本發(fā)明涉及顯示屏測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種顯示屏閃爍測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

隨著手機(jī)及平板的顯示屏所占的比例越來越大，使得顯示屏的顯示效果受到了越來越多的重視。為了追求較好的體驗(yàn)效果，用戶希望顯示屏的視角更寬，對(duì)比度更高，屏幕更加清晰，畫面flicker(閃爍)更小，由于當(dāng)畫面閃爍變大時(shí)，則會(huì)直接影響顯示屏的清晰度。而當(dāng)畫面閃爍足夠小時(shí)，則顯示屏呈現(xiàn)的畫面如一幅靜止的畫面，用戶體驗(yàn)感較好。因此，flicker目前成為一備受關(guān)注的指標(biāo)。

顯示屏畫面的顯示，是通過lcd(liquidcrystaldisplay，簡(jiǎn)稱液晶顯示器)中液晶的翻轉(zhuǎn)使光線透過得以實(shí)現(xiàn)。而光的透過率與液晶翻轉(zhuǎn)的角度有關(guān)，lcd通過液晶的翻轉(zhuǎn)角度來實(shí)現(xiàn)一個(gè)畫面的灰度效果表示。即當(dāng)顯示某個(gè)靜態(tài)畫面時(shí)，則液晶會(huì)保持翻轉(zhuǎn)角度不變。而為了防止液晶被極化，所以實(shí)現(xiàn)液晶翻轉(zhuǎn)的電場(chǎng)并不是直流電場(chǎng)，而是正負(fù)半周時(shí)間相同，幅值相同的交流電場(chǎng)，從而使得液晶在一個(gè)交流電場(chǎng)中，保持一個(gè)固定的翻轉(zhuǎn)角度，從而控制顯示flicker盡可能小。

通常lcd每次完成一幀的掃描，則電場(chǎng)會(huì)變換一次，然而在實(shí)際情況中，使液晶翻轉(zhuǎn)角度的正負(fù)電場(chǎng)，通常無法保證完全一樣，而當(dāng)液晶在這兩個(gè)電場(chǎng)中的翻轉(zhuǎn)角度不同時(shí)，flicker就產(chǎn)生了。為了使得每個(gè)顯示屏都能夠獲得最小的flicker，現(xiàn)在各個(gè)模組廠都會(huì)對(duì)生產(chǎn)的每一個(gè)顯示屏，進(jìn)行flicker的otp(one-timepassword，也稱動(dòng)態(tài)口令)燒錄，通過更改vcom電壓(公共電壓)寄存器的設(shè)置，尋找每個(gè)顯示屏最合適的vcom電壓，并將該最佳設(shè)置，燒錄固化到驅(qū)動(dòng)ic芯片內(nèi)部。顯示屏每次顯示均會(huì)調(diào)用之前燒錄的值，以獲得該顯示屏的最佳flicker。

每個(gè)顯示屏都需要做這樣的燒錄，每個(gè)顯示屏的燒錄時(shí)間，目前各個(gè)模組廠的時(shí)間是在18～25s，其中12～15s左右的時(shí)間是在尋找最佳vcom電壓值的過程中。然而，尋值的范圍設(shè)置得過小，則可能會(huì)造成無法找到最佳值；而尋值范圍設(shè)置過大，則會(huì)造成尋值時(shí)間變長(zhǎng)；而自適應(yīng)的尋值范圍，容易出現(xiàn)bug，導(dǎo)致尋值異常。而現(xiàn)有技術(shù)中無論采用分割法、模擬曲線以及循環(huán)找值等尋值方式，其都很難縮短燒錄時(shí)間。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，有必要針對(duì)顯示屏閃爍測(cè)試方法中對(duì)于最佳公共電壓值尋找時(shí)間久的問題，提供一種能夠減少尋找最佳公共電壓值的時(shí)間的顯示屏閃爍測(cè)試方法。

一種顯示屏閃爍測(cè)試方法，包括如下步驟：

獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組，所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中包含多個(gè)公共電壓值；

獲取所述公共電壓數(shù)組中采集頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值；

根據(jù)所述預(yù)判值對(duì)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試，獲取所述顯示屏的閃爍值；

將所述閃爍值分別與第一預(yù)設(shè)閾值以及第二預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行對(duì)比；

當(dāng)所述閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上；

當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取多個(gè)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值的閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值，根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片；

當(dāng)所述閃爍值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組內(nèi)的各所述公共電壓值分別對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的步驟包括：

