用于發光二極管控制集成電路的保護電路的制作方法
【專利摘要】本發明提供一種用于發光二極管控制集成電路的保護電路。保護電路包含分壓電路以及降壓電路。分壓電路耦接于發光二極管集合的端點，用以根據端點的端點電壓產生分壓電壓。降壓電路耦接于分壓電路，用以降低分壓電路的分壓電壓。
【專利說明】用于發光二極管控制集成電路的保護電路

【技術領域】
[0001]本發明是關于一種用于發光二極管控制集成電路的保護電路。更具體地說，本發明的保護電路是用于先進制作工藝的多通道發光二極管控制集成電路。

【背景技術】
[0002]已知技術中，在片上系統(3781:6111 011 (^丨？)的集成度不斷地提升的情況下，大部分的多通道發光二極管的控制集成電路(匕仏取'社乂 011-01111:)已可直接集成于一般的片上系統制作工藝中。
[0003]然而，當采用先進制作工藝制作片上系統時(例如40納米制作工藝、28納米制作工藝等),將導致使用片上系統的裝置所能承受的電壓限制相對提升。因此，在裝置的發光二極管集合進行調暗((11皿1118 0^)或發光二極管集合的部份發光二極管發生故障，導致傳送至控制集成電路的電壓瞬間提升時，其所提升的電壓將超出利用先進制作工藝制作的片上系統所能承受的范圍，據此，已知的多通道發光二極管的控制集成電路并無法直接集成到利用先進制作工藝制作的片上系統中。
[0004]鑒于此，如何正確地將多通道發光二極管的控制集成電路集成到利用先進制作工藝制作的片上系統中，使其得以正常運作，是業界急需努力的目標。


【發明內容】

[0005]為解決上述問題，本發明提供了一種發光二極管控制集成電路的保護電路，其主要是通過降低輸入至控制集成電路的電壓的方式保護控制集成電路。
[0006]為完成上述目的，本發明提供一種用于發光二極管控制集成電路的保護電路。保護電路包含分壓電路以及降壓電路。分壓電路耦接于發光二極管集合的端點，用以根據端點的端點電壓產生分壓電壓。降壓電路耦接于分壓電路，用以降低分壓電路的分壓電壓。
[0007]通過上述所公開的技術特征，本發明的保護電路可根據發光二極管的電壓變化，進一步地降低輸入至控制集成電路的電壓，以達到保護控制集成電路的目的。在參考附圖以及隨后描述的實施方式后，本領域普通技術人員便可了解本發明的其它目的，以及本發明的技術手段及實施方式。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本發明的第一實施例的保護電路的示意圖；
[0009]圖2是本發明的第二實施例的保護電路的示意圖；
[0010]圖3是本發明的第三實施例的保護電路的示意圖；以及
[0011]圖4是本發明的第四實施例的保護電路的示意圖；

