本發明實施例涉及觸控的，尤其涉及一種觸控電容的檢測電路和檢測方法。

背景技術：

1、傳統的觸控電容檢測電路在檢測觸控電容時，抗干擾能力比較差，使得觸控電容的檢測準確性比較差。

技術實現思路

1、本發明提供一種觸控電容的檢測電路和檢測方法，以提高觸控電容檢測電路的抗干擾能力，提高了觸控電容的檢測準確性。

2、第一方面，本發明實施例提供了一種觸控電容的檢測電路，包括控制單元、開關單元、第一檢測單元、第二檢測單元和檢測電容；

3、所述控制單元與所述開關單元的控制端連接，所述開關單元的第一端與待測觸控電容連接，所述開關單元的第二端與電源端連接，所述開關單元的第三端與所述檢測電容連接，所述控制單元用于控制所述開關單元交替連通所述第一端和所述第二端，以及所述第一端和所述第三端，并記錄所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數；

4、所述第一檢測單元和所述第二檢測單元均與所述控制單元和所述檢測電容連接，所述第一檢測單元用于檢測所述檢測電容的電壓，形成第一檢測信號；所述控制單元用于在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數依次達到不同的預設次數時控制所述第二檢測單元依次檢測所述檢測電容的電壓，形成多個第二檢測信號；所述控制單元還用于根據所述第一檢測信號和多個所述第二檢測信號確定所述待測觸控電容的電容值。

5、可選地，所述第二檢測單元包括放大模塊和模數轉換模塊；

6、所述放大模塊的輸入端與所述檢測電容連接，所述放大模塊的輸出端與所述模數轉換模塊的輸入端連接，所述模數轉換模塊的控制端與所述控制單元的第一輸出端連接，所述模數轉換模塊的輸出端與所述控制單元的第一輸入端連接，所述控制單元用于控制所述模數轉換模塊的工作狀態，并接收所述模數轉換模塊輸出的所述第二檢測信號。

7、可選地，觸控電容的檢測電路還包括存儲單元；

8、所述存儲單元的輸入端與所述第二檢測單元的輸出端連接，所述存儲單元的控制端與所述控制單元的第一輸出端連接，所述存儲單元的輸出端與所述控制單元的第一輸入端連接，所述控制單元還用于在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數至預設次數時控制所述存儲單元存儲所述第二檢測信號。

9、可選地，所述第一檢測單元包括數模轉換模塊和比較模塊；

10、所述數模轉換模塊與所述比較模塊的負輸入端連接，所述比較模塊的正輸入端與所述檢測電容連接，所述比較模塊的輸出端與所述控制單元的第二輸入端連接，所述數模轉換模塊用于為所述比較模塊的負輸入端提供參考電壓，所述比較模塊用于比較所述參考電壓和所述檢測電容的電壓，并形成所述第一檢測信號。

11、可選地，所述開關單元包括第一開關和第二開關；

12、所述第一開關的控制端和所述第二開關的控制端與所述控制單元的第二輸出端連接，所述第一開關的第一端和所述第二開關的第一端與所述待測觸控電容連接，所述第一開關的第二端與所述電源端連接，所述第二開關的第二端與所述檢測電容連接。

13、可選地，所述開關單元還包括第三開關；

14、所述第三開關的第一端與所述第二開關的第二端和所述檢測電容連接，所述第三開關的第二端接地。

15、第二方面，本發明實施例還提供了一種觸控電容的檢測方法，采用第一方面所述的觸控電容檢測電路執行，所述方法包括：

16、控制開關單元交替連通第一端和第二端，以及所述第一端和第三端；

17、在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數依次達到不同的預設次數時，控制第二檢測單元依次檢測檢測電容的電壓，形成多個第二檢測信號；

18、獲取第一檢測單元輸出的第一檢測信號，并根據所述第一檢測信號和多個所述第二檢測信號確定所述待測觸控電容的電容值。

19、可選地，所述預設次數包括多個數值從小到大排列的第一預設次數至第n預設次數，其中，n為大于1的整數；在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數依次達到不同的預設次數時，控制第二檢測單元依次檢測檢測電容的電壓，形成多個第二檢測信號，包括：

20、在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數依次達到所述第一預設次數至第i預設次數時，控制所述第二檢測單元在第一放大倍數下依次檢測所述檢測電容的電壓，形成i個第二檢測信號；其中，i為大于等于1且小于等于n的整數，在所述第i預設次數時，所述第一檢測信號為邏輯低，在所述第i+1預設次數時，所述第一檢測信號為邏輯高；

