技術(shù)特征:1.一種估計(jì)植入磁體上方的皮膚厚度的方法,包括:定義一平面,其與植入磁體上方的患者皮膚垂直,通過(guò)x和y軸坐標(biāo)表示;使用患者皮膚上的磁傳感器的陣列測(cè)量該植入磁體的磁場(chǎng)強(qiáng)度;根據(jù)測(cè)量的磁場(chǎng)強(qiáng)度,確定該陣列上測(cè)量的磁場(chǎng)強(qiáng)度的y軸分量為零處的至少一個(gè)y軸零點(diǎn)位置在該平面中的至少一個(gè)x軸坐標(biāo);以及將該至少一個(gè)y軸零點(diǎn)的y軸坐標(biāo)計(jì)算為該至少一個(gè)x軸坐標(biāo)的函數(shù),以使得該y軸坐標(biāo)代表該植入磁體上方的皮膚厚度。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,確定兩個(gè)y軸零點(diǎn)位置的x軸坐標(biāo)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,使用一維傳感器陣列測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中,在進(jìn)行磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)量之前通過(guò)用戶(hù)交互對(duì)齊傳感器陣列。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中,在進(jìn)行磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)量之前對(duì)齊傳感器陣列而無(wú)需用戶(hù)交互。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,使用二維傳感器陣列測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,計(jì)算y軸坐標(biāo)進(jìn)一步是磁偶極矩旋轉(zhuǎn)角度的函數(shù)。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,基于迭代計(jì)算過(guò)程計(jì)算y軸坐標(biāo)。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,基于三角法計(jì)算過(guò)程計(jì)算y軸坐標(biāo)。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,基于非三角法計(jì)算過(guò)程計(jì)算y軸坐標(biāo)。11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,基于單步非迭代計(jì)算過(guò)程計(jì)算y軸坐標(biāo)。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其中,基于角度的逆映射計(jì)算y軸坐標(biāo)。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其中,基于多項(xiàng)式函數(shù)計(jì)算該逆映射。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其中,該多項(xiàng)式函數(shù)基于至少兩個(gè)x坐標(biāo)的比率。