一種光澤度測量設備的制作方法
【專利摘要】本發明公開了一種光澤度測量設備，包括底板，所述底板的上方設置有可升降的測試平臺，所述測試平臺后方的底板上還設置有兩塊固定板，所述兩塊固定板之間設置有可相對其轉動的支板，所述支板上設置有測試模組，所述測試模組包括光澤度測量模組。通過將用于安裝測試模組的支板設置成可翻倒的形式，實現在同一臺檢測設備上實現了對產品上表面和側面的非接觸式光澤度檢測，不僅提高了檢測效率和質量，而且降低了檢測成本。
【專利說明】一種光澤度測量設備
【技術領域】
[0001 ] 本發明涉及了一種光澤度測量設備，屬于光澤度測量【技術領域】。
【背景技術】
[0002]對產品的光澤度進行檢測是品檢過程非常重要的一項指標，而現有的光澤度檢測裝置通常是采用接觸式的檢測方式，但是該種裝置必須與待檢測產品進行接觸才能完成光澤度檢測，在檢測過程中有可能會對帶測產品表面造成損傷。
[0003]因此，本公司申請了中國專利，其申請號為:201310749514.2，發明名稱為:非接觸式光澤度儀，能夠實現對產品光澤度進行非接觸式的檢測，但是對于形狀似筆記本電腦的產品，需要對其上表面和側面均進行光澤度檢測，現有的檢測裝置通常是只能對一個表面進行檢測，需要兩臺不同的檢測設備才能完成檢測，不僅繁瑣而且可靠性不高。
【發明內容】
[0004]本發明所要解決的技術問題是提供一種光澤度測量設備，能夠在同一臺設備上實現對產品上表面和側面的非接觸式光澤度檢測，提高了檢測效率和質量。
[0005]為了解決上述技術問題，本發明所采用的技術方案是:
一種光澤度測量設備，包括底板，所述底板的上方設置有可升降的測試平臺，所述測試平臺后方的底板上還設置有兩塊固定板，所述兩塊固定板之間設置有可相對其轉動的支板，所述支板上設置有測試模組，所述測試模組包括光澤度測量模組。
[0006]前述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述測試模組內還包括激光位移傳感器，且所述支板上設置有兩條縱向直線導軌，所述測試模組設置在兩條直線導軌之間，并可沿其上下移動。
[0007]前述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述支板上還設置有第一步進電機，所述測試模組上設置有通過第一步進電機驅動的第一絲桿。
[0008]前述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述測試平臺的四角處通過導柱與所述底板相連接，且所述測試平臺下表面的中心處設置有第二絲桿，所述底板上設置有用于驅動所述第二絲桿的第二步進電機。
[0009]前述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述第二步進電機與第二絲桿之間通過傳動皮帶連接，所述底板上設置有腰型槽，所述腰型槽中設置有用于控制傳動皮帶松緊的導輪。
[0010]前述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述測試平臺的表面設置有多個安裝定位孔。
[0011]本發明的有益效果是:
1、通過將用于安裝測試模組的支板設置成可翻倒的形式，實現在同一臺檢測設備上實現了對產品上表面和側面的非接觸式光澤度檢測，不僅提高了檢測效率和質量，而且降低了檢測成本； 2、通過將測試平臺和測試模組設置成高度可調的結構，利用測試平臺的升降實現檢測距離的粗調，然后利用測試模組中的激光位移傳感器實現對檢測位置的精調，實現了對不同尺寸的產品進行光澤度檢測，使檢測裝置的適用性更廣。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0012]圖1是本發明一種光澤度測量設備的第一主視圖；
圖2是本發明一種光澤度測量設備的測試模組隱藏了殼體后的主視圖；
圖3是本發明一種光澤度測量設備的測試模組隱藏了殼體后翻倒后的主視圖；
圖4是本發明一種光澤度測量設備的第二主視圖。
【具體實施方式】
[0013]下面將結合說明書附圖，對本發明作進一步的說明。
[0014]如圖1-圖4所示,一種光澤度測量設備,包括底板I,所述底板I的上方設置有可升降的測試平臺2，所述測試平臺2后方的底板I上還設置有兩塊固定板9，所述兩塊固定板9之間設置有可相對其轉動的支板10，所述支板10上設置有測試模組8，所述測試模組8包括光澤度測量模組81。通過將用于安裝測試模組8的支板10設置成可相對固定板9翻倒的形式，當測試模組8被固定在測試平臺2的上方時，實現對產品上表面光澤度的非接觸式檢測，當測試模組8翻到時，實現對產品側面光澤度的非接觸式檢測，從而實現了在同一臺檢測設備上實現了對產品上表面和側面的非接觸式光澤度檢測，不僅提高了檢測效率和質量，而且降低了檢測成本。
