六工位ccd檢測機遮光暗箱的制作方法
【專利摘要】本發明公開了一種六工位CCD檢測機遮光暗箱，包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主體包括外部暗箱、滑軌、遮光罩和內部暗箱，所述外部暗箱為底部開放的長方形箱體，所述滑軌上端垂直固定在所述外部暗箱內側，所述內部暗箱為頂部開放的長方形箱體，所述內部暗箱側面設有一個卡扣，所述卡扣可移動的設置在所述滑軌底端，所述遮光罩固定在所述內部暗箱上側。本發明提高檢測效果及穩定性，從而提高被檢產品的品質等特點。
【專利說明】
【技術領域】
[0001] 本發明涉及一種光學量測，尤其涉及一種六工位CCD檢測機遮光暗箱。 六工位CCD檢測機遮光暗箱

【背景技術】
[0002] 光學測量是光電技術與機械測量結合的高科技。借用計算機技術，可以實現快速， 準確的測量。方便記錄，存儲，打印，查詢等等功能。據中國儀器超市介紹，光學測量主要應 用在現代工業檢測，主要檢測產品的形位公差以及數值孔徑等是否合格。主要應用的行業 領域有：金屬制品加工業、模具、塑膠、五金、齒輪、手機等行業的檢測，以及工業界的產品開 發、模具設計、手扳制作、原版雕刻、RP快速成型、電路檢測等領域。主要儀器表現為：二次 元、工具顯微鏡、光學影像測量儀、光學影像投影儀、三次元、三坐標測量機、三維激光抄數 機等。在機械制造行業中，為了使機加工的產品能達到設計精度和質量要求，除了傳統的物 理計量與檢測實現方法，可以運用高性能計算機及軟件技術、光學、光學成像、聲學與機器 動作多種混合技術實現的邏輯計量與檢測，我們習慣將這些復雜的計量與檢測技術稱之為 非接觸計量與檢測技術。將這些非接觸計量與檢測技術應用到為客戶定制的計量與檢測工 具和設備之中，在實際項目中取得了滿意的預期效果。CCD是使用一種高感光度的半導體材 料集成，它能夠根據照射在其面上的光線產生相應的電荷信號，在通過模數轉換器芯片轉 換成"〇"或" 1"的數字信號，這種數字信號經過壓縮和程序排列后，可由閃速存儲器或硬盤 卡保存即收光信號轉換成計算機能識別的電子圖像信號，可對被側物體進行準確的測量、 分析。傳統的CCD檢測時容易漏光，反光，造成被檢產品誤檢。


【發明內容】

[0003] 本發明的目的在于提供一種提商了檢測效果及穩定性，從而提商被檢廣品的品質 等特點的六工位CCD檢測機遮光暗箱。
[0004] 為解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案：一種六工位CCD檢測機遮光暗 箱，包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主體包括外部暗箱、滑軌、遮光罩和內部暗箱，所述外 部暗箱為底部開放的長方形箱體，所述滑軌上端垂直固定在所述外部暗箱內側，所述內部 暗箱為頂部開放的長方形箱體，所述內部暗箱側面設有一個卡扣，所述卡扣可移動的設置 在所述滑軌底端，所述遮光罩為雙層遮光罩，所述內部遮光罩鑲嵌在所述外層遮光罩中間 槽內，所述外層遮光罩固定在所述內部暗箱上側，所述遮光罩框架采用黑色材料制成。
[0005] 在本發明一個較佳實施例中，所述黑色材料為鋁合金。
[0006] 在本發明一個較佳實施例中，所述遮光罩定位精度為0. 02mm。
[0007] 在本發明一個較佳實施例中，所述黑色材料通過黑色陽極氧化處理。
[0008] 在本發明一個較佳實施例中，所述外部暗箱內部涂有吸光層。
[0009] 本發明的六工位CCD檢測機遮光暗箱具有提高了檢測效果及穩定性，從而提高被 檢廣品的品質等特點。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010] 圖1是本發明六工位CCD檢測機遮光暗箱一較佳實施例的立體結構示意圖； 圖2是圖1內部暗箱的局部結構不意圖； 附圖中各部件的標記如下：1、外部暗箱，2、滑軌，3、遮光罩，4、內部暗箱，4、卡扣。

