專利名稱：輝度測量系統的制作方法
技術領域：
本發明有關一種輝度測量系統，特別是指一種用于測量輝光材料輝度、且測量精度高的輝度測量系統。
背景技術：
輝光高分子材料產業在歐美等西方發達國家正在興起，其應用領域涉及消防、船舶、建筑、交通、鐵路、軍事等。目前國外許多大型國際機場、地鐵、飛機及世界著名建筑等諸多領域，都采用了儲能自輝光高分子材料標志指示產品。西方多數國家已經通過立法規定， 建筑中必須使用新型環保高分子輝光產品，歐盟國家也已頒布相應行業標準。在國內，也廣泛進行了輝光材料的研發與應用。目前輝光材料的輝度測量一般采用亮度計進行測量，但這種測量方式將受到人為主觀因素、環境因素的影響，造成測量準確性降低，影響對材料發光特性的正確評價。

發明內容
有鑒于此，本發明的主要目的在于提供一種對輝光高分子材料測量精度高的輝度測量系統。為達到上述目的，本發明提供一種輝度測量系統，其包括有支撐平臺與設于支撐平臺上的測量主體，該測量主體內設有待測樣品，該測量主體一端設有安裝于該支撐平臺上的用以測量待測樣品輝度的輝度計，該測量主體另一端設有安裝于支撐平臺上的用于對待測樣品進行照射的標準光源，該測量主體外部設置溫控裝置，該輝度計通過RS232接口與計算機連接。優選地，所述測量主體為伸縮式結構，由2飛個內徑不同的套筒依次套合組成。該伸縮式的測量主體由兩個套筒組成，為內筒與外筒，該內筒套合在外筒內，該內筒靠近所述輝度計的一端設有前擋板，該前擋板設有取光孔，該外筒靠近所述標準光源的一端設有后擋板，所述測量主體后部設置滑槽，該后擋板與所述測量主體插入式連接。所述后擋板設有后蓋板滑槽，該后蓋板滑槽中插入有測量板，該測量板為透明板， 內設置有內徑為KTlOOmm大小不同的圓環，這些圓環依次嵌合并能拆卸，圓環內孔為測量孔，測量孔內安放有待測樣品。所述前擋板與后擋板之間設置有計量測量距離的伸縮尺。所述支撐平臺上設置有能調節所述套筒移動距離的滑板和固定螺栓。優選地，所述測量主體為滑板式結構，其為中空的矩形體，所述測量主體頂端橫向方向開設有兩條上下平行的滑槽，所述測量主體內部設有縱向的測量滑板，該測量滑板頂端兩側突出部分嵌合在下部滑槽中，測量滑板能夠沿下部滑槽在所述測量主體內前后運行，所述測量主體上方蓋有上蓋板，該上蓋板能在上部的滑槽中運行。所述測量主體靠近所述輝度計的一端設有前擋板，該前擋板上設有取光孔，所述測量滑板由兩層板組成，所述測量滑板中間開有放置待測樣品的多個不同直徑的圓孔。
所述測量滑板與所述前擋板之間設置有能計量測量距離的伸縮尺。所述支撐平臺寬為100mnTl500mm，長為 200mnT5000mm，高為 100mnT2000mm，上面
布置廣8個支撐梁，所述支撐平臺設置有滾輪。本發明的輝度測量系統具有可移動、距離可調、溫度可控、試樣換取方便及數據實時采集等優點，并能提高高分子材料的輝度測量準確度。


圖1為本發明輝度測量系統第一實施例的結構示意圖； 圖2為本發明輝度測量系統中前擋板平面示意圖3為本發明輝度測量系統中后擋板平面示意圖； 圖4為本發明輝度測量系統第二實施例的結構示意圖。
具體實施例方式為便于對本發明的結構及達到的效果有進一步的了解，現結合附圖并舉較佳實施例詳細說明如下。如圖1所示，本發明輝度測量系統包括有支撐平臺1與設于支撐平臺上的測量主體2，該測量主體2內設有待測樣品，測量主體2—端設有安裝于支撐平臺1上的輝度計3， 用以測量待測樣品的輝度，測量主體2另一端設有安裝于支撐平臺1上的標準光源4，用于對待測樣品進行照射。測量主體2外部設置溫控裝置(圖中未示出)，使待測樣品處于相同的溫度條件下進行測量，其中輝度計3通過RS232接口與計算機進行連接，進行雙向通信， 數據傳輸，該標準光源4亮度在50(T15()()LUX (勒克斯)。