專利名稱:片式薄膜電阻溫度特性測試裝置的制作方法
技術領域:
本實用新型涉及一種測試裝置,具體地說,涉及一種片式薄膜電阻溫度特性測試
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背景技術:
片式薄膜電阻在制造過程中,需要在濺射和熱處理后,測試產品的電阻溫度特性。現有技術中,測試電阻溫度特性測試的方法都必須將產品裂為單只產品,并焊接在實驗板上進行。然而,如果對濺射和熱處理后的片式薄膜電阻產品采用上述的測試方法,因為裂成單只后的產品無法進行濺射以后的工序,也就成為了廢品,這無疑是一種極大的浪費。而如果等到產品完全進行完整個制造工序,再測試其電阻溫度特性,又會浪費較多的時間。另外,采用傳統的測試方法測試片式薄膜電阻產品的電阻溫度特性的批次合格率很低,約為25%。
實用新型內容本實用新型的目的在于,提供一種片式薄膜電阻溫度特性測試裝置,以解決上述的技術問題。為解決上述問題,本實用新型所采用的技術方案是:一種片式薄膜電阻溫度特性測試裝置,其特征在于:包括一恒溫預熱平臺和一電阻測試儀; 所述恒溫預熱平臺包括一恒溫箱、一固定在恒溫箱頂部的底板和一設置在底板頂面上的恒溫預熱板;所述恒溫箱的前端外壁上設置有操作面板,所述操作面板上設有電源開關、一號顯示屏、二號顯示屏和操作按鍵;從恒溫箱內引出的電源線的末端上連接有電源插頭;所述恒溫箱內設有線路板、加熱系統和溫控系統,所述操作面板上的電源開關、一號顯示屏、二號顯示屏和操作按鍵,以及電源線、加熱系統和溫控系統都與線路板電連接;所述電阻測試儀包括一測試儀表、正極電阻測試筆和負極電阻測試筆,所述的正極電阻測試筆和負極電阻測試筆分別通過導線與插頭相連接,插頭插接在測試儀表上的插孔內。進一步地說,所述恒溫箱的頂面上與所述底板的四個角相對應的位置分別固定有連接柱,所述底板的四個角分別通過螺釘固定在連接柱上。有益效果:與現有技術相比,采用本實用新型對片式薄膜電阻產品進行電阻溫度特性測試,既能夠不破壞片式薄膜電阻產品的完整性,又能在一定程度上對產品的電阻溫度特性進行測試,如果產品的電阻溫度特性滿足要求,則可進行后面的工序直至成為成品,如果濺射和熱處理后監測到產品的電阻溫度特性不滿足相關要求,則可對濺射條件和熱處理條件進行改進,直至此批產品滿足電阻溫度特性能要求,然后再進行后續工序直至成為成品。這樣一來,就在很大程度上減少了基片和其他材料的浪費,也在一定程度上監測了各工序對產品電阻溫度特性的影響,產品的電阻溫度特性批次合格率可達到90%以上。
圖1為本實用新型所述恒溫預熱平臺的結構示意圖;圖2為本實用新型所述電阻測試儀的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步說明。本實用新型所述的片式薄膜電阻溫度特性測試裝置,包括一恒溫預熱平臺和一電阻測試儀。參照圖1,所述恒溫預熱平臺包括一恒溫箱1、一固定在恒溫箱I頂部的底板16和一設置在底板16頂面上的恒溫預熱板15。所述恒溫箱I的頂面上與所述底板16的四個角相對應的位置分別固定有連接柱11,所述底板16的四個角分別通過螺釘12固定在連接柱11上。所述恒溫箱I的前端外壁上設置有操作面板10,所述操作面板10上設有電源開關13、一號顯示屏17、二號顯示屏14和操作按鍵18,一號顯示屏17用于顯示設定溫度,二號顯示屏14用于顯示實際溫度。