專利名稱：熒光粉溫度特性的測量裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種熒光粉特性的測量裝置，尤其涉及一種用于熒光粉溫度特性研究
的測量裝置。
背景技術：
熒光粉特性的測量通常是在室溫條件下進行的，而實際熒光粉的工作環境則并不相同。因而，用室溫下測量的結果老表征熒光粉特性有一定的局限性。熒光粉溫度特性的測量主要在于研究熒光粉在不同工作環境溫度下激發的發射光譜、色度、效率等特性。目前一般采用通過控制熒光粉槽溫度來控制熒光粉測量環境溫度的方法，該方法的缺點主要有①測量易受環境溫度及濕度的影響。當設置溫度在低于某一特定值時由于空氣中水分影響會產生結水現象，嚴重影響對熒光粉溫度特性的測量。②測量得的熒光粉溫度特性不準確。LED熒光粉在實際工作時都是封裝在LED內部，即整個粉體處于相同溫度下，而這種方法粉體各部分的溫度難以控制，難以實現各部分的溫度均為某一設定值。

發明內容
本發明的目的在于提供一種能夠準確測量熒光粉溫度特性的裝置。
為實現上述目的，本發明所采用的技術方案是該熒光粉溫度特性的測量裝置主要包括激發光源、第一透鏡、單色儀和測光裝置，并且，該測量裝置還包括溫控裝置、設有通光孔的基殼和置于該基殼內的密封的測試樣品室，所述測試樣品室設有熒光粉槽、恒溫底座和透光的密封罩，所述熒光粉槽置于恒溫底座上且熒光粉槽正對基殼的通光孔，恒溫底座上開有抽真空孔，密封罩和恒溫底座密封聯接；所述第一透鏡位于激發光源和單色儀之間，單色儀的出光口對準通光孔；在基殼的側壁上安裝有導光管，由通光孔入射的激發光的主光軸與該導光管的中心軸線成45。角，在測試樣品室與導光管的入光口之間設有第二透鏡，所述導光管的出光口與測光裝置之間通過光纖連接；溫控裝置與恒溫底座電連接。
進一步，本發明在所述通光孔和測試樣品室之間設有分光器，在分光器的反射光方向設有光監測探測器。 與現有技術相比，本發明具有的有益效果是本發明裝置能測量熒光粉在不同溫度下的各種特性參數，測量方便準確，可以解決現有裝置測量易受環境影響及測量不準確的問題。


圖1是本發明的工作原理示意圖(俯視)。 圖中1.激發光源；2.單色儀；2-1.第一凹面反光鏡；2_2.第二凹面反光鏡；2_3.光柵；2-4.平面反光鏡；3.測試樣品室；3-1.密封罩；3_2.熒光粉槽；3_3.恒溫底座；3_4.抽真空孔；4.基殼；5.測光裝置；6.光纖；7.導光管；8溫控裝置；9.被測樣品；10.光監測
探測器；11.分光器；12.第二透鏡；13第一透鏡；14.通光孔。
具體實施例方式
在圖1中所示的熒光粉溫度特性測量裝置中，包括激發光源1、第一透鏡13、單色 儀2、測光裝置5、溫控裝置8、設有通光孔14的基殼4和置于該基殼4內的密封的測試樣 品室3。其中，基殼4內壁涂黑，避免雜散光的影響。測試樣品室3放置于基殼4的底部。 恒溫底座3-3固定安裝在測試樣品室3的底部，熒光粉槽3-2固定在恒溫底座3-3的側面 上。恒溫底座3-3與溫控裝置8電連接。可以方便地通過溫控裝置8來控制恒溫底座3-3 的溫度以使測試樣品室3內處于恒溫狀態。其中，恒溫底座3-3用于控制測試樣品室3內 的溫度，它可以是一個制冷片。恒溫底座3-3上開有抽真空孔3-4，密封罩3-1和恒溫底座 3-3密封聯接，由此用抽真空泵對測試樣品室3抽真空，以避免本發明裝置在測量過程受環 境濕度的影響。密封罩3-l由透光材料制成，以使激發光可進入測試樣品室3，且激發光激 發熒光粉產生的發射光可通過密封罩3-1進入導光管7。密封罩3-1可使用透光性能好的 石英玻璃或其他材料。 透鏡13位于激發光源1和單色儀2之間，使得激發光源1發出的激發光經過透鏡 13聚焦入射到單色儀2形成單色激發光。用單色光激發熒光粉可以保證準確表征熒光粉自 身的光度及色度特性。單色儀2通常可以是光柵分光或棱鏡分光。其中，如圖l所示，光柵 分光包含第一凹面反光鏡2-l、第二凹面反光鏡2-2、光柵2-3、平面反光鏡2-4。激發光源 1根據激發波長范圍的不同，可以是氖燈、鹵素燈或氙燈等。 單色儀2的出光口對準通光孔14，熒光粉槽3-2正對基殼4的通光孔14，使得由 單色儀2出射的單色激發光經過通光孔14垂直入射到熒光粉槽3-2內的被測樣品9上。
