技術特征：

1.一種軸向漏磁缺陷信號自動檢測方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

步驟1、對原始二維軸向漏磁信號進行梯度提取；

步驟2、對提取的梯度數據g(x,y)進行基于直方圖的全局對比度增強；

步驟3、根據全局對比度增強后的數據計算全局最優分割點，實現閾值分割，得到二值化數據；

步驟4、根據閾值分割后的二值化數據的區域面積，剔除虛驚，從而實現信號的自動檢測。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟1、對原始二維軸向漏磁信號進行梯度提取，具體實現步驟為：

遍歷原始二維軸向漏磁信號f(x,y)，提取(x,y)坐標下的梯度數據g(x,y)：

$\begin{array}{c}g(x,y)=f(x-1,y+1)+2*f(x,y+1)+f(x+1,y+1)\\ -f(x-1,y-1)-2*f(x,y-1)-f(x+1,y-1)\end{array}---\left(1\right)$

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟2、對提取的梯度數據g(x,y)進行基于直方圖的全局對比度增強，具體實現步驟為：

2.1、計算梯度數據g(x,y)的最大值Mx₁、最小值Mi₁，并以如下公式完成數據歸一化操作：

其中，為向下取整操作。

2.2、計算歸一化后的梯度數據q(x,y)的直方圖f(n)

遍歷q(x,y)所有數據點，按照如下公式(3)和(4)計算直方圖f(n)

$f\left(n\right)=\underset{i}{\Σ}\underset{j}{\Σ}\mathrm{\Δ}\[q(i,j)-n\],n=0,1,\mathrm{....255}---\left(3\right)$

其中

2.3、計算特征值映射表S(p)

$S\left(p\right)={\mathrm{\Σ}}_{n=0}^{255}f\left(n\right)D(n,p),p=0,1,...255---\left(5\right)$

其中

其中，σ為方差，n₁、n₂分別為第一、第二灰度級變量；

2.4、遍歷所有數據點，根據特征映射表S(p)將梯度歸一化后的梯度數據q(x,y)映射為全局對比度增強后的數據h(x,y)，公式如下：

h(x,y)＝S(q(x,y))； (7)。

4.如權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，步驟3、根據全局對比度增強后的數據計算全局最優分割點，實現閾值分割，得到二值化數據；

具體實現步驟如下：

3.1、將全局對比度增強后的數據h(x,y)歸一化至[0，255]

其中，Q(x,y)為歸一化后的數據，Mx₂、Mi₂分別為h(x,y)的最大值和最小值。

3.2、將歸一化后的數據Q(x,y)視為二維圖像，圖像點總個數為N，L為圖像灰度級，灰度級取值范圍為[0，255]，n_i為灰度級為i的點數，p_i為灰度級i出現的概率,則

p_i＝n_i/N i＝0,1,2…255 (9)

3.3、將圖像像素點分為兩類，即C₀類和C₁類；

計算C₀類的均值和權值：

$\begin{array}{cc}{u}_o=\underset{i=1}{\overset{k}{\Σ}}{\mathrm{ip}}_i/w_0& w_o=\underset{i=1}{\overset{k}{\Σ}}{p}_i\end{array}---\left(10\right)$

計算C₁類的均值和權值：

$\begin{array}{cc}{u}_1=\underset{i=k+1}{\overset{L}{\Σ}}{\mathrm{ip}}_i/w_1& w_1=\underset{i=k+1}{\overset{L}{\Σ}}{p}_i\end{array}---\left(11\right)$

其中，L為圖像灰度級；

整幅圖像的均值為

那么類間方差為

${\mathrm{\σ}}_B^2=w_0{(u_0-u_g)}^2+w_1{(u_1-u_g)}^2---\left(12\right)$

3.4、讓k在[0，255]范圍內遍歷性取值，當最大時對應的k值為選定閾值，即圖像的全局最優分割點；

遍歷Q(x,y)，數值大于圖像的全局最優分割點k的點設為1，否則設為0，可得二值化數據b(x,y)。

5.如權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，步驟4、根據閾值分割后二值化數據的區域面積，剔除虛驚；

具體實現步驟如下：

4.1、計算缺陷面積：

將二值化數據b(x,y)中1值的點視為缺陷信號，0值的點為非缺陷信號；缺陷信號相鄰距離小于第一距離閾值Ω，則視為同一缺陷區域，缺陷信號相鄰距離超過第二距離閾值α，則視為不同缺陷區域；將第i個缺陷區域內信號點的個數A_i設為第i個缺陷的面積；

4.2、剔除虛驚：

遍歷所有缺陷面積；如果缺陷面積小于第二距離閾值α視為虛驚，則將其剔除；如果缺陷面積大于等于第二距離閾值α，則視為有效缺陷，保留檢測結果。