本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種goa(gatedriveronarray,陣列基板行驅(qū)動)測試電路及goa測試方法。

背景技術(shù)：

基于goa技術(shù)的lcd(liquidcrystaldisplay,液晶顯示器)具有制程簡單、成本低等優(yōu)點(diǎn)，已逐漸成為主流顯示裝置。在生產(chǎn)過程中，lcd需要設(shè)置測試電路以進(jìn)行array測試(陣列測試)和hvacuring(highverticalalignmentcuring,高垂直排列固化)制程。

在當(dāng)前的一種電路結(jié)構(gòu)設(shè)計中，請參閱圖1所示，array測試和hvacuring制程可以共用外圍走線11，且相鄰兩行的顯示面板10中間還設(shè)置有一條走線12，該走線12與外圍走線11未連接。通過對走線12或外圍走線11施加驅(qū)動信號，每一顯示面板10可以通過array測試焊盤13僅在顯示面板10的一側(cè)接收到array測試信號，即實(shí)現(xiàn)array測試的單邊驅(qū)動。而在hvacuring制程中，對外圍走線11施加驅(qū)動信號，每一顯示面板10通過hvacuring焊盤14僅能在顯示面板10的一側(cè)接收到驅(qū)動信號，即只能實(shí)現(xiàn)hvacuring制程的單邊驅(qū)動。當(dāng)顯示面板10的尺寸較大或多個顯示面板10所在區(qū)域的尺寸較大時，受限于線路阻抗及rc(resistance-capacitance)負(fù)載較重等原因，驅(qū)動信號傳遞越遠(yuǎn)衰減越嚴(yán)重，會導(dǎo)致顯示面板10出現(xiàn)畫面分屏或畫面漸變等問題。

為了避免該問題，業(yè)界提出了圖2所示的電路結(jié)構(gòu)設(shè)計，將走線12的兩端與外圍走線11連接。對外圍走線11施加驅(qū)動信號時，每一顯示面板10的兩側(cè)均可以接收到驅(qū)動信號，實(shí)現(xiàn)hvacuring制程的雙邊驅(qū)動。但是，該電路結(jié)構(gòu)設(shè)計無法實(shí)現(xiàn)array測試的單邊驅(qū)動，當(dāng)顯示面板10一側(cè)的驅(qū)動電路不能正常工作時，另外一側(cè)的驅(qū)動電路仍然可以在驅(qū)動信號的控制下使顯示面板10的像素正常工作，從而導(dǎo)致漏檢。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明提供一種goa測試電路及goa測試方法，既能夠?qū)崿F(xiàn)array測試的單邊驅(qū)動，還能夠?qū)崿F(xiàn)hvacuring制程的雙邊驅(qū)動。

本發(fā)明一實(shí)施例的goa測試電路，用于對呈陣列排布的多個顯示面板進(jìn)行測試，所述goa測試電路包括：

第一走線，設(shè)置于多個顯示面板所在區(qū)域之外，并與每一顯示面板的array測試焊盤和hvacuring焊盤連接；

至少一條與第一方向平行的第二走線，多個顯示面板所在區(qū)域被至少一條第二走線劃分為沿第二方向排布的至少兩個區(qū)域，其中所述第二方向與所述第一方向相垂直，且每一第二走線位于相鄰的兩個所述區(qū)域之間，每一第二走線與位于其兩側(cè)的各個顯示面板的array測試焊盤和hvacuring焊盤連接；

開關(guān)單元，設(shè)置于第一走線和每一第二走線的之間，用于控制第一走線和每一第二走線的導(dǎo)通和斷開。

本發(fā)明一實(shí)施例的goa測試方法，用于對呈陣列排布的多個顯示面板進(jìn)行測試，所述goa測試方法包括：

在多個顯示面板所在區(qū)域之外設(shè)置第一走線，第一走線與每一顯示面板的array測試焊盤和hvacuring焊盤連接；

形成至少一條與第一方向平行的第二走線，多個顯示面板所在區(qū)域被至少一條第二走線劃分為沿第二方向排布的至少兩個區(qū)域，其中所述第二方向與所述第一方向相垂直，且每一第二走線位于相鄰的兩個所述區(qū)域之間，每一第二走線與位于其兩側(cè)的各個顯示面板的array測試焊盤和hvacuring焊盤連接；