基于若干公共電壓值分別對(duì)顯示屏進(jìn)行屏幕閃爍測(cè)試，獲得多個(gè)閃爍值；

獲取閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值兩倍的對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述公共電壓值，根據(jù)多個(gè)所述公共電壓值生成所述公共電壓數(shù)組。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述獲取所述公共電壓數(shù)組中產(chǎn)生頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值的步驟之后還包括：

檢測(cè)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量，當(dāng)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量為一個(gè)時(shí)，則將所獲取的一個(gè)所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述獲取所述公共電壓數(shù)組中產(chǎn)生頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值的步驟還包括：

當(dāng)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量為多個(gè)時(shí)，以頻率最高的多個(gè)所述公共電壓值的平均值作為所述預(yù)判值。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述當(dāng)所述閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上的步驟之后還包括：

將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片的步驟之后還包括：

將所述公共電壓值存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述顯示屏閃爍測(cè)試方法還包括：當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取所述公共電壓值的取值范圍，基于所述取值范圍以及預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取多個(gè)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值兩倍的閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值，根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述顯示屏閃爍測(cè)試方法還包括：當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取與所述閃爍值對(duì)應(yīng)的兩個(gè)對(duì)稱的公共電壓值，分別對(duì)所述兩個(gè)對(duì)稱公共電壓值加減電壓值，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述顯示屏閃爍測(cè)試方法還包括：當(dāng)所述閃爍值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的順序，依序從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取所述公共電壓值，逐一根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，直至獲取最小閃爍值，將所述最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述顯示屏閃爍測(cè)試方法還包括：存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的所述公共電壓值的順序越靠前，則從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取的所述公共電壓值的順序越靠前。

上述顯示屏閃爍測(cè)試方法，通過在包含多個(gè)公共電壓值的所述獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中，獲取產(chǎn)生頻率最高的一個(gè)或幾個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值。從而使得尋找最佳公共電壓的范圍得到有效縮小。并根據(jù)所述預(yù)判值對(duì)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試，獲取所述顯示屏的閃爍值，通過對(duì)所述閃爍值與第一預(yù)設(shè)閾值以及第二預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行對(duì)比得到最小閃爍值所對(duì)應(yīng)的公共電壓值。從而使得檢測(cè)獲取最佳公共電壓值的時(shí)間得到縮短，從而有效提高了檢測(cè)效率，降低了測(cè)試顯示屏的屏幕閃爍的時(shí)間成本。并且該方法為通用型，可運(yùn)用于大多數(shù)顯示屏項(xiàng)目，以減小燒錄時(shí)間，提高生產(chǎn)效率，降低產(chǎn)品成本。

附圖說明

圖1為一實(shí)施例的顯示屏閃爍測(cè)試流程圖；

圖2為另一實(shí)施例的顯示屏閃爍測(cè)試流程圖；

圖3為一實(shí)施例的預(yù)設(shè)的閃爍值-公共電壓值的閃爍曲線圖；

圖4為一實(shí)施例的傳統(tǒng)顯示屏閃爍測(cè)試流程圖。

具體實(shí)施方式

為了便于理解本發(fā)明，下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本發(fā)明的較佳實(shí)施方式。但是，本發(fā)明可以以許多不同的形式來實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施方式。相反地，提供這些實(shí)施方式的目的是使對(duì)本發(fā)明的公開內(nèi)容理解的更加透徹全面。

需要說明的是，當(dāng)元件被稱為“設(shè)置于”另一個(gè)元件，它可以直接在另一個(gè)元件上或者也可以存在居中的元件。當(dāng)一個(gè)元件被認(rèn)為是“連接”另一個(gè)元件，它可以是直接連接到另一個(gè)元件或者可能同時(shí)存在居中元件。本文所使用的術(shù)語(yǔ)“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“頂部”、“底部”、“底端”、“頂端”以及類似的表述只是為了說明的目的，并不表示是唯一的實(shí)施方式。

除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語(yǔ)與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語(yǔ)只是為了描述具體的實(shí)施方式的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語(yǔ)“及/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。

例如，一種顯示屏閃爍測(cè)試方法，包括如下步驟：獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組，所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中包含多個(gè)公共電壓值；獲取所述公共電壓數(shù)組中采集頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值；根據(jù)所述預(yù)判值對(duì)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試，獲取所述顯示屏的閃爍值；將所述閃爍值與第一預(yù)設(shè)閾值以及第二預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行對(duì)比；當(dāng)所述閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上；當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取多個(gè)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值的閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值，根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值的所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片；當(dāng)所述閃爍值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)所述公共電壓數(shù)組內(nèi)的各所述公共電壓值分別對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值的所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