[0015]所述測試模組8內還包括激光位移傳感器82，且所述支板10上設置有兩條縱向直線導軌11，所述測試模組8設置在兩條直線導軌11之間，并可沿其上下移動。所述測試平臺2的四角處通過導柱3與所述底板I相連接，且所述測試平臺2下表面的中心處設置有第二絲桿4，所述底板I上設置有用于驅動所述第二絲桿4的第二步進電機5，通過第二步進電機5驅動第二絲桿4的轉動，從而實現對測試平臺2高度的調整，通過將測試平臺2和測試模組8設置成高度可調的結構，利用測試平臺2的升降實現檢測距離的粗調，支板10上還設置有第一步進電機13，所述測試模組8上設置有通過第一步進電機13驅動的第一絲桿12，第一步進電機13根據激光位移傳感器82檢測的數據驅動第一絲桿12轉動，從而實現對測試模組8高度的調整，實現對檢測位置的精調，實現了對不同尺寸的產品進行光澤度檢測，使檢測裝置的適用性更廣。
[0016]所述第二步進電機5與第二絲桿4之間通過傳動皮帶6連接，所述底板I上設置有腰型槽，所述腰型槽中設置有用于控制傳動皮帶6松緊的導輪7，通過導輪7控制傳動皮帶6的松緊，從而調整第二絲桿4的轉動速度，即實現了對測試平臺2上下移動速度的控制。
[0017]所述測試平臺2的表面設置有多個安裝定位孔21，便于定位和固定待檢測產品。
[0018]綜上所述，本發明提供的一種光澤度測量設備，能夠在同一臺設備上實現對產品上表面和側面的非接觸式光澤度檢測，提高了檢測效率和質量。
[0019]以上顯示和描述了本發明的基本原理、主要特征及優點。本行業的技術人員應該了解，本發明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本發明的原理，在不脫離本發明精神和范圍的前提下，本發明還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本發明范圍內。本發明要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界。
【權利要求】
1.一種光澤度測量設備，包括底板(I)，其特征在于:所述底板(I)的上方設置有可升降的測試平臺(2)，所述測試平臺(2)后方的底板(I)上還設置有兩塊固定板(9)，所述兩塊固定板(9)之間設置有可相對其轉動的支板(10)，所述支板(10)上設置有測試模組(8)，所述測試模組(8 )包括光澤度測量模組(81)。
2.根據權利要求1所述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述測試模組(8)內還包括激光位移傳感器(82)，且所述支板(10)上設置有兩條縱向直線導軌(11)，所述測試模組(8 )設置在兩條直線導軌(11)之間，并可沿其上下移動。
3.根據權利要求2所述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述支板(10)上還設置有第一步進電機(13)，所述測試模組(8)上設置有通過第一步進電機(13)驅動的第一絲桿(12)。
4.根據權利要求3所述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述測試平臺(2)的四角處通過導柱(3 )與所述底板(I)相連接，且所述測試平臺(2 )下表面的中心處設置有第二絲桿(4)，所述底板(I)上設置有用于驅動所述第二絲桿(4)的第二步進電機(5)。
5.根據權利要求4所述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述第二步進電機(5)與第二絲桿(4)之間通過傳動皮帶(6)連接，所述底板(I)上設置有腰型槽，所述腰型槽中設置有用于控制傳動皮帶(6 )松緊的導輪(7 )。
6.根據權利要求5所述的一種光澤度測量設備，其特征在于:所述測試平臺(2)的表面設置有多個安裝定位孔(21)。
【文檔編號】G01N21/57GK104198442SQ201410366012
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年7月29日 優先權日:2014年7月29日
【發明者】陳億善, 薄克艷 申請人:愛彼思（蘇州）自動化科技有限公司