本發明涉及一種治具，特別是涉及一種用于傾斜基板檢測用接觸件的結構簡單、并可有效檢測基板的基板檢測用治具。

背景技術：

通常，電路板的布線圖上裝備有集成電路等半導體、電阻器等電器、電子零件，所述電器和電子零件需要準確傳輸電信號。因此，安裝電器、電子零件之前先測定布線圖接觸部分之間的電阻值，確定電特性或者判斷好與壞。

具體而言，在每個接點接觸供電端子或電壓測量端子后，從供電端子向接點供給檢測用電流的同時測量產生于接觸在接點的電壓測量端子之間的電壓，并利用供給的電流和測量的電壓計算所定接點之間的電阻值，從而判斷好與壞。

為了通過在檢測基板讓布線圖接點和檢測裝置接點相互接觸來有效、準確地進行檢測，需要使用支撐多個接觸件的檢測治具。

為了使接觸件更加穩定地接觸于布線圖的接點和檢測裝置的接點，在所述接觸件傾斜的狀態下進行基板的檢測。

目前，為了實現所述接觸件的傾斜，一般采用移動檢測治具接觸件支撐層或改變其形狀、移動檢測裝置電極、移動用于支撐檢測裝置電極的支架等方法。

另外，還公開有將容納基板接觸件的孔設置成傾斜狀或傾斜地設置多個孔而使基板接觸件傾斜的技術。

但是，實現接觸件傾斜的結構復雜，而且，在傾斜狀態下接觸件不易彎曲。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻0001kr10-1021744b1

專利文獻0002kr10-0975808b1。

技術實現要素：

本發明的目的是彌補現有技術的不足，提供一種用于傾斜基板檢測用接觸件的結構簡單、接觸件在傾斜狀態下易發生彎曲的可有效檢測基板的基板檢測用治具。

為了達到上述目的，本發明采用的技術方案如下：

本發明基板檢測用治具用于支撐多個接觸件，所述接觸件包括接觸于檢測基板的布線圖而檢測布線圖的前端和通過電極連接于檢測裝置的后端，它包括設置于電極上面，并由形成有用于固定于所述電極的固定孔、引導和固定后端而使其連結于電極的接觸件孔、用于位置變化的移動孔、用于恢復到原位的整合孔、用于相互排列的排列孔及用于相互結合的結合孔的第一基板、第二基板及第三基板依次疊層而形成的基板；及在支桿作用下相隔設置于基板上方，與基板之間形成有空間部，并由形成有用于排列基板的上板排列孔、用于固定于支桿的上板固定孔、用于引導及固定所述前端的上板接觸件孔、用于相互結合的上板結合孔的第一上板和第二上板依次疊層而形成的上板；所述第二基板的排列孔直徑大于所述第一基板的排列孔和第三基板的排列孔的直徑，所述第二基板的結合孔直徑大于所述第一基板的結合孔和所述第三基板的結合孔，所述第二基板的移動孔中心與所述第一基板的移動孔和第三基板的移動孔的中心相互錯開設置。

所述移動孔內插入移動銷時，所述第二基板向左右方向中的任意一向移動，使第一基板的移動孔、第二基板的移動孔及第三基板的移動孔中心相一致，使所述第二基板的整合孔中心與所述第一基板的整合孔和第三基板的整合孔中心相互錯開，使所述空間部內的所述接觸件向左或向傾斜。

所述整合孔內插設整合銷時，所述第二基板向左右方向中的任意一向移動，使第一基板的整合孔、第二基板的整合孔及第三基板的整合孔中心相一致，并使第二基板的移動孔中心與第一基板的移動孔和第三基板的移動孔中心相互措開，使所述空間部內的所述接觸件處于垂直狀態。

所述第二基板的結合孔直徑大于插入于所述結合孔內的結合螺絲的直徑，其直徑之差大于等于第二基板的移動距離。

所述第二基板的排列孔直徑和第一基板的排列孔及第三基板的排列孔直徑之差大于等于第二基板的移動距離。

所述第一基板的接觸件孔和第二基板的接觸件孔的下端部直徑小于所述接觸件的后端直徑，上端部直徑大于所述接觸件的后端直徑，所述第三基板的接觸件孔直徑大于所述接觸件）的后端直徑，

