電波暗室及其電波測試裝置制造方法
【專利摘要】一種電波測試裝置，包括一支撐桿、一滑動地套設(shè)于該支撐桿的滑動件、一驅(qū)動該滑動件滑動的第一驅(qū)動組件、一沿垂直該支撐桿的方向滑動地組設(shè)于該滑動件的齒條、一驅(qū)動該齒條的第二驅(qū)動組件及一設(shè)于該齒條底端的場強探頭，該第一驅(qū)動組件及第二驅(qū)動組件分別驅(qū)動該滑動件及齒條使該場強探頭在支撐桿及滑條所在平面內(nèi)移動，該第二驅(qū)動組件設(shè)有一嚙合于該齒條的驅(qū)動齒輪。該電波測試裝置的第一驅(qū)動組件及第二驅(qū)動組件驅(qū)動該場強探頭移動至各個測試點進行測試，使用方便并提高了測量準確度。本發(fā)明同時提供一種設(shè)有該電波測試裝置的電波暗室。
【專利說明】電波暗室及其電波測試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電波暗室，尤其涉及一種設(shè)有電波測試裝置的電波暗室。

【背景技術(shù)】
[0002] 在進行電磁兼容測試的射頻電磁場福射抗擾度試驗之前需要對測試場地進行驗 證，進行均勻域的量測W確保測試場地中電磁場強分布充分均勻。一般來說，測試所使用的 均勻域尺寸為1.5mX 1.5m，其中包含十六個用于均勻域場強量測的測試點。在進行均勻域 的量測時，將場強探頭放置在其中一個測試點上，使用信號發(fā)生器、功率放大器及發(fā)射天線 在每個預(yù)定的發(fā)射頻率段中分別W不同的天線極性(例如水平與垂直極性）發(fā)射不同頻率 的測試信號。場強探頭在所選的測試點分別接收具有不同極性及頻率點測試信號，從而感 測到對應(yīng)各個測試信號的場強讀值。在該測試點獲得對應(yīng)每個預(yù)訂極性及頻率點測試信號 的場強讀值后，將該場強探頭通過手動的方式移至其他測試點，一一重復(fù)上述測試操作，最 后匯整所有測試點對應(yīng)具有不同極性及頻率點測試信號的場強讀值，W考察該均勻域中場 強的均勻度。
[0003] 在上述測試過程中，當(dāng)場強探頭位于每個測試點時，都要分別調(diào)節(jié)天線極性及測 試信號的發(fā)射頻率，W在該測試點分別獲取對應(yīng)具有不同極性及頻率點測試信號的場強讀 值，而且該操作需要重復(fù)多次，使用不方便，且多次移動場強探頭容易導(dǎo)致定位精度不夠而 使測量的結(jié)果不準確。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 有鑒于此，有必要提供一種使用方便、測量準確的電波測試裝置及電波暗室。
[0005] -種電波測試裝置，包括一支撐桿、一滑動地套設(shè)于該支撐桿的滑動件、一驅(qū)動該 滑動件滑動的第一驅(qū)動組件、一沿垂直該支撐桿的方向滑動地組設(shè)于該滑動件的齒條、一 驅(qū)動該齒條的第二驅(qū)動組件及一設(shè)于該齒條底端的場強探頭，該第一驅(qū)動組件及第二驅(qū)動 組件分別驅(qū)動該滑動件及齒條使該場強探頭在支撐桿及滑條所在平面內(nèi)移動，該第二驅(qū)動 組件設(shè)有一曬合于該齒條的驅(qū)動齒輪。
[0006] -種電波暗室，包括一暗室、設(shè)于該暗室底部一端的天線、設(shè)于該暗室底部相對的 另一端的測試轉(zhuǎn)臺及一電波測試裝置，該電波測試裝置包括一水平設(shè)置于該暗室上部的支 撐桿、一滑動地套設(shè)于該支撐桿的滑動件、一驅(qū)動該滑動件左右滑動的第一驅(qū)動組件、一沿 上下方向滑動地設(shè)于該滑動件的齒條、一驅(qū)動該齒條滑動的第二驅(qū)動組件及一設(shè)于該齒條 底端的場強探頭，該第一驅(qū)動組件及第二驅(qū)動組件分別驅(qū)動該滑動件及齒條使該場強探頭 在支撐桿及滑條所在平面內(nèi)移動至各個測試點。
[0007] 使用所述電波測試裝置進行電磁場福射抗擾度均勻域測試，該第一驅(qū)動組件及第 二驅(qū)動組件驅(qū)動該場強探頭移動至各個測試點進行測試。從而在測試時無須通過手動的方 式移動場強探頭的位置，使用方便并提高了測量準確度。

【專利附圖】

【附圖說明】
[000引圖1為本發(fā)明較佳實施例的電波暗室的立體分解圖，該電波暗室包括一電波測試 裝置。
[0009] 圖2為圖1的電波測試裝置的放大圖。
[0010] 圖3為圖2中III部分的放大圖。
[0011] 圖4為圖1的部分組裝圖。
[0012] 圖5-6為本發(fā)明電波暗室的使用狀態(tài)示意圖。
[0013] 主要元件符號說明

