技術編號：41775202
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明總體上涉及提供一種處理在連續粉塵監測裝置的粉塵過濾器上收集的粉塵以用于后續ftir或xrd分析的方法。本發明還涉及一種通過ftir或xrd分析來分析在連續粉塵監測裝置的粉塵過濾器上收集的粉塵的方法，特別是確定粉塵的結晶二氧化硅含量。本發明特別適用于分析由包含錐形元件振蕩微量天平(teom)的個人粉塵監測器(pdm)收集的粉塵，并且結合該示例性實施方式公開本發明將是便利的。背景技術、暴露于可吸入結晶二氧化硅(rcs)被公認為是矽肺和肺癌的危險因素。因此，在諸如煤礦等存在rcs危害的工業工作...
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