所述第一上板的上板接觸件孔和第二上板的上板接觸件孔的上端部直徑小于所述接觸件的前端直徑，所述第一上板的上板接觸件孔和第二上板的上板接觸件孔的下端部直徑大于所述接觸件的前端直徑，

所述接觸件的前端端部向所述第二上板的上方突出。

所述第二基板的移動孔的直徑相同于所述第一基板的移動孔和第三基板的移動孔直徑。

本發明基板檢測用治具的有益效果是，在接觸件100的前端110固定于第一上板350的上板接觸件孔330a及第二上板360的上板接觸件孔330b、接觸件100的后端120固定于第一基板270的接觸件孔220a的狀態下，可通過移動第二基板280來完成位于空間部30內的接觸件100的傾斜，結構簡單。

并且，所述接觸件100前端110端部壓接于檢測基板10布線圖12時，由于空間部30內的接觸件100處于傾斜狀態，因此，即使向前端110的端部施加微力也能輕易發生傾斜，并通過彎曲發生情況可簡便判斷接觸件100的前端110端部的摁壓情況。

附圖說明

圖1是本發明基板檢測用治具的結構示意圖。

圖2是圖1中a部分放大示意圖。

圖3是圖1中b部分放大示意圖。

圖4是本發明基板檢測用治具的第二基板移動狀態示意圖。

圖5是圖4中c部分放大示意圖。

圖6是圖4中d部分放大示意圖。

圖7是圖5檢測基板的布線圖壓接于接觸件前端端部時的示意圖。

圖中，10、檢測基板；12、布線圖；20、支桿；22、支桿螺絲；30、空間部；40、移動銷；50、整合銷；60、排列銷；70、固定螺栓；72、固定螺母；80、外圍銷；100、接觸件；110、前端；120、后端；200、基板；202、結合螺絲；204、外圍銷孔；206、螺絲孔；210、固定孔；220、220a、220b、220c、接觸件孔；230、230a、230b、230c、移動孔；240、240a、240b、240c、整合孔；250、250a、250b、250c、排列孔；260、260a、260b、260c、結合孔；270、第一基板；280、第二基板；290、第三基板；300、上板；302、結合螺絲；310、上板排列孔；320、上板固定孔；330、330a、330b、上板接觸件孔；340、上板結合孔；350、第一上板；360、第二上板；400、電極；500、電極支架；502、固定螺絲。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明進行詳細說明，以使本領域的技術人員易于實施。

本發明的檢測對象為印刷電路板、柔性電路板、多層電路板、用于液晶顯示器、等離子顯示器的電極板及用于半導體組件的組件板、膜形載體等各種基板的電布線，本發明中將其總稱為“檢測基板”。

圖1是本發明基板檢測用治具的結構示意圖，圖2是圖1中a部分放大示意圖，圖3是圖1中b部分放大示意圖。

如圖1至圖3所示，本發明基板檢測用治具用于支撐多個接觸件100，所述接觸件包括用于檢測檢測基板10布線圖12的前端110和通過電極400電連接于檢測裝置的后端120，本發明還包括設置于電極400上面，并由形成有用于固定于被固定物的固定孔210、用于引導和固定后端120使其與電極400連結的接觸件孔220、用于位置變化的移動孔230、用于恢復原位的整合孔240、用于相互排列的排列孔250及用于相互結合的結合孔260的第一基板270和第二基板280及第三基板290依次疊層而形成的基板200；和通過支桿20相隔設置于基板200上方，與基板200之間形成有空間部30，并由形成有用于排列基板200的上板排列孔310、用于固定于支桿20的上板固定孔320、用于引導及固定前端110的上板接觸件孔330、用于相互結合的上板結合孔340的第一上板350和第二上板260依次疊層而形成的上板300。

所述接觸件100呈長桿狀，它由具有柔韌性及導電性的不銹鋼、鎢、鈹、銅等材質制成。所述接觸件100的前端110端部壓接于檢測基板10布線圖12的檢測點，下端120端部接觸于檢測裝置。接觸件100將檢測裝置的電信號輸送至檢測點的同時可以將檢測點的電信號輸送至檢測裝置。

所述接觸件100具有柔韌性，因此，可以在形成于基板200和上板300之間的空間部30向垂直于長軸的方向彎曲。為此，在檢測基板10布線圖12的檢測點或電極400的作用下受負荷而彎曲，彎曲時對每個接觸部分產生壓力。

