑孔106，擋光板101上設置有一滑動部件105，滑動部件105伸出滑孔106，滑動部件105能夠沿滑孔106滑動，并帶動擋光板101沿滑動部件105的滑動方向滑動，在擋光板101滑動至所需位置后，該滑動部件105與滑孔106固定，以調整上述的第一距離。其中，該滑動部件105可以為一個緊固螺母，通過緊固螺母與滑孔106固定。擋光板101與探測器205及206入射側端面之間不固定，使得第一距離可以調整。圖3所示為本發明射線背散射成像系統另一實施例的結構示意圖，如圖3所示，本實施例是上述實施例的一種更為優化的實施方式。本實施例在上述實施例的基礎上進一步包括，高速電子學數據采集和處理系統8和圖像計算機9 ;供電裝置11包括高壓供電裝置3以及低壓供電裝置4 ;探測器205以及探測器206包括光收集器件201、光傳輸器件202、光學探測器件203以及前端電子學電路204。參考圖3，射線源6為X射線源或Y射線源，下面以射線源6為X射線源為例，光收集器件201將接收到的背散射X射線轉換為可見光，光傳輸器件202將可見光進行適當分配后傳輸到光電探測器件203上，光電探測器件203將光信號轉換為便于處理的電流信號后傳輸到前端電子學電路204上，前端電子學電路204將電流信號前置放大成電壓信號。光收集器件201可用硅酸釔镥、鍺酸鉍、碘化鈉閃爍晶體或其他類似閃爍晶體或光敏半導體材料加工而成，光傳輸器件202為由光學玻璃或有機玻璃制成的光導、光纖或其他傳輸器件，光電探測器件203可用位置靈敏型的光電倍增管、微通道板、硅光電二極管或其他基于光電效應的半導體光電探測器件，也可用非位置靈敏型的光電倍增管或其他基于光電效應的半導體光電探測器件，前端電子學電路204為前置放大器和信號成形電路。當采用非位置靈敏型的光電探測器件203時，為確定X射線位置，光傳輸器件202是必需的；當采用位置靈敏型的光電探測器件203時，光傳輸器件202是非必需的但有益于克服探測器205 以及探測器206的探測單元由于拼接造成的探測死區等問題。探測器205以及探測器206可以通過探測器外殼(未圖示)包裹，探測器外殼除了起到支撐探測器205以及206和連接第二準直器102以及103的作用外，還應起到屏蔽電磁干擾和“直穿”X射線干擾的作用。因此探測器外殼應保證充分接地并且在探測器外殼靠近光收集器件201和光電探測器件203的一端四周額外添加一層金屬屏蔽層(未圖示)。參考圖3，光電探測器件203通過高壓供電裝置3驅動，前端電子學電路204通過低壓供電裝置4驅動。低壓供電裝置4還為高壓供電裝置3提供低壓驅動。參考圖3，高速電子學數據采集和處理系統8通過同軸電纜連接探測器205與探測器206。高速電子學數據采集和處理系統8用于并行接收探測器205與探測器206輸出的模擬信號，并將模擬信號加工成數字信號送入圖像計算機9。圖像計算機9通過配套的掃描控制軟件可以進行實時成像。被測物體10隨著傳動帶5不斷移動，就可以同時實現雙層背散射圖像的獲取。通過雙層背散射圖像的對比，可以判斷X射線在被測物體10中發生康普頓散射效應的深度信息，最終提高圖像識別能力。圖4為本發明射線背散射成像系統實現康普頓散射效應的深度信息判斷功能的原理圖。參考圖I至圖4，被測物體10置于傳動帶5上，并經傳動帶5傳動至扇形射線面13與擋光板101的下端1011的延長面14形成的交線附近。扇形射線面13在入射被測物體10的路徑上各處都可以發生康普頓散射效應，其發生概率取決于被測物體10的材料分布情況，低原子序數的元素如碳、氫和氧等更容易發生康普頓散射效應。當康普頓散射效應發生的位置不同時，由于探測器205和206的探測幾何角不同以及擋光板101對X射線的阻擋和吸收，探測器205和206對應位置的探測單元所收集的背散射X射線的比例會有差異,如圖4所不，根據背散射X射線的方向不同，分別為背散射X射線12、背散射X射線15以及背散射X射線16。