一種顯示裝置及其像素單元的缺陷修復方法
【專利摘要】本發明公開了一種顯示裝置以及像素單元缺陷修復方法，包括設置于襯底上的彼此交叉的掃描線和數據線以及像素單元，所述像素單元包括驅動電路和有機發光器件，在襯底上方的遮光層沿所述數據線或者所述掃描線方向設有修復線，所述修復線上方布設金屬跨接區，所述修復線與金屬跨接區用于斷開故障像素單元內的驅動電路后接入正常同色像素單元的驅動信號。本發明在不更換掩膜版的基礎上，用遮光層和柵極金屬層做預留的修復線路，將驅動電路故障的有機發光器件與正常同色像素單元的有機發光器件并聯，使點的像素缺點變得不明顯，可以修復任何驅動電路故障引起的像素缺陷。
【專利說明】一種顯示裝置及其像素單元的缺陷修復方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及OLED顯示【技術領域】，尤其涉及一種顯示裝置及其像素單元的缺陷修復方法。
【背景技術】
[0002]顯示面板由眾多的顯示點組成，靠每個顯示點上的液晶材料在電信號控制下改變光的透過量成像。例如，在一個分辨率為1024X768的顯示面板中有786432個顯示點，在顯示面板陣列基板一側，每個顯示點都對應有三個像素；在顯示面板彩色濾光膜基板一側，分別對應著紅R、綠G、藍B三種濾光單元，每個濾光單元對應一個像素。顯示面板中的點以及對應這些點的驅動部分、背光部分等結構的任何一處發生問題，就會使這個像素成為一個點缺陷，點缺陷就是顯示板上不可修復的像素。
[0003]如圖1所示，每個顯示點包含橫向的R、G、B三個像素單元，每一列為同色像素單元，如果紅色像素單元的驅動電路出現故障或者異常，則該顯示點的紅色顯示出現異常，進而導致該顯示點顏色異常。
[0004]現有的修復上述缺陷的方案包括在每個像素的驅動電路中預設備用的薄膜晶體管，當驅動電路中的薄膜晶體管出現故障時，激光切斷所述故障的薄膜晶體管并連接所述備用薄膜晶體管以修復故障像素單元。該方案會增加制程工藝并且只能解決晶體管故障引起的像素缺陷，對因驅動電路其他部分的故障引起的缺陷不能有效進行修復。

【發明內容】

[0005]本發明的目的在于提出一種顯示裝置及其像素單元的缺陷修復方法，用遮光層和柵極金屬層做預留的修復線路，將驅動電路故障的有機發光器件與正常同色像素單元的有機發光器件并聯，使點的像素缺點變得不明顯。
[0006]為達此目的，本發明采用以下技術方案:
[0007]—種顯示裝置，包括設置于襯底上的彼此交叉的掃描線和數據線以及像素單元，所述像素單元包括驅動電路和有機發光器件，
[0008]在襯底上方的遮光層沿所述數據線或者所述掃描線方向設有修復線，所述修復線上方布設金屬跨接區，所述修復線與金屬跨接區用于斷開故障像素單元內的驅動電路后接入正常同色像素單元的驅動信號。
[0009]所述有機發光器件為頂發射有機發光器件。
[0010]所述金屬跨接區布設于柵極金屬層。
[0011 ] 所述正常同色像素單元為相鄰的同色像素單元。
[0012]沿所述數據線方向每兩個或者三個相鄰像素單元設有一條修復線以及與每個所述相鄰像素單元對應的金屬跨接區。
[0013]所述像素單元的驅動電路為激光可熔斷型。
[0014]一種像素單元缺陷修復的方法，該方法包括:[0015]沿數據線或者掃描線方向在遮光層預設修復線，在所述遮光層上方的柵極金屬層預設金屬跨接區；
[0016]切斷缺陷像素單元的驅動電路；
[0017]通過所述修復線和金屬跨接區引入正常同色像素單元的驅動信號修復所述缺陷像素單元。
[0018]所述像素單元的驅動電路為激光可熔斷型。
[0019]在所述修復線與金屬跨接區的交叉部進行激光熔接，引入所述正常的同色像素單元的驅動信號。
[0020]當所述像素單元中的有機發光器件為頂發射有機發光器件時，從所述像素單元發光側的相反一側進行激光熔接修復。
[0021 ] 所述正常的同色像素單元為相鄰的同色像素單元。