例如，如圖1所示，一種顯示屏閃爍測(cè)試方法，包括如下步驟：

步驟110：獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組，所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中包含多個(gè)公共電壓值。

在實(shí)際生產(chǎn)中持續(xù)地對(duì)每一個(gè)產(chǎn)品所尋找到的最佳公共電壓值進(jìn)行記錄，然后放入一個(gè)數(shù)組大小自定義的活的數(shù)組中。例如，數(shù)組大小為1～100，當(dāng)測(cè)試到第101個(gè)產(chǎn)品獲得一個(gè)新的最佳公共電壓值，則采用先進(jìn)先出的原則，將第1個(gè)最佳公共電壓值取出，放入新的第101個(gè)最佳公共電壓值，從而使得自定義的數(shù)組成為一個(gè)有效的動(dòng)態(tài)數(shù)組，俗稱活的數(shù)組。而預(yù)設(shè)公共電壓數(shù)組即指包括多個(gè)公共電壓值的動(dòng)態(tài)數(shù)組。

步驟120：獲取所述公共電壓數(shù)組中采集頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值。

由于同一個(gè)批次的顯示屏，其最佳公共電壓值的設(shè)定值差別并不大，因此在所述預(yù)設(shè)公共電壓數(shù)組中可能會(huì)存在多個(gè)頻率較高的公共電壓值，其可能相同的一個(gè)公共電壓值，也可能是幾個(gè)頻率相同的多個(gè)公共電壓值。在進(jìn)行下一個(gè)產(chǎn)品的閃爍測(cè)試時(shí)，則取出其中一個(gè)頻率最高的公共電壓值作為該產(chǎn)品的公共電壓值，即為所述預(yù)判值，也就是說預(yù)判值為下一個(gè)顯示屏最有可能的最佳公共電壓值。

具體地，在確定所述預(yù)判值時(shí)，例如，檢測(cè)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量，當(dāng)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量為一個(gè)時(shí)，則將所獲取的一個(gè)所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上。也就是說，在預(yù)設(shè)公共電壓數(shù)組中出現(xiàn)頻率最高的公共電壓值只有一個(gè)，例如，在1～100數(shù)組中，20v出現(xiàn)的頻率最高，即將20v作為顯示屏的預(yù)判值。例如，當(dāng)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量為多個(gè)時(shí)，以頻率最高的多個(gè)所述公共電壓值的平均值作為所述預(yù)判值。也就是說，在預(yù)設(shè)公共電壓數(shù)組中出現(xiàn)頻率最高的公共電壓值不止一個(gè)的時(shí)候，例如，1～100數(shù)組中，20v與30v均出現(xiàn)19次，其他公共電壓值出現(xiàn)的次數(shù)均沒達(dá)到19次，因此取20v與30v的平均值25v作為顯示屏的預(yù)判值。

步驟130：根據(jù)所述預(yù)判值對(duì)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試，獲取所述顯示屏的閃爍值。

通過在預(yù)設(shè)公共電壓數(shù)組中檢測(cè)出現(xiàn)頻率最高的公共電壓值，得到用于檢測(cè)第101個(gè)顯示屏的預(yù)判值，并采用該預(yù)判值進(jìn)行該顯示屏的閃爍測(cè)試，得到對(duì)應(yīng)的閃爍值，通過與參考閃爍值進(jìn)行對(duì)比，從而判斷所述預(yù)判值是否能夠作為該顯示屏的最佳公共電壓值。其中參考閃爍值由不同的客戶要求決定，即不同客戶對(duì)于閃爍值的要求不同，即根據(jù)不同客戶對(duì)閃爍值的要求，以其要求閃爍值為參考閃爍值，只要測(cè)試得到的閃爍值不超過該參考閃爍值即表示所得到的公共電壓值即為該顯示屏的最佳公共電壓值。可以理解的是，客戶要求的閃爍值，即參考閃爍值為最高閃爍值，即根據(jù)預(yù)判值得到的閃爍值超出該最高閃爍值，則取得的預(yù)判值不能作為該顯示屏的最佳公共電壓值，需要再次進(jìn)行最佳公共電壓值的尋找。