所述接觸件100的外周面除了前端110端部和下端120端部包覆有絕緣隔熱層。前端110端部和下端120端部呈尖銳狀或球狀。接觸件100的長度或粗細取決于形成于檢測基板10的布線圖12的布線間距或被檢基板的大小。

所述接觸件100的前端110夾設在形成于上板300的上板接觸件孔330內，此時，前端110端部向第二上板360的上方突出。

所述接觸件100的后端120夾設在形成于基板200的接觸件孔220內。為使中心相對齊，基板200的接觸件孔220和上板300的上板接觸件孔330設置于同一直線上，從而使所述接觸件100保持垂直狀。

所述基板200由第一基板270、第二基板280及第三基板290依次疊層而形成。基板200用于固定、支撐接觸件100的后端120，并可向右移動后端120以使接觸件100傾斜。所述基板200的最外圍形成有外圍銷孔204，所述外圍銷孔204內插設有外圍銷80。所述外圍銷80用于防止手或其他物體靠近設置于基板200上方的上板300及檢測基板10。為了不影響第二基板280的移動，所述外圍銷80只固定于第三基板290。所述基板200的外圍上可設有多個外圍銷孔204，基于此，也可插設多個外圍銷80。

所述基板200上形成有內側向與外圍銷孔204相鄰的整合孔240。所述整合孔240內插設有整合銷50。所述整合孔240用于恢復原位，使第一基板270、第二基板280和第三基板290的整合孔240a、240b、240c具有同一中心。可設置有多個整合孔240，每個整合孔240內均插設有整合銷50，所述整合銷50以過盈配合方式設于整合孔240內，可以上下移動。

所述基板200上形成有與整合孔240相鄰、用于把基板200固定于電極400的固定孔210。固定孔210內插設有固定螺栓70。所述固定螺栓70螺絲連接于設置在電極支架500上的固定螺母72，固定螺栓70用于將第一基板270、第二基板280和第三基板290固定于電極支架500。

相鄰于固定孔210形成有螺絲孔206，螺絲孔206的上方設有支桿20，所述支桿20的上端通過支桿螺絲22連接于上板300的第一上板350。所述螺絲孔206內設有支桿螺絲22，用于固定第三基板290和支桿20后端。圖中示有一個螺絲孔206，但是，根據基板200及上板300的大小可設置多個螺絲孔206，對應螺絲孔206的數量設有支桿20和支桿螺絲22。

所述基板20上形成有與螺絲孔206相鄰的排列孔250，所述排列孔250內插設有排列銷60。所述排列銷60用于將第一基板270、第二基板280和第三基板290排成一列，排列銷60的上端夾設于上板300的上板排列孔310。根據基板200及上板300的大小可形成有多個排列孔250，并設有對應于排列孔250個數的排列銷60。

基板200排列孔250的內側形成有用于引導接觸件100后端120使其與電極400相連固的接觸件孔220，接觸件孔220個數與接觸件100的個數相對應。

以基板200的接觸件孔220為中心其右側設有用于改變基板200位置的移動孔230，所述移動孔230內插設有移動銷40。所述移動銷40用于向右移動第二基板280，所述移動銷40以過盈配合方式設于移動孔230內，可上下移動。可形成有多個移動孔230，基于此設有對應于移動孔230個數的移動銷40。

基板200移動孔230的右側形成有結合孔260，結合孔260內結合有結合螺絲202，通過結合螺絲202相固定第一基板270、第二基板280和第三基板290。根據基板200的大小可形成有多個結合孔260，并設有對應于結合孔260個數的結合螺絲202。

第一基板270通過插入于固定孔210的固定螺栓70固定于電極400上方。形成于第一基板270的接觸件孔220a下端直徑小于接觸件100的后端120端部直徑，所述接觸件孔220a的上端直徑大于后端120端部直徑。所述接觸件100的后端120以過盈配合方式插固于接觸件孔220a，并接觸于電極400表面。由于接觸件孔220a的上端直徑大于后端120直徑，因此，后端120以過盈配合方式插固于接觸件孔220a時易彎曲。

