技術特征：

技術總結
本發明涉及一種測試設備，用于測試封裝器件的封裝性能，包括：承載臺，包括用于承載待測試封裝器件的承載面；固定裝置，設置于所述承載臺上用于將待測試封裝器件固定于所述承載臺上；測試裝置，可移動的設置于所述承載臺的上方；移動裝置，用于控制所述測試裝置在待測試封裝器件上的預設位置、沿預設方向移動；處理裝置，用于根據所述測試裝置移動預設距離所需的時間獲取待測試封裝器件的封裝性能信息，或者根據所述測試裝置在預設時間內移動的距離獲取待測試封裝器件的封裝性能信息。本發明還涉及一種測試方法。

技術研發人員：王利娜;崔富毅;張亮;王子峰;劉洋
受保護的技術使用者：京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
技術研發日：2017.05.22
技術公布日：2017.09.29