步驟140：將所述閃爍值與第一預(yù)設(shè)閾值以及第二預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行對(duì)比，如圖2所示。

即在進(jìn)行顯示屏最佳公共電壓值的尋找時(shí)，可以將上述最高閃爍值進(jìn)行分段判斷，即在第一預(yù)設(shè)閾值與第二預(yù)設(shè)閾值范圍內(nèi)進(jìn)行尋值。例如，以f(max)代表最高閃爍值，其中所述第一預(yù)設(shè)閾值為50％f(max)，所述第二預(yù)設(shè)閾值為150％f(max)。即通過輸入預(yù)判值對(duì)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試時(shí)，得到的閃爍值與50％f(max)及150％f(max)進(jìn)行對(duì)比，判斷預(yù)判值是否能夠成為最佳公共電壓值。

步驟150：當(dāng)所述閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上。

可以理解的是，當(dāng)通過預(yù)判值得到閃爍值小于或等于50％f(max)，也就是說，測(cè)試得到的閃爍值沒有超過最高閃爍值f(max)，這樣可以直接判斷該預(yù)判值可以作為該顯示屏的最佳公共電壓值，也就是說，所述預(yù)判值即為所述最小閃爍值。從而可將其作為下一個(gè)顯示屏的公共電壓值而被寫入顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上，即將該公共電壓值燒錄至顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上。同時(shí)，例如，將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組。即在預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中除去一個(gè)值，將所獲得的最佳公共電壓值寫入，繼續(xù)以該預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組作為有效的公共電壓數(shù)組，進(jìn)行取值測(cè)試，尋找最佳公共電壓值。

步驟160：當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取多個(gè)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值2倍的閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值，根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

即從預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中取出的預(yù)判值，進(jìn)行第101個(gè)顯示屏測(cè)試時(shí)，得到的閃爍值在50％f(max)與150％f(max)的范圍內(nèi)。這樣無法確定該預(yù)判值是否能夠被作為顯示屏的最佳公共電壓值。此時(shí)，通過利用預(yù)設(shè)的閃爍值-公共電壓值的對(duì)應(yīng)曲線圖進(jìn)行判斷分析，該曲線屬于現(xiàn)有技術(shù)中關(guān)于閃爍值與公共電壓關(guān)系的圖，可通過測(cè)試得到的閃爍值對(duì)應(yīng)地尋找符合小于參考閃爍值，即小于最大閃爍值的公共電壓的范圍，在該范圍內(nèi)進(jìn)一步進(jìn)行閃爍測(cè)試，以得到最小閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓，即可作為被測(cè)顯示屏的最佳公共電壓。也就是說，在一個(gè)小于所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的數(shù)組中，即小范圍內(nèi)找出顯示屏的最佳公共電壓值。具體如下。

例如，當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取與所述第一預(yù)設(shè)閾值與所述第二預(yù)設(shè)閾值相對(duì)應(yīng)的公共電壓的取值范圍，基于所述取值范圍內(nèi)的每個(gè)公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取多個(gè)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值2倍的閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值，根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

如圖3所示，利用預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系獲得的所述取值范圍指的是，在預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中與50％f(max)對(duì)應(yīng)的公共電壓與150％f(max)對(duì)應(yīng)的公共電壓之間的公共電壓范圍，也就是說，所述取值范圍指的是一個(gè)小于所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的小數(shù)組，在小數(shù)組中按照傳統(tǒng)的尋值方式，即分別一一對(duì)該范圍內(nèi)的每一個(gè)公共電壓值進(jìn)行閃爍測(cè)試，直至尋找到最小閃爍值所對(duì)應(yīng)的公共電壓值，作為最佳的公共電壓值。例如，預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組范圍為1～100，則所述取值范圍指的是在1～100范圍尋找20～50范圍內(nèi)的公共電壓值。分別對(duì)該小范圍內(nèi)每個(gè)公共電壓進(jìn)行閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值。

例如，當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取與所述閃爍值對(duì)應(yīng)的兩個(gè)對(duì)稱的公共電壓值，分別對(duì)所述兩個(gè)對(duì)稱公共電壓值加減電壓值，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

請(qǐng)繼續(xù)參閱圖3，利用預(yù)設(shè)的閃爍值-公共電壓值曲線圖進(jìn)行分析判斷，該曲線為類似v型的曲線。一個(gè)例子是，所述預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系為v型曲線，對(duì)所述v型曲線進(jìn)行采樣測(cè)試，獲取不同樣品的v型曲線。根據(jù)所述不同樣品的v型曲線獲取每一曲線的最低點(diǎn)。其中不同批次的樣品v型曲線差別很小。其中最低點(diǎn)代表最小閃爍值。只要能夠確定該最低點(diǎn)便可較為方便地對(duì)應(yīng)尋找到每個(gè)樣品的最佳公共電壓值。