【權(quán)利要求】
1. 一種電波測試裝置，包括一支撐桿、一滑動地套設(shè)于該支撐桿的滑動件、一驅(qū)動該滑 動件滑動的第一驅(qū)動組件、一沿垂直該支撐桿的方向滑動地組設(shè)于該滑動件的齒條、一驅(qū) 動該齒條的第二驅(qū)動組件及一設(shè)于該齒條底端的場強探頭，該第一驅(qū)動組件及第二驅(qū)動組 件分別驅(qū)動該滑動件及齒條使該場強探頭在支撐桿及滑條所在平面內(nèi)移動，該第二驅(qū)動組 件設(shè)有一哨合于該齒條的驅(qū)動齒輪。
2. 如權(quán)利要求1所述的電波測試裝置，其特征在于：該支撐桿沿其長度方向開設(shè)一穿 透該支撐桿上下兩側(cè)的滑槽，該齒條穿設(shè)于該滑槽內(nèi)。
3. 如權(quán)利要求2所述的電波測試裝置，其特征在于：該滑動件包括一滑動地套設(shè)于該 支撐桿的滑動框，該滑動框的上下兩側(cè)開設(shè)供該齒條穿過的兩通槽。
4. 如權(quán)利要求3所述的電波測試裝置，其特征在于：該第一驅(qū)動組件包括旋轉(zhuǎn)地設(shè)于 該支撐桿相對的兩端的兩滑輪、一連接于該兩滑輪之間并固定于該滑動框的傳動帶及一驅(qū) 動其中一滑輪旋轉(zhuǎn)的第一馬達。
5. 如權(quán)利要求3所述的電波測試裝置，其特征在于：該第二驅(qū)動組件還包括一固定于 該滑動框的安裝框及一設(shè)于該安裝框內(nèi)的第二馬達，該驅(qū)動齒輪連接于該第二馬達，該齒 條穿過該安裝框。
6. -種電波暗室，包括一暗室、設(shè)于該暗室底部一端的天線、設(shè)于該暗室底部相對的另 一端的測試轉(zhuǎn)臺及一電波測試裝置，該電波測試裝置包括一水平設(shè)置于該暗室上部的支撐 桿、一滑動地套設(shè)于該支撐桿的滑動件、一驅(qū)動該滑動件左右滑動的第一驅(qū)動組件、一沿上 下方向滑動地設(shè)于該滑動件的齒條、一驅(qū)動該齒條滑動的第二驅(qū)動組件及一設(shè)于該齒條底 端的場強探頭，該第一驅(qū)動組件及第二驅(qū)動組件分別驅(qū)動該滑動件及齒條使該場強探頭在 支撐桿及滑條所在平面內(nèi)移動至各個測試點。
7. 如權(quán)利要求6所述的電波暗室，其特征在于：該暗室包括一底壁、自該底壁的四周垂 直向上延伸的一周壁及設(shè)于周壁頂端的一頂壁，該測試轉(zhuǎn)臺設(shè)于該底壁的一端，該天線設(shè) 于該底壁相對的另一端，該周壁的上部于鄰近該測試轉(zhuǎn)臺的一端開設(shè)兩相對的定位槽，該 支撐桿的兩端卡固于該兩定位槽內(nèi)。
8. 如權(quán)利要求6述的電波暗室，其特征在于：該支撐桿沿其長度方向開設(shè)一穿透該支 撐桿上下兩側(cè)的滑槽，滑動件包括一滑動地套設(shè)于該支撐桿上的滑動框，該滑動框的上下 兩側(cè)開設(shè)正對該支撐桿的滑槽的兩通槽，該齒條穿設(shè)于該滑槽及兩通槽內(nèi)。
9. 如權(quán)利要求8所述的電波暗室，其特征在于：該第一驅(qū)動組件包括旋轉(zhuǎn)地設(shè)于該支 撐桿相對的兩端的兩滑輪、一連接于該兩滑輪之間并固定于該滑動框一側(cè)的傳動帶及一驅(qū) 動其中一滑輪旋轉(zhuǎn)的第一馬達，該第一馬達驅(qū)動該滑輪旋轉(zhuǎn)而帶動該傳動帶移動，從而帶 動該滑動框沿該支撐桿的滑槽滑動。
10. 如權(quán)利要求8所述的電波暗室，其特征在于：該第二驅(qū)動組件包括一固定于該滑動 框的安裝框、一設(shè)于該安裝框內(nèi)的第二馬達及一連接于該第二馬達的驅(qū)動齒輪，該齒條穿 過該安裝框與該驅(qū)動齒輪相嚙合。
【文檔編號】G01R29/08GK104422826SQ201310361436
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月19日
【發(fā)明者】何等乾, 何小練 申請人:鴻富錦精密電子(天津)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司