導光管7安裝在基殼4的側壁上，使得由通光孔14入射的單色激發光的主光軸與 該導光管7的中心軸線成45。角。在測試樣品室3與導光管7的入光口之間安裝有第二透 鏡12，使單色激發光激發被測樣品9產生的發射光會聚進入導光管7。導光管7的出光口 則與測光裝置5之間通過光纖6連接。測光裝置5可以是光譜輻射分析儀、照度計或光功 率計等。 此外，在通光孔14和測試樣品室3之間還可以設置一分光器11 ，在分光器11反射 光方向設置光監測探測器10。其中，光監測探測器IO可以是光探頭。 使用本發明裝置時，被測樣品9 (熒光粉)裝在測試樣品室3的熒光粉槽3-2內，激 發光源1發出的激發光經第一透鏡13會聚進入單色儀2，經單色儀2分光后形成的單色激 發光通過基殼4上的通光孔14沿45°方向照射到分光器11上，其中一部分激發光反射到 光監測探測器10上以實時監測單色激發光的波長及強度，另一部分垂直照射到被測樣品9 上。單色激發光激發被測樣品9產生的發射光經第二透鏡12會聚到導光管7內，以使導光 管7接收與被測樣品9表面法線成45°方向的發射光，然后通過光纖6使發射光進入測光 裝置5，進行熒光粉在不同溫度下的各種特性參數的準確測量。
權利要求
一種熒光粉溫度特性的測量裝置，包括激發光源(1)、第一透鏡(13)、單色儀(2)和測光裝置(5)，其特征在于該測量裝置還包括溫控裝置(8)、設有通光孔(14)的基殼(4)和置于該基殼(4)內的密封的測試樣品室(3)，所述測試樣品室(3)設有熒光粉槽(3-2)、恒溫底座(3-3)和透光的密封罩(3-1)，所述熒光粉槽(3-2)置于恒溫底座(3-3)上且熒光粉槽(3-2)正對基殼(4)的通光孔(14)，恒溫底座(3-3)上開有抽真空孔(3-4)，密封罩(3-1)和恒溫底座(3-3)密封聯接；所述第一透鏡(13)位于激發光源(1)和單色儀(2)之間，單色儀(2)的出光口對準通光孔(14)；在基殼(4)的側壁上安裝有導光管(7)，由通光孔(14)入射的激發光的主光軸與該導光管(7)的中心軸線成45°角，在測試樣品室(3)與導光管(7)的入光口之間設有第二透鏡(12)，所述導光管(7)的出光口與測光裝置(5)之間通過光纖(6)連接；溫控裝置(8)與恒溫底座(3-3)電連接。
2. 根據權利要求1所述的熒光粉溫度特性的測量裝置，其特征在于在所述通光孔 (14)和測試樣品室(3)之間設有分光器(ll)，在分光器(11)的反射光方向設有光監測探 測器(10)。
全文摘要
本發明公開了一種熒光粉溫度特性的測量裝置，包括激發光源、第一透鏡、單色儀、測光裝置、溫控裝置、設有通光孔的基殼和置于基殼內的密封的測試樣品室，測試樣品室設有熒光粉槽、恒溫底座和透光的密封罩，熒光粉槽置于恒溫底座上且熒光粉槽正對基殼的通光孔，恒溫底座上開有抽真空孔，密封罩和恒溫底座密封聯接；第一透鏡位于激發光源和單色儀之間，單色儀的出光口對準通光孔；基殼的側壁上安裝有導光管，由通光孔入射的激發光的主光軸與導光管中心軸線成45°角，測試樣品室與導光管的入光口之間設有第二透鏡，導光管的出光口與測光裝置之間通過光纖連接；溫控裝置與恒溫底座電連接。本發明可準確、方便地測量熒光粉在不同溫度下的各種特性參數。
文檔編號G01J3/28GK101718695SQ20091015497
公開日2010年6月2日 申請日期2009年12月7日 優先權日2009年12月7日
發明者李莉, 牟同升 申請人:浙江大學