在第一走線和每一第二走線的之間形成開關(guān)單元；

開關(guān)單元斷開第一走線和第二走線的連接，并對第一走線和第二走線施加array測試信號，以對多個顯示面板進(jìn)行array測試；

開關(guān)單元導(dǎo)通第一走線和第二走線的連接，并對第一走線和第二走線施加hvacuring制程信號，以對多個顯示面板進(jìn)行hvacuring制程。

有益效果：本發(fā)明在多個顯示面板所在區(qū)域之外設(shè)置第一走線，并將多個顯示面板所在區(qū)域劃分為至少兩個區(qū)域，在相鄰的兩個區(qū)域之間設(shè)置一條第二走線，以及在第一走線和每一第二走線之間設(shè)置開關(guān)單元，在進(jìn)行array測試時，斷開開關(guān)單元，可以僅對顯示面板的一側(cè)施加array測試信號，從而實(shí)現(xiàn)array測試的單邊驅(qū)動，而在進(jìn)行hvacuring制程時，導(dǎo)通開關(guān)單元，可以對顯示面板的兩側(cè)施加hvacuring制程信號，從而實(shí)現(xiàn)hvacuring制程的雙邊驅(qū)動。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)一實(shí)施例的goa測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是現(xiàn)有技術(shù)另一實(shí)施例的goa測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明一實(shí)施例的goa測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明一實(shí)施例的goa測試方法的流程示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明所提供的各個示例性的實(shí)施例的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。在不沖突的情況下，下述各個實(shí)施例以及實(shí)施例中的特征可以相互組合。

圖3是本發(fā)明一實(shí)施例的goa測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖。請參閱圖3所示，本實(shí)施例的goa測試電路包括第一走線31、第二走線32、以及設(shè)置于第一走線31和第二走線32之間的開關(guān)單元33。

第一走線31設(shè)置于多個顯示面板40所在區(qū)域之外，具體地，多個顯示面板40可以呈陣列形式排布于一玻璃基板上，而第一走線31為形成于玻璃基板上的閉合矩形結(jié)構(gòu)，并圍設(shè)于多個顯示面板40所在區(qū)域的四周。本實(shí)施例的第一走線31可視為array測試和hvacuring制程共用的外圍走線，基于此，第一走線31與每一顯示面板40的array測試焊盤41和hvacuring焊盤42均連接。

第二走線32與第一方向(即行方向)平行，并且設(shè)置于多個顯示面板40所在區(qū)域之內(nèi)。具體地，多個顯示面板40所在區(qū)域被劃分為沿與第一方向垂直的第二方向(即列方向)排布的兩個區(qū)域，這兩個區(qū)域的尺寸可以相等，第二走線32位于這兩個區(qū)域之間。當(dāng)然，本實(shí)施例也可以設(shè)置第一方向?yàn)榱蟹较颉⒌诙较驗(yàn)樾蟹较颍藭r，多個顯示面板40所在區(qū)域被劃分為沿行方向排布的兩個區(qū)域，第二走線32與列方向平行。繼續(xù)參閱圖3，第二走線32與位于其兩側(cè)的各個顯示面板40的array測試焊盤41和hvacuring焊盤42均連接。

開關(guān)單元33設(shè)置于第一走線31和第二走線32之間，用于控制第一走線31和第二走線32之間的導(dǎo)通和斷開。具體地，第二走線32的兩端與第一走線31之間均設(shè)置有一個開關(guān)單元33，開關(guān)單元33可以設(shè)置于多個顯示面板40所在區(qū)域之外，或者設(shè)置于相鄰兩個上述區(qū)域之間。并且，在本發(fā)明一實(shí)施例中，開關(guān)單元33可以為薄膜晶體管(thinfilmtransistor,tft)，該薄膜晶體管的源極和漏極分別連接于第一走線31和第二走線32，為了控制薄膜晶體管的導(dǎo)通和斷開，本實(shí)施例可以在相鄰兩個上述區(qū)域之間設(shè)置第三走線34，將薄膜晶體管的柵極連接于第三走線34，并對第三走線34施加控制信號即可實(shí)現(xiàn)薄膜晶體管的導(dǎo)通和斷開。其中，與同一第二走線32連接的兩個薄膜晶體管的柵極可以連接同一條第三走線34，并且該第三走線34可以與第二走線32平行，當(dāng)然與同一第二走線32連接的兩個薄膜晶體管的柵極也可以各自連接一條第三走線34。需要說明的是，本實(shí)施例的第三走線34與各個顯示面板40的array測試焊盤41和hvacuring焊盤42之間沒有任何連接關(guān)系。