具體言之，當康普頓散射效應發生在被測物體10的淺層A處，朝向位置較高的探測器205的背散射X射線15可以經平行孔準直器103被探測器205收集，而朝向位置較低的探測器206的背散射X射線12由于擋光板101的阻擋作用不能被探測器206收集；當康普頓散射效應發生在被測物體的深層C處，朝向位置較低的探測器206的背散射X射線12可以經平行孔準直器102被探測器206收集，而朝向位置較高的探測器205的背散射X射線15由于擋光板101的阻擋作用不能被探測器205收集；當康普頓散射效應發生在被測物體的中間層B處，擋光板101只能部分地阻擋背散射X射線16，各方向的背散射X射線會以不同的比例被探測器205和探測器206同時收集，通過對探測器205和探測器206收集的X射線的比例進行比較，可以判斷X射線在被測物體10中發生康普頓散射效應的深度信息，進一步得到物體10的內部結構。上述實施例中的具體設置結構僅以為例，實際上本領域技術人員可以將多個探測器之間以及多個探測器與擋光板之間的位置關系進行靈活設置。例如，可以將多個探測器以及多個第二準直器設置在不同的方位，而不局限于豎向并排的方式，使得扇形射線面在物體處發生背散射后的射線，與各第二準直器的入射側分別形成不同的入射角度，擋光板可以設置在發生背散射后的射線的路徑上，用于與多個第二準直器配合，對發生背散射后的射線進行約束，以達到使得多個探測器接收到的發生背散射后的射線的強度產生差異信息，進而判斷康普頓散射效應發生的深度信息的目的。因此，對于本領域技術人員來說，可以根據上述實施例內容，靈活設置射線背散射成像系統的具體結構。
需要強調說明的是，上述實施例僅以兩第二準直器中間通過擋光板分割，且兩準直器對應兩探測器為例。實際的應用中，由于X射線在被測物體中發生康普頓散射效應的深度信息是根據每組探測器所收集的背散射射線的比例的差異而計算得到的估計值。因此通過設置更多的第二準直器以及對應的多組探測器，同時在相鄰的第二準直器之間均通過一擋光板分割，可以將每組探測器所收集的背散射射線的比例進一步細化，從而增加深度信息的精度和分辨能力。實際上，更多的第二準直器以及探測器的數量可以使深度信息的估計值更加準確，進而提得到提高圖像識別能力。綜上所述，本發明通過設置多組探測器以及多個第二準直器，通過調整該射線源與該多組探測器的相對位置，以及多個該第二準直器和該擋光板的約束，造成該多組探測器的探測幾何角不同，通過比較不同組探測器中對應位置的探測單元所收集的背散射射線的強度的差異，可判斷射線在該被測物體中發生康普頓散射效應的深度信息；通過比較同組探測器中不同位置的探測單元所收集的背散射射線的強度的差異，可獲取射線在該被測物體中發生康普頓散射效應的橫向信息；通過該射線源與該多組探測器所構成的整體與被測物體形成的相對運動，可以連續推掃，從而獲得完整的多層背散射圖像。雖然已參照幾個典型實施例描述了本發明，但應當理解，所用的術語是說明和示例性、而非限制性的術語。由于本發明能夠以多種形式具體實施而不脫離本發明的精神或實質，所以應當理解，上述實施例不限于任何前述的細節，而應在所附權利要求所限定的精神和范圍內廣泛地解釋，因此落入權利要求或其等效范圍內的全部變化和改型都應為所附權利要求所涵蓋。
權利要求
1.一種射線背散射成像系統，其特征在于，包括，射線源、第一準直器、多個探測器、多個第二準直器、移動裝置以及至少一擋光板； 該移動裝置使該射線源和該多個探測器作為一個整體與物體進行相對移動； 該射線源與該第一準直器的入射側對應，該第一準直器的射出側朝向一第一指定方向，該第一準直器用于將該射線源發出的射線準直成扇形射線面，該扇形射線面對相對運動的該物體進行掃描； 該扇形射線面在該物體處發生背散射后的射線，與各該第二準直器的入射側分別形成不同的入射角度，并使得發生背散射后的射線能夠射入該多個第二準直器中的至少一個； 該多個第二準直器的數量與該多個探測器的數量相等，該多個探測器與該多個第二準直器的射出側一一對應設置； 所述至少一擋光板設置在該發生背散射后的射線的路徑上，用于與該多個第二準直器配合，對該發生背散射后的射線進行約束，使得該多個探測器接收到的該發生背散射后的射線的強度產生差異信息，進而判斷康普頓散射效應發生的深度信息。
2.根據權利要求I所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該多個第二準直器并排設置，該多個探測器與該多個第二準直器對應并排設置，該多個第二準直器的入射側面向一第二指定方向，該第一指定方向與該第二指定方向成一夾角，該夾角為大于等于10°小于等于90° ; 任意兩相鄰的該第二準直器之間均設置有一該擋光板，用于根據扇形射線面在該物體處發生背散射的深度的差異，對部分發生背散射的射線進行阻擋和吸收。