[0022]沿所述數據線方向每兩個或者三個相鄰像素單元預設一條修復線以及與每個所述相鄰像素單元對應的金屬跨接區。
[0023]采用本發明的技術方案，在不更換掩膜版的基礎上，用遮光層和柵極金屬層做預留的修復線路，將驅動電路故障的有機發光器件與正常同色像素單元的有機發光器件并聯，使點的像素缺點變得不明顯，可以修復任何驅動電路故障引起的像素缺陷，而不僅局限于修復晶體管故障導致的缺陷。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0024]圖1是現有的顯示裝置內部像素單元結構示意圖。
[0025]圖2是本發明實施例一提供的顯示裝置內部像素單元結構示意圖。
[0026]圖3是本發明實施例一的顯示裝置進行像素缺陷修復時的示意圖。
[0027]圖4是本發明實施例二提供的顯示裝置內部像素單元結構示意圖。
[0028]圖5是本發明實施例二的顯示裝置進行像素缺陷修復時的示意圖。
[0029]圖6是本發明實施例提供的像素單元缺陷修復方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0030]下面結合附圖并通過【具體實施方式】來進一步說明本發明的技術方案。
[0031]圖2是本發明實施例一提供的顯示裝置的結構示意圖，該顯示裝置包括掃描線、數據線以及像素單元，每個像素單元包括驅動單元和有機發光器件，所述驅動電路的輸出端與有機發光器件的輸入端連接，用于驅動所述有機發光二極管進行照明。
[0032]在所述顯示裝置中，沿掃描線方向布設有修復線Ml、M2和M3，使用襯底上方的遮光層金屬通過掩膜版來布設所述修復線。在所述修復線上方布設金屬跨接區N，所述金屬跨接區布設于柵極金屬層，該層同時還用作TFT柵極以及柵極掃描線，所述金屬跨接區與柵極以及柵極掃描線絕緣。在制程過程中，首先同時形成遮光層以及所述修復線，在所述遮光層以及修復線之上再依次形成保護層以及絕緣層，然后在絕緣層之上形成柵極金屬層的同時形成所述金屬跨接區。
[0033]沿掃描線方向布設的三條修復線Ml、M2和M3，分別用于修復R、G、B三種顏色顯示像素的電路缺陷。例如，如圖3所示，修復線Ml用于修復紅色顯示像素的電路缺陷，當S (n-1)掃描線所在Rl列的紅色顯示像素的驅動電路出現故障時，該紅色像素顯示出現異常，則從圖3中A處采用激光熔斷的方式切斷該像素驅動電路與有機反光器件的連接，再分別在修復線Ml與Rl列像素單元金屬跨接區N的交叉部Pl和修復線Ml與Rn列像素單元金屬跨接區的交叉部Pn處進行激光熔接，將正常工作的Rn列的紅色顯示像素的驅動信號接入Rl列的有機發光器件，使位于同一掃描線S (η-1)的Rl列有機發光器件與Rn列的有機發光器件并聯，以修復該故障的紅色顯示像素，使該點的紅色顯示缺陷不明顯。同理綠色與藍色像素修復方式與上述相同，但要分別在其他修復線上進行激光熔接，為故障像素單元接入正常的同色像素單元的驅動信號。
[0034]而故障點與相鄰顯示點之間的同色像素顯示更加接近，因此優選接入相鄰的同色像素單元的驅動信號，能更好的彌補故障點的顯示缺陷。例如，圖3中從A處切斷故障驅動電路后，在修復線Ml與Rl列像素單元金屬跨接區N的交叉部Pl和修復線Ml與R2列像素單元金屬跨接區的交叉部P2處進行激光熔接，接入與故障的Rl列像素單元相鄰的R2列像素單元的驅動信號。
[0035]因此在另一優選實施例中，沿掃描線方向為每兩個或者三個顯示點布設修復線以及與每個所述相鄰顯示點中的R、G、B像素單元對應的金屬跨接區，使沿掃描線方向上相鄰的顯示點可以互相進行同色像素的修復。
[0036]圖2是本發明實施例二提供的顯示裝置的結構示意圖，該顯示裝置同樣包括掃描線、數據線以及像素單元，每個像素單元包括驅動單元和有機發光器件，所述驅動電路的輸出端與有機發光器件的輸入端連接。
