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一種電動汽車VCU綜合智能測試系統及方法與流程

文檔序號:12359180閱讀:1749來源:國知局
一種電動汽車VCU綜合智能測試系統及方法與流程

本發明涉及電動汽車領域,特別是一種電動汽車VCU綜合智能測試系統。



背景技術:

電動汽車VCU是電動汽車最重要的電子部件,為了能快速檢測產品是否合格,有必要設計一種電動汽車VCU綜合智能測試系統來滿足工廠需求,電動汽車VCU綜合智能測試系統通過計算機虛擬技術,產生電動汽車VCU正常工作所需的各種條件,是電動汽車VCU處于工作狀態,并自動測試,評價其各項指標。

因此,需要一種電動汽車VCU綜合智能測試系統。



技術實現要素:

本發明的目的是提出電動汽車VCU綜合智能測試系統。

本發明的目的是通過以下技術方案來實現的:

本發明提供的電動汽車VCU綜合智能測試系統,包括與VCU相連接的測試設備工裝和上位機;

所述測試設備工裝用于產生VCU工作所需要的條件;所述上位PC機與測試設備工裝和VCU連接;用于處理分析VCU的工作狀態。

進一步,所述測試設備工裝包括測試通道、信號采集裝置、信號傳輸裝置、信號處理器;

所述信號采集裝置與測試通道連接用于采集測試通道的測試信號,并將測試信號通過串口回傳給上位機;

所述測試信號傳輸到處理器中;所述信號傳輸裝置將經過處理器處理后的數據傳輸到上位機中。

進一步,所述測試通道包括模擬輸入通道和數字輸入通道;

所述模擬輸入通道,用于通過上位機驅動測試設備工裝輸出模擬信號到VCU單個模擬輸入端口,下位機測試對應端口的電壓并回傳上位機;

所述數字輸入通道:用于通過上位機驅動測試設備工裝向VCU的單個端口輸入高低電平值及頻率值,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有數字輸入通道的電平和頻率信息,上傳給上位機,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過。

本發明提供的電動汽車VCU綜合智能測試方法,包括以下步驟:

輸入常電電壓;

通過上位機測試電壓點:先關閉鑰匙開關上位機測試VCU內部的各個電壓點,然后再打開鑰匙開關,上位機測試VCU內部的各個電壓點,上位機判斷測試的電壓是否合格;

通過VCU監控電壓測試:上位機下發命令,VCU接收到指令后自己測試VCU內部的各個電壓點,通過CAN-A通道上傳給上位機,上位機判斷測試是否通過;

工作功耗測試:上位機測試輸入電源電壓和電流,計算工作功耗;

EEPROM寫入讀取測試:上位機下發指令,VCU接收到指令后內部的EEPROM寫入和讀取數據,VCU反饋寫入和讀取的狀態,并向上位機返回寫入和讀取的數據,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過;

模擬輸入通道測試:上位機驅動測試設備向VCU的單個端口輸入模擬電壓或電阻信號,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有模擬輸入通道的電壓信息,上傳給上位機,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過;

數字輸入通道測試:上位機驅動測試設備向VCU的單個端口輸入高低電平值及頻率值,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有數字輸入通道的電平和頻率信息,上傳給上位機,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過;

低邊驅動和高邊驅動測試:上位機驅動測試設備給VCU單個低邊驅動或高邊驅動端口接通或關閉負載,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有低邊和高邊驅動通道的電平值,上傳給上位機,上位機測試負載的電壓,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過;

H橋驅動測試:上位機驅動測試設備給VCU中的H橋驅動端口接通或關閉負載,上位機下發指令,VCU接收到指令后根據指令打開或關閉H橋驅動正向通道,打開或關閉H橋驅動反向通道,VCU采集H橋電源電壓及OUTB的電平值,上傳給上位機,上位機測試負載的電壓,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過;

鑰匙開關下電:上位機驅動測試設備關閉鑰匙開關,延時后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過;

外部硬線控制上下電測試:上位機下發指令,上位機通過測試設備打開和關閉外部硬線控制信號,延時后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過;

通信測試:上位機通過CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向VCU發送指定數據,VCU通過CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向上位機返回指定數據,上位機判斷測試是否通過;

檢測結束。

進一步,還包括以下步驟:

副CPU功能測試:包括模擬輸入通道與低邊驅動測試;

強制下電測試:上位機通過CAN‐S通道下發指令,副CPU關閉電源下電管腳,延時300mS后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過;

強制上電測試:上位機通過CAN‐S通道下發指令,副CPU打開電源上電管腳,延時300mS后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過。

由于采用了上述技術方案,本發明具有如下的優點:

本發明提供的電動汽車VCU綜合智能測試系統能快速檢測電動汽車VCU是否合格,通過不同的測試通道對電動汽車VCU進行快速檢測。

本發明的其他優點、目標和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進行闡述,并且在某種程度上,基于對下文的考察研究對本領域技術人員而言將是顯而易見的,或者可以從本發明的實踐中得到教導。本發明的目標和其他優點可以通過下面的說明書來實現和獲得。

附圖說明

本發明的附圖說明如下。

圖1為本發明的電動汽車VCU綜合智能測試系統原理示意圖。

圖2為本發明的電動汽車VCU綜合智能測試方法流程圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明。

實施例1

如圖1所示,本實施例提供的一種電動汽車VCU綜合智能測試系統,包括與VCU相連接的測試設備工裝和上位機;