在對多個顯示面板40進(jìn)行array測試時，本實(shí)施例對第三走線34施加低電平信號，薄膜晶體管斷開，即開關(guān)單元33斷開第一走線31和第二走線32之間的連接。此時，通過對第一走線31或者第二走線32施加array測試信號，每一顯示面板40可以通過設(shè)置其一側(cè)(上側(cè)或下側(cè))的array測試焊盤41接收array測試信號，即僅在其一側(cè)接收到array測試信號，從而實(shí)現(xiàn)array測試的單邊驅(qū)動。

在對多個顯示面板40進(jìn)行hvacuring制程時，本實(shí)施例對第三走線34施加高電平信號，薄膜晶體管導(dǎo)通，即開關(guān)單元33導(dǎo)通第一走線31和第二走線32之間的連接。此時，第一走線31和第二走線32形成閉合的環(huán)形電路，通過對第一走線31或者第二走線32施加hvacuring制程信號，每一顯示面板40均可以通過設(shè)置其兩側(cè)(上側(cè)和下側(cè))的hvacuring焊盤42接收hvacuring制程信號，即在其兩側(cè)接收到hvacuring制程信號，從而實(shí)現(xiàn)hvacuring制程的雙邊驅(qū)動。

由此可見，本實(shí)施例既可以實(shí)現(xiàn)array測試的單邊驅(qū)動，避免因array測試的雙邊驅(qū)動導(dǎo)致的漏檢問題，而且可以實(shí)現(xiàn)hvacuring制程的雙邊驅(qū)動，避免顯示面板40出現(xiàn)畫面分屏或畫面漸變等問題。

應(yīng)理解，在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，所述多個顯示面板40所在區(qū)域可以被劃分為兩個以上的區(qū)域，并不限于上述圖1所示的兩個區(qū)域，對應(yīng)地，goa測試電路可以包括兩條及以上的第二走線32，只需在每一條第二走線32的兩端均設(shè)置開關(guān)單元，并通過開關(guān)單元控制第一走線31和每一條第二走線32之間的導(dǎo)通和斷開，本發(fā)明即能同時實(shí)現(xiàn)array測試的單邊驅(qū)動和hvacuring制程的雙邊驅(qū)動。

圖4是本發(fā)明一實(shí)施例的goa測試方法的流程示意圖。請查閱圖4，本實(shí)施例的goa測試方法可以包括如下步驟s41～s45。

s41：在多個顯示面板所在區(qū)域之外設(shè)置第一走線，第一走線與每一顯示面板的array測試焊盤和hvacuring焊盤連接。

s42：形成至少一條與第一方向平行的第二走線，多個顯示面板所在區(qū)域被至少一條第二走線劃分為沿第二方向排布的至少兩個區(qū)域，其中所述第二方向與所述第一方向相垂直，且每一第二走線位于相鄰的兩個所述區(qū)域之間，每一第二走線與位于其兩側(cè)的各個顯示面板的array測試焊盤和hvacuring焊盤連接。

s43：在第一走線和每一第二走線的之間形成開關(guān)單元。

s44：開關(guān)單元斷開第一走線和第二走線的連接，并對第一走線和第二走線施加array測試信號，以對多個顯示面板進(jìn)行array測試。

s45：開關(guān)單元導(dǎo)通第一走線和第二走線的連接，并對第一走線和第二走線施加hvacuring制程信號，以對多個顯示面板進(jìn)行hvacuring制程。

其中，步驟s41～s43可視為形成圖1所示的goa測試電路，步驟s44和s45可視為對goa測試電路分別進(jìn)行array測試和hvacuring制程。所述goa測試方法的原理及過程可參閱圖1所示實(shí)施例的描述，因此該goa測試方法具有與其相同的有益效果。

應(yīng)理解，以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，例如各實(shí)施例之間技術(shù)特征的相互結(jié)合，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。