技術編號：41774796
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明涉及測試，尤其涉及一種存儲器測試裝置及測試方法。背景技術、隨著電子產品的普及和各種數據云的發展，電子產品中使用到的集成電路種類也逐漸增多，使得在對電子產品的開發過程中，經常會需要對電子產品中涉及的多種集成電路進行適配、驗證。、對于比較簡單的集成電路封裝，基本都可以用風槍或者烙鐵自行焊接以進行適配、驗證，但對于比較復雜的集成電路封裝，如dram（dynamic?random?access?memory，動態隨機存取存儲器）這一類bga（ball?grid?array，球柵陣列封裝）封裝的...
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