所述測試設備工裝用于產生VCU工作所需要的條件;所述上位PC機與測試設備工裝和VCU連接;用于處理分析VCU的工作狀態。

述測試設備工裝包括測試通道、信號采集裝置、信號傳輸裝置、信號處理器;

所述信號采集裝置與測試通道連接用于采集測試通道的測試信號,并將測試信號通過串口回傳給上位機;

所述測試信號傳輸到處理器中;所述信號傳輸裝置將經過處理器處理后的數據傳輸到上位機中。

所述測試通道包括模擬輸入通道和數字輸入通道;

所述模擬輸入通道,用于通過上位機驅動測試設備工裝輸出模擬信號到VCU單個模擬輸入端口,下位機測試對應端口的電壓并回傳上位機;

所述數字輸入通道:用于通過上位機驅動測試設備工裝向VCU的單個端口輸入高低電平值及頻率值,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有數字輸入通道的電平和頻率信息,上傳給上位機,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過。

實施例2

本實施例提供的一種電動汽車VCU綜合智能測試方法,測試裝置包括測試設備工裝和上位機(PC機)兩個部分,所述測試設備工裝與VCU相連,并產生VCU工作所需要的各種技術條件,使VCU處于工作狀態;上位機用于控制整個系統工作。

所述VCU包括下線測試方法,具體過程如下:

上位機向下位機發送串口指令,下位機收到指令后,根據指令輸出相應的模擬信號,數字信號,電阻信號,負載信號等到VCU中相關測試通道。

下位機對相關測試通道的電壓等信號進行檢測,并將數值通過串口回傳給上位機。

上位機通過測試設備向VCU發送CAN指令,VCU接收到指令后,根據協議規定的具體含義,執行具體的測試任務,VCU把采集的信息根據約定的數據通信協議發給上位機。

上位機對下位機回傳的數值與VCU返回的采集信息進行比較判斷得出測試結果。

其中,包括模擬輸入通道測試,是指VCU正常工作后,由上位機驅動下位機輸出0V或5V模擬信號到VCU單個模擬輸入端口,下位機測試對應端口的電壓并回傳上位機,上位機下發CAN指令,VCU接收到指令后采集主CPU控制的所有模擬輸入通道的信號,然后通過CAN-A通道把采集的數據上傳給上位機。上位機對比接收到的兩組數值判斷測試結果。

測試流程如圖2所示,具體過程如下:

上位機測試電壓點:先關閉鑰匙開關上位機測試VCU內部的各個電壓點,然后再打開鑰匙開關,上位機測試VCU內部的各個電壓點,上位機判斷測試的電壓是否合格。

VCU監控電壓測試:上位機下發命令,VCU接收到指令后自己測試VCU內部的各個電壓點,通過CAN-A通道上傳給上位機,上位機判斷測試是否通過。

工作功耗測試:上位機測試輸入電源電壓和電流,計算工作功耗。

EEPROM寫入讀取測試:上位機下發指令,VCU接收到指令后內部的EEPROM寫入和讀取數據,VCU反饋寫入和讀取的狀態,并向上位機返回寫入和讀取的數據,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過。

模擬輸入通道測試:上位機驅動測試設備向VCU的單個端口輸入模擬電壓或電阻信號,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有模擬輸入通道的電壓信息,上傳給上位機,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過。

數字輸入通道測試:上位機驅動測試設備向VCU的單個端口輸入高低電平值及頻率值,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有數字輸入通道的電平和頻率信息,上傳給上位機,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過。

低邊驅動和高邊驅動測試:上位機驅動測試設備給VCU單個低邊驅動或高邊驅動端口接通或關閉負載,上位機下發指令,VCU接收到指令后采集所有低邊和高邊驅動通道的電平值,上傳給上位機,上位機測試負載的電壓,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過。

H橋驅動測試:上位機驅動測試設備給VCU中的H橋驅動端口接通或關閉負載,上位機下發指令,VCU接收到指令后根據指令打開或關閉H橋驅動正向通道,打開或關閉H橋驅動反向通道,VCU采集H橋電源電壓及OUTB的電平值,上傳給上位機,上位機測試負載的電壓,上位機根據上傳信息判斷測試是否通過。

鑰匙開關下電:上位機驅動測試設備關閉鑰匙開關,延時300mS后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過。

外部硬線控制上下電測試:上位機下發指令,上位機通過測試設備打開和關閉外部硬線控制信號,延時300mS后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過。

CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通信測試:上位機通過CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向VCU發送指定數據,VCU通過CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向上位機返回指定數據,上位機判斷測試是否通過。

副CPU功能測試:包括模擬輸入通道與低邊驅動測試,與上相同。

強制下電測試:上位機通過CAN‐S通道下發指令,副CPU關閉電源下電管腳,延時300mS后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過。

強制上電測試:上位機通過CAN‐S通道下發指令,副CPU打開電源上電管腳,延時300mS后上位機測試VCU中的各個電壓點電壓,上位機判斷測試是否通過。

最后說明的是,以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制,盡管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明,本領域的普通技術人員應當理解,可以對本發明的技術方案進行修改或者等同替換,而不脫離本技術方案的宗旨和范圍,其均應涵蓋在本發明的保護范圍當中。

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