21、在i小于n，所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數依次達到第i+1預設次數至第n預設次數時，控制所述第二檢測單元在第二放大倍數下依次檢測所述檢測電容的電壓，形成n-i個第二檢測信號；其中，所述第二放大倍數小于所述第一放大倍數。

22、可選地，在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數至一所述預設次數時，在獲取第一檢測單元輸出的第一檢測信號之后，還包括：

23、在所述第一檢測信號為邏輯高，且所述i等于n時，保存所述第二檢測信號，并控制所述待測觸控電容和所述檢測電容放電；

24、在所述第一檢測信號為邏輯高，且所述i小于n時，控制所述待測觸控電容連通所述第一端和所述第三端的次數依次達到第i+1預設次數至第n預設次數，并控制所述檢測電容在第二放大倍數下依次檢測所述檢測電容的電壓；

25、在所述第一檢測信號為邏輯低且報錯信號為邏輯高時，控制所述待測觸控電容和所述檢測電容放電。

26、可選地，在控制開關單元交替連通第一端和第二端，以及所述第一端和第三端之前，還包括：

27、對所述待測觸控電容和所述檢測電容進行放電。

28、本發明實施例的技術方案，通過設置觸控電容的檢測電路包括第二檢測單元，第二檢測單元可以在檢測電容的充電次數至多個預設次數時檢測檢測電容的電壓，形成多個第二檢測信號，控制單元根據第一檢測信號和多個第二檢測信號確定待測觸控電容的電容值，多個第二檢測信號可以提高待測觸控電容的電容值的檢測準確性，同時增加了檢測信號的冗余，提高了觸控電容的檢測電路的抗干擾能力。

技術特征：

1.一種觸控電容的檢測電路，其特征在于，包括控制單元、開關單元、第一檢測單元、第二檢測單元和檢測電容；

2.根據權利要求1所述的觸控電容的檢測電路，其特征在于，所述第二檢測單元包括放大模塊和模數轉換模塊；

3.根據權利要求2所述的觸控電容的檢測電路，其特征在于，還包括存儲單元；

4.根據權利要求1所述的觸控電容的檢測電路，其特征在于，所述第一檢測單元包括數模轉換模塊和比較模塊；

5.根據權利要求1所述的觸控電容的檢測電路，其特征在于，所述開關單元包括第一開關和第二開關；

6.根據權利要求5所述的觸控電容的檢測電路，其特征在于，所述開關單元還包括第三開關；

7.一種觸控電容的檢測方法，采用權利要求1-6任一項所述的觸控電容檢測電路執行，其特征在于，所述方法包括：

8.根據權利要求7所述的觸控電容的檢測方法，其特征在于，所述預設次數包括多個數值從小到大排列的第一預設次數至第n預設次數，其中，n為大于1的整數；在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數依次達到不同的預設次數時，控制第二檢測單元依次檢測檢測電容的電壓，形成多個第二檢測信號，包括：

9.根據權利要求8所述的觸控電容的檢測方法，其特征在于，在所述開關單元連通所述第一端和所述第三端的次數至一所述預設次數時，在獲取第一檢測單元輸出的第一檢測信號之后，還包括：

10.根據權利要求7所述的觸控電容的檢測方法，其特征在于，在控制開關單元交替連通第一端和第二端，以及所述第一端和第三端之前，還包括：

技術總結
本發明公開了一種觸控電容的檢測電路和檢測方法。該觸控電容的檢測電路包括控制單元、開關單元、第一檢測單元、第二檢測單元和檢測電容；控制單元用于控制開關單元交替連通第一端和第二端，以及第一端和第三端，并記錄開關單元連通第一端和第三端的次數；第一檢測單元和第二檢測單元均與控制單元和檢測電容連接，第一檢測單元用于檢測檢測電容的電壓，形成第一檢測信號；控制單元用于在開關單元連通第一端和第三端的次數依次達到不同的預設次數時控制第二檢測單元依次檢測檢測電容的電壓，形成多個第二檢測信號；控制單元還用于根據第一檢測信號和多個第二檢測信號確定待測觸控電容的電容值。可以提高觸控電容的檢測電路的抗干擾能力。

技術研發人員：廖巨華,張軍,李豐軍,林明忠,莊健
受保護的技術使用者：無錫英迪芯微電子科技股份有限公司
技術研發日：
技術公布日：2025/4/28