[0037]在實施例二所述的顯示裝置中，沿數據線方向布設有修復線M，同樣使用襯底上方的遮光層金屬通過掩膜版來布設所述修復線，所述修復線上方布設金屬跨接區N，所述金屬跨接區布設于柵極金屬層，該層同時還用作TFT柵極以及柵極掃描線，所述金屬跨接區與柵極以及柵極掃描線絕緣。
[0038]沿數據線方向布設的掃描線經過所在列的所有同色像素單元。例如，如圖5所示，在Rl —列，當掃描線SI下的紅色像素單元驅動電路故障時，其所在顯示點的紅色顯示出現異常，則從圖5中A處采用激光熔斷的方式切斷該像素單元驅動電路與有機反光器件的連接，分別在修復線M與掃描線SI下Rl列的像素單元金屬跨接區N的交叉部Pl和修復線M與掃描線Sn下Rl列的像素單元金屬跨接區的交叉部Pn處進行激光熔接，將正常工作的掃描線Sn下Rl列的像素單元驅動信號接入到掃描線SI下Rl列的有機發光器件，即將Rl列的掃描線Sn下的有機發光器件與掃描線SI下的有機發光器件并聯，以修復該故障的紅色顯示像素，使該點的紅色顯示缺陷不明顯。同理綠色與藍色像素修復方式與上述相同，但要分別在綠色與藍色像素單元所在列的修復線上進行激光熔接。
[0039]同樣，優選接入相鄰的同色像素單元的驅動信號，能更好的彌補故障點的顯示缺陷。例如，圖5中從A處切斷故障驅動電路后，在修復線M與掃描線SI下Rl列的像素單元金屬跨接區N的交叉部Pl和修復線M與掃描線S2下Rl列的像素單元金屬跨接區的交叉部Pn處進行激光熔接，接入與故障的Rl列像素單元相鄰的R2列像素單元的驅動信號。
[0040]因此在另一優選實施例中，沿數據線方向為每兩個或者三個像素單元布設修復線以及與每個所述相鄰像素單元對應的金屬跨接區，使沿數據線方向上相鄰的同色像素單元可以互相進行像素缺陷的修復。[0041 ] 在本發明上述實施例中，各像素單元中的有機發光器件可以是底發射有機發光或者頂發射有機發光器件。如果是底發射有機發光器件，則由于布設修復線及金屬跨接區，使從底部玻璃基板的出光量減少，會降低像素單元開口率；如果是頂發射有機發光器件，布設的修復線與金屬跨接區在底部，不影響像素單元頂部玻璃基板的出光量，不會對像素單元開口率造成影響，因此像素單元中的有機發光器件優選為頂發射有機發光器件。
[0042]根據上述實施例，本發明還提供了一種像素單元缺陷修復方法，如圖6所示，該方法包括:
[0043]S601，沿數據線或者掃描線方向在遮光層預設修復線，在所述遮光層上方的柵極金屬層預設金屬跨接區。
[0044]使用襯底上方的遮光層金屬通過掩膜版來布設所述修復線，所述修復線上方布設金屬跨接區N，所述金屬跨接區布設于柵極金屬層，該層同時還用作TFT柵極以及柵極掃描線，所述金屬跨接區與柵極以及柵極掃描線絕緣。在制程過程中，首先同時形成遮光層以及所述修復線，在所述遮光層以及修復線之上再依次形成保護層以及絕緣層，然后在絕緣層之上形成柵極金屬層的同時形成所述金屬跨接區。
[0045]在沿所述掃描線方向布設修復線時，可以將這一行所有顯示點的像素單元相連，也可以每兩個或者三個顯示點布設一組修復線。同時對應每個像素單元布設一金屬跨接區。
[0046]在沿所述數據線方向布設修復線時，可以將這一列所有的同色像素單元相連，也可以每兩個或者三個同色像素單元布設一組修復線。同時對應每個像素單元布設一金屬跨接區。
[0047]S602,切斷缺陷像素單元的驅動電路。
[0048]當某個像素單元因驅動電路故障出現顯示異常時，通過激光熔斷的方式切斷所述故障像素單元中驅動電路與有機發光器件的連接。直接切斷驅動電路與有機發光器件的連接，可用于修復因任何驅動電路故障而導致的像素顯示缺陷，而不僅僅局限與驅動電路中薄膜晶體管故障引起的像素顯示缺陷。
[0049]S603，通過所述修復線和金屬跨接區引入正常同色像素單元的驅動信號修復所述缺陷像素單元。
[0050]在所述修復線與金屬跨接區的交叉部進行激光熔接，引入所述正常的同色像素單元的驅動信號，優選為引入正常的相鄰同色像素單元驅動信號，能夠達到更加的修復效果。
