技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N光檢測(cè)裝置以及光檢測(cè)系統(tǒng)。本公開(kāi)的一形態(tài)所涉及的光檢測(cè)裝置具備：光檢測(cè)器，包含沿著主面配置的多個(gè)第1檢測(cè)器以及多個(gè)第2檢測(cè)器；光耦合層，配置在所述光檢測(cè)器上或者上方；以及遮光膜，配置在所述光耦合層上。所述光耦合層包含：第1低折射率層；第1高折射率層，配置在所述第1低折射率層上，包含第1光柵；以及第2低折射率層，配置在所述第1高折射率層上。所述遮光膜包含：透光區(qū)域、以及與所述透光區(qū)域相鄰的遮光區(qū)域。所述透光區(qū)域與所述多個(gè)第1檢測(cè)器中包含的兩個(gè)以上的第1檢測(cè)器對(duì)置，所述遮光區(qū)域與所述多個(gè)第2檢測(cè)器中包含的兩個(gè)以上的第2檢測(cè)器對(duì)置。

技術(shù)研發(fā)人員：西脅青兒;鳴海建治;鹽野照弘
受保護(hù)的技術(shù)使用者：松下知識(shí)產(chǎn)權(quán)經(jīng)營(yíng)株式會(huì)社
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.19
技術(shù)公布日：2017.10.20