1.一種利用光干涉法測量光學(xué)平板玻璃剪切模量的方法,其特征在于,具體按照以下步驟實施:
步驟1:通過螺絲(4)施加應(yīng)力于光學(xué)平板玻璃(10),并通過測量儀器(9)顯示應(yīng)力傳感器(7)測量的應(yīng)力,記錄下應(yīng)力的大??;
步驟2:保持步驟1中的應(yīng)力不變,利用鈉光源(1)發(fā)出鈉光,鈉光經(jīng)反射鏡(3)反射后垂直入射到平凸透鏡(11)上,通過讀數(shù)顯微鏡(2)讀取在該應(yīng)力下牛頓環(huán)干涉圖像中心黑斑的直徑Q,然后計算出黑斑的半徑r;
步驟3:通過螺絲改變應(yīng)力的值,重復(fù)步驟1和步驟2,得到光學(xué)平板玻璃(10)的不同應(yīng)力及對應(yīng)不同應(yīng)力情況下牛頓環(huán)干涉圖像中心黑斑的直徑Q及半徑r;
步驟4:利用步驟3測得的數(shù)據(jù),得到光學(xué)平板玻璃(10)的剪切模量G:
其中,σ為光學(xué)平板玻璃的中心應(yīng)力,G為光學(xué)平板玻璃的剪切模量,μ為光學(xué)平板玻璃的泊松比,a為光學(xué)平板玻璃的半徑,r為牛頓環(huán)干涉條紋黑斑的半徑,R為平凸透鏡的標(biāo)準(zhǔn)曲率半徑,h為光學(xué)平板玻璃的厚度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法,其特征在于,采用的測量裝置的具體結(jié)構(gòu)包括底座(6),底座(6)的凹槽中放置有應(yīng)力傳感器(7),應(yīng)力傳感器(7)的探頭高于底座(6)的凹槽上表面,應(yīng)力傳感器(7)的探頭上放置有平凸透鏡(11),平凸透鏡(11)上放置有光學(xué)平板玻璃(10),平凸透鏡(11)的凸面與光學(xué)平板玻璃(10)接觸,光學(xué)平板玻璃(10)的上表面邊緣上放置有上蓋(5),上蓋(5)通過固定螺絲(4)與底座(6)連接,上蓋(5)與底座(6)之間有空隙;
應(yīng)力傳感器(7)的信號線穿過底座(6)上的通孔(8)與測量儀器(9)連接,測量儀器(9)用于顯示應(yīng)力傳感器(7)采集到的應(yīng)力。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量方法,其特征在于,所述應(yīng)力傳感器(7)、所述光學(xué)平板玻璃(10)、所述平凸透鏡(11)同軸。