【具體實施方式】
[0012]以下將通過實施例來解釋本
【發明內容】
。然而，本發明的實施例并非用以限制本發明需在如實施例所述的任何環境、應用或方式才能實施。因此，關于實施例的說明僅為闡釋本發明的目的，而非用以直接限制本發明。需說明，以下實施例及圖示中，與本發明非直接相關的組件已省略而未示出。
[0013]參考圖1，其為本發明第一實施例的保護電路1的示意圖。保護電路1用于發光二極管控制集成電路2，包含設于發光二極管控制集成電路2外的分壓電路11以及設于發光二極管控制集成電路2內的降壓電路15。須特別說明，圖示部分已知的發光二極管裝置電路9中，本領域技術人員應可輕易地得知組件名稱及功能(如肖特基二極管、電容、電阻、電感、比較器及晶體管等已知組件)，并可理解其組成電路的功能。然由于其并非本發明主要的技術特征，因此不多贅述。本發明主要組件間的聯結關系將于下文中進行進一步闡述。
[0014]具體而言，本發明第一實施例主要是可在發光二極管集合3進行調暗叩0打)節能時，主動針對輸入至發光二極管控制集成電路2的電壓進行降壓。詳細來說，分壓電路11耦接于發光二極管集合3的端點31，并用以根據端點31的端點電壓V八產生分壓電壓乂021。此時，當發光二極管集合3運作正常時，發光二極管控制集成電路2可承受輸入的正常分壓電壓丁。
[0015]然而，當發光二極管集合3進行調暗節能時，將導致分壓電壓7021瞬間提升。據此，耦接于分壓電路11的降壓電路15便可主動地降低分壓電路15的分壓電壓7021，使得輸入至發光二極管集成電路2的分壓電壓7021不會超出發光二極管控制集成電路2所能承受的電壓值，以保護輸入至發光二極管控制集成電路2的引腳不會受到損壞。如此一來，保護電路1可通過主動調降輸入至發光二極管控制集成電路2的電壓，以在集成電路集成到先進制作工藝制作的片上系統時，達到保護發光二極管控制集成電路2的目的。
[0016]參考圖2，其為本發明第一實施例的保護電路1’的示意圖。其中，須特別說明，第二實施例中與先前實施例的電路架構相似，因此符號相同的組件功能也相同，在此不再贅述。而第二實施例與先前實施例的差異在于，保護電路1’進一步包含設于發光二極管控制集成電路2內的檢測電路13。
[0017]具體而言，本發明第二實施例主要是通過檢測電路13，判斷輸入至發光二極管控制集成電路2的電壓是否異常提升，若是，則降低輸入電壓以保護發光二極管控制集成電路2。同樣地，分壓電路11耦接于發光二極管集合3的端點31，并用以根據端點31的端點電壓#產生分壓電壓7021。此時，當發光二極管集合3運作正常時，發光二極管控制集成電路2可承受輸入的正常分壓電壓702丁。
[0018]然而，當發光二極管集合3中有發光二極管發生故障，導致分壓電壓7021瞬間提升時，耦接于分壓電路11的檢測電路13將可以根據瞬間提升的分壓電壓7021產生檢測信號130，并將檢測信號130傳送至降壓電路15。換言之，當檢測電路13判斷分壓電壓乂02丁大于標準電壓(即發光二極管控制集成電路2集成于先進制作工藝制作的片上系統后所能承受的電壓)時，便將檢測信號130傳送至降壓電路15。
[0019]隨即，耦接于分壓電路11以及檢測電路13的降壓電路15，將可根據檢測信號130降低分壓電路15的分壓電壓7021，使得輸入至發光二極管集成電路2的分壓電壓7021'不會超出發光二極管控制集成電路2所能承受的電壓值，以保護7021輸入至發光二極管控制集成電路2的引腳不會受到損壞。如此一來，保護電路1可通過檢測發光二極管異常引發的電壓變化，進一步地降低輸入至發光二極管控制集成電路2的電壓，以在集成電路集成到先進制作工藝制作的片上系統時，達到保護發光二極管控制集成電路2的目的。
[0020]參考圖3，其為本發明第三實施例的保護電路1’’的示意圖。其中，須特別說明，第三實施例中與先前實施例的電路架構相似，因此符號相同的組件功能也相同，在此不再贅述。而第三實施例主要是詳述:(1)分壓電路以及降壓電路的可能實施方式；以及(2)利用控制電路控制發光二極管集合傳輸至分壓電路的電流。
[0021]具體而言，分壓電路11進一步包含第一電阻町以及第二電阻以。其中，第一電阻尺1具有第一端點1*1以及第二端點1*2，第二電組以具有第三端點1*3以及第四端點1*4。如圖所示，第一端點4耦接至發光二極管集合3，第二端點1*2耦接至第三端點1*3、檢測電路13以及降壓電路15，第四端點1*4耦接至共同接點0011。如此一來，分壓電路11將可根據端點電壓1產生分壓電壓丁。
[0022]此外，降壓電路15進一步包含開關組件151。如圖所示，開關組件151耦接于分壓電路11、檢測電路13以及共同接點0012。而當檢測信號130傳送至降壓電路15的開關組件151時，開關組件15將據以導通分壓電路11至共同接點(1)12,如此一來，將可降低分壓電路11的分壓電壓7021。須特別強調，開關組件151可為晶體管，然并非用以限制開關組件的實施方式。
[0023]另一方面，保護電路1’’進一步包含控制電路17，耦接于發光二極管集合3的端點31，用以控制通過發光二極管3的電流。更詳細地說，控制電路17包含設于發光二極管控制集成電路2外的第一開關組件171、反饋電阻8?以及設于發光二極管控制集成電路2內的運算放大器175。反饋電阻8?包含第一端點以以及第二端點4，運算放大器175包含第一接收端化1、第二接收端化2以及輸出端0此。同樣地，第一開關組件171可為晶體管，然并非用以限制開關組件的實施方式。
