本發明涉及電力技術領域，具體涉及一種電力用溫度實時發射器和機構箱。

背景技術：

變電站隔離開關機構箱、斷路器機構箱、端子箱、匯控柜等，統稱為電力機構箱，在外界環境濕度較大或溫度變化時，容易發生凝露現象，導致凝露水珠的長期附著，造成二次設備絕緣降低或銹蝕、直流接地、機構卡澀、保護裝置誤動等后果，給電網安全運行帶來嚴重影響。

目前對于機構箱溫度的監測，依靠安裝在機構箱內部的驅潮加熱裝置，以保證箱內空氣干燥。然而驅潮加熱裝置由于長期加熱容易導致加熱板干燒損壞，針對這一問題，現有的主要采用人工現場目視檢查加紅外測溫進行定期檢查，會遺漏和延長故障排除時間。

技術實現要素：

為克服現有技術中的不足，本發明提供一種溫度實時發射器和電力機構箱，解決現有的用于檢測機構箱側板溫度需采用人工現場目視檢查加紅外線測溫定期檢查會造成遺漏和延長故障排除時間的問題。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案如下：

一種溫度實時發射器，其特征在于：包括硬質殼體，包裹于硬質殼體內的集成電路板，所述集成電路板上包括天線電路板、測溫元件、電源裝置和與天線電路板連接的置于硬質殼體外部的引出天線，所述測溫元件電源端和天線電路板的電源端并聯至與電源裝置正極連接，所述測溫元件接地端和天線電路板的接地端并聯至與電源裝置負極連接，所述天線電路板上包括單片機處理器、時間模塊和射頻模塊，所述單片機處理器分別與時間模塊和射頻模塊連接，所述測溫元件的輸出端與天線電路板的輸入端連接，所述測溫元件將所測的溫度數據進行AD轉換后經天線電路板傳輸至單片機處理器進行判斷后由射頻模塊發送溫度信號。

進一步的，殼體包括上蓋板、下底板和側板，所述側板置于上蓋板和下底板之間，板體間相互連接圍繞呈具有容置空間的封閉殼體。

進一步的，殼體高度為31mm，長度為40mm，寬度為20mm。

進一步的，還包括緊固件，所述緊固件將所述上蓋板與所述側板、所述下底板與所述側板間的連接鎖緊固定。

進一步的，電源裝置為電池。

一種電力機構箱，其特征在于：所述機構箱內具有上述中任意一項所述的溫度實時發射器。

由上述對本發明的描述可知，與現有技術相比，本發明的一種溫度實時發射器和電力機構箱具有以下優點：

1.該溫度實時發射器直接置于機構箱內，測溫時無需打開機構箱箱門，通過溫度實時發射器上的的測溫元件將所測的溫度數據進行AD轉換后經天線電路板傳輸至單片機處理器進行判斷后由射頻模塊發送溫度信號，可以對機構箱側板內的溫度進行實時監測，區別于現有的人工現場目視檢查加紅外線測溫定期檢查，不會造成遺漏，檢修效率高；

2.采用以上獨特的信號發射處理模式，降低發射頻率，降低系統功耗，延長電池壽命的目的；

3.本溫度實時發射器體積小，占用面積小，可以充分利用現有機構箱內部空間，無需改造機構箱。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖；

圖2為本發明的接線圖；

圖3為本發明的具有溫度實時發射器的機構箱結構示意圖。

具體實施方式

以下通過具體實施方式對本發明作進一步的描述。

參照圖1至圖3所示，一種溫度實時發射器，該溫度實時發射器置于電力機構箱內，包括硬質殼體1、包裹于硬質殼體1內的集成電路板2和緊固件3；

殼體1包括上蓋板11、下底板12和側板13，側板13置于上蓋板11和下底板12之間，板體間相互連接圍繞呈具有容置空間的封閉殼體，并通過緊固件3鎖緊固定，緊固件3為螺絲；

集成電路板2上包括天線電路板21、測溫元件22、電源裝置23和與天線電路板21連接的置于硬質殼體1外部的引出天線24；

天線電路板21上包括單片機處理器211、射頻模塊212和時間模塊213，單片機處理器211分別與射頻模塊212和時間模塊213連接；

測溫元件22為帶有AD轉換的熱敏電阻，測溫元件22的電源端和天線電路板21的電源端并聯至與電源裝置23正極連接，測溫元件22的接地端和天線電路板21的接地端并聯至與電源裝置23負極連接；測溫元件22的輸出端與天線電路板22的輸入端連接，以將通過AD轉換后的數據經輸入端提供給單片機處理器211由射頻模塊212發送溫度信號；

電源裝置23為電池。

上述的一種溫度實時發射器和電力機構箱，工作時，測溫元件22測得溫度信號后，經內部數模轉換，由輸出端輸出數字信號，經天線電路板21輸入端提供給單片機處理器211，單片機處理器211接收信號后，與之前的數值對比，差別小于設定溫度數值則替換數值后不予發射，差別大于設定溫度數值則通過射頻模塊212發送溫度信號，當時間模塊213達到設定延時后，不論測得的溫度為多少，都發送溫度信號，無需打開機構箱箱門，即可以對機構箱側板內的溫度進行實時監測，區別于現有的人工現場目視檢查加紅外線測溫定期檢查，不會造成遺漏，檢修效率高；采用獨特的信號發射處理模式，降低發射頻率，降低系統功耗，延長電池壽命的目的。

上述僅為本發明的若干具體實施方式，但本發明的設計構思并不局限于此，凡利用此構思對本發明進行非實質性的改動，均應屬于侵犯本發明保護范圍的行為。