專利名稱：低溫測試操作箱的制作方法
低溫測試操作箱
技術領域：
本發明涉及一種低溫測試操作箱，特別是涉及一種強固型電子設備的低溫測試操作箱。
背景技術：
隨著科技日新月異的發展，電腦越來越廣泛地應用于日常生活，尤其是近年來筆記本電腦以其便攜性更是受到人們青睞。而由于科考、探險、軍事等方面應用的需要，對于所使用的筆記本電腦等便攜式設備所能承受的工作環境又有了更為嚴苛的需求。由此發展出強固型便攜式設備，例如為強固型筆記本電腦。對于強固型筆記本電腦來說，可應用的領域非常的廣，且保護性極佳，不論是處于多么嚴苛的環境，像是工地、野外、沙漠環境或是軍事重地等等，能承受外在環境的干擾，系統穩定運作。由于強固型筆記本電腦通常會需要滿足在低溫下工作的需求，因此需要進行在低溫下進行測試以滿足在低溫下運行穩定性的需求。請參閱圖1，其為現有技術的強固型筆記本電腦的低溫測試操作箱。所述操作箱包括本體11、門12，所述門12在閉合狀態下，所述本體11和所述門12形成一個基本密閉的空間，所述門12—般為透明，所述門12上開設有二操作口 13，所述操作口 13上由其四周向中心延伸設有軟性密封部14。使用時，人手從所述操作口 13，撥開所述軟性密封部14，伸入所述操作箱內部，對需要進行測試的強固型電腦15進行操作，而人手抽出后，所述軟性密封部14又會合起來使得所述操作箱的內部基本成為一個密閉空間。由于所述操作箱的內部在測試的時候會保持一個較低的溫度(例如為-37.20C )。采用上述操作箱會有以下缺點:人手在其內長期操作會出現凍傷的情況；由于所述操作箱內部空間有限，操作起來較不方便；由于所述操作箱內部空間有限，有些測試治具無法正常放入；測試時開關門動作相對多，造成箱內溫度泄露。有鑒于此，實有必要開發一種低溫測試操作箱，以解決上述問題。

發明內容
因此，本發明的目的是提供一種低溫測試操作箱，從而可以避免使用者操作后手被凍傷，又可以解決箱內操作空間有限所帶來的問題。為了達到上述目的，本發明提供的低溫測試操作箱，用于對電子產品的低溫測試操作，該操作箱包括:箱體，其具有一開放端，所述箱體內提供一低溫環境；箱門，與所述箱體的開放端結合，所述箱門閉合后，所述箱體箱門形成密閉空間；連接器，其穿設于所述箱體的壁，所述連接器包括內端口和外端口，所述內端口設于所述箱體內部，與待測試的所述電子產品的端口相匹配，所述內外端口設于所述箱體外部，與測試治具的端口相匹配。
可選的，所述箱門為透明體，方便使用者觀察所述操作箱內部。可選的，所述箱門上設有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸設有軟性密封部，從而方便使用者在不開箱門的情況下，將所述連接器內端口與所述電子產品的端口相連接，以及進行一些通過所述連接器所不能完成的操作。可選的，所述連接器為若干個，分散設于所述箱體上，從而使用者在所述箱體外部更方便連接測試治具。可選的，所述連接器為若干個，所述箱體外部設有一連接器座，各所述連接器的外端口集中設于所述連接器座上，從而使得箱體外部美觀，測試起來較為集中方便。可選的，所述電子產品為強固型筆記本電腦，所述電子產品的端口為USB端口、LAN端口、COM端口或顯示器端口。相較于現有技術，采用本發明的低溫測試操作箱，由于采用具備內端口和外端口的連接器，將測試治具連接到箱體外部，使得操作可以在箱體外部，避免了人手在箱體內低溫環境下長期操作；測試時開關箱門動作變少，減少箱內溫度泄露。