3.根據權利要求2所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該夾角為60°。
4.根據權利要求2所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該多個第二準直器以及該至少一擋光板通過一擋光外殼固定在一起，每一該擋光板上均設置有一滑動部件，該滑動部件伸出該擋光外殼，該擋光外殼上開設有供該滑動部件滑動的滑孔，該滑動部件能夠沿該滑孔帶動該擋光板滑動，以調整該擋光板的位置。
5.根據權利要求I所述的射線背散射成像系統，其特征在于，還包括一第一支架以及一第二支架； 該移動裝置為一傳動帶； 該第一支架以及第二支架分別沿該傳動帶的傳動方向前后設置； 該射線源固定在該第一支架上，該第一準直器與該射線源固定； 該多個探測器固定在該第二支架上，該多個第二準直器固定在該多個探測器上； 其中，該第一指定方向以及該第二指定方向均朝向該傳動帶上的該物體經過的位置； 該扇形射線面與傳動帶的交線，與傳動帶的傳動方向垂直。
6.根據權利要求5所述的射線背散射成像系統，其特征在于， 該探測器為兩個，該第二準直器對應為兩個，一該擋光板設置在兩該第二準直器之間，并能夠對兩該第二準直器的入射側的部分發生背散射的射線進行阻擋和吸收； 扇形射線面與該擋光板下端的延長面所形成的交線至該擋光板的下端的距離為第一距離，該擋光板下端的延長面與扇形射線面所形成的交線與該多個探測器的入射側端面的距離為第二距離，第一距離為第二距離的二分之一至三分之二。
7.根據權利要求I所述的射線背散射成像系統，其特征在于，還包括，一供電裝置，與該多個探測器連接，用于向該多個探測器供電。
8.根據權利要求I所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該第二準直器為平行孔準直器、匯聚孔準直器或發散孔準直器。
9.根據權利要求I所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該第一準直器為扇面準直器或狹縫準直器。
10.根據權利要求I所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該探測器包括光收集器件、光傳輸器件、光電探測器件以及前端電子學電路；該光收集器件由硅酸釔镥、鍺酸鉍或碘化鈉閃爍晶體材料加工而成；該光傳輸器件為光學玻璃或有機玻璃制成的光導或光纖；該光電探測器件是位置靈敏型的光電倍增管、微通道板或硅光電二極管，或非位置靈敏型的光電倍增管。
11.根據權利要求f10任一權利要求所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該擋光板的材料為鎢或鉛。
12.根據權利要求1 10任一權利要求所述的射線背散射成像系統，其特征在于，該射線源為X射線源或Y射線源。
全文摘要
本發明公開了一種可甄別深度信息的射線背散射成像系統，包括射線源、第一準直器、多組探測器、多個第二準直器以及至少一擋光板；本發明通過調整該射線源與該多組探測器的相對位置，以及多個該第二準直器和該擋光板的約束，造成該多組探測器的探測幾何角不同，通過比較不同組探測器中對應位置的探測單元所收集的背散射射線的強度的差異，可判斷射線在該被測物體中發生康普頓散射效應的深度信息；通過比較同組探測器中不同位置的探測單元所收集的背散射射線的強度的差異，可獲取射線在該被測物體中發生康普頓散射效應的橫向信息；通過該射線源與該多組探測器所構成的整體與被測物體形成的相對運動，可連續推掃，從而獲得完整的多層背散射圖像。
文檔編號G01N23/203GK102854208SQ20121036229
公開日2013年1月2日 申請日期2012年9月25日 優先權日2012年9月25日
發明者魏龍, 劉彥韜, 馬創新, 章志明, 李道武, 魏存峰, 朱美玲, 帥磊, 胡婷婷, 豐寶桐, 黃先超, 柴培, 唐浩輝, 李婷, 王英杰, 張譯文, 莊凱, 王曉明, 姜小盼 申請人:中國科學院高能物理研究所