本發明中的測量主體2有兩種形式，一種是伸縮式，由2飛個內徑不同的套筒依次套合組成，可靈活的進行不同距離輝度的測量；本發明的實施例中，該伸縮式的測量主體2 由兩個套筒組成，為內筒20與外筒21，該內筒20套合在外筒21內，該內筒20靠近輝度計 3的一端設有前擋板5，前擋板5設有取光孔50(如圖2所示)，輝度計3在此進行測量；外筒21靠近標準光源4的一端設有后擋板6，測量主體2后部設置滑槽，該后擋板6與測量主體2插入式連接，如圖3所示，該后擋板6設有后蓋板滑槽60，該后蓋板滑槽60中插入有測量板61，該測量板61為透明板，內設置有內徑為KTlOOmm大小不同的圓環62，這些圓環 62依次嵌合并能拆卸，圓環內孔為測量孔，用以安放待測樣品，根據待測樣品大小選擇不同的圓環。測量主體2前后擋板之間設置有伸縮尺7，準確的計量測量距離。本發明中的支撐平臺上設置有滑板10和固定螺栓11，當進行調節測量距離時，將固定螺栓11松開，滑動滑板10至需要位置，外筒21在滑板10帶動下相對內筒20前后運動，調節前擋板5與后擋板 6之間的距離，然后將固定螺栓11固定，根據伸縮尺7計算前、后擋板之間的測量距離。如圖4所示，本發明中的測量主體2也可為滑板式結構，其為中空的矩形體，測量主體2頂端橫向方向開設有兩條上下平行的滑槽22，測量主體2內部設有縱向的測量滑板 23，測量滑板23頂端兩側突出部分嵌合在下部滑槽中，使測量滑板23能夠沿下部滑槽在測量主體2內前后運行，測量主體2上方蓋有上蓋板M，上部的滑槽作為該上蓋板M運行的軌道。測量主體2靠近輝度計3的一端設有前擋板5，該前擋板5上設有取光孔50，測量滑板23由兩層板組成，測量滑板23中間開有放置待測樣品的多個不同直徑的圓孔，該圓孔為測量孔；測量滑板23與前擋板5之間設置伸縮尺，滑動測量滑板23以調節待測樣品與前擋板5之間的測量距離，并用伸縮尺計量該測量距離。按照圖1所示，輝度測量系統制作完成后，將待測樣品裁切至比測量孔略大，放入后擋板6內的測量孔中，將調整好的測量板61插入后蓋板滑槽60中。將輝度計3安放到支撐平臺1上，設置所需的輝度計參數；調整伸縮尺7，使之能靈活進行測量；打開固定螺栓 11，滑動滑板10，調整測量板61與前擋板5的距離至設定距離；在后擋板6處安放標準光源 4，為待測樣品提供光照；設置測量主體2上的溫控裝置，調節溫度至設定溫度；通過R232 接口連接輝度計3與計算機，設置參數以進行數據采集和通信。該輝度測量系統放置于暗室中，待測樣品放置3(Γ60分鐘后，原有的輝度釋放，打開標準光源，對樣品進行照射，照射 15^30分鐘后，關閉標準光源，利用計算機控制輝度計進行測量，首先標準光源關閉IOs后開始測量，然后每隔10分鐘測量一次，1個小時后，每隔1小時測量一次；也可以設置每隔固定時間進行測量，數據存儲在計算機中，在該位置持續測量15小時。測量完畢，通過調節滑板調節測量板與前擋板之間的距離，將待測樣品調節至另一個距離處，以測定該位置的輝度變化情況；也可以在相同的位置，進行不同照射時間的輝度測量；或進行不同外部溫度條件下的輝度測量。參照圖1與圖4所示，輝度測量系統制作完成后，將待測樣品裁切至比測量孔略大，放入測量滑板23內，將調整好的測量滑板23插入測量主體的下部滑槽中。將輝度計3 安放到支撐平臺1上，設置所需的輝度計參數；調整伸縮尺，使之能靈活進行測量；滑動測量滑板23至設定距離；在測量主體2后部安放標準光源4，為待測樣品提供光照；設置測量主體2上的溫控裝置，調節溫度至設定溫度；將上蓋板M通過上部滑槽插入，以遮擋外部干擾光；連接輝度計3與計算機，設置參數以進行數據采集和通信。該輝度測量系統放置于暗室中，樣品放置3(Γ60分鐘后，原有的輝度釋放，打開標準光源，對樣品進行照射，照射 15^30分鐘后，關閉標準光源，利用計算機控制輝度計進行測量，首先標準光源關閉IOs后， 開始測量；然后每隔10分鐘測量一次，1個小時后，每隔1小時測量一次；也可以設置每隔固定時間進行測量，數據存儲在計算機中，在該位置持續測量15小時。測量完畢，將待測樣品放置另外的距離，以測定該位置的輝度變化情況；也可以在相同的位置，進行不同照射時間的輝度測量；或者進行不同外部溫度條件下的輝度測量。本發明中的支撐平臺1所用材料為鋼材等易加工且具有一定強度的材料，支撐平臺寬100mnTl500mm，長200mnT5000mm，高100mnT2000mm，上面布置廣8個支撐梁12，支撐測