第二基板280疊層設置于第一基板270上面，并通過將固定螺栓70插入固定孔210內進行固定，之后通過結合螺絲202和結合孔260的結合，與第一基板270和第三基板290相固定。形成于第二基板280的接觸件孔220b和形成于第一基板270的接觸件孔220a的中心在一條直線上，形成于第二基板280的接觸件孔220b的下端直徑小于接觸件100的后端120直徑，上端直徑大于接觸件100的后端120直徑。所述接觸件100的后端120以過盈配合方式插設于接觸件孔220b內。由于接觸件孔220b的上端直徑大于后端120直徑，因此，后端120以過盈配合方式插固于接觸件孔220b時易彎曲。

第二基板280的排列孔250b直徑大于第一基板270及第三基板290的排列孔250a、250c直徑。

第一基板270的移動孔230a、第二基板280的移動孔230b及第三基板290的移動孔230c直徑雖然相同，但是，第二基板280的移動孔230b中心與第一基板270的移動孔230a及第三基板290的移動孔230c中心相互錯開。比如，移動孔230b的中心向左（或向右）偏向設置。當移動孔230內插設移動銷40時移動孔230a、230b、230c的中心對齊，此時第二基板280向右移動，如圖4所示。

第三基板290疊層于第二基板280的上面，通過將固定螺栓70插入固定孔210內進行固定，之后通過結合孔260和結合螺絲202的結合，使其與第一基板270及第二基板280固定。形成于第三基板290的接觸件孔220c的中心和形成于第二基板280的接觸件孔220b的中心在一條直線上，形成于第三基板290的接觸件孔220c直徑大于后端120直徑。

第一基板270、第二基板280及第三基板290的接觸件孔220a、220b、220c的中心在一條直線上時，接觸件100的后端120在依次固定接觸件孔220a、220b的狀態下貫穿接觸件孔220c。

第三基板290的結合孔260c內螺絲連接有結合螺絲202，第一基板270和第二基板280的結合孔260a、260b直徑大于結合螺絲202的直徑，因此，第一基板270和第二基板280不與結合螺絲202進行螺絲連接，而通過第三基板290和結合螺絲202的螺絲連接來進行固定。因此，第二基板280在移動銷40的作用下向一側移動時不受結合螺絲202的影響。

第二基板280的排列孔250b直徑大于第一基板270及第三基板290的排列孔250a、250c直徑，從而可防止第二基板280在移動銷40作用下向右移動時掛在排列銷60。

上板300在支桿20作用下相隔設置于基板200上方，相隔的空間形成空間部30。上板300上形成有用于對準基板200的上板排列孔310、用于固定于支桿20的上板固定孔320、用于引導和固定接觸件100前端110的上板接觸件孔330及用于相互固定第一上板350和第二上板360的上板結合孔340。

所述第一上板350，在對應于支桿20的位置上形成有上板固定孔320，并通過支桿螺絲22固定于支桿20。上板固定孔320形成于對應基板200螺絲孔206的位置。支桿20位于第三基板290上方、第一上板350下方，并通過支桿螺絲22分別固定于第三基板290和第一上板350。

上板排列孔310貫穿形成于第一上板350和第二上板360的相同位置，所述上板排列孔310內插設有排列銷60。

上板300在支桿20作用下與基板200保持相隔的狀態，并在對應接觸件孔220的位置形成上板接觸件孔330。

形成于第一上板350的上板接觸件孔330a的上端部直徑小于接觸件100前端110端部直徑，下端部直徑大于前端120端部直徑。前端110以過盈配合方式固定于上板接觸件孔330a。由于上板接觸件孔330a的下端部直徑大于前端110端部直徑，因此，接觸件100在前端110以過盈配合方式固定于上板接觸件孔330a時易于彎曲。

形成于第二上板360的上板接觸件孔330b的上端部直徑小于接觸件100前端110的直徑，下端部直徑大于前端110直徑，所述接觸件100的前端110以過盈配合方式固定于上板接觸件孔330b內。

接觸件100的前端110在第一上板350的上板接觸件孔330a內進行第一次固定，在第二上板360的上板接觸件孔330b內進行第二次固定，從而堅固地固定接觸件100的前端110而不易脫落。