圖1繪示為現有技術強固型筆記本電腦的低溫測試操作箱一較佳實施例的結構圖。圖2繪示為本發明的低溫測試操作箱第一實施例的結構示意圖。

圖3繪示為本發明的低溫測試操作箱第二實施例的結構示意圖。
具體實施方式請參閱圖2，圖2繪示為本發明的低溫測試操作箱第一實施例的結構示意圖。為了達到上述目的，本發明提供的低溫測試操作箱，用于對電子產品200(以強固型筆記本電腦為例)的低溫測試操作，該操作箱包括:箱體20，其具有一開放端，所述箱體20內提供一低溫環境；箱門21，與所述箱體20的開放端結合，所述箱門21閉合后，所述箱體20箱門21形成密閉空間；連接器22，其穿設于所述箱體的壁，所述連接器包括內端口 23和外端口 24，所述內端口 23設于所述箱體22內部，與待測試的所述電子產品200的端口相匹配(所述電子產品200的端口可以為USB端口、LAN端口、COM端口或顯示器端口)，所述內外端口 24設于所述箱體20外部，與測試治具的端口相匹配。于該第一實施例，所述連接器22為若干個，分散設于所述箱體20上，從而使用者在所述箱體20外部更方便連接測試治具其中，所述箱門20可以為透明體，方便使用者觀察所述操作箱內部。可見，采用本發明的低溫測試操作箱，由于采用具備內端口 23和外端口 24的連接器22，使用時通過所述連接器22的外端口 24將測試治具連接到箱體20外部，使得操作可以在箱體20外部，避免了人手在箱體20內低溫環境下長期操作；可以一次性將電子產品200需要測試的端口與所述連接器22的內端口 23連接，從而測試時開關箱門21動作變少，減少箱內溫度泄露。
請參閱圖3，圖3繪示為本發明的低溫測試操作箱第二實施例的結構示意圖。與所述第一實施例相同的部分不再詳述，與所述第一實施例所不同的，于該第二實施例，所述連接器22為若干個，所述箱體20外部設有一連接器座25，各所述連接器22的外端口 24集中設于所述連接器座25上，從而使得箱體20外部美觀，測試起來較為集中方便。其中，所述箱門20上也可以設有操作口 26，所述操作口 26上由其四周向中心延伸設有軟性密封部27，從而方便使用者在不開箱門21的情況下，將所述連接器22內端口23與所述電子產品200的端口相連接，以及進行一些通過所述連接器22所不能完成的操作(例如需要進行按電源開關開機的操作)。使用時，人手從所述操作口 26，撥開所述軟性密封部27，伸入所述操作箱內部進行操作，而人手抽出后，所述軟性密封部27又會合起來使得所述操作箱的內部基本成為一個密閉空間(所述軟性密封部27可以為由其中心點作為中心向四周開十字型開口)。
權利要求
1.一種低溫測試操作箱，用于對電子產品的低溫測試操作，其特征在于，該操作箱包括: 箱體，其具有一開放端，所述箱體內提供一低溫環境； 箱門，與所述箱體的開放端結合，所述箱門閉合后，所述箱體箱門形成密閉空間； 連接器，其穿設于所述箱體的壁，所述連接器包括內端口和外端口，所述內端口設于所述箱體內部，與待測試的所述電子產品的端口相匹配，所述內外端口設于所述箱體外部，與測試治具的端口相匹配。
2.如權利要求1所述的低溫測試操作箱，其特征在于，所述連接器為若干個，分散設于所述箱體上。
3.如權利要求1所述的低溫測試操作箱，其特征在于，所述連接器為若干個，所述箱體外部設有一連接器座，各所述連接器的外端口集中設于所述連接器座上。
4.如權利要求1、2或3所述的低溫測試操作箱，其特征在于，所述箱門為透明體。
5.如權利要求1、2或3所述的低溫測試操作箱，其特征在于，所述箱門上設有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸設有軟性密封部。
6.如權利要求1、2或3所述的低溫測試操作箱，其特征在于，所述電子產品的端口為USB端口、LAN端口、COM端口或顯示器端口。
全文摘要
本發明揭示一種低溫測試操作箱，用于對電子產品的低溫測試操作，該操作箱包括箱體，其具有一開放端，所述箱體內提供一低溫環境；箱門，與所述箱體的開放端結合，所述箱門閉合后，所述箱體箱門形成密閉空間；連接器，其穿設于所述箱體的壁，所述連接器包括內端口和外端口，所述內端口設于所述箱體內部，與待測試的所述電子產品的端口相匹配，所述內外端口設于所述箱體外部，與測試治具的端口相匹配。采用該低溫測試操作箱，由于采用具備內端口和外端口的連接器，將測試治具連接到箱體外部，使得操作可以在箱體外部，避免了人手在箱體內低溫環境下長期操作；測試時開關箱門動作變少，減少箱內溫度泄露。
文檔編號G06F11/26GK103207822SQ20121000936
公開日2013年7月17日 申請日期2012年1月13日 優先權日2012年1月13日
發明者任光明 申請人:神訊電腦(昆山)有限公司