量主體；支撐平臺1設置有滾輪13，以方便進行移動。本發明與已有系統相比達到的有益效果是
1.該輝度測量系統的支撐平臺設有滾輪和滑板、固定螺栓，方便移動，并靈活的改變測
量距離；
2.測量主體設有伸縮尺及溫控裝置，可以準確測量樣品距離，并使樣品處于相同的溫度條件下；
3.測量主體上測量板，可靈活的安放不同大小的樣品，并能同時進行標準光源的照射和輝度測量；
4.測量主體為不透光材料制作，且封閉性好，無外部光的干擾；
5.輝度計固定于支撐平臺，并與計算機連接，減少了測量誤差，實現數據的實時采集和
5存儲，有利于數據的處理。 以上所述，僅為本發明的較佳實施例而已，并非用于限定本發明的保護范圍。
權利要求
1.一種輝度測量系統，其特征在于，其包括有支撐平臺與設于支撐平臺上的測量主體， 該測量主體內設有待測樣品，該測量主體一端設有安裝于該支撐平臺上的用以測量待測樣品輝度的輝度計，該測量主體另一端設有安裝于支撐平臺上的用于對待測樣品進行照射的標準光源，該測量主體外部設置溫控裝置，該輝度計通過RS232接口與計算機連接。
2.如權利要求1所述的輝度測量系統，其特征在于，所述測量主體為伸縮式結構，由 2飛個內徑不同的套筒依次套合組成。
3.如權利要求2所述的輝度測量系統，其特征在于，該伸縮式的測量主體由兩個套筒組成，為內筒與外筒，該內筒套合在外筒內，該內筒靠近所述輝度計的一端設有前擋板，該前擋板設有取光孔，該外筒靠近所述標準光源的一端設有后擋板，所述測量主體后部設置滑槽，該后擋板與所述測量主體插入式連接。
4.如權利要求3所述的輝度測量系統，其特征在于，所述后擋板設有后蓋板滑槽，該后蓋板滑槽中插入有測量板，該測量板為透明板，內設置有內徑為KTlOOmm大小不同的圓環，這些圓環依次嵌合并能拆卸，圓環內孔為測量孔，測量孔內安放有待測樣品。
5.如權利要求3所述的輝度測量系統，其特征在于，所述前擋板與后擋板之間設置有計量測量距離的伸縮尺。
6.如權利要求2所述的輝度測量系統，其特征在于，所述支撐平臺上設置有能調節所述套筒移動距離的滑板和固定螺栓。
7.如權利要求1所述的輝度測量系統，其特征在于，所述測量主體為滑板式結構，其為中空的矩形體，所述測量主體頂端橫向方向開設有兩條上下平行的滑槽，所述測量主體內部設有縱向的測量滑板，該測量滑板頂端兩側突出部分嵌合在下部滑槽中，測量滑板能夠沿下部滑槽在所述測量主體內前后運行，所述測量主體上方蓋有上蓋板，該上蓋板能在上部的滑槽中運行。
8.如權利要求7所述的輝度測量系統，其特征在于，所述測量主體靠近所述輝度計的一端設有前擋板，該前擋板上設有取光孔，所述測量滑板由兩層板組成，所述測量滑板中間開有放置待測樣品的多個不同直徑的圓孔。
9.如權利要求8所述的輝度測量系統，其特征在于，所述測量滑板與所述前擋板之間設置有能計量測量距離的伸縮尺。
10.如權利要求1所述的輝度測量系統，其特征在于，所述支撐平臺寬為 100mnTl500mm，長為200mnT5000mm，高為100mnT2000mm，上面布置廣8個支撐梁，所述支撐平臺設置有滾輪。
全文摘要
本發明公開了一種輝度測量系統，其包括有支撐平臺與設于支撐平臺上的測量主體，該測量主體內設有待測樣品，該測量主體一端設有安裝于該支撐平臺上的用以測量待測樣品輝度的輝度計，該測量主體另一端設有安裝于支撐平臺上的用于對待測樣品進行照射的標準光源，該測量主體外部設置溫控裝置，該輝度計通過RS232接口與計算機連接。本發明的輝度測量系統具有可移動、距離可調、溫度可控、試樣換取方便及數據實時采集等優點，并能提高高分子材料的輝度測量準確度。
文檔編號G01N21/00GK102506997SQ20111036780
公開日2012年6月20日 申請日期2011年11月18日 優先權日2011年11月18日
發明者包昀鑫, 周玉生, 孫加亮, 董滿祥 申請人:億利資源集團有限公司