【具體實施方式】
[0011] 以上僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手段，并可 依照說明書的內容予以實施，以下以一較佳實施例以及附圖對本發明的技術方案作進一步 的說明。
[0012] 參閱圖1，一種六工位C⑶檢測機遮光暗箱，包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主 體包括外部暗箱1、滑軌2、遮光罩3和內部暗箱4,所述外部暗箱1為底部開放的長方形箱 體，所述滑軌2上端垂直固定在所述外部暗箱1內側，所述內部暗箱4為頂部開放的長方 形箱體，所述內部暗箱4側面設有一個卡扣41，所述卡扣41可移動的設置在所述滑軌2底 端，所述遮光罩3為雙層遮光罩，所述內部遮光罩鑲嵌在所述外層遮光罩中間槽內，所述外 層遮光罩固定在所述內部暗箱4上側，所述遮光罩3框架采用黑色材料制成。
[0013] 本發明的六工位CCD檢測機遮光暗箱，所述外部暗箱為底部開放的長方形箱體， 其尺寸為直徑582cm，高337. 5cm，外部暗箱內壁涂有吸光層，所述遮光罩通過雙層遮光，提 高遮光效果，遮光罩框架采用黑色材料及通過發黑及磨砂處理，外層遮光罩把外部光源遮 蔽，內遮光罩遮蔽被檢產品的四周框架，防止零件的折射光，杜絕產品本身的反光，所述黑 色材料為鋁合金，所述黑色材料通過黑色陽極氧化處理。通過定位精度來保證每工位、每次 量測的數據準確性，準確保證遮光罩定位精度為〇. 〇2mm。因此本發明的六工位CCD檢測機 遮光暗箱具有提1? 了檢測效果及穩定性，從而提1?被檢廣品的品質等特點。
[0014] 以上所述僅為本發明的實施例，并非因此限制本發明的專利范圍，凡是利用本發 明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技 術領域，均同理包括在本發明的專利保護范圍。
【權利要求】
1. 一種六工位CCD檢測機遮光暗箱，其特征在于：包括遮光暗箱主體，所述遮光暗箱主 體包括外部暗箱、滑軌、遮光罩和內部暗箱，所述外部暗箱為底部開放的長方形箱體，所述 滑軌上端垂直固定在所述外部暗箱內側，所述內部暗箱為頂部開放的長方形箱體，所述內 部暗箱側面設有一個卡扣，所述卡扣可移動的設置在所述滑軌底端，所述遮光罩為雙層遮 光罩，所述內部遮光罩鑲嵌在所述外層遮光罩中間槽內，所述外層遮光罩固定在所述內部 暗箱上側，所述遮光罩框架采用黑色材料制成。
2. 根據權利要求1所述的六工位CCD檢測機遮光暗箱，其特征在于：所述黑色材料為 錯合金。
3. 根據權利要求1所述的六工位CCD檢測機遮光暗箱，其特征在于：所述遮光罩定位 精度為〇· 〇2mm。
4. 根據權利要求1所述的六工位CCD檢測機遮光暗箱，其特征在于：所述黑色材料通 過黑色陽極氧化處理。
5. 根據權利要求4所述的六工位CCD檢測機遮光暗箱，其特征在于：所述外部暗箱內 部涂有吸光層。
【文檔編號】G01B11/00GK104101298SQ201410361805
【公開日】2014年10月15日 申請日期:2014年7月28日 優先權日:2014年7月28日
【發明者】陳士波, 徐二貴, 趙琳娜 申請人:蘇州春田機械有限公司