接觸件100前端110端部突出于第二上板360的上板接觸件孔330b上方，以便易與檢測基板10的布線圖12接觸。

下面結合圖1至圖7對第二基板280的移動及檢測基板10的檢測進行詳細說明。

圖1是本發明基板檢測用治具的結構示意圖，圖2是圖1中a部分放大示意圖，圖3是圖1中b部分放大示意圖。

圖1至圖3是檢測基板10進行檢測之前的狀態示意圖，具體而言，是基板200的第二基板280移動之前的狀態示意圖。

固定螺栓70插入于基板200的固定孔210時，第一基板270、第二基板280及第三基板290處于中心相互對齊，此時，可設有多個固定螺栓70。

基板200的中心雖然已對準，但是，第一基板270和第三基板290的移動孔230a、230c與第二基板280的移動孔230b處于其中心相互錯開的狀態，也就是第一基板270和第三基板290的移動孔230a、230c中心相同，第二基板280的移動孔230b中心偏向右（圖中是偏向右時的示意圖，但是也可以偏向左），即，從移動孔230的上方俯視時第二基板280的移動孔230b部分突出。

如圖3所示，在此狀態下將結合孔260內的結合螺絲202擰向第一基板270的下方，圖3所示的是結合螺絲202已擰開的狀態。由于結合螺絲202的螺帽與結合孔260不相接觸，因此，對第一基板270及第二基板280施加微力便可移動。并且，由于結合螺絲202與第三基板290牢牢擰固，使第一基板270、第二基板280和第三基板290牢固地固定在一起，因此，第一基板270、第二基板280及第三基板290不能進行移動。

第二基板280的結合孔260b直徑大于結合螺絲202的直徑，直徑之差大于等于第二基板280的移動距離（即，在移動孔230的上方俯視時第二基板的移動孔230b突出的長度），從而使第二基板280不受結合螺絲202的影響而順利移動。

第二基板280的排列孔250b直徑大于第一基板270及第三基板290的直徑，直徑差大于等于第二基板280移動距離，從而使第二基板280不受排列銷60的影響而順利移動。

圖4是本發明基板檢測用治具的第二基板280移動狀態示意圖，圖5是圖4中c部分放大示意圖，圖6是圖4中d部分放大示意圖。

圖4至圖6是檢測基板10進行檢測之前的狀態示意圖，具體而言是基板200的第二基板移動后的狀態示意圖。

從基板200的結合孔260擰開結合螺絲202時，從固定孔210擰出固定螺栓70，可使第二基板280處于可移動的狀態。

在此狀態下，將移動銷40插入基板200的移動孔230時，原本相互錯開的所述移動孔230a、230b、230c的中心排成一列，相互對齊。在這一過程中，第二基板280在第一基板270和第三基板290之間向右移動。此時移動的距離可以為0.4mm左右，但根據基板檢測用治具的設計方式，其移動距離可以有所不同。

第二基板280移動時固定于接觸件孔220b內的接觸件100后端120也移動，此時，由于接觸件100的前端110固定在形成于第一上板350的上板接觸件孔330a，接觸件100的后端120固定于第一基板270的接觸件孔220a，因此，位于空間部30內的接觸件100向右傾斜。

此狀態下，擰緊基板200結合孔260內的結合螺絲202，將第一基板270、第二基板280及第三基板290牢固地固定在一起。

圖7是圖5的檢測基板的布線圖壓接于接觸件前端端部時的放大示意圖。

如圖7所示，將接觸件100前端110端部壓接于檢測基板10的布線圖120時，空間部30內的接觸件100發生彎曲，在此狀態下通過連接于電極400的檢測裝置的檢測結果判斷檢測基板10的好壞。

布線圖12壓接于接觸件100前端110端部時，空間部30內的接觸件100發生彎曲，通過彎曲確認接觸件100前端110端部是否被壓住。

此時，空間部30內的接觸件100處于傾斜狀態，因此，即使向前端110端部施加微力也可發生傾斜，輕松省力。

根據需要更換接觸件100或拆卸基板檢測用治具時，從基板200移動孔230中取出移動銷40，并擰松結合孔260內的結合螺絲202。

然后將整合銷50插入于基板200的整合孔240或者將固定螺栓70擰入固定孔210內。此時，第二基板280重新向左移動，如圖1所示。

同時，空間部30內的接觸件100恢復傾斜之前的原狀。

未進行說明的標號500是電極支架，設置于電極400下方，下端設有固定螺母72，所述固定螺母72上螺絲連接有固定螺栓70，從而與基板200及電極400相固定。

電極支架500可分為多層，通過固定螺絲502相結合。

電極400和電極支架500可分離，組裝基板200和上板300之后相結合。