[0024]如圖所示，第一開關組件171耦接于發光二極管集合3的端點31、反饋電阻8?的第一端點以及運算放大器175的輸出端0111:，運算放大器175的第一接收端1=1 I禹接于反饋電阻0?的第一端點以，運算放大器的第二接收端1112 I禹接于參考電壓端點1*6？，反饋電阻8?的第二端點耦接于共同接點0011。如此一來，將可通過控制電路17控制通過發光二極管3的電流。
[0025]而同樣地，當發光二極管集合3進行調暗或發光二極管集合3中有發光二極管發生故障時，需要保證在控制電路17中，輸入至發光二極管控制集成電路2的電壓低于發光二極管控制集成電路2所能承受的電壓值，因此，控制電路17進一步可包含設于發光二極管控制集成電路2內的第二開關組件173，用以降低控制電路17中輸入至發光二極管控制集成電路2的電壓。
[0026]具體而言，第二開關組件173耦接于運算放大器175的輸出端0此、檢測電路13以及共同接點0013，當檢測電路13判斷V八值過高時(可通過7021、1？1以及以得到V八值)，檢測電路13的檢測信號130同樣傳送至第二開關組件173，據此，開關組件173便根據檢測信號130導通運算放大器175的輸出端0機至共同接點(1)13,如此一來，將可確保控制電路17中，輸入至發光二極管控制集成電路3的電壓以及低于發光二極管控制集成電路3所能承受的電壓值，以保護以及輸入至發光二極管控制集成電路2的引腳不會受到損壞。
[0027]參考圖4，其為本發明第四實施例的保護電路的示意圖，主要是用以示出本發明的保護電路如何應用于多信道發光二極管集合。如圖所示，各發光二極管集合都具有一組相對應的保護電路，而每組保護電路都可通過分壓電路、檢測電路、降壓電路以及控制電路，完成降低輸入至發光二極管控制集成電路的過高電壓，以確保發光二極管裝置整體電路正常運作。須特別說明，如圖所示，第四實施例的多組保護電路可共享同一檢測電路。然由于此種檢測電路設置方式為已知技術，因此不再贅述。
[0028]綜上所述，本發明的保護電路可主動針對輸入至發光二極管控制集成電路的電壓進行降壓，或通過檢測發光二極管異常引發的電壓變化，進一步地降低輸入至控制集成電路的電壓，以在集成電路集成到先進制作工藝制作的片上系統時，達到保護發光二極管控制集成電路的目的。
【權利要求】
1.一種用于發光二極管控制集成電路的保護電路，包含: 分壓電路，耦接于發光二極管集合的端點，用以根據所述端點的端點電壓產生分壓電壓；以及 降壓電路，耦接于所述分壓電路，用以降低所述分壓電路的所述分壓電壓； 其中，所述分壓電路設置于所述發光二極管控制集成電路外，所述降壓電路設置于所述發光二極管控制集成電路內。
2.根據權利要求1所述的保護電路，進一步包含: 檢測電路，耦接于所述分壓電路以及所述降壓電路，用以根據所述分壓電壓產生檢測信號; 其中，所述降壓電路進一步用以根據所述檢測信號，降低所述分壓電路的所述分壓電壓，所述檢測電路設置于所述發光二極管控制集成電路內。
3.根據權利要求2所述的保護電路，其中，所述檢測電路是用以在判斷所述分壓電壓大于標準電壓后，產生所述檢測信號。
4.根據權利要求2所述的保護電路，其中，所述分壓電路進一步包含: 第一電阻，具有第一端點以及第二端點； 第二電阻，具有第三端點以及第四端點； 其中，所述第一電阻的所述第一端點耦接至所述發光二極管集合，所述第一電阻的所述第二端點耦接至所述第二電阻的所述第三端點、所述檢測電路以及所述降壓電路，所述第二電阻的所述第四端點耦接至共同接點。
5.根據權利要求2所述的保護電路，其中，所述降壓電路進一步包含: 開關元件，耦接于所述分壓電路、所述檢測電路以及共同接點，用以根據所述檢測信號導通所述分壓電路至所述共同接點，以降低所述分壓電路的所述分壓電壓。
6.根據權利要求5所述的保護電路，其中，所述開關元件為晶體管。
7.根據權利要求2所述的保護電路，進一步包含: 控制電路，耦接于所述發光二極管集合的所述端點，用以控制通過所述發光二極管集合的電流。
8.根據權利要求7所述的保護電路，其中，所述控制電路進一步包含: 第一開關元件； 反饋電阻，包含第一端點以及第二端點； 運算放大器，包含第一接收端、第二接收端以及輸出端； 其中，所述第一開關元件耦接于所述發光二極管集合的所述端點、所述反饋電阻的所述第一端點以及所述運算放大器的所述輸出端，所述運算放大器的所述第一接收端耦接于所述反饋電阻的所述第一端點，所述運算放大器的所述第二接收端耦接于參考電壓端點，所述反饋電阻的所述第二端點耦接于第一共同接點。
9.根據權利要求8所述的保護電路，進一步包含: 第二開關元件，耦接于所述運算放大器的所述輸出端、所述檢測電路以及第二共同接點，用以根據所述檢測信號導通所述運算放大器的所述輸出端至所述第二共同接點。
10.根據權利要求9所述的保護電路，其中，所述第一開關元件以及所述反饋電阻設置于所述發光二極管控制集成電路外，所述運算放大器以及所述第二開關元件設置于所述發光二極管控制集成電路內。
11.根據權利要求8所述的保護電路，其中，所述第一開關元件為晶體管。
【文檔編號】H05B37/02GK104427680SQ201310369627
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月22日 優先權日:2013年8月22日
【發明者】鄧歡, 杜全平 申請人:瑞昱半導體股份有限公司