可以理解的是，所述兩個(gè)對(duì)稱的公共電壓值即表示最低點(diǎn)兩側(cè)對(duì)稱的值。兩個(gè)所述對(duì)稱的公共電壓為有效取值的肩寬，也就是說，在該肩寬范圍內(nèi)進(jìn)行加減電壓值。例如，分別對(duì)所述兩個(gè)對(duì)稱公共電壓值加減3個(gè)、5個(gè)或8個(gè)等電壓值，使得兩側(cè)對(duì)稱的公共電壓值最終重合在一起，則重合在一起的電壓值即為曲線最低點(diǎn)處的電壓，也就是最小閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值。從而可以較為快捷地尋找到被測(cè)顯示屏最小閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值。

步驟170：當(dāng)所述閃爍值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)所述公共電壓數(shù)組內(nèi)的各所述公共電壓值分別對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

即當(dāng)所述閃爍值大于150％f(max)時(shí)，則屬于嚴(yán)重不符合要求的閃爍值，此時(shí)，需要利用傳統(tǒng)的尋值方式進(jìn)行尋找最佳的公共電壓值。而傳統(tǒng)的公共電壓值的尋值方式為在所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組內(nèi)分別地依次進(jìn)行閃爍測(cè)試，以獲得最小閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值。

例如，當(dāng)所述閃爍值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的順序，依序從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取所述公共電壓值，逐一根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，直至獲取最小閃爍值，將所述最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。例如，所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組為1～100，則需要對(duì)在此范圍內(nèi)按照數(shù)組的分配順序，例如，采用先進(jìn)先出的原則，優(yōu)先對(duì)先放入數(shù)組的公共電壓值進(jìn)行測(cè)試，然后依次的選擇每一個(gè)公共電壓進(jìn)行閃爍測(cè)試，直至獲取最小閃爍值。例如，存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的所述公共電壓值的順序越靠前，則從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取的所述公共電壓值的順序越靠前。即預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組優(yōu)先被安排進(jìn)去的公共電壓值優(yōu)先進(jìn)行閃爍測(cè)試，也就優(yōu)先得到測(cè)試后的公共電壓值。

例如，如圖4所示，在得到最佳公共電壓值時(shí)，需要再次進(jìn)行顯示屏閃爍測(cè)試，若得到的顯示效果良好，則輸出ok指令，然后將最佳公共電壓值燒錄至顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)，同時(shí)輸出被測(cè)顯示屏ok指令，并更換下一個(gè)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試。若測(cè)試得到顯示效果不佳時(shí)，則輸出no指令，將不良產(chǎn)品挑選出。同時(shí)對(duì)于傳統(tǒng)的閃爍測(cè)試方法，當(dāng)無法獲得有效的公共電壓時(shí)，直接將對(duì)應(yīng)顯示屏挑選出。挑選出的顯示屏為不良顯示屏。

上述顯示屏閃爍測(cè)試方法，通過在包含多個(gè)公共電壓值的所述獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中，獲取產(chǎn)生頻率最高的一個(gè)或幾個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值。從而使得尋找最佳公共電壓的范圍得到有效縮小。并根據(jù)所述預(yù)判值對(duì)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試，獲取所述顯示屏的閃爍值，通過對(duì)所述閃爍值與第一預(yù)設(shè)閾值以及第二預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行對(duì)比得到最小閃爍值所對(duì)應(yīng)的公共電壓值。從而使得檢測(cè)獲取最佳公共電壓值的時(shí)間得到縮短，一般能夠縮短整個(gè)otp所需的時(shí)間至10s以內(nèi)，從而極大地減小了otp的燒錄時(shí)間，特別適合大量生產(chǎn)制造使用。這樣從18～25秒縮減為10秒以內(nèi)，有效節(jié)省了時(shí)間成本，從而有效提高了檢測(cè)效率，降低了測(cè)試顯示屏的屏幕閃爍的時(shí)間成本。并且該方法為通用型，可運(yùn)用于大多數(shù)項(xiàng)目，以減小燒錄時(shí)間，提高效率，降低產(chǎn)品成本。

以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。