1.一種顯卡固件安全檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯卡固件安全檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)顯卡固件進(jìn)行安全檢測(cè)，得到顯卡固件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)集合，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯卡固件安全檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述顯卡bios鏡像位置信息，對(duì)顯卡固件進(jìn)行安全檢測(cè)，得到顯卡固件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)集合，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯卡固件安全檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)所述顯卡固件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)集合進(jìn)行處理，得到顯卡固件安全檢測(cè)結(jié)果，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯卡固件安全檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)所述硬件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)判斷矩陣a和所述顯示性能評(píng)價(jià)指標(biāo)判斷矩陣b進(jìn)行處理，得到顯卡固件安全檢測(cè)結(jié)果，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯卡固件安全檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)所述硬件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)判斷矩陣a進(jìn)行處理，得到硬件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)權(quán)重wa，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯卡固件安全檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)所述硬件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)權(quán)重wa和所述硬件性能評(píng)價(jià)指標(biāo)隸屬度進(jìn)行處理，得到硬件性能評(píng)價(jià)結(jié)果，包括：
8.一種顯卡固件安全檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括：
9.一種顯卡固件安全檢測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，所述計(jì)算機(jī)指令被調(diào)用時(shí)，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的顯卡固件安全檢測(cè)方法。