從恒溫箱I內引出的電源線19的末端上連接有電源插頭。所述恒溫箱I內設有線路板、加熱系統和溫控系統。所述操作面板10上的電源開關13、一號顯示屏17、二號顯示屏14和操作按鍵18,以及電源線19、加熱系統和溫控系統都與線路板電連接。所述電阻測試儀包括一測試儀表2、正極電阻測試筆22和負極電阻測試筆23,所述的正極電阻測試筆22和負極電阻測試筆23分別通過導線與插頭21相連接,插頭21插接在測試儀表2上的插孔內。本實用新型的工作原理簡述如下:1、將電源插頭插接在電源插座上,通過電源開關13打開電源,設定目標溫度(140 150°C );2、通過恒溫箱I對恒溫預熱板15進行加熱,使恒溫預熱板15的表面溫度達到12(T130°C,然后將待測的片式薄膜電阻置于恒溫預熱板15上;3、用電阻測試儀的正極電阻測試筆22和負極電阻測試筆23的筆尖分別充分接觸待測片式薄膜電阻的兩端電極;測試儀表2上的顯示器將顯示出待測片式薄膜電阻的電阻值,待讀數穩定后,記錄該電阻值,即為電阻器的阻值;4、利用電阻溫度特性計算公式計算出電阻溫度特性值,從而實現產品的電阻溫度特性測試。
權利要求1.一種片式薄膜電阻溫度特性測試裝置,其特征在于:包括一恒溫預熱平臺和一電阻測試儀; 所述恒溫預熱平臺包括一恒溫箱(I)、一固定在恒溫箱(I)頂部的底板(16)和一設置在底板(16)頂面上的恒溫預熱板(15);所述恒溫箱(I)的前端外壁上設置有操作面板(10),所述操作面板(10)上設有電源開關(13)、一號顯示屏(17)、二號顯示屏(14)和操作按鍵(18);從恒溫箱⑴內引出的電源線(19)的末端上連接有電源插頭;所述恒溫箱(I)內設有線路板、加熱系統和溫控系統,所述操作面板(10)上的電源開關(13)、一號顯示屏(17)、二號顯示屏(14)和操作按鍵(18),以及電源線(19)、加熱系統和溫控系統都與線路板電連接; 所述電阻測試儀包括一測試儀表(2)、正極電阻測試筆(22)和負極電阻測試筆(23),所述的正極電阻測試筆(22)和負極電阻測試筆(23)分別通過導線與插頭(21)相連接,插頭(21)插接在測試儀表(2)上的插孔內。
2.根據權利要求1所述的片式薄膜電阻溫度特性測試裝置,其特征在于:所述恒溫箱(I)的頂面上與所述底板(16)的四個角相對應的位置分別固定有連接柱(11),所述底板(16)的四個角分別通過 螺釘(12)固定在連接柱(11)上。
專利摘要本實用新型涉及一種測試裝置,具體說,涉及一種片式薄膜電阻溫度特性測試裝置。包括一恒溫預熱平臺和一電阻測試儀;所述恒溫預熱平臺包括一恒溫箱、一固定在恒溫箱頂部的底板和一設置在底板頂面上的恒溫預熱板;所述恒溫箱內設有線路板、加熱系統和溫控系統;所述電阻測試儀包括一測試儀表、正極電阻測試筆和負極電阻測試筆,所述的正極電阻測試筆和負極電阻測試筆分別通過導線與插頭相連接,插頭插接在測試儀表上的插孔內。采用本實用新型對片式薄膜電阻產品進行電阻溫度特性測試,既能夠不破壞片式薄膜電阻產品的完整性,又能在一定程度上對產品的電阻溫度特性進行測試,減少了基片和其他材料的浪費,提高了產品的電阻溫度特性批次合格率。
文檔編號G01R31/00GK203164325SQ20132008629
公開日2013年8月28日 申請日期2013年2月2日 優先權日2013年2月2日
發明者張青, 李吉云, 韓玉成 申請人:中國振華集團云科電子有限公司