[0051]所述像素單元中的有機發光器件優選使用頂發射有機發光器件，在像素單元底部布設所述修復線、金屬跨接區并進行熔接修復不會影響頂部玻璃基板的出光量，保證了像素單元原有的開口率且具有更長使用壽命。如果使用底發射有機發光器件，會降低器件的開口率，但封裝工藝相對頂發射器件要簡單。
[0052]本發明在不更換掩膜版的基礎上，用遮光層和柵極金屬層做預留的修復線路，將驅動電路故障的有機發光器件與正常同色像素單元的有機發光器件并聯，使點的像素缺點變得不明顯，可以修復任何驅動電路故障引起的像素缺陷，而不僅局限于修復晶體管故障導致的缺陷。
[0053]以上所述，僅為本發明較佳的【具體實施方式】，但本發明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉該技術的人在本發明所揭露的技術范圍內，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護范圍之內。因此，本發明的保護范圍應該以權利要求的保護范圍為準。
【權利要求】
1.一種顯示裝置，包括設置于襯底上的彼此交叉的掃描線和數據線以及像素單元，所述像素單元包括驅動電路和有機發光器件，其特征在于， 在襯底上方的遮光層沿所述數據線或者所述掃描線方向設有修復線，所述修復線上方布設金屬跨接區，所述修復線與金屬跨接區用于斷開故障像素單元內的驅動電路后接入正常同色像素單元的驅動信號。
2.如權利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述有機發光器件為頂發射有機發光器件。
3.如權利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，所述金屬跨接區布設于柵極金屬層。
4.如權利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述正常同色像素單元為相鄰的同色像素單元。
5.如權利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，沿所述數據線方向每兩個或者三個相鄰像素單元設有一條修復線以及與每個所述相鄰像素單元對應的金屬跨接區。
6.如權利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述像素單元的驅動電路為激光可熔斷型。
7.一種像素單元缺陷修復的方法，其特征在于，該方法包括: 沿數據線或者掃描線方向在遮光層預設修復線，在所述遮光層上方的柵極金屬層預設金屬跨接區； 切斷缺陷像素單元的驅動電路； 通過所述修復線和金屬跨接區引入正常同色像素單元的驅動信號修復所述缺陷像素單元。
8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述像素單元的驅動電路為激光可熔斷型。
9.如權利要求7所述的方法，其特征在于，在所述修復線與金屬跨接區的交叉部進行激光熔接，引入所述正常的同色像素單元的驅動信號。
10.如權利要求9所述的方法，其特征在于，當所述像素單元中的有機發光器件為頂發射有機發光器件時，從所述像素單元發光側的相反一側進行激光熔接修復。
11.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述正常的同色像素單元為相鄰的同色像素單元。
12.如權利要求7所述的方法，其特征在于，沿所述數據線方向每兩個或者三個相鄰像素單元預設一條修復線以及與每個所述相鄰像素單元對應的金屬跨接區。
【文檔編號】G09G3/32GK103810965SQ201210442994
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2012年11月7日 優先權日:2012年11月7日
【發明者】蔡韜, 田凱, 郭峰 申請人:上海天馬微電子有限公司